JPS63215976A - フアンクシヨンテスタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野〕 本発明は電気部品が実装されたプリント配線板の良否を
判定するファンクションテスタに関する。

〔従来の技術〕

ファンクションテスタとして、本発明者は先に特願昭６
０−８２２３７号明細書に記載した装置を提案している
。

この装置は第３図に示すような構成を有している。第３
図において、■はデジタイザで、このデジタイザ１上に
載置される部品が実装されていないプリント配線基板ま
たはこの基板の原図２において測定点となるべき座標を
カーソル１ａにより読み取る。３はＸＹテーブルでＸＹ
方向にモータを介して自在に移動するＸＹ移動機構３８
を有している。このＸＹ移動機構３ａにはプローブ３ｂ
が上下動自在に取り付けられ、さらに基準基板４ｒおよ
び検査基板４ｔを装着するためのテーブル３ｃが設けら
れている。ＸＹ移動機構３８すなわちこのＸＹ移動機構
３ａに取り付けられたプローブ３１のＸＹ移動およびこ
のプローブ３ｂの上下動は図示しないドライバにより制
御されている。プローブ３ｂは上述した上下動によりＸ
Ｙテーブル３に載置された基準基板４ｒおよび検査基板
４ｔに接離するよう構成され、それが接触した時接触点
における測定信号を取り出す。６は測定条件を測定点毎
に設定する条件設定手段、７は測定点から得られたアナ
ログ信号を適当なサンプリング周期でＡ／Ｄ変換し、格
納するトランジェントメモリ、８はトランジェントメモ
リ７から検査基板４ｔの測定データとあらかじめ設定さ
れた許容範囲が考慮された基準基板４ｒに関する波形デ
ータとを比較し、良否判定するコンピュータ、９は検査
基板４ｔの許容範囲を設定するキーボード、１０は記憶
手段、１１は出力端末機である。

次に、この装置の作用を説明する。

（１１基準基板４ｒおよび検査基板４ｔの測定点および
測定順序を設定する。

デジタイザ１に基準基板４ｒまたは検査基板４ｔの原板
２を載置し、カーソル１ａにより測定点および測定順序
を設定する。この設定は測定点Ｎ１（ｉ＝１．２．３、
・・・、ｎ）に対する測定点座標値Ｎｉ　　（ｘｉ、ｙ
ｉ）という形式で行われ記憶手段１０に書き込まれる。

（２）基準基板４ｒの波形データを得る。

基準基板４ｒをＸＹテーブル３にセントし、（１）にお
いて設定した測定点および測定順序でプローブ３ｂを移
動および上下動させ基準基板４ｒの各測定点における波
形データを得る。この基準波形データは条件設定手段６
を介してトランジェントメモリ７に一時格納される。そ
して、この波形データはコンピュータ８に読み出され、
キーボード９からの許容範囲設定データとともに処理さ
れ、記憶手段１０に格納される。

（３）検査基板４ｔの波形データを得る。

（２）と同様の方法により検査基板４ｔの波形データを
得ることができる。

（４）基準基板４ｒの波形データと検査基板４Ｌの波形
データとを比較する。

それぞれの波形データは記憶手段１０からコンピュータ
８に読み出され比較処理が行われる。検査基板４ｔの波
形データが基準基板４ｒの波形データの許容範囲内にあ
る場合に良否判定、許容範囲を越えた場合に不良品の判
定が行われる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

このように、本発明者の先の提案はこのようなプロセス
を経て判定していた。この場合、この装置は上記（１）
に示した基準基板４ｒおよび検査基板４ｔの測定点およ
び測定順序をデジタイザを使用して設定する方式を有し
ていた。そのため、以下のような問題点があった。

すなわち、デジタイザ１上にセットされる原板２とＸＹ
テーブル３にセットされる基板４との位置合わせを考慮
しなければならない問題点があった。

また、この測定点および測定順序の設定において、実際
の測定に関係しない未実装の基板またはその原図により
行うようにしていたのでその設定操作がわずられしい欠
点があった。

