JPS6322385B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6322385B2 JPS6322385B2 JP58053602A JP5360283A JPS6322385B2 JP S6322385 B2 JPS6322385 B2 JP S6322385B2 JP 58053602 A JP58053602 A JP 58053602A JP 5360283 A JP5360283 A JP 5360283A JP S6322385 B2 JPS6322385 B2 JP S6322385B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- loop
- storage section
- information storage
- boot
- bits
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/02—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
- G11C11/14—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using thin-film elements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(1) 発明の技術分野
本発明は電子計算装置又はその端末機等の記憶
装置に用いられる磁気バブルメモリ素子に関する
ものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (1) Technical Field of the Invention The present invention relates to a magnetic bubble memory element used in a storage device of an electronic computing device or a terminal thereof.
(2) 技術の背景
磁気バブルを利用して情報の蓄積、論理演算等
を行なう磁気バブル利用装置は不揮発生、高記憶
密度、低消費電力、小型軽量である等種々の特徴
をもち、さらには機械的要素を全く含まない固体
素子であることから非常に高い信頼性を有し、従
つて大容量メモリとして今後によせる期待は非常
に大きい。(2) Background of the technology Magnetic bubble utilization devices that use magnetic bubbles to store information, perform logical operations, etc. have various features such as non-volatile generation, high storage density, low power consumption, small size and light weight, etc. Since it is a solid-state device that does not contain any mechanical elements, it has extremely high reliability, and therefore has great expectations for its future use as a large-capacity memory.
(3) 従来技術と問題点
第1図は従来の奇数・偶数方式のバブルメモリ
チツプ例えば1Mビツトチツプの構成を示す図で
ある。同図において、Aは偶数ブロツク、Bは奇
数ブロツク、1,1′はバブル発生器、2は偶数
ブロツクのマイナーループ、3は奇数ブロツクの
マイナーループ、4,4′は書き込みメジヤー転
送路、5は書込みゲートを形成するスワツプゲー
ト、6は読出しゲートを形成するレプリケートゲ
ート、7,7′は検出器、8,8′は読み出しメジ
ヤー転送路、9,9′は不良ループ情報記憶部を
形成するブートループ、10はブートループ用の
書込みゲートを形成するスワツプゲート、11は
ブートループ用の読出しゲートを形成するレプリ
ケートゲートをそれぞれ示している。(3) Prior Art and Problems FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a conventional odd/even type bubble memory chip, such as a 1M bit chip. In the figure, A is an even block, B is an odd block, 1 and 1' are bubble generators, 2 is a minor loop for even blocks, 3 is a minor loop for odd blocks, 4 and 4' are write major transfer paths, and 5 is a minor loop for odd blocks. 6 is a swap gate forming a write gate, 6 is a replicate gate forming a read gate, 7, 7' is a detector, 8, 8' is a read major transfer path, 9, 9' is a boot forming a defective loop information storage section. 10 indicates a swap gate forming a write gate for the boot loop, and 11 indicates a replicate gate forming a read gate for the boot loop.
この奇数・偶数方式の磁気バブルメモリ素子
は、2つの情報記憶部を形成するマイナーループ
群2、3にそれぞれバブル発生器1,1′、書き
込みメジヤー転送路4,4′、読み出しメジヤー
転送路8,8′、検出器6,6′が接続されてお
り、ブートループ9,9′は1つづつ各ブロツク
に接続され、バブル発生器1,1′、書き込みメ
ジヤー転送路4,4′及び検出器7,7′はマイナ
ーループ用と共用している。このような方式をさ
らに高密度の例えば、4Mビツトチツプに適用し
ようとすると、素子面積の増大とか、また第2図
に示す如くチツプ面積を有効に使用するため検出
器7を1個に減らした場合にはブートループ用読
み出し転送路8が、読み出し用導体8aと交差す
るため、読み出し用導体8aを流れる電流によ
り、読み出し転送路8を転送中のバブルが影響を
受け、その動作に誤動作を生じ特性劣化が起る等
の問題があつた。 This odd/even type magnetic bubble memory element includes bubble generators 1 and 1', write major transfer paths 4 and 4', and read major transfer path 8 in minor loop groups 2 and 3 forming two information storage sections, respectively. , 8', detectors 6, 6' are connected, boot loops 9, 9' are connected to each block one by one, bubble generators 1, 1', write measurer transfer paths 4, 4' and detection The devices 7 and 7' are also used for the minor loop. If we try to apply this method to a higher-density, for example, 4M bit chip, the element area will increase, or if we reduce the number of detectors 7 to one in order to use the chip area more effectively as shown in Figure 2. Since the readout transfer path 8 for the boot loop intersects with the readout conductor 8a, the current flowing through the readout conductor 8a affects the bubble that is being transferred through the readout transfer path 8, causing a malfunction in its operation and impairing its characteristics. There were problems such as deterioration.
