JPS63222245A - びん口部の欠陥検査装置 - Google Patents
びん口部の欠陥検査装置Info
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- JPS63222245A JPS63222245A JP5407887A JP5407887A JPS63222245A JP S63222245 A JPS63222245 A JP S63222245A JP 5407887 A JP5407887 A JP 5407887A JP 5407887 A JP5407887 A JP 5407887A JP S63222245 A JPS63222245 A JP S63222245A
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、ねじ部をもつびんのびん口部にある欠けや
ビリ（ひゾの一種）等の欠陥を自動的に検査する検査装
置に関する。
ビリ（ひゾの一種）等の欠陥を自動的に検査する検査装
置に関する。
びん口部の自動検査について、ねじのないびんについて
は種々行なわれているが、ねじのあるものについては殆
んど行なわれておらず、専ら人手に委ねられているのが
現状である。
は種々行なわれているが、ねじのあるものについては殆
んど行なわれておらず、専ら人手に委ねられているのが
現状である。
このため、人手によるものに共通した難点があり、高速
かつ高精度の検査ができないと云う問題がある。
かつ高精度の検査ができないと云う問題がある。
したがって、この発明は特にねじ部をもつびん口の検査
を高速かつ高精度に行なうことが可能な検査装置を提供
することを目的とする。
を高速かつ高精度に行なうことが可能な検査装置を提供
することを目的とする。
ねじ部をもつびん口部を背面から拡散照明しつ＼びん口
部を含む平面に対して所定の角度をもつ方向から撮像し
びん口部の２値化画像を取り出す操作をびん口一周分に
ついて順次行ない各々の２値化画像を処理してその欠陥
を検査すべく、びん口部の円筒状部分を真直ぐに延ばす
操作を行なう画像展開手段と、この展開画像を周方向に
微分して軸方向に延びる欠陥を検出する第１の検出手段
と、ねじ部の周期性を利用して周方向に延びる欠陥を検
出する第２の検出手段とを設け、雨検出手段からの出力
を総合して欠陥を検出する。
部を含む平面に対して所定の角度をもつ方向から撮像し
びん口部の２値化画像を取り出す操作をびん口一周分に
ついて順次行ない各々の２値化画像を処理してその欠陥
を検査すべく、びん口部の円筒状部分を真直ぐに延ばす
操作を行なう画像展開手段と、この展開画像を周方向に
微分して軸方向に延びる欠陥を検出する第１の検出手段
と、ねじ部の周期性を利用して周方向に延びる欠陥を検
出する第２の検出手段とを設け、雨検出手段からの出力
を総合して欠陥を検出する。
びん口内面の円筒（楕円）領域を平面に展開して一画面
の検査領域を拡大すると−もに、１つのびんに対する画
像取り込み回数を減らすことにより、高速かつ高精度の
検査を可能にする。
の検査領域を拡大すると−もに、１つのびんに対する画
像取り込み回数を減らすことにより、高速かつ高精度の
検査を可能にする。
第１図はこの発明の実施例を示す構成図である。
同図において、１はびん、２は照明器、３は拡散板、４
は回転機構、５はテレビカメラ等のイメージセンサ、６
は検査装置である。なお、検査装置６はアナログ／ディ
ジタル（Ａ／Ｄ）変換器６Ａ。
は回転機構、５はテレビカメラ等のイメージセンサ、６
は検査装置である。なお、検査装置６はアナログ／ディ
ジタル（Ａ／Ｄ）変換器６Ａ。
イメージメモリ６Ｂ、位置検出回路６Ｃ１展開関数用プ
ロセツサ６Ｄ、展開アドレス発生回路６Ｅ、展開イメー
ジメモリ６Ｆ、演算回路６Ｇ、周方向微分値メモリ６Ｈ
１軸方向濃度値メモリ６■、ピーク値検出回路６Ｊ、周
方向加算回路６Ｋ、周期性検出回路６Ｌ、欠陥判定回路
６Ｍ、回転同期回路６Ｎおよび総合判定回路６Ｐ等より
構成される。
ロセツサ６Ｄ、展開アドレス発生回路６Ｅ、展開イメー
ジメモリ６Ｆ、演算回路６Ｇ、周方向微分値メモリ６Ｈ
１軸方向濃度値メモリ６■、ピーク値検出回路６Ｊ、周
方向加算回路６Ｋ、周期性検出回路６Ｌ、欠陥判定回路
６Ｍ、回転同期回路６Ｎおよび総合判定回路６Ｐ等より