〔問題点を解決するための手段〕

このため、本発明においては、 ＸＹテーブルのＸＹ移動機構に集束光源を設けこの集束
光を測定すべき基板に直接照写し、この集束光が測定点
に一致した時を持って測定点座標を得るよう構成したこ
とにより、ＸＹテーブルにセントされた基板から直接測
定点および測定順序を設定するよう構成している。

〔作用〕

従って、操作者はＸＹテーブルのＸＹ移動機構すなわち
、これに取り付けられたプローブを測定点に移動するこ
とにより、測定点Ｎｉとその座標値Ｎｉ　　（Ｘｉ、　
ｙｉ）が設定される。

〔実施例〕

第１図、第２図は本発明の一実施例を示す構成説明図で
、それぞれＸＹテーブルおよびＸＹ移動機構を示すもの
である。

第１図および第２図において、３はＸＹテープル、３１
は筐体、３２はソレノイド、３３はＹ軸、３ａはＸＹ移
動機構、３ｂはプローブ、３．は基板保持枠、３４は集
束光源、３．はスイッチである。

筺体３１の上板は開閉可能な構造となっている。

ｘｙ移動機構３８はこの上板の背面に取り付けられてお
り、上板に設けられた基板保持枠３Ｃの全域に渡って移
動可能な構成を有している。基板保持枠３ｃには標準基
板４ｒまたは検査基板４ｔが取り付けられる。ＸＹ移動
機構３８には第２図に示すようにプローブ３ｂと集束光
源３．が所定距離をおいて設けられている。プローブ３
ｂはソレノイド３２により上下動する構成を有し、上位
置に移動した時、基板４の測定点に接触する。集束光源
３ｄはＬＥＤランプと集束レンズとにより構成されてお
り、基板背面の１点を照らしている。

今、第１図の状態において、測定点および測定順序の設
定を行う場合には操作者は手で持ってＸＹ移動機構３８
を手動移送し、目的の測定点に集束光源３ｄからの集束
光を一致させる。この時、ＸＹ移動機構３ａの移動量は
Ｘ軸モータ３６およびＹ軸モータ３５に取り付けられた
エンコーダ（図示せず）により読み取られコンピュータ
８に入力され、記憶手段ｌＯに格納される。同様にして
、次々と多数の測定点の入力を行うことにより測定点お
よびこの入力順に測定順序の設定が行われる。

この場合プローブ３ｂと集束光源３ｄとのオフセット量
はソフトウェアにより補償している。

なお、この実施例においては、この測定点および測定順
序の設定を手動で入力するよう構成しているが、キーボ
ード９からの入力により移動し、カウンタによりその移
動量を計数することにより測定点となるｘｙ座標および
測定順序を設定するように構成してもよい。

スイッチ３゜は筺体１の上板が閉じたことを検知するも
ので、これによって測定動作待機状態となる。

〔発明の効果〕

以上、説明したように本発明によれば、ＸＹテーブルに
載置した測定すべき基板から直接測定点および測定順序
の設定を行うよう構成したのでその操作が容易となる利
点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図、第２図は本発明の一実施例を示す構成説明図、
第３図は従来のファンクションテスタの構成を示す説明
図である。 ３−Ｘ　Ｙテーブル、 ３ａ−・−ＸＹ移動機構、 ３ｂ−・プローブ、 ３ｄ−・−集束光源 特許出願人　　　グラフチック株式会社第２図 ３ｂ　７’０−ゾ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 あらかじめ設定された測定点と測定順序とにより基準基
   板の各測定点における基準出力データを格納する手段と
   、 あらかじめ設定された測定点と測定順序とにより、検査
   基板の各測定点における検査出力データを格納する手段
   と、 該基準出力データと該検査出力データとを各測定点毎に
   比較する比較手段とを有し、検査基板の良否を判定する
   ファンクション、テスタにおいて、上記測定点と測定順
   序とをあらかじめ設定する手段として、 ＸＹテーブル上を自在に移動して上記各基板の測定点に
   接触してそれぞれの出力データを取り出すプローブと所
   定の間隔をおいて配置されかつ、このプローブと一体と
   なって移動する集束光源と、該集束光源が移動し、該集
   束光源の集束光が基板に照写され測定点となるべき位置
   に一致した時、その座標値を決定するコンピュータから
   成る構成を有したことを特徴とするファンクションテス
   タ。