JPS63211643A - Wafer transfer device for semiconductor wafer processor - Google Patents

Wafer transfer device for semiconductor wafer processor

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JPS63211643A
JPS63211643A JP62043761A JP4376187A JPS63211643A JP S63211643 A JPS63211643 A JP S63211643A JP 62043761 A JP62043761 A JP 62043761A JP 4376187 A JP4376187 A JP 4376187A JP S63211643 A JPS63211643 A JP S63211643A
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JP
Japan
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wafer
fork
carrier
reaction chamber
load lock
Prior art date
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Pending
Application number
JP62043761A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuaki Nagao
長尾 泰明
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Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
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  • Feeding Of Articles By Means Other Than Belts Or Rollers (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE:To transfer a wafer safely without the possibility of damage by conducting the delivery of the wafer between a wafer carrier and a fork and its transfer between the wafer carrier and a reaction chamber by the cooperative operation of a carrier lifting mechanism and a fork moving mechanism. CONSTITUTION:Wafers 7 are delivered between a wafer carrier 6 and a fork 9 in a soft handling system in a wafer transfer process. Since the wafers 7 are scooped up from the wafer carrier 6 as they are left as they are positioned at a horizontal position and carried onto the fork 9, even the wafers having a large diameter can be handled without the possibility of damage. The fork 9 is turned and operated centering around a driving shaft 11 by a rotational drive mechanism 25 in a reaction chamber in response to processing processes, thus changing the directions of the wafers 7 carried onto the fork up to an approximately vertical angle from a horizontal wafer position.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は半導体ウェハに対するエツチング・CVD、
エピタキシャル成長等の各種プロセス工程を行うウェハ
プロセス装置に組み込んだウェハ搬送装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] This invention is applicable to etching/CVD for semiconductor wafers,
The present invention relates to a wafer transfer device incorporated into a wafer processing device that performs various process steps such as epitaxial growth.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

頭記したプロセス工程を行うウェハプロセス装置では、
真空維持されるプロセス反応室が大気に晒され^防止す
るために該反応室の前段に予備排気室としてのロードロ
ック室を付設している。
In the wafer processing equipment that performs the process steps mentioned above,
In order to prevent the process reaction chamber, which is maintained under vacuum, from being exposed to the atmosphere, a load lock chamber is provided as a preliminary evacuation chamber at the front stage of the reaction chamber.

ここでウェハプロセスを行うには、まず複数枚のウェハ
を装填したウェハキャリアをロードロック室内に搬入し
、次いでウェハキャリアからウェハを1枚宛取出して反
応室内に移送し、反応室内で必要なプロセスを施した後
に再びウェハを反応室からロードロック室へ戻してウェ
ハキャリアへ受け渡す移送操作を行う必要がある。
To perform wafer processing here, first a wafer carrier loaded with multiple wafers is carried into a load lock chamber, then one wafer is taken out from the wafer carrier and transferred to a reaction chamber, and the necessary processes are carried out within the reaction chamber. After the wafer is processed, it is necessary to carry out a transfer operation in which the wafer is returned from the reaction chamber to the load lock chamber and transferred to the wafer carrier.

一方、上記したウェハ搬送を行うためのウェハ搬送装置
として、従来よりベルト搬送、シリンダ搬送等の各種搬
送方式のものが公知である。ここでベルト搬送方式はロ
ードロック室と反応室との間にウェハ搬送用ベルトを敷
設して置き、ウェハキャリアから1枚宛すくい上げたウ
ェハを搬送ベルトに載せて反応室内へ搬送するものであ
る。またシリンダ搬送方式は室外に設置したシリンダの
駆動軸を0リングを介して室内に引き込み、この軸先端
にウェハの外周を把持するハンド機構を取付けたもので
ある。
On the other hand, as a wafer transport device for carrying out the above-described wafer transport, various transport systems such as belt transport and cylinder transport are conventionally known. In the belt transport method, a wafer transport belt is laid between the load lock chamber and the reaction chamber, and each wafer is scooped up one by one from a wafer carrier and placed on the transport belt and transported into the reaction chamber. In the cylinder transfer method, the drive shaft of a cylinder installed outdoors is pulled into the room via an O-ring, and a hand mechanism for gripping the outer periphery of the wafer is attached to the tip of the shaft.

