JPS63210657A - 超音波探傷を用いた、配管内亀裂の測定方法 - Google Patents
超音波探傷を用いた、配管内亀裂の測定方法Info
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- JPS63210657A JPS63210657A JP62042966A JP4296687A JPS63210657A JP S63210657 A JPS63210657 A JP S63210657A JP 62042966 A JP62042966 A JP 62042966A JP 4296687 A JP4296687 A JP 4296687A JP S63210657 A JPS63210657 A JP S63210657A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は原子炉配管に対する探傷試験方法に係り、万一
配管内に亀裂が発生した場合特に損傷位置の特定が困難
な箇所の探傷、及び亀裂形状・寸法の認知・測定が必要
である探傷に適した、超音波を用いた非破壊検査方法に
関するものである。
配管内に亀裂が発生した場合特に損傷位置の特定が困難
な箇所の探傷、及び亀裂形状・寸法の認知・測定が必要
である探傷に適した、超音波を用いた非破壊検査方法に
関するものである。
原子炉配管の如く、作業員の接近が困難な個所に設置さ
れている配管の亀裂を検出するための、従来公知技術は
、配管の軸方向9周方向に移動する機構を備えているが
、亀裂の有無を検知するための装置(例えば特開昭61
−176849号公報)であるため、実際の亀裂の形状
・寸法の認知に関しては別途の方法を用いねばならず、
作業能率の面等に関し限界があった。
れている配管の亀裂を検出するための、従来公知技術は
、配管の軸方向9周方向に移動する機構を備えているが
、亀裂の有無を検知するための装置(例えば特開昭61
−176849号公報)であるため、実際の亀裂の形状
・寸法の認知に関しては別途の方法を用いねばならず、
作業能率の面等に関し限界があった。
従来技術では、配管内亀裂の形状寸法の測定に関しては
、X線や電位差法により行なわれているが、原子カプラ
ントの配管に万一亀裂が発生した場合の試験法としては
作業性の面等を考慮すれば、あまり有効ではない。一方
、超音波探傷に関しては、亀裂の有無の検知が主目的と
なっており、亀裂寸法を求める場合においても、発見さ
れた亀裂の周囲に多数の探触子を装着したり、人為的操
作により探触子を移動することにより該亀裂の形状を検
出するため、探触子設定時の作業量増大による作業能率
の低下2作業員の放射線の被曝量の増大等の問題があっ
た。
、X線や電位差法により行なわれているが、原子カプラ
ントの配管に万一亀裂が発生した場合の試験法としては
作業性の面等を考慮すれば、あまり有効ではない。一方
、超音波探傷に関しては、亀裂の有無の検知が主目的と
なっており、亀裂寸法を求める場合においても、発見さ
れた亀裂の周囲に多数の探触子を装着したり、人為的操
作により探触子を移動することにより該亀裂の形状を検
出するため、探触子設定時の作業量増大による作業能率
の低下2作業員の放射線の被曝量の増大等の問題があっ
た。
そこで本発明の目的は、原子カプラント供用期間中の検
査において、超音波探触子の設定作業の自動化により、
万一配管に亀裂が発生した場合の亀裂の検知のみならず
、その形状・寸法を自動検出することにより1作業量2
作業時間の低減を図るとともに、検査に対する信頼性の
向上を図り得る装置を提供することにある。
査において、超音波探触子の設定作業の自動化により、
万一配管に亀裂が発生した場合の亀裂の検知のみならず
、その形状・寸法を自動検出することにより1作業量2
作業時間の低減を図るとともに、検査に対する信頼性の
向上を図り得る装置を提供することにある。
(1?、”J 照点を解決するための手段〕上記目的は
、超音波探触子を、配管の壁面に密着させる機構・軸方
向に動かす機構・円周方向に動かす機構を備える駆動装
置上に設置し、マイコンの制御により特定動作を指定し
、これより得られる超音波探傷器の信号をマイコンによ
り分析・処理することにより、達成される。
、超音波探触子を、配管の壁面に密着させる機構・軸方
向に動かす機構・円周方向に動かす機構を備える駆動装
置上に設置し、マイコンの制御により特定動作を指定し
、これより得られる超音波探傷器の信号をマイコンによ
り分析・処理することにより、達成される。
前記超音波探触子は、マイコン制御による前記駆動装置
により、配管壁面上を軸方向に移動すると同時に円周方
向に回転移動する。これより、各位置において連続的に
探傷試験を行うことにより亀裂の発見、並びに該亀裂形
状・寸法の算出に必要なデータの取込みを行い得る。こ
の操作は、各種取込みデータをマイコンにより演算処理
し、亀裂の形状・寸法を導出するので、人為的なミスに
よって誤動作することはない。
により、配管壁面上を軸方向に移動すると同時に円周方
向に回転移動する。これより、各位置において連続的に
探傷試験を行うことにより亀裂の発見、並びに該亀裂形
状・寸法の算出に必要なデータの取込みを行い得る。こ
の操作は、各種取込みデータをマイコンにより演算処理
し、亀裂の形状・寸法を導出するので、人為的なミスに
よって誤動作することはない。
以下、本発明の一実施例について、図を用いて説明する
。
。
第1図は本発明方法を実施するための装置の構成を示す
ブロック図である。各種センサ1(ヘッド回転検出リミ
ットスイッチ、軸方向リミットスイッチ、回転検出器、
軸方向移動量検出器、障外物リミットスイッチ)からの
信号はアンプ2により増幅され、A/Dコンバータ5に
よりディジタル信号化され、マイコン6に取込まれる。
ブロック図である。各種センサ1(ヘッド回転検出リミ