構成される。
検査対象物となる透明または半透明のびん１を拡散板３
を通して照明器２で照明し、イメージセンサ５によりび
ん１の口部をＩ最像する。びん口部のビデオ画像はＡ／
Ｄ変換器６Ａでディジタル画像に変換され、イメージメ
モリ６Ｂに格納される一方、びん口の画面上の位置が検
出回路６Ｃにて検出される。展開関数演算用プロセッサ
６Ｄは検査装置６を検査ラインにセツティングする際に
、びん口の内径ＤＡとイメージセンサ５の俯角θ。
を通して照明器２で照明し、イメージセンサ５によりび
ん１の口部をＩ最像する。びん口部のビデオ画像はＡ／
Ｄ変換器６Ａでディジタル画像に変換され、イメージメ
モリ６Ｂに格納される一方、びん口の画面上の位置が検
出回路６Ｃにて検出される。展開関数演算用プロセッサ
６Ｄは検査装置６を検査ラインにセツティングする際に
、びん口の内径ＤＡとイメージセンサ５の俯角θ。
より座標展開用変換テーブルを演算し、展開アドレス発
生回路６Ｅ内のメモリに格納しておく。展開アドレス発
生回路６Ｅはイメージメモリ６Ｂ内の内容を高速に読出
し、展開した内面画像を展開イメージメモリ６Ｆに書き
込む。演算回路６Ｇは展開画像を周方向に微分すると−
もに、軸方向に平均化する処理を行ない、周方向微分値
をメモリ６Ｈに、また軸方向局所平均濃度値をメモリ６
Ｉにそれぞれ書き込む。ピーク値検出回路６Ｊは周方向
微分値メモリ６Ｈから微分値を読み出し、欠陥量を計測
する。また、メモリ６■からの軸方向濃度値は加算回路
６Ｋにより周方向に加算され、検出回路６Ｌによって軸
方向の周期性が検出される。判定回路６Ｍは周方向微分
値による欠陥量と、びん口ねじ部の周期性を用いて欠陥
の有無を判定する。
生回路６Ｅ内のメモリに格納しておく。展開アドレス発
生回路６Ｅはイメージメモリ６Ｂ内の内容を高速に読出
し、展開した内面画像を展開イメージメモリ６Ｆに書き
込む。演算回路６Ｇは展開画像を周方向に微分すると−
もに、軸方向に平均化する処理を行ない、周方向微分値
をメモリ６Ｈに、また軸方向局所平均濃度値をメモリ６
Ｉにそれぞれ書き込む。ピーク値検出回路６Ｊは周方向
微分値メモリ６Ｈから微分値を読み出し、欠陥量を計測
する。また、メモリ６■からの軸方向濃度値は加算回路
６Ｋにより周方向に加算され、検出回路６Ｌによって軸
方向の周期性が検出される。判定回路６Ｍは周方向微分
値による欠陥量と、びん口ねじ部の周期性を用いて欠陥
の有無を判定する。
以上により１画面についての欠陥判定が終了するので、
回転機構４と同期をとりつ一同期回路６Ｎで別位置の画
像を取り込んで上記と同様の処理を繰り返して全内周面
の欠陥検査を行ない、総合判定結果を判定回路６Ｐを介
して出力する。
回転機構４と同期をとりつ一同期回路６Ｎで別位置の画
像を取り込んで上記と同様の処理を繰り返して全内周面
の欠陥検査を行ない、総合判定結果を判定回路６Ｐを介
して出力する。
以下、第２図ないし第１６図を参照して詳細に説明する
。なお、第２図はびん口部のディジタル画像例を示す説
明図、第３図はびん口位置検出回路の具体例を示すブロ
ック図、第４図はびん口位置検出原理を説明するための
原理図、第５図は展開アドレス発生回路の具体例を示す
ブロック図、第６図はびん口部の展開領域と展開用楕円
線群の関係を説明するための説明図、第７図はびん口部
の内面を展開した座標系を説明するための説明図、第８
図は展開関数メモリを示す概念図、第９図は展開イメー
ジメモリと展開イメージ微分回路の具体例を示すブロッ
ク図、第１０図は３×３の大きさをもつ２次元局部メモ
リを説明するための説明図、第１１図は微分演算子を示
す概念図、第１２図は平均演算子を示す概念図、第１３
図はピーク値検出回路の具体例を示すブロック図、第１
４図は微分値ヒストグラムと欠陥との関係を説明するた
めのグラフ、第１５図は周方向加算回路の具体例を示す
ブロック図、第１６図は濃度値の周方向加算結果を示す
ヒストグラムである。
。なお、第２図はびん口部のディジタル画像例を示す説
明図、第３図はびん口位置検出回路の具体例を示すブロ
ック図、第４図はびん口位置検出原理を説明するための
原理図、第５図は展開アドレス発生回路の具体例を示す
ブロック図、第６図はびん口部の展開領域と展開用楕円
線群の関係を説明するための説明図、第７図はびん口部
の内面を展開した座標系を説明するための説明図、第８
