JPS63229633A - 光ヘツド - Google Patents

光ヘツド

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JPS63229633A
JPS63229633A JP62064548A JP6454887A JPS63229633A JP S63229633 A JPS63229633 A JP S63229633A JP 62064548 A JP62064548 A JP 62064548A JP 6454887 A JP6454887 A JP 6454887A JP S63229633 A JPS63229633 A JP S63229633A
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JP
Japan
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Pending
Application number
JP62064548A
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English (en)
Inventor
Noboru Ito
昇 伊藤
Sadao Mizuno
定夫 水野
Tetsuo Hosomi
哲雄 細美
Yoshinao Taketomi
義尚 武富
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は2ビームを用いて情報を記録、再生。
消去する光デイスク装置の光ヘッドに関するものである
従来の技術 近年、静止画ディスク装置0交書ファイル装置。
データファイル装置など、大容量の情報記録装置として
光デイスク装置の開発、#晶化が活発化している。光デ
イスク装置は高速回転するディスクにレーザ光を照射し
て、その記録媒体に情報ビットを記録しておき、同じレ
ーザでパワーを下げ、記録ピットの反射率変化を読み取
る装置である。
さて、記録媒体として例えば、テルル酸化物にゲルマニ
ウム、すすを添加した薄膜を用いた場合、情報ビットの
記録に際しては、回折限界まで絞り込んだパワー密度の
高い光スポット(直径0.8μm程度)で照射すると、
記録媒体は急熱急冷されて反射率の低い状態へ転移して
記録が完了する。また記録ピットの消去に際しては、パ
ワー密度が低くかつトラック方向に長くなるように成形
した光スポットを記録ピットに照射し、この部分の記録
媒体がアニールされて、元の反射率の高い記録前の状態
へ転位して消去が完了する。このように記録ピットの消
去においてアニールが可能な光スポットを発する光ヘッ
ドが、書き換え機能を有する光デイスク装置の光ヘッド
として提案されている。
係る光ヘッドの従来例を、以下に図を用いて説明する4
、第5図は従来の光へノドの概略構成を示す図、第6図
は第6図B方向より見た構成図である。まず記録再生光
学系の構成について説明する。
1は記録再生用半導体レーザで、波長λ、であり記録時
には約a mw、再生時には約1 mWのレーザーパワ
ーをディスク上に照射する。2はレーザ光を平行光ビー
ムに変換する集光レンズ、3は変換された記録再生光ビ
ームである。4は第1の偏光ビームスプリッタでfりす
、第7図に示すような波長特性を持っており、波長λ1
のP偏光を透過し、後述の波長λ2のP偏光を反射する
偏光特性がある。記録再生用半導体レーザ1は第1の偏
光ビームスプリッタ4に対してP偏光となるよう配置さ
れているため、記録再生光ビーム3は第1の偏光ビーム
スプリッタ4を通過し、第2の偏光ビームスプリッタ5
に入る。第2の偏光ビームスプリツタ5r/′i第8図
に示すような波長特性、つまり波長λ1およびλ2のP
偏光を透過し、S偏光を反射する偏光特性を持っている
。したがって、記録再生光ビーム3は第2の偏光ビーム
スプリッタ5も透過し、反射プリズム6で光路を直角に
曲げられ、%波長板7.絞りレンズ8を通り、ディスク
記録面9に微小な記録再生光スポット10を形成する。
次に検出光学系について説明する。ディスク記録面9を
反射した後、絞りレンズ8.V44波長板7反射プリズ
ム6の順に進む反射光ハ、S偏光となっているため、第
2の偏光ビームスプリッタ5によって光路を直角に曲げ
られ、第3の偏光ビームスプリンタ11に至る。この第
3の偏光ビームスプリッタ11は第9図に示すように、
波長λ1の記録再生用光ビームに対してHsS偏光反射
し、消去用半導体レーザ12からの波長λ2の光ビーム
に対してはS偏光、P偏光とも透過するという偏光特性
をもつものである。即ち、記録再生−Xビーム3の反射
光は第3の偏光ビームスプリッタ11で反射し、検出レ