ットスイッチ、軸方向リミットスイッチ、回転検出器、
軸方向移動量検出器、障外物リミットスイッチ)からの
信号はアンプ2により増幅され、A/Dコンバータ5に
よりディジタル信号化され、マイコン6に取込まれる。
同様にUTセンサ3からの信号は超音波探傷器4により
処理されたのち、A/Dコンバータ5を通りマイコン6
に取込まれる。マイコン6では上記信号を処理し、必要
なデータをメモリすると共に、必要なデータを得るため
に、センサを取りつけた駆動装[10に移動指示信号を
送り、該駆動装置10を動かす。この信号はA/Dコン
バータ9によりアナログ化されて送られる。上記の信号
伝達により、マイコン6には亀裂形状・寸法を計算でき
るデータがメモリされ、そのデータを処理し、その結果
を出力装置7に出力すると共に、記憶装置8に記憶する
ことができる。
処理されたのち、A/Dコンバータ5を通りマイコン6
に取込まれる。マイコン6では上記信号を処理し、必要
なデータをメモリすると共に、必要なデータを得るため
に、センサを取りつけた駆動装[10に移動指示信号を
送り、該駆動装置10を動かす。この信号はA/Dコン
バータ9によりアナログ化されて送られる。上記の信号
伝達により、マイコン6には亀裂形状・寸法を計算でき
るデータがメモリされ、そのデータを処理し、その結果
を出力装置7に出力すると共に、記憶装置8に記憶する
ことができる。
次に第2,3図を参照しつつ、第1図の駆動装置10に
ついて簡単に説明する。第2図は軸方向への駆動装置の
機構の説明図である。UTセンサ(後述)を装着した円
周方向駆動装置210はギヤボックス211に取り付け
られ、ギヤボックス211の移動につれ管201の軸方
向に動く、ギヤボックス211はガイドシャフト205
にスライド可能に支持され、該ガイドシャフト205は
ガイド209及び天プレート204により固定される。
ついて簡単に説明する。第2図は軸方向への駆動装置の
機構の説明図である。UTセンサ(後述)を装着した円
周方向駆動装置210はギヤボックス211に取り付け
られ、ギヤボックス211の移動につれ管201の軸方
向に動く、ギヤボックス211はガイドシャフト205
にスライド可能に支持され、該ガイドシャフト205は
ガイド209及び天プレート204により固定される。
モータ208の動力はボールネジ206に伝達され、さ
らにナツト207を介してギヤボックス211を駆動す
る機構である。
らにナツト207を介してギヤボックス211を駆動す
る機構である。
障外物リミットスイッチ202は天プレート204への
接触を、軸方向リミットスイッチ203はガイド209
への接触を、それぞれ検知するセンサである。第3図は
円周方向への駆動装置の機構の説明図である。テーブル
台303は前記ギヤボックス211に搭載され、モータ
305の回転をギヤ(図示せず)により、UTセンサ3
02を装着した回転テーブル301に伝え円周方向の回
転を与える機構である。
接触を、軸方向リミットスイッチ203はガイド209
への接触を、それぞれ検知するセンサである。第3図は
円周方向への駆動装置の機構の説明図である。テーブル
台303は前記ギヤボックス211に搭載され、モータ
305の回転をギヤ(図示せず)により、UTセンサ3
02を装着した回転テーブル301に伝え円周方向の回
転を与える機構である。
また、ヘッド回転リミットスイッチ304は、円周方向
360°回転を検知するセンサである。
360°回転を検知するセンサである。
シリンダ306は、上記回転テーブル301をテーブル
台303を介して配管201に押しつけ、UTセンサ3
02を該配管201に密着させる。
台303を介して配管201に押しつけ、UTセンサ3
02を該配管201に密着させる。
次に、本発明方法に関する原理と、この方法の実施のた
めに必要なデータについて簡単に説明する。
めに必要なデータについて簡単に説明する。
第4図(A)は本発明方法に採用する超音波探傷器の測
定原理を示す模式図である。1〜3は亀裂の種類、αは
超音波の発射角、Wl、 WlはそれぞれUTセンサ3
02からの欠陥部及び端部までの最短直線距離を示す。
定原理を示す模式図である。1〜3は亀裂の種類、αは
超音波の発射角、Wl、 WlはそれぞれUTセンサ3
02からの欠陥部及び端部までの最短直線距離を示す。
ΔYはUTセンサの各測定点間距離、dx、dyは亀裂
の長さを示す。各亀裂長さは次式により算出される。
の長さを示す。各亀裂長さは次式により算出される。
図示の亀裂(1)の場合
dx= (wt wz)cosa −(1
−1)dy= (wz−wt)sincz+ΔY
−(1−2)図示の亀裂(2)の場合 dx= (Wl−wz)aosa ・・・(2
−1)dア=0 ・・・(2
−2)図示の亀裂(3)の場合 dx= (WL−W2)aosa −(3−
1)dy= (wt−W2)sinα+ΔY −(
3−2)次に、wt、waの測定法について説明する。
−1)dy= (wz−wt)sincz+ΔY
−(1−2)図示の亀裂(2)の場合 dx= (Wl−wz)aosa ・・・(2
−1)dア=0 ・・・(2
−2)図示の亀裂(3)の場合 dx= (WL−W2)aosa −(3−
1)dy= (wt−W2)sinα+ΔY −(
3−2)次に、wt、waの測定法について説明する。
超音波による反射波は超音波探傷器により処理され、第
4図(B)に示した画像として表われる。ここで縦軸は
エコー高さ、横軸は超音波の反射した点までの距離を示
す。この画像(B)図はディジタルデータ((xi、A
i)i=1〜nの組として出力できる)として出力され
る。ここで、端部及び欠陥部では超音波の反射は大きく
エコー高さも大きくなるため、あるしきい値AHを定め
れば、それ以上となるデータにより判定し亀裂の端部。
4図(B)に示した画像として表われる。ここで縦軸は