(発明が解決しようとする問題点〕 ととろで昨今ではプロセス技術の進歩とともに半導体ウ
ェハの大口径化、ウェハ面に形成されるパターンの微細
、高集積度化が進み、かつこれに伴ってプロセス装置の
室内清浄度、並びに大口径ウェハのソフトハンドリング
に対する要求がますます高まる傾向にある。
(Problem to be solved by the invention) In recent years, along with advances in process technology, semiconductor wafers have become larger in diameter, patterns formed on the wafer surface have become finer, and the degree of integration has increased. Demand for indoor cleanliness and soft handling of large-diameter wafers is increasing.

かかる点、前記した従来のウェハ搬送装置では次記のよ
うな問題点がある。すなわち前者のベルトS送方式では
駆動系メカニズムが室内に設置されていることから、ベ
ルト駆動に伴いベルトからじんあいが多く発生したり、
油等が発生して室内を汚染し、室内清浄度を低下させる
。さらにベルトは水平搬送方式に制約されるために、例
えばプラズマ流CVDプロセスで反応室へ側方がらプラ
ズマ流を供給する場合等、ウェハの姿勢を水平から垂直
に近い姿勢に変えて行うプロセス工程に対応できない。
In this regard, the conventional wafer transfer apparatus described above has the following problems. In other words, in the former belt S feeding method, since the drive system mechanism is installed indoors, a lot of dust is generated from the belt due to the belt drive.
Oil etc. are generated and contaminate the room, reducing the cleanliness of the room. Furthermore, since belts are limited to horizontal conveyance, they are not suitable for process steps in which the wafer position is changed from horizontal to nearly vertical, for example when supplying a plasma flow from the side to a reaction chamber in a plasma flow CVD process. I can not cope.

また後者のシリンダ搬送方式では室内、外の境界を封止
しているゴム等の0リングが長期使用の間に摩耗してそ
の粉塵が室内汚染を引き起こす他、さらにウェハの外周
を把持するハンド機構では大口径のウェハに破損を与え
るおそれがありソフトハンドリングが困難である。
In addition, in the latter cylinder transport method, the rubber O-ring that seals the boundary between the inside and outside of the room wears out during long-term use, causing dust to contaminate the room. Soft handling is difficult because there is a risk of damaging large-diameter wafers.

この発明の目的は、ウェハプロセス装置内でウェハ搬送
を行う際に、室内汚染の原因となるじんあい等の発生の
おそれがなく、また大口径のウェハもソフトハンドリン
グでき、かつ必要によりウェハ搬送姿勢を反応室内で水
平姿勢から垂直姿勢へ容易に変更可能にして従来の問題
点解決を図るようにしたウェハ搬送装置を提供すること
にある。
The purpose of this invention is to eliminate the risk of generating dust, etc. that can cause indoor contamination when wafers are transferred in a wafer processing device, to enable soft handling of large-diameter wafers, and to allow wafers to be placed in the wafer transfer position if necessary. An object of the present invention is to provide a wafer transfer device which can easily change a wafer from a horizontal position to a vertical position within a reaction chamber, thereby solving the conventional problems.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記問題点を解決するために、この発明によれば、ロー
ドロック室内に搬入されたウェハキャリアを室内より隔
離して室外側に配備したアクチュエータで昇降操作する
キャリア昇降機構と、先端に連結したウェハ担持用フォ
ークを室内側より隔離して室外側に配備したアクチュエ
ータで反応室とロードロック室との間で往復移動操作す
るフォーク移動機構とを備え、前記キャリア昇降機構と
フォーク移動機構との共同操作によりウェハキャリアと
フォークとの間でのウェハの受け渡し、および反応室と
の間での搬送を行うよう構成する・ものとする。
In order to solve the above problems, the present invention provides a carrier lifting mechanism that lifts and lowers a wafer carrier carried into a load lock chamber using an actuator that is isolated from the room and placed outside the room, and a wafer carrier that is connected to the tip of the load lock chamber. A fork moving mechanism is provided that reciprocates the carrying fork between the reaction chamber and the load lock chamber using an actuator that is isolated from the indoor side and placed on the outdoor side, and the carrier lifting mechanism and the fork moving mechanism are jointly operated. The wafer is transferred between the wafer carrier and the fork, and transported between the reaction chamber and the reaction chamber.

〔作用〕[Effect]

上記の構成において、キャリア昇降機構はロードロック
室内に搬入されたウェハキャリアを支え。
In the above configuration, the carrier lifting mechanism supports the wafer carrier carried into the load lock chamber.