ンズ14に至る。検出レンズ14を通った記録再生用光
ビーム3はシリンドリカルレンズ15により非点収差を
与えられ、信号検出器16に受光される。信号検出器1
6は複数の受光素子から成り、再生信号を検出するとと
もに、いわゆる非点収差法によりフォーカス制御信号が
、プッシュプル法によりトラッキング制御信号が検出で
きるよう構成されている。
こうして得られたフォーカス制御信号とトラッキング検
出信号を基に、絞りレンズ8はフォーカス制御およびト
ラッキング制御がかけられている。
次に消去光学系の構成について説明する。12は消去用
半導体レーザであり、波長λ2.消去時照射パワーは約
20mWである。消去用半導体レーザ12は第3の偏光
ビームスプリッタ11に対しS偏光となるように配され
ており、これを発した波長λ2のレーザ光は消去用の集
光レンズ17によシ略平行な消去光ビーム18[なる。
消去光ビーム18は消去ビーム形成手段19と消去ビー
ム偏光手段2oを透過した後、反射プリズム13によっ
てその光路を直角に曲げられ、第3の偏光ビームスプリ
ッタ11に入射する。第3の偏光ビームスプリ1.夕1
1は波長λ2のS偏光に対しては前述のような特性を持
つから、ここを通過する。
次に消去光ビーム18id第2の偏光ビームスプリッタ
5で反射され、反射プリズム6、V4波長板7゜絞りレ
ンズ8を経てディスク記録面9に至り、消去用光スポッ
ト22を形成する。ここで消去用光スポット22は第1
0図に示すように、ディスク記録面9の移動方向(トラ
ック方向)に幅が狭く、ピークが高いメルトスポット2
3と移動方向に幅が広くかつピークの低いアニールスポ
ット24からなる。ディスク記録面9に対してはメルト
スポット23がまず照射され、次にアニールスポット2
4が照射されるよう配置するが、このようにするとディ
スク記録面9は高パワー密度のメルトスポット照射を短
時間内に受けて急熱し、その後低パワー密度のアニール
スポット照射を比較的に長時間受けて除熱・除冷される
。記録媒体をアニールして消去を行なう本方式において
はトラック方゛向に長い楕円スポット1つを照射するこ
とにより除熱・除冷してアニールするより、一度急熱し
た後除熱・除冷した方がアニール効果が大きいため、メ
ルト・アニールの2スポット方式を採用した方がよい。
こうした消去光スポット22は消去ビーム形成手段19
を用いて形成するが、これについて次に説明する。消去
ビーム形成手段19の構成の一例を第11図に示す。消
去ビーム形成手段19は平行平板部30と傾斜面部31
とから成る。平行平板部3oを通過する消去光ビームは
この部分をまっすぐに透過してメルトビーム26となり
、これは絞りレンズ8で絞シ込まれてメルトスポット2
3を形成する。一方複数傾斜部を通過した消去光ビーム
はアニールビーム26を形成し、傾斜面を透過するため
にプリズム作用も受けて偏向する。
このアニールビーム26は絞りし/ズ8で絞り込まれる
と、その進行方向が偏向しているためにメルトスポット
23とは異なった位置に結像し、アニールスポット24
となる。アニールビームは異なった偏向角を持つ複数の
平行ビームから成り立っているので、これらを絞り込ん
で得られる光スポ・ノドの位置は各々異なる。アニール
スポット24rriこれら異なった位置のスポットの集
積となるため、ピークが低くかつ長いスポットとなる、
このとき、各スポットの結像位置はトラック方向に並べ
る。以上プリズムによる消去スポット形成法について説
明したが、シリンドリカルレンズを用いてトラ・ツク方
向に長い楕円消去スボ・7)も形成できる。
次に消去ビーム移動手段20について説明する。
温度変化などの環境が変化すると記録スポット1oと消
去光スポットとの間に位置ずれが起る。
この原因は記録再生用半導体レーザ1.消去用半導体レ
ーザ12やプリズムなどの光学部品の相対位置が環境変
化によって変わるためである。このスポット位置ずれが
起ると記録スボ−7) 1oの後を消去スポット22が
ずれてトレースするために消し残りが発生し、これを防
ぐには消去光スポット22を移動させてずれをなくせば
よい。消去ビーム移動手段20の働きは消去スポット2
2をディスク半径方向に移動させることであり、これに
よって記録スポット1oの後を消去スポット22がずれ
なくトレースすることができ完全な消去を行なうことが
できる。−消去ビーム移動手段20はたとえば、第12
図に示すようにクサビ形状をしており、この非平行な対
向面を消去光ビーム18が透過する。消去光ビーム18
は消去ビーム移動手段20の透過後そのプリズム作用の
ため偏向する。ここで消去ビーム移動手段20を図中の
点線のように回転させると、消去光ビームは、この回転
につれて偏向方向が変わる。これにつれて結像した消去
