JPS634488A - magnetic bubble memory device - Google Patents

magnetic bubble memory device

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Publication number
JPS634488A
JPS634488A JP61146851A JP14685186A JPS634488A JP S634488 A JPS634488 A JP S634488A JP 61146851 A JP61146851 A JP 61146851A JP 14685186 A JP14685186 A JP 14685186A JP S634488 A JPS634488 A JP S634488A
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JP
Japan
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loop
magnetic bubble
minor
redundant
minor loop
Prior art date
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Pending
Application number
JP61146851A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Minoru Hiroshima
實 廣島
Makoto Suzuki
良 鈴木
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Priority to JP61146851A priority Critical patent/JPS634488A/en
Publication of JPS634488A publication Critical patent/JPS634488A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は記憶容量の高密度、高集積化に好適な磁気バブ
ルメモリ装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a magnetic bubble memory device suitable for high-density and high-integration storage capacity.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

近年、記憶容量の高密度、高集積化に伴い、1枚の基板
上に2組の磁気バブルメモリ素子を形成して大容量化し
たいわゆるEVEN−ODD方式の磁気バブルメモリ装
置が例えば特公昭56−45234号公報あるいは〇−
π方式の磁気バブルメモリ装置が例えば特開昭57−1
43788号公報などにおいて提案されている。
In recent years, with the increasing density and integration of storage capacity, so-called EVEN-ODD magnetic bubble memory devices, which have a large capacity by forming two sets of magnetic bubble memory elements on one substrate, have been developed, for example, in the Tokko Kokko 1983. -45234 publication or 〇-
For example, a π-type magnetic bubble memory device is disclosed in Japanese Unexamined Patent Publication No. 57-1.
This method has been proposed in, for example, Japanese Patent No. 43788.

第6図はこの種の磁気バブルメモリ装置の構成を示す平
面図である。同図において、mはマイナループ、Mmは
マイナループ、Gは磁気バブル発生器、WLは書き込み
ライン、WGは情報書き込み用ゲート、MWGはマツプ
情報書き込み用ゲート、RGは情報読み出し用ゲート、
RLは読み出しライン、MRGはマツプ情報読み出し用
ゲート。
FIG. 6 is a plan view showing the configuration of this type of magnetic bubble memory device. In the figure, m is a minor loop, Mm is a minor loop, G is a magnetic bubble generator, WL is a write line, WG is a gate for writing information, MWG is a gate for writing map information, RG is a gate for reading information,
RL is a read line, and MRG is a map information read gate.

DMはメイン検出器、DDはダミー検出器、BPは端子
としてのボンディングパットであり、太線は導体パター
ン、細線は磁気バブルを転送させるシェブロンパターン
転送路をそれぞれ示しており。
DM is a main detector, DD is a dummy detector, BP is a bonding pad as a terminal, thick lines indicate a conductive pattern, and thin lines indicate a chevron pattern transfer path for transferring magnetic bubbles.

同図中、左側がEVEN側ブロックBRE、右側がOD
D側ブロックBR○である。
In the figure, the left side is the EVEN side block BRE, and the right side is the OD.
The D side block is BR○.

このように構成される磁気バブルメモリ装置において、
マイナループmは情報を貯えるループで多数個の閉ルー
プ状バブル転送路からなる0例えば、l M b 素子
では通常500〜600本のマイナループmからなり、
素子の大部分の面積を占有している。また、磁気バブル
メモリ素子では、ある程度の欠陥を許容させるために複
数個の動作不良マイナループが磁気バブルメモリ素子内
に存在しても良いように通常マイナループ数の約1割程
度の冗長マイナループが設けられている。このような冗
長マイナループを許容した磁気バブルメモリ素子では、
さらに特別なループとして欠陥ループ番号を記憶するた
めの・算用ループとしてマイナループMmが設けられて
いる。
In the magnetic bubble memory device configured in this way,
The minor loop m is a loop that stores information and is composed of a large number of closed-loop bubble transfer paths.For example, an lMb element usually consists of 500 to 600 minor loops m,
It occupies most of the area of the device. In addition, in magnetic bubble memory devices, in order to tolerate defects to a certain extent, redundant minor loops are usually provided, which are approximately 10% of the number of minor loops, so that multiple malfunctioning minor loops may exist within the magnetic bubble memory device. ing. In magnetic bubble memory elements that allow such redundant minor loops,
Further, as a special loop, a minor loop Mm is provided as an arithmetic loop for storing defective loop numbers.