エコー高さ、横軸は超音波の反射した点までの距離を示
す。この画像(B)図はディジタルデータ((xi、A
i)i=1〜nの組として出力できる)として出力され
る。ここで、端部及び欠陥部では超音波の反射は大きく
エコー高さも大きくなるため、あるしきい値AHを定め
れば、それ以上となるデータにより判定し亀裂の端部。
欠陥部を求める事ができる。しかし、公知の事実として
、超音波は指向性を持つ波ではあるが、広がりを持つ波
であるので反射エコーの画像は亀裂長さにより変化する
。そこで、本発明では以下のように分類して対撚した。
、超音波は指向性を持つ波ではあるが、広がりを持つ波
であるので反射エコーの画像は亀裂長さにより変化する
。そこで、本発明では以下のように分類して対撚した。
本第4図(C)は亀裂長さが短く端部、欠陥部エコーが
重なって、亀裂長さの測定を行うことが出来ない場合、
(第4図(D)の場合)は、亀裂長さが同図(C)に比
して長いため、欠陥部エコーが同一画面上に表われる。
重なって、亀裂長さの測定を行うことが出来ない場合、
(第4図(D)の場合)は、亀裂長さが同図(C)に比
して長いため、欠陥部エコーが同一画面上に表われる。
この場合、端部エコーをP、欠陥部エコーをQとして区
別し、グループ化できる。
別し、グループ化できる。
同図(E)は、亀裂長さが充分に大きく、端部。
欠陥部の反射エコーが別々に画像に表われる場合である
。
。
以上の装置、及び原理を基に、本発明方法における装置
制御及びデータ処理を行うプログラムのフローチャート
について以下説明する。
制御及びデータ処理を行うプログラムのフローチャート
について以下説明する。
第5図はメインプログラムである。本プログラムは50
1ステツプによりスタートし、次に初期設定のサブルー
チン502ステツプに進み、前記駆動装置の移動の原点
を決定する詳細後述。この原点を中心として前記駆動装
置(UTセンサを含む)を移動させる。ステップ503
は前記UTセンサ302を螺旋状に移動させるステップ
である。
1ステツプによりスタートし、次に初期設定のサブルー
チン502ステツプに進み、前記駆動装置の移動の原点
を決定する詳細後述。この原点を中心として前記駆動装
置(UTセンサを含む)を移動させる。ステップ503
は前記UTセンサ302を螺旋状に移動させるステップ
である。
上記の螺旋状の移動は、第2図、第3図に示した装置に
よってUTセンサ302を配管の軸方向及び周方向に駆
動することによって行われる。上記螺旋状移動時の軸方
向移動量ΔY、周方向移動量(回転量)八〇は事前に決
定される量である。ステップ505,506は、軸方向
の移動が、障害物リミットスイッチ信号の入力により限
界(前記円周方向駆動装置210が天プレート204に
達する)であるか歪かを判定するものであり、ステップ
507は505,506ステツプの他に、ステップ50
4で計算される駆動装置i!(UTセンサを含む)の軸
方向への原点よりの全移動量Ytotalを事前に決め
られる定数Ylimitにより制限するものである。こ
れらの螺旋状移動が範囲を越えた場合、506,507
ステツプから直ちにステップ512のENDとなる。一
方、上記範囲外では引き続きステップ508へ進み、前
記第4図(B)で示したUTセンサからの信号(xi、
Ai)を取り込み、ステップ509にて上記信号のAi
がしきい値AHを越えるかどうか、即ち、亀裂の有無を
判定する。亀裂が無い場合、ステップ503へ戻り螺旋
状移動をくり返し、亀裂の検出をくり返し行う。一方、
亀裂が検出された場合は、亀裂データ処理サブルーチン
510(詳細後述コ、亀裂形状・寸法決定サブルーチン
511(詳細後述)へと進み必要データの取込み及びそ
れに必要な装置の移動の指定、並びに必要なデータの処
理を行う。一連のデータ処理の後、管内の他の部分の亀
裂の検出を行うためステップ503へ戻り、螺旋状移動
を繰り返し行う。以上のステップを行えば、本発明方法
により自動的に亀裂を検知し、実在の亀裂に類似した形
として亀裂を捉えることができる。次に各サブルーチン
について説明する。
よってUTセンサ302を配管の軸方向及び周方向に駆
動することによって行われる。上記螺旋状移動時の軸方
向移動量ΔY、周方向移動量(回転量)八〇は事前に決
定される量である。ステップ505,506は、軸方向
の移動が、障害物リミットスイッチ信号の入力により限
界(前記円周方向駆動装置210が天プレート204に
達する)であるか歪かを判定するものであり、ステップ
507は505,506ステツプの他に、ステップ50
4で計算される駆動装置i!(UTセンサを含む)の軸
方向への原点よりの全移動量Ytotalを事前に決め
られる定数Ylimitにより制限するものである。こ
れらの螺旋状移動が範囲を越えた場合、506,507
ステツプから直ちにステップ512のENDとなる。一
方、上記範囲外では引き続きステップ508へ進み、前
記第4図(B)で示したUTセンサからの信号(xi、
Ai)を取り込み、ステップ509にて上記信号のAi
がしきい値AHを越えるかどうか、即ち、亀裂の有無を
判定する。亀裂が無い場合、ステップ503へ戻り螺旋
状移動をくり返し、亀裂の検出をくり返し行う。一方、
亀裂が検出された場合は、亀裂データ処理サブルーチン
510(詳細後述コ、亀裂形状・寸法決定サブルーチン
511(詳細後述)へと進み必要データの取込み及びそ
れに必要な装置の移動の指定、並びに必要なデータの処
理を行う。一連のデータ処理の後、管内の他の部分の亀
裂の検出を行うためステップ503へ戻り、螺旋状移動
を繰り返し行う。以上のステップを行えば、本発明方法
により自動的に亀裂を検知し、実在の亀裂に類似した形
として亀裂を捉えることができる。次に各サブルーチン
について説明する。
第6図は初期設定サブルーチンの流れ図である。