(4) 発明の目的
本発明は上記従来の問題点に鑑み、素子面積の
増加を抑え且つ特性の劣化のない大容量の磁気バ
ブルメモリ素子を提供することを目的とするもの
である。(4) Object of the Invention In view of the above-mentioned conventional problems, it is an object of the present invention to provide a large-capacity magnetic bubble memory element that suppresses an increase in element area and does not cause deterioration of characteristics.
(5) 発明の構成
そしてこの目的は本発明によれば、複数のマイ
ナーループによつて形成される情報記憶部とは別
個に少なくとも1つの不良ループ情報記憶部を具
備し、該不良ループ情報記憶部に不良ループ情報
を書き込むための磁気バブル発生器、書き込みメ
ジヤー転送路、書き込みゲートおよび不良ループ
情報を読み出すための読み出しゲート、読み出し
メジヤー転送路とを具備し、不良ループ情報の検
出を前記情報記憶部の検出部と共用するように構
成し、且つ前記不良ループ情報用バブル発生器か
ら不良ループ情報記憶部につながつた前記書込み
ゲートまでのビツト数と、前記不良ループ情報記
憶部につながつた読出しゲートから検出器までの
ビツト数との和が、前記情報記憶部用バブル発生
器から前記情報記憶部につながつた書込みゲート
までのビツト数と前記情報記憶部につながつた読
出しゲートから前記検出部までのビツト数との和
に等しいことを特徴とする磁気バブルメモリ素子
を提供することによつて達成される。(5) Structure of the Invention According to the present invention, at least one bad loop information storage section is provided separately from the information storage section formed by a plurality of minor loops, and the bad loop information storage section is provided with at least one bad loop information storage section. The section is equipped with a magnetic bubble generator, a write major transfer path, a write gate, a read gate for reading the defective loop information, and a read measure transfer path for writing defective loop information into the information storage section, and detects the defective loop information. the number of bits from the defective loop information bubble generator to the write gate connected to the defective loop information storage section and the read gate connected to the defective loop information storage section; The sum of the number of bits from the bubble generator for the information storage unit to the write gate connected to the information storage unit and the number of bits from the read gate connected to the information storage unit to the detection unit This is achieved by providing a magnetic bubble memory element characterized in that the number of bits is equal to the sum of the number of bits.
(6) 発明の実施例 以下本発明実施例を図面によつて詳述する。(6) Examples of the invention Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
第3図は本発明による磁気バブルメモリ素子を
説明するための図である。同図において、20は
偶数ブロツクの情報記憶部としてのマイナールー
プ、21は奇数ブロツクの情報記憶部としてのマ
イナーループ、22,22′はマイナーループ用
バブル発生器、23,23′はマイナーループ用
書き込みメジヤー転送路、24,24′はマイナ
ーループ用スワツプゲート、25,25′はマイ
ナーループ用レプリケートゲート、26,26′
はマイナーループ用読み出しメジヤー転送路、2
7は検出器、28,28′は不良ループ情報記憶
部としてのブートループ、29,29′はブート
ループ用バブル発生器、30,30′はブートル
ープ用書き込みメジヤー転送路、31,31′は
ブートループ用スワツプゲート、32,32′は
ブートループ用レプリケートゲート、33,3
3′はブートループ用読み出しメジヤー転送路を
それぞれ示している。 FIG. 3 is a diagram for explaining a magnetic bubble memory device according to the present invention. In the figure, 20 is a minor loop as an information storage section for even-numbered blocks, 21 is a minor loop as an information storage section for odd-numbered blocks, 22 and 22' are bubble generators for the minor loop, and 23 and 23' are for the minor loop. Write major transfer path, 24, 24' are swap gates for minor loop, 25, 25' are replicate gates for minor loop, 26, 26'
is the read major transfer path for the minor loop, 2
7 is a detector, 28, 28' is a boot loop as a defective loop information storage section, 29, 29' is a bubble generator for the boot loop, 30, 30' is a write major transfer path for the boot loop, 31, 31' is a boot loop. Swap gate for boot loop, 32, 32' are replicate gates for boot loop, 33, 3
3' indicates a read major transfer path for the boot loop.