EVEN−ODD方式の磁気バブルメモリ素子は、情報
を偶数ビットと奇数ビットとに分割して偶数ビットをE
VEN側ブロックBREで記憶し、奇数ビットをODD
側ブロックBROで記憶する構成であり、例えば先頭の
マイナループmから磁気バブル検出器りまでのピント数
と、先頭のマイナループmから磁気バブル発生器Gまで
のビット数とが、EVEN側ブロックBREとODD側
ブロックBROとで1ビツト異なり、偶数ビットと奇数
ビットとを分割して処理し易くできるように構成されて
いる。また、マイナループMmはEVEN側ブロックB
REおよびODD側ブロックBROに共通に1本設けれ
ば良く、通常、ODD側ブロックBR○に1本のマイナ
ループが設けられ、この1本のマイナループ内にEVE
N側ブロックBREおよびODD側ブロックBROの両
ブロックBRE、BROの欠陥ループ番号情報(マツプ
情報)が貯えられる。あるいは場合によっては、第6図
に示すようにEVEN側ブロックBREとODD側ブロ
ックBROにそれぞれ1本ずつ専用のマイナループMm
e、 Mmoを備え、マイナループMIlleにはEV
EN側ブロックBREのマツプ情報を、マイナループM
moにはODD側ブロックBROのマツプ情報を貯える
。この場合、2本のマイナループMme、 Mmoには
異なる情報が貯えられ、同時に使用される。また、磁気
バブル検出器りまでのビット数および磁気バブル発生器
Gからのビット数が2本のマイナループMme、 Mm
o間で1ピント異ならせてあり、その処理を容易にして
いる。
The EVEN-ODD type magnetic bubble memory device divides information into even bits and odd bits and stores the even bits as E.
Store in VEN side block BRE, odd bits ODD
For example, the number of focuses from the first minor loop m to the magnetic bubble detector G and the number of bits from the first minor loop m to the magnetic bubble generator G are stored in the EVEN side blocks BRE and ODD. The side block BRO is different by one bit, and is configured so that even number bits and odd number bits can be divided for easier processing. Also, the minor loop Mm is the EVEN side block B
It is sufficient to provide one in common to RE and ODD side block BRO, and normally one minor loop is provided in ODD side block BR○, and within this one minor loop, EVE
Defective loop number information (map information) of both blocks BRE and BRO of the N side block BRE and ODD side block BRO is stored. Alternatively, in some cases, as shown in FIG.
e, Mmo, and EV in the minor loop MIlle.
The map information of the EN side block BRE is sent to the minor loop M.
The map information of the ODD side block BRO is stored in mo. In this case, different information is stored in the two minor loops Mme and Mmo and used simultaneously. In addition, the number of bits to the magnetic bubble detector G and the number of bits from the magnetic bubble generator G are two minor loops Mme, Mm.
The focus is made to differ by one point between the two images to facilitate processing.

なお、マイナループM me 、 M moは、通常、
第6図に示すように磁気バブル検出器り、磁気バブル発
生器G、−+’Jき込みラインWLおよび読み出しライ
ンRL等はマイナループmとそれと共通化した構成をと
り、マツプ情報書き込み用ゲートMWGおよびマツプ情
報読み出し用ゲートMRGがマイナループm用とは別に
独立してマイナループMm専用に設けられている。
Note that the minor loops M me and M mo are usually
As shown in FIG. 6, the magnetic bubble detector, the magnetic bubble generator G, the -+'J input line WL, the read line RL, etc. have a common configuration with the minor loop m, and the map information writing gate MWG A map information reading gate MRG is provided exclusively for the minor loop Mm and independently from the gate for the minor loop m.