本サブルーチンは前記メインルーチンから直ちに始まり
、本サブルーチンは前記UTセンサ302の移動の原点
を決めるものである。ステップ602〜604は前記円
周方向駆動装置を右回りにΔθ0回転せ、前記ヘッド回
転リミットスイッチ304の信号を取り込みONとなっ
た状態で回転を止める。次の605〜607ステツプは
軸方向駆動装置により軸の(−)方向へΔY移動させ、
前記軸方向リミットスイッチ203の信号を取り込みO
Nとなった状態で移動をやめる。次の608ステツプに
より1回転検出器及び軸方向移動量検出器(第2図には
図示せず)により、円周方向への右回りの回転角θ、軸
方向への移動量Yを取り込み、609ステツプにより、
このYとθとを(Y。
、本サブルーチンは前記UTセンサ302の移動の原点
を決めるものである。ステップ602〜604は前記円
周方向駆動装置を右回りにΔθ0回転せ、前記ヘッド回
転リミットスイッチ304の信号を取り込みONとなっ
た状態で回転を止める。次の605〜607ステツプは
軸方向駆動装置により軸の(−)方向へΔY移動させ、
前記軸方向リミットスイッチ203の信号を取り込みO
Nとなった状態で移動をやめる。次の608ステツプに
より1回転検出器及び軸方向移動量検出器(第2図には
図示せず)により、円周方向への右回りの回転角θ、軸
方向への移動量Yを取り込み、609ステツプにより、
このYとθとを(Y。
θ)= (0,O)としてマイコンにメモリし、この点
を探傷試験(即ちUTセンサ302の移動)の原点とす
る。この原点の初期設定が終了すれば本サブルーチンは
直ちに第5図のメインルーチンへと戻る。なお、これ以
後のこの原点からのUTセンサの移動量を軸方向をY、
円周方向回転をθと定義する。Yとθとの測定は前記軸
方向移動量検出器9回転検出器により行うが、簡素化の
ため、以後は、Y、θの取込みとして扱うこととする。
を探傷試験(即ちUTセンサ302の移動)の原点とす
る。この原点の初期設定が終了すれば本サブルーチンは
直ちに第5図のメインルーチンへと戻る。なお、これ以
後のこの原点からのUTセンサの移動量を軸方向をY、
円周方向回転をθと定義する。Yとθとの測定は前記軸
方向移動量検出器9回転検出器により行うが、簡素化の
ため、以後は、Y、θの取込みとして扱うこととする。
次に亀裂が検出された場合の亀裂データ処理サブルーチ
ン(第7図)について説明する。第5図のメインルーチ
ンの509ステツプで亀裂が検出されると本サブルーチ
ンはステップ701から直ちにスタート(START)
する。まずステップ702により前記UTセンサ302
を軸方向へ−Yoだけ移動する。これは他の亀裂の検出
地点近傍の存在の有無を確かめるためのものであり、ま
た第4図の401のUTセンサの測定点間距離ΔYを確
保するためのものであり、このYoの値は事前に決めら
れるものである。次に、703ステツプによりΔY′だ
け軸方向へ移動する。このΔY′は事前に決められるも
のであり後述するようにこのΔY′の間隔によりUTセ
ンサ302の信号を取り込み、データ処理することとな
り、704ステツプはこのΔY′の移動(後述するよう
に、このΔY′の移動はある範囲まで縁り返し行なわれ
る)の合計をY ’ totalとして計算するもので
あり、705ステツプはこれらの移動により、UTセン
サ302の座標を取込み確認するものである。以上の後
、ステップ706,707にて、超音波探傷器のデータ
(xi、Ai)(i=1〜n)を取込み、亀裂の有無を
検出する。亀裂が存在しない場合はステップ709へ進
むが、存在する場合は708ステツプへ進みエコー処理
サブルーチンにてデータ処理した後に709ステツプへ
と進む。709ステツプでは上記Y’ totalと事
前に決められる移動量Y 11m1tとの大小関係を判
定し、Y ’ total< Y 11m1tの場合に
は703〜709のステップを繰り返し行なわせる。7
09ステツプでY’ totalの値がY ’ 11m
1tを越える場合はこの軸上でのデータの取込みは終了
となり。
ン(第7図)について説明する。第5図のメインルーチ
ンの509ステツプで亀裂が検出されると本サブルーチ
ンはステップ701から直ちにスタート(START)
する。まずステップ702により前記UTセンサ302
を軸方向へ−Yoだけ移動する。これは他の亀裂の検出
地点近傍の存在の有無を確かめるためのものであり、ま
た第4図の401のUTセンサの測定点間距離ΔYを確
保するためのものであり、このYoの値は事前に決めら
れるものである。次に、703ステツプによりΔY′だ
け軸方向へ移動する。このΔY′は事前に決められるも
のであり後述するようにこのΔY′の間隔によりUTセ
ンサ302の信号を取り込み、データ処理することとな
り、704ステツプはこのΔY′の移動(後述するよう
に、このΔY′の移動はある範囲まで縁り返し行なわれ
る)の合計をY ’ totalとして計算するもので
あり、705ステツプはこれらの移動により、UTセン
サ302の座標を取込み確認するものである。以上の後
、ステップ706,707にて、超音波探傷器のデータ
(xi、Ai)(i=1〜n)を取込み、亀裂の有無を
検出する。亀裂が存在しない場合はステップ709へ進
むが、存在する場合は708ステツプへ進みエコー処理
サブルーチンにてデータ処理した後に709ステツプへ
と進む。709ステツプでは上記Y’ totalと事
前に決められる移動量Y 11m1tとの大小関係を判
定し、Y ’ total< Y 11m1tの場合に
は703〜709のステップを繰り返し行なわせる。7
09ステツプでY’ totalの値がY ’ 11m
1tを越える場合はこの軸上でのデータの取込みは終了
となり。
710ステツプの亀裂寸法決定サブルーチンへと進みデ
ータ処理を行う。これが済むと711ステツプへと進み
円周方向にΔθ′右回転移動する。