その上下移動操作によりウェハキャリアとフォークとの
間でのウェハ受け渡し位置を調節する。またフォーク移
動手段はその前進、後退移動操作によりフォークで担持
したウェハをロードロック室内のウェハキャリアとプロ
セス反応室との間で往復搬送する。ここで前記キャリア
昇降機構とフォーク移動機構とを組合せて共同操作する
ことによリ、ウェハキャリアに収容されているウェハが
1枚宛ソフトハンドリング式にフォークへ受け渡しされ
、さらに反応室との間で引き込み、戻し搬送され石。
The wafer transfer position between the wafer carrier and the fork is adjusted by the vertical movement operation. Further, the fork moving means moves the wafer carried by the fork back and forth between the wafer carrier in the load lock chamber and the process reaction chamber by moving forward and backward. By jointly operating the carrier lifting mechanism and the fork moving mechanism, the wafers housed in the wafer carrier are delivered to the fork one by one in a soft handling manner, and are further transferred to and from the reaction chamber. The stone is pulled in and transported back.

また前記キャリア昇降機構、ウェハ移動機構は、その駆
動アクチュエータが動力伝達手段として例えば磁気カッ
プリングを介して室外側に隔離配備されており、駆動ア
クチュエータ側から発生するじんあい、油等の異物がプ
ロセス装置の室内を汚染するおそれは全くない。
Furthermore, the drive actuators of the carrier lifting and lowering mechanisms and wafer moving mechanisms are isolated outside the room via, for example, magnetic couplings as power transmission means, and foreign matter such as dust and oil generated from the drive actuator side is removed from the process. There is no risk of contaminating the inside of the device.

〔実施例〕〔Example〕

第1図ないし第5図は半導体ウェハプロセス装置に組み
込まれたこの発明の実施例によるウェハ搬送装置の構成
を示すものであり、まず第1図により装置全体の構成を
説明する0図において1はプロセス装置の本体容器、2
はロードロック室、3はプロセス反応室であり、ロード
ロック室2にはその前面に!s4が、またロードロック
室2と反応室3との間には仕切扉5が設置されている。
1 to 5 show the configuration of a wafer transfer device according to an embodiment of the present invention incorporated into a semiconductor wafer processing device. First, the configuration of the entire device will be explained with reference to FIG. Process equipment main container, 2
is the load lock chamber, 3 is the process reaction chamber, and the load lock chamber 2 is in front of it! s4, and a partition door 5 is installed between the load lock chamber 2 and the reaction chamber 3.

なお図示されてないが各室2.3には排気系が接続され
ている。また6はロードロック室内に搬入されたウェハ
キャリアを示す、8亥ウエハキヤリア6はその内部に規
定枚数の半導体ウェハ7を水平姿勢に上下多段式に並べ
て収容する可搬ケースであり、前記した扉4を通じてロ
ードロック室2へ搬入、搬出される。
Although not shown, an exhaust system is connected to each chamber 2.3. Further, 6 indicates a wafer carrier carried into the load lock chamber. 8 The wafer carrier 6 is a transportable case in which a specified number of semiconductor wafers 7 are housed in a horizontal position in multiple vertical stages, and the above-mentioned door 4 into and out of the load lock chamber 2.

一方、ロードロック室2にはその底面側に前記ウェハキ
ャリア6を搭載して昇降移動操作するキャリア昇降機構
8が、また反応室3の後面側にはその先端に連結したウ
ェハ担持用のフォーク9を前記界5を通じてロードロッ
ク室2と反応室3との間で水平方向に移動操作するフォ
ーク移動機構10が設置されている。なお5aは室外に
設置した扉5の開閉操作用アクチュエータ、3aは反応
室3の側方に開口したプラズマ流の流入口である。
On the other hand, the load-lock chamber 2 has a carrier elevating mechanism 8 mounted on the bottom side thereof with the wafer carrier 6 for lifting and lowering operations, and a fork 9 for supporting a wafer connected to the tip of the reaction chamber 3 on the rear side. A fork moving mechanism 10 is installed to move the fork horizontally between the load lock chamber 2 and the reaction chamber 3 through the field 5. Note that 5a is an actuator for opening/closing the door 5 installed outside the room, and 3a is an inlet for plasma flow opened on the side of the reaction chamber 3.