本実施例は図に示す如く、偶数ブロツクのマイ
ナーループ20と奇数ブロツクのマイナーループ
21とを並べて配置し、その右上方に検出器27
と、その左側の余白部分にブートループ28,2
8′を2本配置し、それぞれのブートループにバ
ブル発生器29,29′、メジヤー転送路30,
30′,33,33′を設け、ブートループ28,
28′の情報はマイナーループ20,21の検出
器27を共用して読み出される構成になつてい
る。 In this embodiment, as shown in the figure, the minor loops 20 of the even blocks and the minor loops 21 of the odd blocks are arranged side by side, and a detector 27 is placed in the upper right of the minor loops 20 of the even blocks and the minor loops 21 of the odd blocks.
and boot loop 28,2 in the left margin.
Two 8' are arranged, and each boot loop is equipped with a bubble generator 29, 29', a measurer transfer path 30,
30', 33, 33' are provided, and the boot loop 28,
The information 28' is read out using the detectors 27 of the minor loops 20 and 21 in common.
このように構成された本実施例は、ブートルー
プ28,28′用のレプリケートゲート32,3
2′の導体パターンはメジヤー転送路33,3
3′と交差しないように配置できるため、特性劣
化がなく、さらに素子の余白部にブートループ2
8,28′を配置したため素子面積の増大を抑え
ることができる。 This embodiment configured in this manner has replicate gates 32 and 3 for the boot loops 28 and 28'.
The conductor pattern 2' is the major transfer path 33, 3.
Since the boot loop 2 can be placed so as not to intersect with 3', there is no characteristic deterioration.
8 and 28', it is possible to suppress an increase in the element area.
なおビツト構成において、偶数ブロツクのバブ
ル発生器22からスワツプゲート24までのビツ
ト数をn・奇数ブロツクのバブル発生器22′か
らスワツプゲート24′までのビツト数をn+1
(又はn−1)とし、偶数ブロツクのレプリケー
トゲート25から検出器27までのビツト数を
m、奇数ブロツクのレプリケートゲート25′か
ら検出器27までのビツト数をm−1(又はm+
1)とすることにより、偶数・奇数ブロツクの転
送路の長さは偶数ブロツクが(n+m)、奇数ブ
ロツクが(n+1)+(m−1)で両者等しく且つ
マイナーループ20,21の位置が1ビツトずれ
ていることでバブル発生器22,22′は偶数・
奇数ブロツクに交互に書き込み、検出器27は偶
数・奇数ブロツクから交互に情報を読み出すこと
ができる。このことは従来の奇数・偶数方式と同
様である。 In addition, in the bit configuration, the number of bits from the bubble generator 22 to the swap gate 24 of an even number block is n, and the number of bits from the bubble generator 22' to the swap gate 24' of an odd number block is n+1.
(or n-1), the number of bits from the replicate gate 25 to the detector 27 of the even-numbered block is m, and the number of bits from the replicate gate 25' to the detector 27 of the odd-numbered block is m-1 (or m+
1), the length of the transfer path for even and odd blocks is (n+m) for even blocks and (n+1)+(m-1) for odd blocks, and the lengths of the transfer paths are equal for both, and the positions of minor loops 20 and 21 are 1. Due to the bit shift, the bubble generators 22, 22'
Information can be written alternately to the odd blocks, and the detector 27 can read information alternately from the even and odd blocks. This is similar to the conventional odd/even number system.