ータ処理を行う。これが済むと711ステツプへと進み
円周方向にΔθ′右回転移動する。
これは、上記の亀裂データの取込みを円周方向にΔθ′
だけずらして行うためであり、このΔO′量は事前に決
められる量である。円周方向の移動は360°にて基に
戻るため、711ステツプによりΔθ′の合計量θ’
total を求め、712ステツプによりこのθ’
tatalが360°以上の場合714ステツプへと進
み本サブルーチンはENDとなりメインルーチンへ復帰
する。一方、712ステツプでθ’ tatalが36
0’よりも小さい場合、ステップ713へ進み軸方向へ
−Y ’ tatalだけ戻り、Δθ′だけずれた軸方
向に対してステップ703〜709の流れを繰り返し、
データの取込みを行う。以上により前記509で螺旋状
移動により検知した亀裂に対し、本サブルーチンにより
、亀裂に関する詳細データ(後述)を得ることができる
。
だけずらして行うためであり、このΔO′量は事前に決
められる量である。円周方向の移動は360°にて基に
戻るため、711ステツプによりΔθ′の合計量θ’
total を求め、712ステツプによりこのθ’
tatalが360°以上の場合714ステツプへと進
み本サブルーチンはENDとなりメインルーチンへ復帰
する。一方、712ステツプでθ’ tatalが36
0’よりも小さい場合、ステップ713へ進み軸方向へ
−Y ’ tatalだけ戻り、Δθ′だけずれた軸方
向に対してステップ703〜709の流れを繰り返し、
データの取込みを行う。以上により前記509で螺旋状
移動により検知した亀裂に対し、本サブルーチンにより
、亀裂に関する詳細データ(後述)を得ることができる
。
次に上記亀裂データ処理サブルーチン中のエコー処理サ
ブルーチン(第8図)、亀裂寸法決定サブルーチン(第
9,10図)について説明する。
ブルーチン(第8図)、亀裂寸法決定サブルーチン(第
9,10図)について説明する。
第8図は亀裂データ処理サブルーチン中、亀裂が存在(
前記超音波探傷器(以後UTと書く)4のエコー出力A
iが、しきい値AHを越えた場合)した場合に直ちに8
01により始まる。まず802ステツプにより、亀裂が
存在した座標(前記UTセンサ302の原点からの移動
量を示す)、(Y。
前記超音波探傷器(以後UTと書く)4のエコー出力A
iが、しきい値AHを越えた場合)した場合に直ちに8
01により始まる。まず802ステツプにより、亀裂が
存在した座標(前記UTセンサ302の原点からの移動
量を示す)、(Y。
θ)をマイコン内のRAMに記録する。ここで、ステッ
プ803より再びUTの出力(xi、Ai)(i=1〜
n)を取込み、804ステツプにてAi≧AHなる出力
を分類し、805ステツプにてAi≧AHなる点(xi
、Ai)を取り込む。
プ803より再びUTの出力(xi、Ai)(i=1〜
n)を取込み、804ステツプにてAi≧AHなる出力
を分類し、805ステツプにてAi≧AHなる点(xi
、Ai)を取り込む。
(第4図(B)参照)。ここで前記第4図(C)〜(E
)に示すように、反射エコーの画像は分類されるので、
ステップ806により、上記取込みデータ(xi、Ai
)の添字iの番地の連続性により、取込みデータを分類
する。即ち、iが連続する場合は第4図(C)、(E)
のパターンであり、ステップ807へと進み、iが不連
続の場合は第4図(D)のパターンとなりステップ80
8へと進む。ステップ807は上記取込みデータ(xi
、Ai)中のAiの最大のものを選びそれを(Xima
x、 Aimax)とし、また第4図(C)。
)に示すように、反射エコーの画像は分類されるので、
ステップ806により、上記取込みデータ(xi、Ai
)の添字iの番地の連続性により、取込みデータを分類
する。即ち、iが連続する場合は第4図(C)、(E)
のパターンであり、ステップ807へと進み、iが不連
続の場合は第4図(D)のパターンとなりステップ80
8へと進む。ステップ807は上記取込みデータ(xi
、Ai)中のAiの最大のものを選びそれを(Xima
x、 Aimax)とし、また第4図(C)。
(E)のパターンであるのでこのパターンをグループ1
として分類しこのグループ1と(ximax 、 A
imax )を前記802の(Y、θ)の値と共にマイ
コン6内RAMに記録するステップである。
として分類しこのグループ1と(ximax 、 A
imax )を前記802の(Y、θ)の値と共にマイ
コン6内RAMに記録するステップである。
一方、ステップ808では、第4図(D)のパターンで
あるのでAi≧AHなる点(xi、Ai)の集合(iの
番号が連続する点の集まり)は2つ存在する。そこで、
この集まりを2つにグループ分けしく第4図(D)中の
グループPとQ)、各グループでAiの最大となる点を
求めその点を(ximax、 Aimax)とし、第4
図(D)パターンなのでグループ2とし2組のグループ
(ximax、Aimax)を前記802の(Y、θ)
と共に、マイコン6内のRAMに記憶する。ステップ8
07,808が終了するか、又はステップ804にてA
i≧AHなるデータが取込めない場合は直ちに809ス
テツプへ進み本サブルーチンを終了する。以上の本サブ
ルーチンにより、UTセンサ302の座標(Y、 θ)
におけるUT画像第4図(C)〜(E)のAiの最大と
なる点を求めることができる。
あるのでAi≧AHなる点(xi、Ai)の集合(iの
番号が連続する点の集まり)は2つ存在する。そこで、
この集まりを2つにグループ分けしく第4図(D)中の
グループPとQ)、各グループでAiの最大となる点を
求めその点を(ximax、 Aimax)とし、第4
図(D)パターンなのでグループ2とし2組のグループ
(ximax、Aimax)を前記802の(Y、θ)
と共に、マイコン6内のRAMに記憶する。ステップ8