次に上記したフォーク9.およびキャリア昇降機構8.
フォーク移動機構10に付いての詳細構造を述べる。ま
ずフォーク9は第2図ないし第4図に示すように十字形
に成るフレーム9aの先端3箇所に半導体ウェハ7の外
形に対応する爪9bを備え。
Next, the above-mentioned fork 9. and carrier lifting mechanism 8.
The detailed structure of the fork moving mechanism 10 will be described. First, as shown in FIGS. 2 to 4, the fork 9 is provided with claws 9b corresponding to the external shape of the semiconductor wafer 7 at three locations at the tip of a cross-shaped frame 9a.

かつフレーム9aの後端をフォーク移動装置の駆動軸に
連結した構造であり、半導体ウェハ7は前記爪9bの間
に嵌り込んでフレーム9a上の定位置に担持される。な
お図示は半導体ウェハ7を水平姿勢に担持している搬送
状態を示し、この状態からフォーク9を軸の回りで矢印
方向に回転操作することにより、半導体ウェハ7を担持
したままウェハの担持姿勢を水平から垂直に近い角度ま
で変えることができる。
The rear end of the frame 9a is connected to a drive shaft of a fork moving device, and the semiconductor wafer 7 is fitted between the claws 9b and held at a fixed position on the frame 9a. The figure shows a conveyance state in which the semiconductor wafer 7 is held in a horizontal position. From this state, by rotating the fork 9 around the axis in the direction of the arrow, the holding position of the wafer can be changed while holding the semiconductor wafer 7. The angle can be changed from horizontal to nearly vertical.

また、前記フォーク9を移動操作するフォーク移動機構
10は、その詳細構造を第5図に示すようにプロセス反
応室3の後壁を貫通して引出したフォーク駆動軸11が
該駆動軸11の移動経路に沿って反応室に結合した長尺
の非磁性気密容器12に収容され、かつ該気密容器12
の外側には駆動モータ13゜ねじ送り機構14を含む駆
動アクチュエータ15が反応室内と隔離して配備されて
おり、さらに駆動軸11と駆動アクチュエータ15との
間が動力伝達手段としての磁気カップリング16を介し
て磁気的に結合されている。該磁気カップリング16は
駆動軸11の軸端に連結した従動側の磁石17と、気密
容器12を隔ててその外周側に対向する駆動側の磁石1
8と、該磁石18を保持した内ハウジング19と、内ハ
ウジング19を回転可能に保持した外ハウジング20と
から成り、外ハウジング20が駆動アクチュエータ15
のねじ送り機構14に結合されている。なお21は駆動
側磁石1日を包囲する磁気シールド、22は気密容器1
2内で駆動軸11および磁石17を可動式に支持したグ
リースレスの固定摺動形軸受である。また前記ハウジン
グ19には駆動モータ23.歯車機構24から成る回転
駆動機構25が連結されている。
Further, in the fork moving mechanism 10 for moving and operating the fork 9, as shown in FIG. The airtight container 12 is housed in a long non-magnetic airtight container 12 coupled to the reaction chamber along the path.
A drive actuator 15 including a drive motor 13 and a screw feed mechanism 14 is installed separately from the reaction chamber, and a magnetic coupling 16 serving as a power transmission means is provided between the drive shaft 11 and the drive actuator 15. are magnetically coupled via. The magnetic coupling 16 includes a driven side magnet 17 connected to the shaft end of the drive shaft 11, and a driving side magnet 1 facing the outer circumferential side of the airtight container 12.
8, an inner housing 19 holding the magnet 18, and an outer housing 20 holding the inner housing 19 rotatably.
The screw feed mechanism 14 is connected to the screw feed mechanism 14 of Note that 21 is a magnetic shield surrounding the drive side magnet 1, and 22 is an airtight container 1.
This is a greaseless fixed sliding type bearing in which a drive shaft 11 and a magnet 17 are movably supported within the bearing. The housing 19 also includes a drive motor 23. A rotational drive mechanism 25 consisting of a gear mechanism 24 is connected.