また2個のブートループ28,28′において
もバブル発生器29,29′からスワツプゲート
31,31′までのビツト数をそれぞれn+2、
n+3とし、レプリケートゲート32,32′か
らスワツプゲート検出器27までのビツト数をそ
れぞれm−2、m−3として、各転送路の和をマ
イナーループの場合と同様にn+mとし、ブート
ループ28と28′の位置を1ビツトずらすこと
により、バブル発生器29,29′はブートルー
プ28,28′に交互に書き込みを行ない、検出
器27は交互に情報を読み出すことができ、第1
図に示した従来の構成と互換性を保つことができ
る。 Also, in the two boot loops 28, 28', the number of bits from the bubble generators 29, 29' to the swap gates 31, 31' is set to n+2, respectively.
n+3, the number of bits from the replicate gates 32, 32' to the swap gate detector 27 are m-2 and m-3, respectively, and the sum of each transfer path is n+m as in the case of the minor loop. By shifting the position of ' by one bit, the bubble generators 29, 29' write to the boot loops 28, 28' alternately, and the detector 27 can read information alternately, so that the first
It is possible to maintain compatibility with the conventional configuration shown in the figure.
第4図乃至第6図は本発明を4Mビツト素子に
応用した実際例を説明するための図であり、第4
図は概略図、第5図はその1Mビツトブロツク、
第6図はバブル転送路のパターンをそれぞれ示
す。 4 to 6 are diagrams for explaining an actual example in which the present invention is applied to a 4M bit element.
The figure is a schematic diagram, and Figure 5 shows its 1M bit block.
FIG. 6 shows the patterns of bubble transfer paths.
第4図の4Mビツト素子は1素子上に1Mビツト
ブロツクが4個〜形成されており各ブロツク
には偶数ブロツクのマイナーループ40と奇数ブ
ロツクのマイナーループ41とブートループ42
とバブル発生器43とが形成されている。 The 4M bit device shown in Fig. 4 has four or more 1M bit blocks formed on one device, and each block has a minor loop 40 for even blocks, a minor loop 41 for odd blocks, and a boot loop 42.
and a bubble generator 43 are formed.
第5図は第4図の素子の1Mビツトブロツクを
拡大して示した図であり、同図において、40は
偶数ブロツクのマイナーループ、41は奇数ブロ
ツクのマイナーループ、42,42′はブートル
ープ、43はバブル検出器、44はバブル検出器
のダミー、45,45′はバブル発生器用導体の
端子、46,46′はスワツプゲート用導体の端
子、47,47′はレプリケートゲート用導体の
端子、48はブートループ用バブル発生器の導体
の端子、49,49′はブートループ用スワツプ
ゲートの導体の端子、50,50′はブートルー
プ用レプリケートゲートの導体の端子、51はバ
ブル検出器の端子、52はダミーの端子、53は
バブル検出器とダミーの共通端子をそれぞれ示し
ている。 FIG. 5 is an enlarged view of the 1M bit block of the device shown in FIG. 4. In the figure, 40 is an even block minor loop, 41 is an odd block minor loop, 42 and 42' are boot loops, 43 is a bubble detector, 44 is a bubble detector dummy, 45 and 45' are bubble generator conductor terminals, 46 and 46' are swap gate conductor terminals, 47 and 47' are replicate gate conductor terminals, and 48 are the terminals of the conductor of the bubble generator for the boot loop, 49 and 49' are the terminals of the conductor of the swap gate for the boot loop, 50 and 50' are the terminals of the conductor of the replicate gate for the boot loop, 51 is the terminal of the bubble detector, and 52 indicates a dummy terminal, and 53 indicates a common terminal between the bubble detector and the dummy.
第6図の転送パターンはワイドギヤツプ型の転
送パターンであり、aは4μmピツチでマイナール
ープに用いられ、bは8μmピツチでブートループ
に用いられている。 The transfer pattern shown in FIG. 6 is a wide gap type transfer pattern, in which a is a 4 μm pitch and is used for a minor loop, and b is an 8 μm pitch and is used for a boot loop.
この4Mビツト素子は第5図の如くブートルー
プ42,42′からバブル検出器43までの転送
路54,54′とブートループのレプリケートゲ
ート用の導体55とが交差せずに形成されている
ので、転送路54,54′を転送されるバブルは
導体55を流れる電流の影響を受けることはな
い。なおマイナーループのレプリケートゲート用
導体56が転送路54,54′と交差しているが、
これは、ブートループ読み出し中はマイナールー
プの読み出しは行なわれないので、転送路54,
54′を転送されるバブルには無関係である。 This 4M bit element is formed so that the transfer paths 54, 54' from the boot loops 42, 42' to the bubble detector 43 and the conductor 55 for the replicate gate of the boot loop do not intersect, as shown in FIG. , the bubbles transferred through the transfer paths 54, 54' are not affected by the current flowing through the conductor 55. Note that the replicate gate conductor 56 of the minor loop intersects the transfer paths 54 and 54';
This is because the minor loop is not read while the boot loop is being read, so the transfer path 54,
54' is irrelevant for bubbles transferred.