07,808が終了するか、又はステップ804にてA
i≧AHなるデータが取込めない場合は直ちに809ス
テツプへ進み本サブルーチンを終了する。以上の本サブ
ルーチンにより、UTセンサ302の座標(Y、 θ)
におけるUT画像第4図(C)〜(E)のAiの最大と
なる点を求めることができる。
次に亀裂寸法決定サブルーチン(第9,10図)につい
て説明する。前記亀裂データ処理サブルーチン(第7図
)中、709ステツプまでにより回転角θに対し軸方向
のUT倍信号取込みが終わると、本サブルーチンにより
、この点に関し亀裂寸法を算出する。本サブルーチンは
901ステツプ(第9図参照)から始まり、まず、90
2によりUTセンサ302が回転角θ一定で軸方向をY
11m1t量だけ移動した中でUT倍信号xi、Ai
)中にAi≧AHなる点が存在したか否かを判断し、無
い場合は直ちに918ステツプへ進み、亀裂なしであり
、前記裂長さdx=dy=oとマイコン6内のRAM、
または前記外部記憶装置8に記憶し、919ステツプへ
と進み本サブルーチンを終了する。一方、Aj≧AHが
存在する場合は903ステツプへと進み、マイコン6中
のRAMから、前記807,808で記憶シタデータ(
Y、 l1l) 。
て説明する。前記亀裂データ処理サブルーチン(第7図
)中、709ステツプまでにより回転角θに対し軸方向
のUT倍信号取込みが終わると、本サブルーチンにより
、この点に関し亀裂寸法を算出する。本サブルーチンは
901ステツプ(第9図参照)から始まり、まず、90
2によりUTセンサ302が回転角θ一定で軸方向をY
11m1t量だけ移動した中でUT倍信号xi、Ai
)中にAi≧AHなる点が存在したか否かを判断し、無
い場合は直ちに918ステツプへ進み、亀裂なしであり
、前記裂長さdx=dy=oとマイコン6内のRAM、
または前記外部記憶装置8に記憶し、919ステツプへ
と進み本サブルーチンを終了する。一方、Aj≧AHが
存在する場合は903ステツプへと進み、マイコン6中
のRAMから、前記807,808で記憶シタデータ(
Y、 l1l) 。
グループ、 (ximax、 Aimax)をマイコ
ン6中のCPUに取込み、データ処理をする。データ処
理は、904ステツプへ進みグループの判定を行い、前
記807のグループ1の場合は905ステツプへ、前記
808のグループ2の場合は910ステツプへと進む。
ン6中のCPUに取込み、データ処理をする。データ処
理は、904ステツプへ進みグループの判定を行い、前
記807のグループ1の場合は905ステツプへ、前記
808のグループ2の場合は910ステツプへと進む。
905へ進んだグループ1の場合、前記第4図(C)、
(E)の区別があり、この場合分けを行う。前記(E)
の場合、亀裂長さが長い場合であるので取り込みデータ
(ximax、 Aimax)は公知のように軸方向の
移動、即ちYの変化に対し連続的には存在せず、1度途
切れて再び表われてくる。(Yの変化とは(ximax
、 Y imax)の取込みは第7図703に示され
るようにΔY′間隔にて行なわれていることを示す。)
。一方、前記第4図(C)の場合は軸方向の移動、即ち
Yの変化に対し連続的に(ximax、 Aimax)
が存在する。この公知の違いを利用し、ステップ906
にて前記第4図(C)の場合はステップ918へと進み
、上記の亀裂なしの場合と同様に918ステツプへ進む
こととなる。一方前記第4図(E)の場合はステップ9
07へと進む。907ステツプでは前述の取込みデータ
(ximax、 Aimax)のYの変化による不達性
により、Yの値の大小により、Yの小さい方をグループ
1′、他をグループ2′としてグループ分けする。次に
908ステツプにより各グループ中のA imaxの最
大のものを選、ぶ。これは公知技術のA imaxが最
大の点が、UTセンサ302と欠陥部または端部の距離
の最小地点(UTセンサの位置を示す)を示すことによ
る理由により選ぶものである。(第4図(A)のUTセ
ンサの位置。)これより909ステツプへ進み、グルー
プ1′のAia+axの最大となる点のY、θ、 xi
maxをYl、 02w1.グループ2′のAimax
の最大となる点のYl、 θ、 ximaxをY2.
θlW2としマイコン6内RAM又は外部記憶装置
8に記憶する。
(E)の区別があり、この場合分けを行う。前記(E)
の場合、亀裂長さが長い場合であるので取り込みデータ
(ximax、 Aimax)は公知のように軸方向の
移動、即ちYの変化に対し連続的には存在せず、1度途
切れて再び表われてくる。(Yの変化とは(ximax
、 Y imax)の取込みは第7図703に示され
るようにΔY′間隔にて行なわれていることを示す。)
。一方、前記第4図(C)の場合は軸方向の移動、即ち
Yの変化に対し連続的に(ximax、 Aimax)
が存在する。この公知の違いを利用し、ステップ906
にて前記第4図(C)の場合はステップ918へと進み
、上記の亀裂なしの場合と同様に918ステツプへ進む
こととなる。一方前記第4図(E)の場合はステップ9
07へと進む。907ステツプでは前述の取込みデータ
(ximax、 Aimax)のYの変化による不達性
により、Yの値の大小により、Yの小さい方をグループ
1′、他をグループ2′としてグループ分けする。次に
908ステツプにより各グループ中のA imaxの最
大のものを選、ぶ。これは公知技術のA imaxが最
大の点が、UTセンサ302と欠陥部または端部の距離
の最小地点(UTセンサの位置を示す)を示すことによ
る理由により選ぶものである。(第4図(A)のUTセ
ンサの位置。)これより909ステツプへ進み、グルー
プ1′のAia+axの最大となる点のY、θ、 xi
maxをYl、 02w1.グループ2′のAimax
の最大となる点のYl、 θ、 ximaxをY2.