かかる構成で駆動アクチュエータ15の駆動モータ13
で磁気カップリング16の外ハウジング20をねし送り
することにより、駆動側磁石18.従動側磁石17を介
して駆動軸11とともにフォーク9が矢印入方向に水平
移動し、またこの過程で回転駆動機構25を操作するこ
とにより内ハウジング19が回転し、磁気カップリング
16を介してフォーク9が駆動軸11の回りで矢印B方
向に向きを変えるようになる。
With this configuration, the drive motor 13 of the drive actuator 15
By threading the outer housing 20 of the magnetic coupling 16 at the drive side magnet 18. The fork 9 is moved horizontally in the direction of the arrow along with the drive shaft 11 via the driven side magnet 17, and in this process, the inner housing 19 is rotated by operating the rotary drive mechanism 25, and the fork is moved via the magnetic coupling 16. 9 changes direction around the drive shaft 11 in the direction of arrow B.

これに対しキャリア昇降機構8は、ロードロック室2内
に搬入したウェハキャリア6を載置支持するよう室内に
配備したキャリア支持台26と連結して該支持台を室内
で矢印C方向に昇降操作するものであり、その機構は前
記したフォーク移動機構と同様に室外に隔離して配備し
た駆動アクチュエータとキャリア支持台26の駆動軸と
が磁気カップリングを介して結合されている。ここで第
5図に示したフォーク移動機構10と異なる点は回転駆
動機構25が無く、内ハウジング19に相当する駆動側
磁石18を支持した磁気カップリング16のハウジング
が駆動アクチュエータ15のねじ送り機構14に連結さ
れた構造として成る。
On the other hand, the carrier lifting mechanism 8 is connected to a carrier support stand 26 disposed inside the chamber to place and support the wafer carrier 6 carried into the load lock chamber 2, and lifts and lowers the support stand in the direction of arrow C inside the room. The mechanism is similar to the fork moving mechanism described above, in which a drive actuator placed separately outside the room and a drive shaft of the carrier support base 26 are coupled via a magnetic coupling. Here, the difference from the fork moving mechanism 10 shown in FIG. It consists of a structure connected to 14.

次に上記構成による半導体ウェハプロセス工程でのウェ
ハ搬送動作に付いて説明する。まず指定枚数のウェハ7
を装填したウェハキャリア6をロードロック室2内に搬
入してキャリア支持台26の上に載せる。ここで前面扉
4を閉じ、ロードロック室2.プロセス反応室3を排気
した後に仕切扉5を開放、さらにフォーク移動機構10
を操作して反応室内に待機しているフォーク9をロード
ロック室2内に送り込み、ウェハ7の真下に停止させる
。次にキャリア昇降機構8を操作してウェハキャリア6
を僅かに下降移動させることにより、ウェハキャリア6
内に収容れているウェハ7がフォーク9にすくい上げら
れて水平姿勢のまま爪9bの間に嵌り込んでフォーク上
の定位置に担持される。
Next, the wafer transport operation in the semiconductor wafer processing step with the above configuration will be explained. First, the specified number of wafers 7
The wafer carrier 6 loaded with the wafer carrier 6 is carried into the load lock chamber 2 and placed on the carrier support stand 26. Now close the front door 4 and load lock chamber 2. After evacuating the process reaction chamber 3, the partition door 5 is opened, and the fork moving mechanism 10 is opened.
is operated to send the fork 9 waiting in the reaction chamber into the load lock chamber 2 and stop it directly below the wafer 7. Next, operate the carrier lifting mechanism 8 to lift the wafer carrier 6.
By slightly moving the wafer carrier 6 downward,
The wafer 7 housed therein is scooped up by the fork 9, fitted between the claws 9b in a horizontal position, and held at a fixed position on the fork.

続いてフォーク移動機構10の操作によりフォーク9と
ともにウェハ7を反応室3内に引き込んで所定位置で停
止させ、仕切扉5を閉じた後に反応室3内をさらに高真
空度に真空引きする。これによりプロセス工程の準備が
整う。
Subsequently, the fork moving mechanism 10 is operated to pull the wafer 7 together with the fork 9 into the reaction chamber 3 and stop it at a predetermined position, and after the partition door 5 is closed, the inside of the reaction chamber 3 is further evacuated to a high degree of vacuum. This prepares the process step.

次に反応室内でウェハ7に対し減圧CVD、プラズマC
VD、プラズマ流CVD、ないしはエツチング等のウェ
ハプロセスが行われる。なお図示はプラズマ流CVDの
プロセスの場合を示し、プラズマ流入口3aから紙面と
直角方向に供給されるプラズマ流に対向するよう、第5
図で述べた回転駆動機構25の回転操作でウェハ7をフ
ォーク9とともに水平姿勢から略直角に近い角度に向き
を変え、この状態でウェハのプロセス処理を行う。
Next, the wafer 7 is subjected to low pressure CVD and plasma C in the reaction chamber.
A wafer process such as VD, plasma CVD, or etching is performed. Note that the illustration shows the case of a plasma flow CVD process, and the fifth
By the rotational operation of the rotary drive mechanism 25 described in the figure, the wafer 7 and the fork 9 are turned from a horizontal position to an angle close to a right angle, and the wafer is processed in this state.