このように構成される磁気バブルメモリ装置πは、マイ
ナループmに欠陥が発生した場合、冗長ループにより救
済、許容が可能であった。しかしながら、マイナループ
Mmが欠陥ループとなった場合はその磁気バブルメモリ
素子は救済が不可能となる。例えば1Mb素子の場合、
マイナループmの数が約600本あり、欠陥ループ数が
平均5%で約30本であると仮定すると、第6図の場合
、2本のマイナループMme、 Mmoが共に正常ルー
プである必要があるが、マイナループMme、 Mmo
のいずれか一方が欠陥ループとなると、この磁気バブル
メモリ素子は不良となる。これらのマイナループMme
、 Mmoが不良ループとなる不良率は、この場合、5
%X2=10%となり、極めて大きな不良率となり、問
題となる。つまり、マイナループmにある程度の欠陥が
あり、許容できるようになったとしても、マイナループ
Mme、 Mmoが欠陥ループとなり、不良素子となる
不良率は無視できないレベルとなり、問題となった。
In the magnetic bubble memory device π configured as described above, if a defect occurs in the minor loop m, it can be repaired and tolerated by the redundant loop. However, if the minor loop Mm becomes a defective loop, the magnetic bubble memory element cannot be repaired. For example, in the case of a 1Mb element,
Assuming that the number of minor loops m is approximately 600 and the number of defective loops is approximately 30 with an average of 5%, in the case of Fig. 6, both the two minor loops Mme and Mmo must be normal loops. , minor loop Mme, Mmo
If either one of them becomes a defective loop, this magnetic bubble memory element becomes defective. These minor loops Mme
, the defective rate at which Mmo becomes a defective loop is 5 in this case.
%X2=10%, resulting in an extremely high defective rate and causing a problem. In other words, even if the minor loop m has some degree of defect and can be tolerated, the minor loops Mme and Mmo become defective loops and the failure rate of defective elements becomes a non-negligible level, posing a problem.

この対策としてマイナループMmにも冗長マップループ
を設ける構成が考えられる。第7図はこの冗長マイナル
ープの構成を示したものである。
As a countermeasure for this, a configuration in which a redundant map loop is also provided in the minor loop Mm can be considered. FIG. 7 shows the configuration of this redundant minor loop.

同図に示すようにODD側ブロックBROのみに1本の
マイナループMmoを備えた素子構成において、このマ
イナループMmoに冗長マイナループMnorを設けた
場合、このマイナループMmoが欠陥ループとなったと
きに冗長マイナループMmorを使用する考えである。
As shown in the figure, in an element configuration in which only one minor loop Mmo is provided in the ODD side block BRO, if a redundant minor loop Mnor is provided for this minor loop Mmo, when this minor loop Mmo becomes a defective loop, the redundant minor loop Mmor The idea is to use

そして、従来構成の場合、冗長マイナループMmorは
マイナループMmoに最も近接させて設ける方式(隣接
並置方式)が用いられていた。したがって第6図の場合
に対しては、この隣接並置方式により、マイナループM
me、Mmoの下側に隣接して図示されないが冗長マイ
ナループM mre 、 M mroが並置されること
になる。これらの場合、マイナループMmが不良となる
確率を10%とするとき、マイナループMmと冗長マイ
ナループMmrとの両者が不良となり、不良素子となる
確率は計算上、10%XIO%=1%となり、大幅に低
減できることになる。
In the case of the conventional configuration, a method is used in which the redundant minor loop Mmor is provided closest to the minor loop Mmo (adjacent juxtaposition method). Therefore, for the case of FIG. 6, by this adjacent juxtaposition method, the minor loop M
Although not shown, redundant minor loops M mre and M mro are arranged adjacent to the lower sides of me and Mmo. In these cases, when the probability that minor loop Mm becomes defective is 10%, the probability that both minor loop Mm and redundant minor loop Mmr become defective and become defective elements is calculated to be 10%XIO%=1%, which is significantly This means that it can be reduced to

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかしながら、このような冗長マイナループ構成法は次
に説明するような問題点を有している。
However, such a redundant minor loop configuration method has the following problems.

すなわち、 第1の問題点は、第7図において、マイナループMmを
使用する場合と冗長マイナループMmrを使用する場合
とで磁気バブル検出器りまでのビット数および磁気バブ
ル発生器Gからのビット数が1もしくは2ビツト異なっ
ている。このため、マイナループの使用方法が煩雑化し
、使用処理回路が複雑化する。
That is, the first problem is that in FIG. 7, the number of bits up to the magnetic bubble detector and the number of bits from the magnetic bubble generator G are different when using the minor loop Mm and when using the redundant minor loop Mmr. They differ by 1 or 2 bits. Therefore, the method of using the minor loop becomes complicated, and the processing circuit used becomes complicated.