図は展開関数メモリを示す概念図、第９図は展開イメー
ジメモリと展開イメージ微分回路の具体例を示すブロッ
ク図、第１０図は３×３の大きさをもつ２次元局部メモ
リを説明するための説明図、第１１図は微分演算子を示
す概念図、第１２図は平均演算子を示す概念図、第１３
図はピーク値検出回路の具体例を示すブロック図、第１
４図は微分値ヒストグラムと欠陥との関係を説明するた
めのグラフ、第１５図は周方向加算回路の具体例を示す
ブロック図、第１６図は濃度値の周方向加算結果を示す
ヒストグラムである。
イメージセンサ５を介して入力されるディジタル画像は
、第２図に符号１１で示される如きびん口部の濃淡画像
であり、位置検出回路６Ｃはこのびん口内面の中心位置
を求める。位置検出回路６Ｃは、具体的には第３図の如
く２値化回路６Ｃ１゜Ｘ方向投影回路６Ｃ２，びん口中
心ＹＡ演算回路６Ｃ３，びん口側端検出回路６Ｃ４およ
び中心ＸＡ演算回路６Ｃ５等より構成される。こ＼で、
いま２値化回路６Ｃ１にて２値化された画像が第４図に
符号１３の如く示されるものとすると、まず投影回路６
Ｃ２で求めた投影長ヒストグラムからびんの先端近傍を
検出し、Ｘ方向投影長が例えばＷＡ画素以上となるＹ座
標Ｙ１から、ＥＡ画素およびＥ８画素だけ離れた位置に
それぞれ開始座標Ｙ２と中心座標ＹＡとを求める。次に
、びん口の検出位Ｗ、 ’ｙ ｃでねじ口部の側端Ｘ、
とＸ２とを検出回路６Ｃ４により求め、その中心座標を
平均値（（Ｘ＋＋Ｘｔ）／２）として求めて中心位置１
４の座標（ＸＡ 、 ＹＡ ）を決定する。
、第２図に符号１１で示される如きびん口部の濃淡画像
であり、位置検出回路６Ｃはこのびん口内面の中心位置
を求める。位置検出回路６Ｃは、具体的には第３図の如
く２値化回路６Ｃ１゜Ｘ方向投影回路６Ｃ２，びん口中
心ＹＡ演算回路６Ｃ３，びん口側端検出回路６Ｃ４およ
び中心ＸＡ演算回路６Ｃ５等より構成される。こ＼で、
いま２値化回路６Ｃ１にて２値化された画像が第４図に
符号１３の如く示されるものとすると、まず投影回路６
Ｃ２で求めた投影長ヒストグラムからびんの先端近傍を
検出し、Ｘ方向投影長が例えばＷＡ画素以上となるＹ座
標Ｙ１から、ＥＡ画素およびＥ８画素だけ離れた位置に
それぞれ開始座標Ｙ２と中心座標ＹＡとを求める。次に
、びん口の検出位Ｗ、 ’ｙ ｃでねじ口部の側端Ｘ、
とＸ２とを検出回路６Ｃ４により求め、その中心座標を
平均値（（Ｘ＋＋Ｘｔ）／２）として求めて中心位置１
４の座標（ＸＡ 、 ＹＡ ）を決定する。
びん口内面の円筒面を展開する回路の具体例を第５図に
示す。すなわち、展開関数用プロセッサ６Ｄは設定時に
おけるびんの内径ＤＡ （ｍｍ）とセンサ５の俯角θ。
示す。すなわち、展開関数用プロセッサ６Ｄは設定時に
おけるびんの内径ＤＡ （ｍｍ）とセンサ５の俯角θ。
から、内面の楕円領域の長径Ｗと短径Ｈを決定する。つ
まり、換算値ｋ〔画素／ ｍ ｍ ）から、 Ｗ＝ ｈ ＤＡ 、 Ｈ＝Ｗ ｓｉｎ θ。
まり、換算値ｋ〔画素／ ｍ ｍ ）から、 Ｗ＝ ｈ ＤＡ 、 Ｈ＝Ｗ ｓｉｎ θ。
なる関係式によりＷとＨを得る。展開関数演算用プロセ
ッサ６Ｄは、次式より楕円線群を求める。
ッサ６Ｄは、次式より楕円線群を求める。
（ｉ＝ｏ、１，２．・・・・・・、Ｎ、）こ＼で、ＰＡ
は楕円線群のピッチを示す。楕円線群１６の例を第６図
に示す。同図では楕円線Ｅ１１６ （ｉ＝ｏ、１．２．
・・・・・・、Ｎ、）がＰＡ画素分のピッチをもって、
展開領域１５内で定義されている。なお、楕円線の数Ｎ
、は次式で求められる。
は楕円線群のピッチを示す。楕円線群１６の例を第６図
に示す。同図では楕円線Ｅ１１６ （ｉ＝ｏ、１．２．
・・・・・・、Ｎ、）がＰＡ画素分のピッチをもって、
展開領域１５内で定義されている。なお、楕円線の数Ｎ
、は次式で求められる。
ＮＥ ＝ （２Ｈ／ＰＡ）（（）ニガウス記号）第６図
の各楕円線Ｅｉを展開すると、第７図に示す展開面１８
上では直線Ｌｉ ２１となる。また、第６図に示す画像
領域１７上の点Ｑ （Ｘ、 Ｙ）を展開すると、第７図
に示す直線り、２１の点Ｑ（Ｔ、Ｚ）となり、同様に楕
円領域１５を展開すると領域２０となる。このように、
展開座標系１９は、びん口の内周方向Ｔと軸方向Ｚとか
らなり、ＸＩ ＝ −Ｗ ｃｏｓ （ｊ−Ｐｍ ）Ｙ、
＝ｉ−Ｐａ−Ｈ−ｓｉｎ （ｊ−Ｐ＋＋）（ｊ＝０．