光スポツト22f′i消去ビーム形成手段19で説明し
たように、結像位置が変化する。したがって、消去ビー
ム移動手段2oを回転させることにより、消去光スポッ
ト22を移動させることができる。移動方向はトラック
直交方向であり、記録再生光スポット1oと消去光スボ
・フト22の並ぶ方向に対して直角である。
次にディスク記録面9反射後の光路について説明する。
ディスク記録面9を反射した後、消去光ビーム18は第
2の偏光ビームスプリ・フタロに戻る。このときP偏光
となっているため、これを通過し、第1の偏光ビームス
プリッタ4は前記の如く波長λ2のP偏光を反射するた
め、この消去光ビーム18は反射して検出器27に至る
。検出器27は2つの受光素子からなり、いわゆるブ、
ンシュプル法により、消去光スポット22のトラ・ンキ
ング制御信号を検出し、これによって消去ビーム移動手
段20を駆動する。
発明が解決しようとする問題点 上記のような構成の従来の光ヘッドについて以下にその
問題点を説明する。記録再生光スポット10と消去光ス
ポ、、、 ) 22の間にわずかにずれが生じた場合は
、検出器27で検出した消去光スポット22のトラウキ
ング誤差信号を基に消去ビーム移動手段20を駆動して
ずれをなくすことができる。しかしずれがトラックピッ
チの半分以上あるときは原理的には記録再生光スポ・フ
ト10の隣りのトラックに消去光スポットが引き込まれ
てしまう。トラックピッチは1.6μm程度と微小であ
リ、その半分の0.8μm程度のずれは考えられること
であり、実際隣りのトラックに引き込む可能性がある。
これを防市するためには消去光スポットによってトラッ
ク番地を検知できればよい。
しかし、第4図に示すようにメルトスポット23のトラ
ンク方向の長さLMが記録再生光スポット10の長さL
Rに比べて長いために周波数特性が悪くトラック番地信
号を読むことができない。
ここでメルトスボ・ソト23の長さLMが記録スポット
1oの長さLRに比べて長くなるのは、記録スポット1
0を形成するのに開口を全゛部用いるのに対して、メル
トスポット23は幅の狭いメルトビームを用いて形成さ
れるためである。
このように従来の構成ではトラックピッチの半分以上の
ずれが生じた場合このずれを補正することができないと
いう問題がある。
問題点を解決するための手段 本発明は、パワー密゛度の高い記録スポットを照射する
ことにより記録媒体を急熱急冷して記録を行ない、消去
ビーム形成手段を用いて形成したトラック方向にパワー
密度の低い消去光スポットを照射することによって記録
媒体を除熱除冷して消去し、さらにトラック直交方向に
消去ビームの一部が偏向するように消去ビーム形成手段
の一部に傾斜平面部を設けることによって、消去スポッ
トのトラック直交方向の隣接トラック上に番地検出スポ
7)を形成し、この番地検出スポットを用いて消去スポ
ット再生番地を検出して記録と消去スポットのトラ・ン
クずれを検知する光ヘッドである。
作用 消去光スポットはトラック方向にパワー密度を低くしで
あるため、この方向に長いスポットとなっている。した
がって微小なビウテで記録しであるトランク番地信号を
消去スポットで読み取ることができない。そこで消去ビ
ーム形成手段を用いて、消去スポットのトラ・ンク直交
方向の近傍にパワー密度が高い番地検出スポットを消去
ビームの一部の光を用いて新らたに形成し、この番地検
出スポットによって消去スポットの再生番地を検出し、
記録と消去のトラックずれを検知する。
実施例 本発明の一実施例を第1図、第2図に示す。第2図は第
1図入方向より見た図である。従来例と同番号の構成部
品は従来例と同等の機能、役割を果す。従来例と本発明
の異なる部分について以下に説明する。第3図に本発明
の消去ビーム形成手段の一構成例を示す。従来例のとこ
ろで説明したように、本発明においても平行部30’ 
と傾斜面部31′  をもち、これらは従来例と同様に
メルトスポットとアニールスポットを形成するために設
けられている。本発明ではこれらに加えて第2の傾斜平
面部34を前記の傾斜面部31′  とは直交する向き
に設けている。この第2の傾斜面部を透過する消去光ビ
ーム18はその進行方向が変わり、その偏向方向はメル
ト・アニールビーム25゜26と直角方向となる。これ
を第1図に番地検出ビーム33として示した。こうして
形成された番地検出ビーム33が絞りレンズ8によって
ディスク記録面9に絞り込まれると番地検出スポット3
2が形成され、その位置は第1.第4図に示すように消
去光スポット22のトラック直交方向の近傍となる。こ
のようにして番地検出スポット32をつくると消去光ス
ポット22と番地検出スポット32の距離Pは、第2の
傾斜面部34の傾斜角によって決まるので常に一定とな
る。そこで、たとえば番地検出スポット32を消去光ス