第2の問題点は、マイナループMmと冗長マイナループ
Marとが隣接並置されるために起因する問題である。
The second problem is caused by the fact that the minor loop Mm and the redundant minor loop Mar are juxtaposed adjacent to each other.

前述の例では両方のループMm、MIlrが欠陥となり
、不良素子となる確率は、計算上では約1%となり、大
幅に低減することができるが、実際にはそれほど低減し
ない。−般に欠陥ループの直ぐ隣りのループも欠陥ルー
プとなる確率が極めて高い。このため、隣接並置方式の
場合、マイナループMmが欠陥ループであれば、隣接し
た冗長マップループも同時に欠陥ループとなり、したが
って両方のマイナループMm、MffIrが欠陥となる
。これによって冗長マイナループM+irを設けても、
高いマツプ欠陥不良率が低減できない。
In the above example, the probability that both loops Mm and MILr become defective and become defective elements is calculated to be about 1%, which can be significantly reduced, but in reality it is not reduced that much. - In general, there is an extremely high probability that a loop immediately adjacent to a defective loop will also become a defective loop. Therefore, in the case of the adjacent juxtaposition method, if the minor loop Mm is a defective loop, the adjacent redundant map loop also becomes a defective loop at the same time, and therefore both minor loops Mm and MffIr become defective. As a result, even if a redundant minor loop M+ir is provided,
High map defect rate cannot be reduced.

本発明の目的は、前述したマイナループの問題点を解消
し、マイナループの使用方法を単純化させた磁気バブル
メモリ装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a magnetic bubble memory device that solves the above-mentioned problems of the minor loop and simplifies the method of using the minor loop.

本発明の他の目的は、マイナループの欠陥不良率を低減
させた磁気バブルメモリ装置を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a magnetic bubble memory device in which the defect rate of minor loops is reduced.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明の一実施例によれば、欠陥ループ情報を記憶する
マイナループと冗長マイナループとを設け、マイナルー
プと冗長マイナループとの磁気バブル検出器までのビッ
ト数を−致させたものである。マイナループは、通常動
作では、読み出し動作だけであるので、磁気バブル発生
器までのビット数は、必ずしも合わせる必要はない。
According to one embodiment of the present invention, a minor loop for storing defective loop information and a redundant minor loop are provided, and the number of bits of the minor loop and the redundant minor loop to the magnetic bubble detector are matched. Since the minor loop only performs a read operation in normal operation, the number of bits up to the magnetic bubble generator does not necessarily have to match.

〔作用〕[Effect]

本発明においては、マイナループを使用する場合と冗長
マイナループを使用する場合とでビット数が両者で−致
し全く同様に使用できる。
In the present invention, the number of bits is the same when using a minor loop and when using a redundant minor loop, and can be used in exactly the same way.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。 Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第1図は本発明による磁気バブルメモリ装置の一実施例
を示す毎ビット方式の磁気バブルメモリ素子の平面構成
図であり、前述の図と同一部分には同一符号を付しであ
る。本発明による磁気バブルメモリ装置は、第1図に示
すように情報の書き込み、読み出しを毎ビットで入出力
する独立した2つの磁気バブルメモリ素子ブロックBR
I、BR2から構成され、情報の書き込みあるいは読み
出しのタイミング(位相)を互いに180度異むらせ、
1サイクルで2ビツトの情報を入出力でき、2倍のスピ
ードで情報が入出力できる特徴を有している。
FIG. 1 is a plan configuration diagram of a bit-by-bit type magnetic bubble memory element showing an embodiment of the magnetic bubble memory device according to the present invention, and the same parts as in the previous figures are given the same reference numerals. As shown in FIG. 1, the magnetic bubble memory device according to the present invention includes two independent magnetic bubble memory element blocks BR that input and output information writing and reading on a bit-by-bit basis.
It is composed of I and BR2, and the timing (phase) of writing or reading information is different from each other by 180 degrees,
It has the feature that it can input and output 2 bits of information in one cycle, and can input and output information at twice the speed.