ここで所定のウェハプロセスが完了すると、回転駆動機
構25によりウェハ7を垂直角度から再び水平姿勢に戻
し、さらにフォーク移動機構10の操作により仕切扉5
を通してウェハ7を反応室内からウェハキャリア6まで
搬送したところでキャリア昇降機構8の操作でウェハキ
ャリア6を僅かに上昇させ、ウェハ7をフォーク9から
ウェハキャリア6へ受け渡し、続いてフォーク9をウェ
ハキャリア6より一旦後退させる。これにより1枚分の
プロセス工程、並びにその搬送が終了する。
When the predetermined wafer process is completed, the rotation drive mechanism 25 returns the wafer 7 from the vertical angle to the horizontal position, and the fork moving mechanism 10 is operated to move the wafer 7 back to the horizontal position.
After the wafer 7 is transported from the reaction chamber to the wafer carrier 6 through the wafer 7, the wafer carrier 6 is slightly raised by operating the carrier lifting mechanism 8, and the wafer 7 is transferred from the fork 9 to the wafer carrier 6. Move back for a while. This completes the process steps for one sheet and its transportation.

次に別なウェハをプロセス処理するには、キャリア昇降
機構8によりウェハキャリア6を1ピッチ分だけ昇降操
作し、次に処理するウェハ7をフォーク9との受け渡し
位置へ移し替えた後に前記と同様な順序で受け渡し、搬
送操作を行う、以下同様な操作を繰り返し行ってウェハ
キャリア6に装填されている全ウェハに付いてプロセス
処理する。また全てのウェハののプロセス処理が完了す
れば、フォーク9を反応室内に後退させて仕切扉5を閉
じ、さらにロードロック室2内の雰囲気を不活性ガスで
ガス置換した後に室内を大気に戻し、かつ前面rR4を
開放してロードロック室2よリウエハキャリア6を搬出
し、1セット分のウェハプロセス処理が全て完了するこ
とになる。
To process another wafer next, the wafer carrier 6 is raised and lowered by one pitch using the carrier lifting mechanism 8, and the wafer 7 to be processed next is transferred to the transfer position with the fork 9, and then the same process as above is performed. The wafers are delivered and transferred in the same order as before, and the same operations are repeated to process all the wafers loaded in the wafer carrier 6. When the processing of all wafers is completed, the fork 9 is retreated into the reaction chamber, the partition door 5 is closed, and the atmosphere inside the load lock chamber 2 is replaced with an inert gas, and then the inside of the chamber is returned to the atmosphere. Then, the front surface rR4 is opened and the rewafer carrier 6 is carried out from the load lock chamber 2, and the wafer processing for one set is completed.

また上記の説明で明らかなようにウェハ搬送過程では、
ウェハキャリア6とフォーク9との間でウェハ7がソフ
トハンドリング式に受け渡しされる。しかもウェハ7は
水平姿゛勢のままウェハキャリア6よりすくい上げてフ
ォーク9の上に担持されるので大口径のウェハも破損の
おそれ無しに取扱うことができる。またプロセス工程に
応じ、反応室内にて回転駆動機構25でフォーク9を駆
動軸11の回りでで回転操作することにより、フォーク
に担持したウェハ7を水平搬送姿勢から略垂直に近い角
度にまで向きを変えることが可能である。
Also, as is clear from the above explanation, in the wafer transfer process,
The wafer 7 is transferred between the wafer carrier 6 and the fork 9 in a soft handling manner. Moreover, since the wafer 7 is scooped up from the wafer carrier 6 and carried on the fork 9 in a horizontal position, even large diameter wafers can be handled without fear of damage. Depending on the process step, the fork 9 is rotated around the drive shaft 11 by the rotary drive mechanism 25 in the reaction chamber, so that the wafer 7 carried on the fork is oriented from a horizontal transport position to an almost vertical angle. It is possible to change.