ポット22と1トラワクビ・ソチ分ずらせておけば、番
地検出スポット32によって隣りのトラック番地を検出
することができるので、消去光スポットのトラック番地
を知ることができる。ここで番地検出スポット32と消
去光スポット22をともにトラックに乗せるためには両
者の距離Pを厳密に調整しなければならないが、これは
第2の傾斜面部34と平面36との間に角度を設け、消
去ビーム形成手段19を第3図C軸の回りに回転させて
、距離Pを変えることによシ調整できる。
次に番地検出スボ・ント32によってトラック番地が検
出できる理由について説明する。番地検出スボ・ソト3
2のトラック方向の幅Lア(第4図参照)が狭いほど番
地信号を読み取り易くなる。メルトスポット23の幅L
Mを決定するメルトビーム25の幅WMと比べると幅W
、は幅WMに比べてかなり広くとることができる。スポ
ットの幅Lア、 LMとビームの幅Wi、WMはレンズ
で形成されるスポット径と開口径の関係からほぼ逆比例
するとしてよいため、WiがWMより広い分、番地信号
スポ・ント32の幅LTは小さくすることができる。そ
のため番地信号スポット32によってトラック番地を読
むことができる。
このようにして番地信号スポット32により消去光スポ
ット22が再生するトラ・ツク番地を検知して、記録再
生スポット10の再生トラック番地と比較し、消去ビー
ム移動手段20を駆動することによって、消去スポット
22と記録再生スポット10の再生トラックずれをなく
すことができる。
発明の効果 消去ビームの一部を用いて幅の狭い番地検出スポットを
つくし、この番地検出スポットによって消去スポット再
生トラック番地を間接的に検知し、これと記録再生スポ
ット再生トラック番地と比較して消去スポット駆動手段
を駆動することにより、記録再生スポットと消去スポッ
トのトラックずれを防止し、良好な記録・消去を行なう
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明における一実施例の書換型光ヘッドの構
成図、第2図は第1図ム方向より見た構成図、第3図は
同実施例における消去ビーム形成手段の構成図、第4図
は記録再生スポット、消去スポット、番地検出スポット
の配置図、第6図は従来の書換型光ヘッドの構成図、第
6図は第5図B方向よシ見た構成図、第7図〜第9図は
本発明の光ヘッドに用いる偏光ビームスプリッタの特性
図、第10図は消去光スポットの形状図、第11図は消
去ビーム形成手段の構成図、第12図は消去ビーム移動
手段の構成図である。 1o・・・・・・記録再生光スポット、18・・・・・
・消去光ビーム、19・・・・・・消去ビーム形成手段
、2o・・・・・・消去ビーム移動手段、22・・・・
・・消去光スポット、23・・・・・・メルトスポット
、24・・・・・・アニールビーム)、25・・・・・
・メルトビーム、28・・・・・・アニールビーム、3
2・・・・・・番地検出スボ・ントっ代理人の氏名 弁
理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1図 O う塑駄ζU−−シ( 第3図 32−=iiドを検出スキルト 第5図 第6図 1δ               10 j司@ヒ―
AU1ma−/1ルドリカルレンズ 第7図 (υつ 嬉10図 Ml 1図 π消気ビーム隅ン引さ右ζ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. パワー密度の高い記録スポットを照射することにより記
    録媒体を急熱急冷して記録を行ない、消去ビーム形成手
    段を用いてトラック方向にパワー密度の低い消去スポッ
    トを照射することによって記録媒体を除熱除冷して消去
    し、さらにトラック直交方向に消去ビームの一部が偏向
    するように消去ビーム形成手段の一部に傾斜平面部を設
    けることによって、消去スポットのトラック直交方向の
    隣接トラック上に番地検出スポットを形成し、この番地
    検出スポットを用いて消去スポット再生番生を検出して
    記録と消去スポットのトラックずれを検知することを特
    徴とする光ヘッド。
JP62064548A 1987-03-19 1987-03-19 光ヘツド Pending JPS63229633A (ja)

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JP62064548A JPS63229633A (ja) 1987-03-19 1987-03-19 光ヘツド

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