１．・・・・・・、ＮＦ） なる関係が成立する。たｔｌ、、Ｐ６は周方向のピッチ
（ｒ ａ ｄ）である。また、 であり、展開座標（Ｔ、Ｚ）との関係は次式のとおりで
ある。
の各楕円線Ｅｉを展開すると、第７図に示す展開面１８
上では直線Ｌｉ ２１となる。また、第６図に示す画像
領域１７上の点Ｑ （Ｘ、 Ｙ）を展開すると、第７図
に示す直線り、２１の点Ｑ（Ｔ、Ｚ）となり、同様に楕
円領域１５を展開すると領域２０となる。このように、
展開座標系１９は、びん口の内周方向Ｔと軸方向Ｚとか
らなり、ＸＩ ＝ −Ｗ ｃｏｓ （ｊ−Ｐｍ ）Ｙ、
＝ｉ−Ｐａ−Ｈ−ｓｉｎ （ｊ−Ｐ＋＋）（ｊ＝０．
１．・・・・・・、ＮＦ） なる関係が成立する。たｔｌ、、Ｐ６は周方向のピッチ
（ｒ ａ ｄ）である。また、 であり、展開座標（Ｔ、Ｚ）との関係は次式のとおりで
ある。
Ｔ＝ｊ （ｊ＝ｏ、１，２．・・・・・・、ＮＦ）Ｚ
＝ｉ （ｉ＝ｏ、１，２．・・・・・・、ＮＥ）こ＼
に、Ｎｒ ’ Ｐ−ｓ ＝πである。また、こ＼では
ＰＡ＝１画素とし、楕円線群の間引きはしないものとす
る。
＝ｉ （ｉ＝ｏ、１，２．・・・・・・、ＮＥ）こ＼
に、Ｎｒ ’ Ｐ−ｓ ＝πである。また、こ＼では
ＰＡ＝１画素とし、楕円線群の間引きはしないものとす
る。
展開関数メモリ６Ｅ２には例えば第８図の如く、（Ｔ、
Ｚ”）に対応する（Ｘｍ 、 Ｙｓ ）座標が記憶
されている。つまり、０≦Ｔ：５Ｎｒ、Ｏ≦Ｚ≦Ｎ９に
対し、 ＸＢ ＝−Ｗ−ｃｏｓ （Ｔ−Ｐａ ）Ｙ、−Ｚ
−ｐＡ −Ｈ−５ｉｎ （Ｔ −Ｐ＋ ）なる式か
ら（Ｘ、、’ｙ、）が求められ、これがメモリ６Ｅ２に
記憶される。たりし、 ならば、（Ｘｓ 、 Ｙｓ ）は強制的に（０，０）と
して記憶する。このようにして、プロセッサ６Ｄは展開
関数をメモリ６Ｅ２に書き込んでおき、欠陥検査時には
メモリ６Ｅ２から（Ｔ、Ｚ）および（ｘｓ 、ｙ、）を
読み出すと−もに、位置ずれ量（ＸＡ、ｙＡ）を演算回
路６Ｅ１で補正する。
Ｚ”）に対応する（Ｘｍ 、 Ｙｓ ）座標が記憶
されている。つまり、０≦Ｔ：５Ｎｒ、Ｏ≦Ｚ≦Ｎ９に
対し、 ＸＢ ＝−Ｗ−ｃｏｓ （Ｔ−Ｐａ ）Ｙ、−Ｚ
−ｐＡ −Ｈ−５ｉｎ （Ｔ −Ｐ＋ ）なる式か
ら（Ｘ、、’ｙ、）が求められ、これがメモリ６Ｅ２に
記憶される。たりし、 ならば、（Ｘｓ 、 Ｙｓ ）は強制的に（０，０）と
して記憶する。このようにして、プロセッサ６Ｄは展開
関数をメモリ６Ｅ２に書き込んでおき、欠陥検査時には
メモリ６Ｅ２から（Ｔ、Ｚ）および（ｘｓ 、ｙ、）を
読み出すと−もに、位置ずれ量（ＸＡ、ｙＡ）を演算回
路６Ｅ１で補正する。
ＸｍＸｌ ＋ＸＡ
Ｙ＝Ｙ、＋ＹＡ
そして、イメージメモリ６Ｂの内容をアドレス（ｘ、ｙ
）で読み出し、（Ｔ、Ｚ）のアドレスでメモリ６Ｆに濃
度値Ｆ （Ｘ、Ｙ）を書き込む。
）で読み出し、（Ｔ、Ｚ）のアドレスでメモリ６Ｆに濃
度値Ｆ （Ｘ、Ｙ）を書き込む。
こうして展開される画像Ｇ （Ｔ、 Ｚ）について、
周（Ｔ）方向微分Ｇ、および軸（Ｚ）方向平均Ｇ２を算
出する回路を第９図に示す。すなわち、イメージメモリ
６Ｂの濃度値Ｆ （Ｘ、Ｙ）をメモリ６Ｆに展開した濃
度値Ｇ （Ｔ、 Ｚ’）として記憶し、２次元局部メ
モリ６Ｆ２により、第１０図に示すような３×３の２次
元局部領域２２を形成する。
周（Ｔ）方向微分Ｇ、および軸（Ｚ）方向平均Ｇ２を算
出する回路を第９図に示す。すなわち、イメージメモリ
６Ｂの濃度値Ｆ （Ｘ、Ｙ）をメモリ６Ｆに展開した濃
度値Ｇ （Ｔ、 Ｚ’）として記憶し、２次元局部メ
モリ６Ｆ２により、第１０図に示すような３×３の２次
元局部領域２２を形成する。
２次元局部メモリ６Ｆ２の出力は微分回路６Ｇ１におい
て、第１１図に示す如き周（Ｔ）方向微分オペレータ２
３によって微分される一方、平均値回路６Ｇ２において
第１２図に示す如き平均値オペレータ２４によって平均
化され、各演算結果ＧｒとＧ２がメモリ６Ｈと６１にそ
れぞれ記憶される。
て、第１１図に示す如き周（Ｔ）方向微分オペレータ２
３によって微分される一方、平均値回路６Ｇ２において
第１２図に示す如き平均値オペレータ２４によって平均
化され、各演算結果ＧｒとＧ２がメモリ６Ｈと６１にそ
れぞれ記憶される。
第１３図に示すピーク値検出回路６Ｊは、周方向微分値
メモリ６Ｈの内容から欠陥の面積値ＨＴを演算する。す