このような構成において、第1の素子ブロックBRIに
はマイナループM111および冗長マイナループM+i
、rが設けられ、さらに第2の素子ブロックBR2にも
同様にマイナループMm2および冗長マイナループMm
2rがそれぞれ設けられている。
In such a configuration, the first element block BRI includes a minor loop M111 and a redundant minor loop M+i.
, r, and the second element block BR2 is also provided with a minor loop Mm2 and a redundant minor loop Mm.
2r are provided respectively.

そして、これらのマイナループMmおよび冗長マイナル
ープM+rは、第2図に示すようにマツプ情報読み出し
用ゲート(レプリケート・ゲート)MRGと結合される
磁気バブル転送パターンPTのビット数を(例えば1ビ
ット当りの配列周期を変えること等により)1ビット変
えることにより、磁気バブル検出器りまでのビット数を
一致させて論理定数が同一に設定されている。つまり、
冗長マイナループとマイナループの各レプリケートゲー
ト部から共通のり一ドメイジャーラインに合流するとこ
ろ迄の転送路のビット数を同じにしている。
These minor loops Mm and redundant minor loops M+r, as shown in FIG. By changing one bit (by changing the period, etc.), the number of bits up to the magnetic bubble detector is made to match, and the logical constants are set to be the same. In other words,
The number of bits of the transfer path from each replicate gate section of the redundant minor loop and the minor loop to the point where it joins the common glue domainer line is made the same.

なお、冗長マイナループMarとマイナループMmとの
距離がリード・メイジャラインPΩの転送周期で例えば
nビット離れていたら、各ループからメイジャライン迄
のビット数をnビット異なるようにすれば良いことは容
易に理解できよう。
Furthermore, if the distance between the redundant minor loop Mar and the minor loop Mm is, for example, n bits apart in the transfer cycle of the read/major line PΩ, it is only necessary to make the number of bits from each loop to the major line different by n bits. It's easy to understand.

但し、欠陥ループ情報等はどちらか一方のみに書き込ん
でおく必要がある。
However, it is necessary to write defective loop information etc. to only one of them.

このような構成によれば、前述したマイナループの隣接
並置方式とは異なり、マイナループMmと冗長マイナル
ープMmrとが同時に欠陥となる確率は前述した計算通
りに大幅に低減することが可能となる。また、マイナル
ープMmを使用する場合と冗長マイナループMmrを使
用する場合とでビット数が両者で一致しているため、全
く同様に使用でき、使用処理回路を大幅に単純化するこ
とができる。
According to such a configuration, unlike the above-described adjacent juxtaposition method of minor loops, the probability that the minor loop Mm and the redundant minor loop Mmr become defective at the same time can be significantly reduced as calculated above. Further, since the number of bits is the same when using the minor loop Mm and when using the redundant minor loop Mmr, they can be used in exactly the same way, and the processing circuit used can be greatly simplified.

第3図は本発明による磁気バブルメモリ装置の他の実施
例を示すEVEN−ODD方式の磁気バブルメモリ素子
の平面構成図であり、前述の図と同一部分には同一符号
を付しである。同図において、EVEN側ブロックBR
Eには、EVEN側ブロックBREの欠陥ループ情報を
記憶するマイナループMmeおよびODD側ブロックB
ROの欠陥ループ情軸を記憶するマイナループMmoが
設けられ、さらにoDD側ブロックBROにはその冗長
マイナループM nor 、 M merがそれぞれ設
けられている。そして、これらのマイナループMme、
M暑0および冗長マイナループM mer + M n
orは、磁気バブル検出器りまでのビット数が両者間で
一致させ、論理定数が同一に設定されている。
FIG. 3 is a plan configuration diagram of an EVEN-ODD type magnetic bubble memory element showing another embodiment of the magnetic bubble memory device according to the present invention, and the same parts as in the previous figures are given the same reference numerals. In the same figure, EVEN side block BR
E includes a minor loop Mme that stores defective loop information of the EVEN side block BRE and an ODD side block B.
A minor loop Mmo for storing defective loop information of the RO is provided, and redundant minor loops M nor and M mer are provided in the oDD side block BRO, respectively. And these minor loops Mme,
M mer 0 and redundant minor loop M mer + M n
For or, the number of bits up to the magnetic bubble detector is made to match between both, and the logical constants are set to be the same.

このような構成においても前述と全く同様の効果が得ら
れる。
Even in such a configuration, the same effects as described above can be obtained.