さらにキャリア昇降機構8.フォーク移動機構10に付
いてはその動力伝達経路の途中に磁気カップリング16
を介装し、駆動アクチュエータ15を気密容器の室内と
隔離して室外に配備したことにより、駆動アクチュエー
タ側で発生するじんあい、油等の異物がプロセス装置の
室内に侵入して汚染するおそれが全くなく室内の清浄維
持が図れる。
Further, the carrier lifting mechanism 8. The fork moving mechanism 10 has a magnetic coupling 16 in the middle of its power transmission path.
By installing the drive actuator 15 outside the room and separating it from the room of the airtight container, there is a risk that foreign substances such as dust and oil generated on the drive actuator side may enter the room of the process equipment and cause contamination. It is possible to maintain the cleanliness of the room without any problems.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上述べたようにこの発明によれば、ロードロック室内
に搬入されたウェハキャリアを室内より隔離して室外側
に配備したアクチュエータで昇降操作するキャリア昇降
a構と、先端に連結したウェハ担持用フォークを室内側
より隔離して室外側に配備したアクチュエータで反応室
とロードロック室との間で往復移動操作するフォーク移
動機構とを備え、前記キャリア昇降機構とフォーク移動
機構との共同操作によりウェハキャリアとフォークとの
間でのウェハの受け渡し、および反応室との間での搬送
を行うよう構成したことにより、簡易な搬送機構でウェ
ハキャリアとフォークとの間でのウェハ受け渡しをソフ
トハンドリング式に行い、ウェハを破損のおそれ無しに
安全に搬送できる。またプロセス工程に応じてフォーク
を駆動軸の回りで回転操作することによりウェハの姿勢
を水平搬送姿勢からプロセス処理に都合のよい垂直に近
い角度へ容易に変更することが可能である。
As described above, according to the present invention, the wafer carrier transported into the load lock chamber is isolated from the chamber and is lifted and lowered by an actuator placed outside the chamber, and the carrier lifting mechanism A is operated, and the wafer carrying fork is connected to the tip of the carrier lifting mechanism. a fork moving mechanism that moves the wafer carrier back and forth between the reaction chamber and the load lock chamber using an actuator placed outside the room and isolated from the indoor side; By configuring the system to transfer wafers between the wafer carrier and fork and the reaction chamber, a simple transfer mechanism allows wafers to be transferred between the wafer carrier and fork in a soft handling manner. , wafers can be transported safely without fear of damage. Furthermore, by rotating the fork around the drive shaft according to the process step, the wafer orientation can be easily changed from the horizontal transport orientation to a nearly vertical angle convenient for the process.

しかもキャリア昇降機構、フォーク移動機構の駆動アク
チュエータがプロセス装置の室外に隔翳して配備されい
るので、駆動アクチュエータ側に発生するじんあい、油
等の異物が室内側に侵入して汚染するおそれ無しにプロ
セス装置の室内清浄維持が図れる等、大口径、高集積度
のウェハのプロセス工程に充分対応し得る実用的価値の
高いウェハ搬送装置を提供することができる。
Moreover, the drive actuators for the carrier lifting mechanism and fork moving mechanism are installed separately outside the process equipment, so there is no risk of foreign matter such as dust or oil generated on the drive actuator side entering the room and contaminating the room. It is possible to provide a wafer transfer device that has high practical value and can sufficiently cope with process steps for large-diameter, highly integrated wafers, such as by being able to maintain indoor cleanliness of the process device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はウェハプロセス装置に組み込んだ本発明実施例
によるウェハ搬送装置全体の構成配置図、第2図ないし
第4図はそれぞれ第1図におけるフォークの平面図、側
面図、および部分拡大図、第5図は第1図におけるフォ
ーク移動機構の詳細構造を示す断面図である。各図にお
いて、1:半導体ウェハプロセス装置、2:ロードロッ
ク室、3:プロセス反応室、6:ウェハキャリア、7:
ウェハ、8:キャリア昇降機構、9:フォーク、10;
フォーク移動機構、11:駆動軸、12:気密室、15
:駆動アクチュエータ、16:ttt気カップリング、
25:回転駆動機構。 第1図
FIG. 1 is a configuration diagram of the entire wafer transfer device according to an embodiment of the present invention incorporated into a wafer processing device, and FIGS. 2 to 4 are a plan view, a side view, and a partially enlarged view of the fork in FIG. 1, respectively. FIG. 5 is a sectional view showing the detailed structure of the fork moving mechanism in FIG. 1. In each figure, 1: semiconductor wafer processing equipment, 2: load lock chamber, 3: process reaction chamber, 6: wafer carrier, 7:
Wafer, 8: carrier lifting mechanism, 9: fork, 10;
Fork moving mechanism, 11: Drive shaft, 12: Airtight chamber, 15
: drive actuator, 16: ttt coupling,
25: Rotation drive mechanism. Figure 1