なわち、周方向微分値ＧＴの絶対値１Ｇｒｌ毎にその画
素数を加算回路６Ｊ１で加算し、第１４図の如きヒスト
グラム２５を演算器６Ｊ２によって求める。そして、微
分値ＩＧｔｌがＧＴＡより小さい範囲で、ピーク値Ａア
２６を検出する。プロセッサ６Ｊ３はこのピーク値Ａｔ
と、Ａ７／２に相当するヒストグラム２５上の点を求め
、ピーク値と結んだ直線の１Ｇｔｌ軸と交わる点の微分
値をＧＴｌｌとし、ＧＴＡとＧＴＨのいずれか大きい方
よりも大きな微分値をもつ画素の総和Ｈｔを欠陥画素数
として、判定回路６Ｍへ出力する。
メモリ６Ｈの内容から欠陥の面積値ＨＴを演算する。す
なわち、周方向微分値ＧＴの絶対値１Ｇｒｌ毎にその画
素数を加算回路６Ｊ１で加算し、第１４図の如きヒスト
グラム２５を演算器６Ｊ２によって求める。そして、微
分値ＩＧｔｌがＧＴＡより小さい範囲で、ピーク値Ａア
２６を検出する。プロセッサ６Ｊ３はこのピーク値Ａｔ
と、Ａ７／２に相当するヒストグラム２５上の点を求め
、ピーク値と結んだ直線の１Ｇｔｌ軸と交わる点の微分
値をＧＴｌｌとし、ＧＴＡとＧＴＨのいずれか大きい方
よりも大きな微分値をもつ画素の総和Ｈｔを欠陥画素数
として、判定回路６Ｍへ出力する。
軸（Ｚ）方向濃度値Ｇｚ （Ｔ、Ｚ）については、第１
５図に示す周方向加算回路６Ｋにより濃度ヒストグラム
を求める。すなわち、軸方向アドレス発生回路６に２に
より周方向ごとの濃度値を読み出し、これを加算回路６
に１にて加算し、その結果ΣＧ２をメモリ６に３に格納
する。メモリ６に３に記憶されたヒストグラムの例を第
１６図に符号２７にて示す。つまり、びん口ねじ部には
同図に示すような周期的な山があるので、同図に示すね
じ部の範囲２８で各ピーク位置ＺＩ、Ｚｔ、Ｚ３・・・
・・・を求め、周期性検出回路６ＬによってピークＺ＋
、Ｚｔ、Ｚ３．・・・・・・のピッチを次式の如くチ
ェックし、Ｐ２のピッチに近ければ周期性は正しいもの
とし、そうでなければピッチが狂っているか、または欠
陥とする。
５図に示す周方向加算回路６Ｋにより濃度ヒストグラム
を求める。すなわち、軸方向アドレス発生回路６に２に
より周方向ごとの濃度値を読み出し、これを加算回路６
に１にて加算し、その結果ΣＧ２をメモリ６に３に格納
する。メモリ６に３に記憶されたヒストグラムの例を第
１６図に符号２７にて示す。つまり、びん口ねじ部には
同図に示すような周期的な山があるので、同図に示すね
じ部の範囲２８で各ピーク位置ＺＩ、Ｚｔ、Ｚ３・・・
・・・を求め、周期性検出回路６ＬによってピークＺ＋
、Ｚｔ、Ｚ３．・・・・・・のピッチを次式の如くチ
ェックし、Ｐ２のピッチに近ければ周期性は正しいもの
とし、そうでなければピッチが狂っているか、または欠
陥とする。
ｌＺｚ Ｚ＋ Ｐｚｌ＜δ
＋２３ Ｚｔ Ｐｚｌ＜δ
こ＼に、δはピッチ偏差の上限値を示す。
以上のことから、周方向微分値メモリ６Ｈおよびピーク
値検出回路６Ｊ等により、主として軸方向に長さをもつ
欠陥が検出される一方、軸方向濃度値メモリ６１．周方
向加算回路６におよび周期性検出回路６Ｌ等により、主
として周方向に長さをもつ欠陥の検出がなされることか
ら、たとえびん口部にねじがあるものについても欠陥を
検出することが可能になる。
値検出回路６Ｊ等により、主として軸方向に長さをもつ
欠陥が検出される一方、軸方向濃度値メモリ６１．周方
向加算回路６におよび周期性検出回路６Ｌ等により、主
として周方向に長さをもつ欠陥の検出がなされることか
ら、たとえびん口部にねじがあるものについても欠陥を
検出することが可能になる。
なお、上記では主としてねじ部があるものについて説明
したが、この発明はねじ部を持たないものについても同
様に適用することができるのは勿論である。
したが、この発明はねじ部を持たないものについても同
様に適用することができるのは勿論である。
（発明の効果〕
この発明によれば、びん口部を斜め方向から撮像するこ
とにより、ねじ部等を画像として簡単に捉えることがで
き、かつびん口内部を展開゛関数テーブルで展開するこ
とにより、変換画像を水平な縞模様にすることができ、
比較的簡単な画像処理により欠陥が検出可能となるだけ
でなく、検査領域が広くとれることから少ない邊像回数
で全内周を検査することができる。また、周方向の微分
を行ない、微分ヒストグラムから決まる濃度値以上の画