また、このEVEN側ブ07りBRE、ODD側ブロッ
クBROの外に、第4図に示すようにマイナループ用の
磁気バブル発生器Gm、’IJき込みラインW L m
および読み出しラインRLmを新たに設け、かつ書き込
みラインW L mおよび読み出しラインRLmのビッ
ト数をマイナループMmと冗長マイナループMIIlr
とで同一特許することにより、論理定数の同−設定が容
易に実現できる。
In addition, in addition to the EVEN side block BRE and the ODD side block BRO, as shown in FIG.
and a new read line RLm, and the bit numbers of the write line W L m and the read line RLm are changed to the minor loop Mm and the redundant minor loop MIIlr.
By patenting the same patent for both, the same setting of logical constants can be easily realized.

第5図は本発明による磁気バブルメモリ装置の他の実施
例を示す〇−π構成の磁気バブルメモリ素子の平面構成
図であり、前述の図と同一部分には同一符号を付しであ
る。同図において、この〇−π構成による磁気バブルメ
モリ装置は、情報の書き込み、読み出しを毎ビットで入
出力する独立した2つの磁気バブルメモリ素子ブロック
から構成され、情報の書き込み、読み出しのタイミング
(位相)が互いに180度異4るO相ブロックBROと
π相ブロックBRπとから構成され、1サイクルで2ビ
ツトの情報を入出力でき、2倍のスピードで情報が入出
力できる特徴を有している。
FIG. 5 is a plan view of a magnetic bubble memory element having a 0-π configuration showing another embodiment of the magnetic bubble memory device according to the present invention, in which the same parts as those in the previous figures are given the same reference numerals. In the figure, the magnetic bubble memory device with this 0-π configuration is composed of two independent magnetic bubble memory element blocks that input and output information writing and reading for each bit, and the timing (phase) of writing and reading information. ) is composed of an O-phase block BRO and a π-phase block BRπ, which differ from each other by 180 degrees, and has the feature that 2 bits of information can be input and output in one cycle, and information can be input and output at twice the speed. .

このような構成において、0相ブロツクBROには、0
相ブロツクBROおよびπ相ブロックBRπの欠陥ルー
プ情報を記憶するマイナループMmが設けられ、さらに
O相ブロックBROにはその冗長マンプルーブM m 
rがそれぞれ設けられている。この場合、マイナループ
Mmおよび冗長マイナループMmrは、磁気バブル検出
器りまでのビット数と磁気バブル発生器Gからのビット
数とが両者間で一致させ、論理定数が同一に設定されて
いる。
In such a configuration, the 0 phase block BRO has 0
A minor loop Mm is provided for storing defective loop information of the phase block BRO and the π-phase block BRπ, and the O-phase block BRO is further provided with its redundant loop Mm.
r is provided respectively. In this case, in the minor loop Mm and the redundant minor loop Mmr, the number of bits up to the magnetic bubble detector and the number of bits from the magnetic bubble generator G are made to match, and the logical constants are set to be the same.

このような構成においても前述と全く同様の効果が得ら
れる。
Even in such a configuration, the same effects as described above can be obtained.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明によれば、欠陥ループ情報を
記憶するマイナループと冗長マップループとを設け、マ
イナループと冗長マイナループとの磁気バブル検出器ま
でのビット数を一致させたことにより、マイナループの
使用方法が簡易化され、使用処理回路が単純化される。
As explained above, according to the present invention, a minor loop for storing defective loop information and a redundant map loop are provided, and the number of bits up to the magnetic bubble detector of the minor loop and the redundant minor loop are matched, so that the minor loop can be used. The method is simplified and the processing circuitry used is simplified.