なお、また従来の奇数・偶数方式では、バブル
検出器とダミーとが隣接して形成されていたた
め、1ビツトおきにしか情報の読み取りができ
ず、そのため奇数・偶数ブロツクにそれぞれ1個
づつの検出器を必要としたが、本発明では第5図
の如くバブル検出器43とダミー44とを分離し
て配置し、バブル検出器43を出たバブルはガー
ドレールによつて廃棄されるようになつているた
め、毎ビツトの読み出しが可能となり、検出器4
3は1個で奇数・偶数ブロツクの情報を交互に読
み出すことができるようになつている。 Furthermore, in the conventional odd/even method, since the bubble detector and the dummy were formed adjacent to each other, information could only be read every other bit, so one detection was required for each odd and even block. However, in the present invention, the bubble detector 43 and the dummy 44 are arranged separately as shown in FIG. 5, and the bubbles exiting the bubble detector 43 are discarded by a guardrail. Therefore, each bit can be read out, and the detector 4
3 allows information of odd and even blocks to be read out alternately.
(7) 発明の効果
以上、詳細に説明したように本発明の磁気バブ
ルメモリ素子は、1Mビツト単位で必要な2本の
ブートループを1個所にまとめ新たにバブル発生
器、書き込み読み出し転送路をもうけ、検出器は
1個に減じ、情報読み出し用と共用することによ
り素子面積の増大を抑え、且つブートループ情報
読み出し特性劣化をなくして大容量メモリを実現
し得るといつた効果大なるものである。(7) Effects of the Invention As explained above in detail, the magnetic bubble memory element of the present invention combines two boot loops required for 1M bits into one place and adds a new bubble generator and write/read transfer path. By reducing the number of detectors to one and sharing the detector with one for reading information, it is possible to suppress an increase in the element area, eliminate deterioration of the boot loop information read characteristics, and realize a large-capacity memory. be.
第1図及び第2図は従来の磁気バブルメモリ素
子を説明するための図、第3図は本発明による磁
気バブルメモリ素子を説明するための図、第4図
乃至第6図は本発明を4Mビツト素子に応用した
実際例を説明するための図である。
図面において、20,21はマイナーループ、
22,22′はマイナーループ用バブル発生器、
23,23′はマイナーループ用書き込みメジヤ
ー転送路、24,24′はマイナーループ用スワ
ツプゲート、25,25′はマイナーループ用レ
プリケートゲート、26,26′はマイナールー
プ用読み出しメジヤー転送路、27は検出器、2
8,28′はブートループ、29,29′はブート
ループ用バブル発生器、30,30′はブートル
ープ用書き込みメジヤー転送路、31,31′は
ブートループ用スワツプゲート、32,32′は
ブートループ用レプリケートゲート、33,3
3′はブートループ用読み出しメジヤー転送路を
それぞれ示す。
1 and 2 are diagrams for explaining a conventional magnetic bubble memory device, FIG. 3 is a diagram for explaining a magnetic bubble memory device according to the present invention, and FIGS. 4 to 6 are diagrams for explaining a magnetic bubble memory device according to the present invention. FIG. 3 is a diagram for explaining an actual example applied to a 4M bit element. In the drawing, 20 and 21 are minor loops,
22, 22' are minor loop bubble generators,
23 and 23' are write major transfer paths for minor loops, 24 and 24' are swap gates for minor loops, 25 and 25' are replicate gates for minor loops, 26 and 26' are read major transfer paths for minor loops, and 27 is detection. vessel, 2
8, 28' are boot loops, 29, 29' are bubble generators for boot loops, 30, 30' are write major transfer paths for boot loops, 31, 31' are swap gates for boot loops, 32, 32' are boot loops. Replicate gate for, 33,3
3' indicates a read major transfer path for the boot loop.