素数をもって欠陥を検出するようにしたので検出精度が
向上すると＼もに、軸方向の縞模様の周期性をチェック
することにより、ねじ部がある場合でも欠陥を検出する
ことが可能になる。
とにより、ねじ部等を画像として簡単に捉えることがで
き、かつびん口内部を展開゛関数テーブルで展開するこ
とにより、変換画像を水平な縞模様にすることができ、
比較的簡単な画像処理により欠陥が検出可能となるだけ
でなく、検査領域が広くとれることから少ない邊像回数
で全内周を検査することができる。また、周方向の微分
を行ない、微分ヒストグラムから決まる濃度値以上の画
素数をもって欠陥を検出するようにしたので検出精度が
向上すると＼もに、軸方向の縞模様の周期性をチェック
することにより、ねじ部がある場合でも欠陥を検出する
ことが可能になる。
第１図はこの発明の実施例を示す構成図、第２図はびん
口部のディジタル画像例を示す説明図、第３図はびん口
位置検出回路の具体例を示すブロック図、第４図はびん
口位置検出原理を説明するための原理図、第５図は展開
アドレス発生回路の具体例を示すブロック図、第６図は
びん口部の展開領域と展開用楕円線群の関係を説明する
ための説明図、第７図はびん口部の内面を展開した座標
系を説明するための説明図、第８図は展開関数メモリを
示す概念図、第９図は展開イメージメモリと展開イメー
ジ微分回路の具体例を示すブロック図、第１０図は３×
３の大きさをもつ２次元局部メモリを説明するための説
明図、第１１図は微分演算子を示す概念図、第１２図は
平均演算子を示す概念図、第１３図はピーク値検出回路
の具体例を示すブロック図、第１４図は微分値ヒストグ
ラムと欠陥との関係を説明するためのグラフ、第１５図
は周方向加算回路の具体例を示すブロック図、第１６図
は濃度値の周方向加算結果を示すヒストグラムである。 符号説明 ■・・・びん、２・・・照明器、３・・・拡散板、４・
・・回転機構、５・・・イメージセンサ、６・・・検査
装置、６Ａ・・・Ａ／Ｄ変換器、６Ｂ、６Ｅ２．６Ｆ、
６Ｆ１゜６Ｆ２，６Ｈ，６１，６に３・・・メモリ、６
Ｃ・・・位置検出回路、６Ｃ１・・・２値化回路、６Ｃ
２・・・Ｘ方向投影回路、６Ｃ３・・・ＹＡ演算回路、
６Ｃ４・・・側端検出回路、６Ｃ５・・・島演算回路、
６Ｄ−・・・展開関数用プロセッサ、６Ｅ・・・展開ア
ドレス発生回路、６Ｅ１・・・位置ずれ補正演算回路、
６Ｇ・・・演算回路、６Ｇ１・・・微分回路、６Ｇ２・
・・平均値回路、６Ｊ１・・・周方向微分値加算回路、
６Ｊ２・・・ヒストグラム演算器、６Ｊ３・・・ピーク
値画素数演算プロセッサ、６Ｋ・・・周方向加算回路、
６に１・・・加算回路、６に２・・・軸方向アドレス発
生回路、６Ｌ・・・周期性検出回路、６Ｍ・・・欠陥判
定回路、６Ｎ・・・回転同期回路、６Ｐ・・・総合判定
回路、１１・・・びん口部、１２・・・撮像画面、１３
・・・びん口部２値化パターン、１４・・・びん口中心
位置、１５・・・楕円展開領域、１６・・・展開用楕円
線群、１７・・・画像領域、１８・・・展開面、１９・
・・展開鹿標系、２０・・・展開領域、２１・・・展開
線群、２２・・・２次元局部メモリ領域、２３・・・微
分演算子、２４・・・平均演算子、２５・・・微分値ヒ
ストグラム、２６・・・ピーク値、２７・・・濃度値ヒ
ストグラム、２８・・・周期的領域。 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 Ｙ 第３図 Ｃ 第４図 第５図 ６、Ｅ 第６図 第７図 ７１１４図
口部のディジタル画像例を示す説明図、第３図はびん口
位置検出回路の具体例を示すブロック図、第４図はびん
口位置検出原理を説明するための原理図、第５図は展開
アドレス発生回路の具体例を示すブロック図、第６図は
びん口部の展開領域と展開用楕円線群の関係を説明する
ための説明図、第７図はびん口部の内面を展開した座標
系を説明するための説明図、第８図は展開関数メモリを
示す概念図、第９図は展開イメージメモリと展開イメー
ジ微分回路の具体例を示すブロック図、第１０図は３×
３の大きさをもつ２次元局部メモリを説明するための説
明図、第１１図は微分演算子を示す概念図、第１２図は
平均演算子を示す概念図、第１３図はピーク値検出回路
の具体例を示すブロック図、第１４図は微分値ヒストグ
ラムと欠陥との関係を説明するためのグラフ、第１５図