また、マイナループの欠陥不良率が大幅に低減され、歩
留りが向上し、生産性を向上させることができるので、
品質、信頼性の高い磁気バブルメモリ装置が得られると
いう極めて優れた効果を有する。
In addition, the defect rate of minor loops is significantly reduced, yield is improved, and productivity can be improved.
This has an extremely excellent effect in that a magnetic bubble memory device with high quality and reliability can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による磁気バブルメモリ装置の一実施例
を示す平面構成図、第2図はマツプ情報読み出しゲート
部を示す要部拡大平面図、第3図は本発明による磁気バ
ブルメモリ装置の他の実施例を示すEVEN−ODD方
式磁気バブルメモリ素子の平面構成図、第4図は本発明
による磁気バブルメモリ装置のさらに他の実施例を示す
EVEN−ODD方式磁気バブルメモリ素子の要部平面
構成図、第5図は本発明による磁気バブルメモリ装置の
他の実施例を示すQ−π構成磁気バブルメモリ素子の平
面構成図、第6図、第7図は従来の磁気バブルメモリ装
置の問題点を説明するEVEN−ODD方式磁気バブル
メモリ素子の平面構成図である。 BRI、BR2・・・磁気バブルメモリ素子ブロック、
BRE・・・EVEN側ブロック、BRO・・・ODD
側ブロック、BRO・・・O相ブロック、BRE・・・
π相ブロック、m、me。 m、、mπ” ” ”マイナループ、M m 、 Mn
1. Mm、、 Mrae、 Mrmo”マイナループ
、Mn+r、 M+i1r。
FIG. 1 is a plan configuration diagram showing an embodiment of the magnetic bubble memory device according to the present invention, FIG. 2 is an enlarged plan view of main parts showing a map information read gate section, and FIG. 3 is a plan view showing an embodiment of the magnetic bubble memory device according to the present invention. FIG. 4 is a plane configuration diagram of an EVEN-ODD magnetic bubble memory device showing another embodiment of the present invention; FIG. FIG. 5 is a plan configuration diagram of a Q-π configuration magnetic bubble memory element showing another embodiment of the magnetic bubble memory device according to the present invention, and FIGS. 6 and 7 are problems with the conventional magnetic bubble memory device. FIG. 2 is a plan configuration diagram of an EVEN-ODD magnetic bubble memory device for explaining the point. BRI, BR2...magnetic bubble memory element block,
BRE...EVEN side block, BRO...ODD
Side block, BRO...O phase block, BRE...
π phase block, m, me. m,,mπ” ”minor loop, M m , Mn
1. Mm,, Mrae, Mrmo” minor loop, Mn+r, M+i1r.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、情報を記憶するマイナループ内に、欠陥ループ情報
を記憶するマップループと冗長マップループとを設け、
マップループと冗長マップループとの磁気バブル検出器
までのビット数を一致させたことを特徴とする磁気バブ
ルメモリ装置。 2、EVEN−ODD構成の磁気バブルメモリ素子のE
VEN側ブロックまたはODD側ブロックに欠陥ループ
情報を記憶するマップループを複数設けるとともに他方
のブロックに冗長マップループを設け、かつ該マップル
ープと冗長マップループとの磁気バブル検出器までのビ
ット数を一致させたことを特徴とする磁気バブルメモリ
装置。 3、0−π構成の磁気バブルメモリ索子の0相ブロック
またはπ相ブロックに欠陥ループ情報を記憶するマップ
ループを設けるとともに他方のブロックに冗長マップル
ープを設け、かつ該マップループと冗長マップループと
の磁気バブル検出器までのビット数を一致させたことを
特徴とする磁気バブルメモリ装置。
[Claims] 1. A map loop for storing defective loop information and a redundant map loop are provided in the minor loop for storing information,
A magnetic bubble memory device characterized in that a map loop and a redundant map loop have the same number of bits up to a magnetic bubble detector. 2. E of magnetic bubble memory element with EVEN-ODD configuration
A plurality of map loops for storing defective loop information are provided in the VEN side block or ODD side block, and a redundant map loop is provided in the other block, and the number of bits up to the magnetic bubble detector of the map loop and the redundant map loop is made equal. A magnetic bubble memory device characterized by: 3. A map loop for storing defective loop information is provided in the 0-phase block or π-phase block of the magnetic bubble memory cord having a 0-π configuration, and a redundant map loop is provided in the other block, and the map loop and the redundant map loop are provided in the other block. A magnetic bubble memory device characterized in that the number of bits up to the magnetic bubble detector is matched with that of the magnetic bubble detector.
JP61146851A 1986-06-25 1986-06-25 magnetic bubble memory device Pending JPS634488A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003014131A (en) * 2001-06-27 2003-01-15 Shibuya Kogyo Co Ltd Rotary shaft sealing device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2003014131A (en) * 2001-06-27 2003-01-15 Shibuya Kogyo Co Ltd Rotary shaft sealing device

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