Claims (1)
報記憶部とは別個に少なくとも1つの不良ループ
情報記憶部を具備し、該不良ループ情報記憶部に
不良ループ情報を書き込むための磁気バブル発生
器、書き込みメジヤー転送路、書き込みゲートお
よび不良ループ情報を読み出すための読出しゲー
ト、読み出しメジヤー転送路とを具備し、不良ル
ープ情報の検出を前記情報記憶部の検出部と共用
するように構成し、且つ、前記不良ループ情報用
バブル発生器から不良ループ情報記憶部につなが
つた前記書込みゲートまでのビツト数と、前記不
良ループ情報記憶部につながつた読出しゲートか
ら検出器までのビツト数との和が、前記情報記憶
部用バブル発生器から前記情報記憶部につながつ
た書込みゲートまでのビツト数と前記情報記憶部
につながつた読出しゲートから前記検出部までの
ビツト数との和に等しいことを特徴とする磁気バ
ブルメモリ素子。1. A magnetic bubble generator and a writing device comprising at least one defective loop information storage section separate from the information storage section formed by a plurality of minor loops, and for writing defective loop information into the defective loop information storage section. comprising a measure transfer path, a write gate, a read gate for reading defective loop information, and a read measure transfer path, configured to share the detection of defective loop information with the detection section of the information storage section; The sum of the number of bits from the bad loop information bubble generator to the write gate connected to the bad loop information storage section and the number of bits from the read gate connected to the bad loop information storage section to the detector is the number of bits connected to the bad loop information storage section. A magnetic bubble characterized in that the number of bits is equal to the sum of the number of bits from a bubble generator for a storage section to a write gate connected to the information storage section and the number of bits from a read gate connected to the information storage section to the detection section. memory element.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58053602A JPS59180879A (en) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | Magnetic bubble memory element |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58053602A JPS59180879A (en) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | Magnetic bubble memory element |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59180879A JPS59180879A (en) | 1984-10-15 |
| JPS6322385B2 true JPS6322385B2 (en) | 1988-05-11 |
Family
ID=12947426
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58053602A Granted JPS59180879A (en) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | Magnetic bubble memory element |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59180879A (en) |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS559787A (en) * | 1978-09-04 | 1980-01-23 | Iseki Agricult Mach | Threshing depth regulater in combined harvester |
| JPS55125593A (en) * | 1979-03-19 | 1980-09-27 | Nec Corp | Magnetic bubble memory element |
| JPS55135388A (en) * | 1979-04-09 | 1980-10-22 | Nec Corp | Magnetic bubble memory element |
| JPS55135389A (en) * | 1979-04-09 | 1980-10-22 | Nec Corp | Magnetic bubble memory element |
-
1983
- 1983-03-31 JP JP58053602A patent/JPS59180879A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59180879A (en) | 1984-10-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6322385B2 (en) | ||
| CA1111557A (en) | Fault tolerant bubble memory with redundancy using a stationary register on a single chip | |
| CA1098622A (en) | Large capacity major-minor loop bubble domain memory with redundancy | |
| JPS6138549B2 (en) | ||
| JPH02247890A (en) | Semiconductor memory device | |
| KR930001738B1 (en) | Word line driver arrangement in semiconductor memory device | |
| CA1118891A (en) | Fault tolerant bubble memory with redundancy using a stationary register in a single chip | |
| JPS5911985B2 (en) | Bubble domain exchange circuit | |
| JP3469074B2 (en) | Semiconductor memory device | |
| JPS6141072B2 (en) | ||
| US4276612A (en) | Magnetic bubble memory device with divided electrical conductors | |
| US4415989A (en) | Dual conductor current access magnetic bubble memory | |
| US3786448A (en) | Multiple access plated wire memory | |
| JPS6037546B2 (en) | magnetic bubble element | |
| US4096580A (en) | Multiple redundancy loop bubble domain memory | |
| JP3241110B2 (en) | Semiconductor storage device | |
| JPS6364837B2 (en) | ||
| JPS624796B2 (en) | ||
| JPS592994B2 (en) | magnetic bubble memory element | |
| JPS62157394A (en) | Magnetic bubble memory chip constitution | |
| JPS5994291A (en) | Magnetic bubble memory element | |
| JPS5933690A (en) | Magnetic bubble memory element | |
| JPS634488A (en) | magnetic bubble memory device | |
| US4520459A (en) | Bubble memory which transfers bubbles in both right-to-left and left-to-right SPS loops to provide a short access time | |
| JPS59101090A (en) | Storage device |