θlW2としマイコン6内RAM又は外部記憶装置
8に記憶する。
一方、904ステツプで910へと進んだ前記808の
グループ2は前記第4図(D)のどとくxiの小さいP
とQとの2つのグループに分けられる。910ステツプ
ではこの2つのグループにおいてYの変化に対するA
imaxの最大値を選ぶ、続いて911ステツプへと進
み前記909ステツプの場合と同様に、上記の場合のY
L、 θ、 ximaxの値をグループP(xiの値が
小さい)の場合Y2゜θ、 wz、グループQの場合Y
1.θ、W1としマイコン6内RAM又は外部記憶装置
8に記憶する。
グループ2は前記第4図(D)のどとくxiの小さいP
とQとの2つのグループに分けられる。910ステツプ
ではこの2つのグループにおいてYの変化に対するA
imaxの最大値を選ぶ、続いて911ステツプへと進
み前記909ステツプの場合と同様に、上記の場合のY
L、 θ、 ximaxの値をグループP(xiの値が
小さい)の場合Y2゜θ、 wz、グループQの場合Y
1.θ、W1としマイコン6内RAM又は外部記憶装置
8に記憶する。
ステップ909,911はステップ912へと進み、亀
裂欠陥部の座標位置(y、(1)を記憶する・ここでy
は原点からの軸方向距離であり、第4図(A)によりy
はy”Yt+wtsina にて表わせることがわか
る。また、亀裂長さdx、dyを求める初期値としてd
x、dyをOクリアしdx、dyを求めるためのパラメ
ータΔY” I YニーYzlを計算する。ステップ9
13 、!1114は前記第4図(A)中の亀裂種類1
〜3を分類するものであり、(wt、wz) sinα
の値とlYt YZ+の差により事前に定められる定
数01とC2の大小関係から判定され分類する。(分類
原理は第4図参照)ステップ913,914により第4
図(A)の中の亀裂種類1〜3は、種類1は916ステ
ツプへ、種類2は915ステツプへ、種類3は917ス
テツプへと振り分けられる。各ステップでは、前述の式
(1−1)乃至式(3−2)を用し)て亀裂長さdx、
dyを計算し、マイコン6内のRAMまたは外部記憶装
置8に披裂の種別と共に記憶する。
裂欠陥部の座標位置(y、(1)を記憶する・ここでy
は原点からの軸方向距離であり、第4図(A)によりy
はy”Yt+wtsina にて表わせることがわか
る。また、亀裂長さdx、dyを求める初期値としてd
x、dyをOクリアしdx、dyを求めるためのパラメ
ータΔY” I YニーYzlを計算する。ステップ9
13 、!1114は前記第4図(A)中の亀裂種類1
〜3を分類するものであり、(wt、wz) sinα
の値とlYt YZ+の差により事前に定められる定
数01とC2の大小関係から判定され分類する。(分類
原理は第4図参照)ステップ913,914により第4
図(A)の中の亀裂種類1〜3は、種類1は916ステ
ツプへ、種類2は915ステツプへ、種類3は917ス
テツプへと振り分けられる。各ステップでは、前述の式
(1−1)乃至式(3−2)を用し)て亀裂長さdx、
dyを計算し、マイコン6内のRAMまたは外部記憶装
置8に披裂の種別と共に記憶する。
記憶が済むとステップ919へと進み本サブル−チンを
終了する。以上の本サブルーチンにより亀裂欠陥部属’
R(yp θ)、亀裂の種別、及び亀裂寸法dx、dy
を求めることができる。
終了する。以上の本サブルーチンにより亀裂欠陥部属’
R(yp θ)、亀裂の種別、及び亀裂寸法dx、dy
を求めることができる。
次に亀裂形状・寸法決定サブルーチン(第11図)を説
明する0本サブルーチンは第5図メインルーチン内の亀
裂データ処理サブルーチン510に引き続いて実行され
る。前記510サブルーチン中の亀裂寸法決定サブルー
チン(第9,10図)にて記憶された(y、θ)、亀裂
種類、亀裂長さdx、dyを1002ステツプによりマ
イコン6のCPU内に取込む。次に2つの流れがあるが
、先ず1003ステツプの流れの説明をする。1003
ステツプでは円グラフを定義する。この円グラフは半径
r (UT試験する管の内半径r)上を原点とするもの
であり、このグラフ上に1002ステツプにより取込ん
だθとdxとを、それぞれ角θと半径方向への長さく半
径r上が原点)を取る61004ステツプにより上記各
点を結べば、管の軸方向から見た亀裂長さの2次元的な
形状を捉えることができる。次に1005〜1007よ
り結果を前記出力装置7(モニタ、プリンタ等)に出力
し、前記外部装置8に記録する。なお、本出力の予想図
を第12図(A)、(B)に示す。次に1008へ進む
ステップについて説明する。ステップ1008では円柱
座標を定義する。この円柱座標は軸方向に関係なく半径
r(前述した管の内半径r)上を原点とするものである
。1009ステツプにてこの円柱座標系上に、軸方向y
、角度θを始点として、角度θに対して軸方向にy+d
y、半径方向にr+d xなる点を取り、ステップ10
10にて上期2点を結び、また上記各点を結ぶことによ
り、3次元的な亀裂の形状・寸法を捉えることができ、
さらに1005〜1007ステツプにて1003〜10
04ステツプの流れと同様に結果を出力・記録すること
ができる。
明する0本サブルーチンは第5図メインルーチン内の亀
裂データ処理サブルーチン510に引き続いて実行され
る。前記510サブルーチン中の亀裂寸法決定サブルー
チン(第9,10図)にて記憶された(y、θ)、亀裂
種類、亀裂長さdx、dyを1002ステツプによりマ
イコン6のCPU内に取込む。次に2つの流れがあるが
、先ず1003ステツプの流れの説明をする。1003
ステツプでは円グラフを定義する。この円グラフは半径
r (UT試験する管の内半径r)上を原点とするもの
であり、このグラフ上に1002ステツプにより取込ん
だθとdxとを、それぞれ角θと半径方向への長さく半
径r上が原点)を取る61004ステツプにより上記各
点を結べば、管の軸方向から見た亀裂長さの2次元的な
形状を捉えることができる。次に1005〜1007よ
り結果を前記出力装置7(モニタ、プリンタ等)に出力
し、前記外部装置8に記録する。なお、本出力の予想図
を第12図(A)、(B)に示す。次に1008へ進む
ステップについて説明する。ステップ1008では円柱
座標を定義する。この円柱座標は軸方向に関係なく半径
r(前述した管の内半径r)上を原点とするものである
。1009ステツプにてこの円柱座標系上に、軸方向y
、角度θを始点として、角度θに対して軸方向にy+d
y、半径方向にr+d xなる点を取り、ステップ10
10にて上期2点を結び、また上記各点を結ぶことによ
り、3次元的な亀裂の形状・寸法を捉えることができ、
さらに1005〜1007ステツプにて1003〜10
04ステツプの流れと同様に結果を出力・記録すること
ができる。
以上説明してきた本実施例によれば、超音波探傷試験器
を用い、本実施例に示す一連の操作を行うことにより万
一配管内に亀裂が発生した場合、配管内の亀裂に対し、
実際の形状寸法に類似した形態の画像として取り出すこ
とができる。
を用い、本実施例に示す一連の操作を行うことにより万
一配管内に亀裂が発生した場合、配管内の亀裂に対し、