は周方向加算回路の具体例を示すブロック図、第１６図
は濃度値の周方向加算結果を示すヒストグラムである。 符号説明 ■・・・びん、２・・・照明器、３・・・拡散板、４・
・・回転機構、５・・・イメージセンサ、６・・・検査
装置、６Ａ・・・Ａ／Ｄ変換器、６Ｂ、６Ｅ２．６Ｆ、
６Ｆ１゜６Ｆ２，６Ｈ，６１，６に３・・・メモリ、６
Ｃ・・・位置検出回路、６Ｃ１・・・２値化回路、６Ｃ
２・・・Ｘ方向投影回路、６Ｃ３・・・ＹＡ演算回路、
６Ｃ４・・・側端検出回路、６Ｃ５・・・島演算回路、
６Ｄ−・・・展開関数用プロセッサ、６Ｅ・・・展開ア
ドレス発生回路、６Ｅ１・・・位置ずれ補正演算回路、
６Ｇ・・・演算回路、６Ｇ１・・・微分回路、６Ｇ２・
・・平均値回路、６Ｊ１・・・周方向微分値加算回路、
６Ｊ２・・・ヒストグラム演算器、６Ｊ３・・・ピーク
値画素数演算プロセッサ、６Ｋ・・・周方向加算回路、
６に１・・・加算回路、６に２・・・軸方向アドレス発
生回路、６Ｌ・・・周期性検出回路、６Ｍ・・・欠陥判
定回路、６Ｎ・・・回転同期回路、６Ｐ・・・総合判定
回路、１１・・・びん口部、１２・・・撮像画面、１３
・・・びん口部２値化パターン、１４・・・びん口中心
位置、１５・・・楕円展開領域、１６・・・展開用楕円
線群、１７・・・画像領域、１８・・・展開面、１９・
・・展開鹿標系、２０・・・展開領域、２１・・・展開
線群、２２・・・２次元局部メモリ領域、２３・・・微
分演算子、２４・・・平均演算子、２５・・・微分値ヒ
ストグラム、２６・・・ピーク値、２７・・・濃度値ヒ
ストグラム、２８・・・周期的領域。 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 Ｙ 第３図 Ｃ 第４図 第５図 ６、Ｅ 第６図 第７図 ７１１４図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ねじ部をもつびんの口部を背面から拡散照明しつゝびん
口部を含む平面に対して所定の角度をもつ方向から撮像
し少なくともびん口部の２値化画像を取り出す操作をび
ん口一周分について順次行ない各々の２値化画像を処理
してその欠陥を検査する検査装置であって、 前記びん口部の円筒状部分を真直ぐに延ばす操作を行な
う画像展開手段と、 該展開画像を周方向に微分して軸方向に延びる欠陥を検
出する第１の検出手段と、 前記ねじ部の周期性を利用して周方向に延びる欠陥を検
出する第２の検出手段と、 を備え、該第１、第２検出手段からの出力を総合して欠
陥を検出することを特徴とするびん口部の欠陥検査装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5407887A JPS63222245A (ja) | 1987-03-11 | 1987-03-11 | びん口部の欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5407887A JPS63222245A (ja) | 1987-03-11 | 1987-03-11 | びん口部の欠陥検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63222245A true JPS63222245A (ja) | 1988-09-16 |
Family
ID=12960575
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5407887A Pending JPS63222245A (ja) | 1987-03-11 | 1987-03-11 | びん口部の欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63222245A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03500092A (ja) * | 1988-09-16 | 1991-01-10 | オーエンス‐イリノイ・グラス・コンテナー・インコーポレーテツド | 容器の口部の検査 |
| JPH04231854A (ja) * | 1990-05-14 | 1992-08-20 | Owens Brockway Glass Container Inc | 容器割目の検査 |