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)半導体ウェハプロセス装置のロードロック室内に搬
入されたウェハキャリアとロードロック室に隣接するプ
ロセス反応室との間でウェハキャリアよりウェハを1枚
宛取出して搬送するウェハ搬送装置であって、ロードロ
ック室内に搬入されたウェハキャリアを室内より隔離し
て室外側に配備したアクチュエータで昇降操作するキャ
リア昇降機構と、先端に連結したウェハ担持用フォーク
を室内側より隔離して室外側に配備したアクチュエータ
で反応室とロードロック室との間で往復移動操作するフ
ォーク移動機構とを備え、前記キャリア昇降機構とフォ
ーク移動機構との共同操作によりウェハキャリアとフォ
ークとの間でのウェハの受け渡し、および反応室との間
での搬送を行うことを特徴とする半導体ウェハプロセス
装置のウェハ搬送装置。 2)特許請求の範囲第1項記載のウェハ搬送装置におい
て、キャリア昇降機構、フォーク移動機構が、室内外を
隔離する気密容器を隔てて室外側に配備の駆動アクチュ
エータと室内側の駆動軸との間に動力伝達手段として介
装した磁気カップリングを装備していることを特徴とす
る半導体ウェハプロセス装置のウェハ搬送装置。 3)特許請求の範囲第2項記載のウェハ搬送装置におい
て、フォーク移動手段のアクチュエータがフォークの向
きを軸の回りで水平姿勢から略垂直姿勢に変える回転駆
動機構を備えていることを特徴とする半導体ウェハプロ
セス装置のウェハ搬送装置。 4)特許請求の範囲第1項記載のウェハ搬送装置におい
て、フォークがウェハをフォーク上の所定位置に担持す
るウェハの外形に係合し合う爪を備えていることを特徴
とする半導体ウェハプロセス装置のウェハ搬送装置。
[Claims] 1) Wafer transport in which wafers are taken out one by one from the wafer carrier and transported between a wafer carrier carried into a load lock chamber of a semiconductor wafer processing device and a process reaction chamber adjacent to the load lock chamber. The device consists of a carrier lifting mechanism that separates the wafer carrier carried into the load lock chamber from the inside and lifts and lowers it using an actuator placed outside the room, and a wafer carrying fork connected to the tip that is isolated from the inside of the room. It is equipped with a fork moving mechanism that reciprocates between the reaction chamber and the load lock chamber using an actuator installed on the outside of the room, and the carrier lifting mechanism and the fork moving mechanism jointly operate to move the wafer carrier and the fork. A wafer transfer device for a semiconductor wafer processing device, characterized in that the wafer is delivered and transferred to and from a reaction chamber. 2) In the wafer transfer device according to claim 1, the carrier lifting mechanism and the fork moving mechanism connect the drive actuator located on the outdoor side and the drive shaft on the indoor side across an airtight container that separates the indoor and outdoor areas. A wafer transfer device for a semiconductor wafer processing device, characterized in that it is equipped with a magnetic coupling interposed as a power transmission means between the wafer transfer devices. 3) The wafer transfer device according to claim 2, characterized in that the actuator of the fork moving means includes a rotational drive mechanism that changes the direction of the fork from a horizontal position to a substantially vertical position around an axis. Wafer transport device for semiconductor wafer processing equipment. 4) A semiconductor wafer processing apparatus according to claim 1, wherein the fork is provided with claws that engage with the outer shape of the wafer that supports the wafer at a predetermined position on the fork. wafer transport equipment.
JP62043761A 1987-02-26 1987-02-26 Wafer transfer device for semiconductor wafer processor Pending JPS63211643A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5833426A (en) * 1996-12-11 1998-11-10 Applied Materials, Inc. Magnetically coupled wafer extraction platform
KR100677343B1 (en) 2005-06-18 2007-02-02 주식회사 뉴파워 프라즈마 Vertical multi-substrate processing system and processing method thereof
WO2012121267A1 (en) * 2011-03-08 2012-09-13 株式会社エイブイシー Vacuum feedthrough

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