実際の形状寸法に類似した形態の画像として取り出すこ
とができる。
本発明によれば、超音波探傷器によって自動的に亀裂の
有無を検知するだけでなく、実際の亀裂形状に類似した
形状・寸法を測定できるという優れた実用的効果がある
。
有無を検知するだけでなく、実際の亀裂形状に類似した
形状・寸法を測定できるという優れた実用的効果がある
。
第1図は本発明の装置構成の1例を示すブロック図、第
2図は本発明の軸方向駆動装置の1実施目 例の説明図、第厘ま本発明の1実施例における円周方向
駆動装置の断面図、第4図は本発明の詳細な説明図、第
5図は本発明実施のためのプログラム中のメインプログ
ラムを示すフロー図、第6図乃至第11図は本発明実施
のためのプログラム中のサブルーチンプログラムのフロ
ー図、第12図は本発明実施において出力が予想される
、亀列形状・寸法の画像の出力図である。 1・・・各種センサ、2・・・アンプ、3・・・UTセ
ンサ、4・・・超音波探傷器、5・・・A/Dコンバー
タ、6・・・マイコン、7・・・出力装置、8・・・記
憶装置、9・・・D/Aコンバータ、10・・・駆動装
置、11・・・出力装置、201・・・管、202・・
・障害物リミットスイッチ、203・・・軸方向リミッ
トスイッチ、204・・・天プレート、205・・・ガ
イドシャフト、206・・・ボールネジ、207・・・
ナツト、208・・・モータ、209・・・ガイド、2
10・・・円周方向駆動装置、211・・・ギヤボック
ス、301・・・回転テーブル、302・・・UTセン
サ、303・・・テーブル台、304・・・ヘッド回転
リミットスイッチ、30’ 5・・・モータ。 306・・・シリンダ、401・・・亀裂長さ測定原理
図、402〜405−UT(1)xコー画像、501〜
1011・・・プログラムのステップ、1101・・・
2次元の亀裂寸法円グラフの予想図、1102・・・3
次元の亀裂形状図の予想図。
2図は本発明の軸方向駆動装置の1実施目 例の説明図、第厘ま本発明の1実施例における円周方向
駆動装置の断面図、第4図は本発明の詳細な説明図、第
5図は本発明実施のためのプログラム中のメインプログ
ラムを示すフロー図、第6図乃至第11図は本発明実施
のためのプログラム中のサブルーチンプログラムのフロ
ー図、第12図は本発明実施において出力が予想される
、亀列形状・寸法の画像の出力図である。 1・・・各種センサ、2・・・アンプ、3・・・UTセ
ンサ、4・・・超音波探傷器、5・・・A/Dコンバー
タ、6・・・マイコン、7・・・出力装置、8・・・記
憶装置、9・・・D/Aコンバータ、10・・・駆動装
置、11・・・出力装置、201・・・管、202・・
・障害物リミットスイッチ、203・・・軸方向リミッ
トスイッチ、204・・・天プレート、205・・・ガ
イドシャフト、206・・・ボールネジ、207・・・
ナツト、208・・・モータ、209・・・ガイド、2
10・・・円周方向駆動装置、211・・・ギヤボック
ス、301・・・回転テーブル、302・・・UTセン
サ、303・・・テーブル台、304・・・ヘッド回転
リミットスイッチ、30’ 5・・・モータ。 306・・・シリンダ、401・・・亀裂長さ測定原理
図、402〜405−UT(1)xコー画像、501〜
1011・・・プログラムのステップ、1101・・・
2次元の亀裂寸法円グラフの予想図、1102・・・3
次元の亀裂形状図の予想図。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、(a)超音波探触子を配管壁面に密着させて支承す
るとともに、該超音波探触子を配管壁 面に沿って摺動せしめつつ、配管の軸方向 及び周方向に走行する駆動装置をマイクロ コンピュータで制御し、 (b)超音波探触子の測定位置の基準点を定め、(c)
超音波探触子を配管壁面に沿わせて螺旋状に移動させつ
つ、該超音波探触子からの 信号を取り込んで亀裂の有無、並びに亀裂 の位置を検知し、 (d)超音波探触子を配管面に沿わせて軸方向に移動さ
せつつ該超音波探触子からの信号 を取り込んで、この信号をマイクロコンピ ュータで処理して測定点と亀裂との間の最 短距離を求め、 (e)超音波探触子を周方向に移動させた後、再び軸方
向に移動させつつ該超音波探触子 からの信号を取り込んで、この信号をマイ クロコンピュータで処理して測定点と亀裂 との間の最短距離を求め、 (f)上記(f)、(e)の算出を繰り返して、各測定
点位置についてそれぞれの亀裂との間 の最短距離に基づいて亀裂の形状および寸 法の少なくとも何れか一方を算出し、 (g)上記の算出結果を画像として表示することを特徴
とする、超音波探傷を用いた、配 管内亀裂の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62042966A JPS63210657A (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | 超音波探傷を用いた、配管内亀裂の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62042966A JPS63210657A (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | 超音波探傷を用いた、配管内亀裂の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63210657A true JPS63210657A (ja) | 1988-09-01 |
Family
ID=12650780
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62042966A Pending JPS63210657A (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | 超音波探傷を用いた、配管内亀裂の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63210657A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106841398A (zh) * | 2017-02-15 | 2017-06-13 | 吉林大学 | 曲面焊接件的定位超声检测装置及方法 |
-
1987
- 1987-02-27 JP JP62042966A patent/JPS63210657A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106841398A (zh) * | 2017-02-15 | 2017-06-13 | 吉林大学 | 曲面焊接件的定位超声检测装置及方法 |
| CN106841398B (zh) * | 2017-02-15 | 2017-12-26 | 吉林大学 | 曲面焊接件的定位超声检测装置及方法 |
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