| JP2008107347A (ja) * | 2006-10-23 | 2008-05-08 | Emhart Glass Sa | ガラス容器を検査する装置 |
| JP2008275618A (ja) * | 2007-05-02 | 2008-11-13 | Emhart Glass Sa | ガラス容器の検査機 |
| US7495326B2 (en) | 2002-10-22 | 2009-02-24 | Unitive International Limited | Stacked electronic structures including offset substrates |
| JP2011252746A (ja) * | 2010-06-01 | 2011-12-15 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | ケーブル位置検出装置、ケーブル位置検出方法及びケーブル位置検出プログラム |
| US8674494B2 (en) | 2011-08-31 | 2014-03-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor package having supporting plate and method of forming the same |
| JP2015036648A (ja) * | 2013-08-13 | 2015-02-23 | 東洋ガラス株式会社 | 合目段差測定装置、および合目段差測定方法 |
| JP2016223883A (ja) * | 2015-05-29 | 2016-12-28 | 日本電気硝子株式会社 | ガラス管の検査方法 |
-
1987
- 1987-03-11 JP JP5407887A patent/JPS63222245A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03500092A (ja) * | 1988-09-16 | 1991-01-10 | オーエンス‐イリノイ・グラス・コンテナー・インコーポレーテツド | 容器の口部の検査 |
| JPH04231854A (ja) * | 1990-05-14 | 1992-08-20 | Owens Brockway Glass Container Inc | 容器割目の検査 |
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| JP2008275618A (ja) * | 2007-05-02 | 2008-11-13 | Emhart Glass Sa | ガラス容器の検査機 |
| JP2011252746A (ja) * | 2010-06-01 | 2011-12-15 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | ケーブル位置検出装置、ケーブル位置検出方法及びケーブル位置検出プログラム |
| US8674494B2 (en) | 2011-08-31 | 2014-03-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor package having supporting plate and method of forming the same |
| US9412720B2 (en) | 2011-08-31 | 2016-08-09 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor package having supporting plate and method of forming the same |
| JP2015036648A (ja) * | 2013-08-13 | 2015-02-23 | 東洋ガラス株式会社 | 合目段差測定装置、および合目段差測定方法 |
| JP2016223883A (ja) * | 2015-05-29 | 2016-12-28 | 日本電気硝子株式会社 | ガラス管の検査方法 |
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