JPS63240120A - 多相クロツク発生回路 - Google Patents

多相クロツク発生回路

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JPS63240120A
JPS63240120A JP7330887A JP7330887A JPS63240120A JP S63240120 A JPS63240120 A JP S63240120A JP 7330887 A JP7330887 A JP 7330887A JP 7330887 A JP7330887 A JP 7330887A JP S63240120 A JPS63240120 A JP S63240120A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
level
clock
logic
signal
circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP7330887A
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English (en)
Inventor
Koichi Tanaka
幸一 田中
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS63240120A publication Critical patent/JPS63240120A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、多相クロックの発生回路に関するもので、
特に論理“1”レベルの期間が重複しない多相クロック
で駆動される論理回路のテスト時にクロックを全て論理
“0”レベルで停止するために使用されるものである。
(従来の技術) 第5図は、論理″1”レベルの期間が重複しない多相ク
ロックによって駆動される論理回路の一例としてシフト
レジスタを示している。第6図はこのシフトレジスタに
おける各信号のタイミングチャートで、第5図に示す回
路において第1段目のラッチ部11はクロックφ1が論
理′1”レベルの時データDinを取込み、クロックφ
1が論理“0”レベルの時にこの取込んだデータDin
を保持するようになっており、同様に第2段目のラッチ
部12はクロックφ2が論理“1”レベルの時に上記第
1段目のラッチ部11にラッチしたデータを取込み、ク
ロックφ2が論理“0”レベルの時そのデータを保持す
るようになっている。このように、順次後段にデータを
伝えて行く動作を行なうためにはクロックφ1とφ2の
両者が同時に論理a1#レベルである期間が存在しては
ならないのは明白である。なぜなら、もしクロックφ1
とφ2が同時に論理“1”レベルとなると、入力された
データDlnが最終段まで突き抜けてしまうからである
。このため、従来はクロックφ1とφ2とが同時に論理
“1#レベルとならないように第7図に示すような多相
クロック発生回路を用いている。この回路は、基本クロ
ックφ1nに対してクロックφ1.φ2の立ち上がりを
それぞれ遅延回路’i r 132の遅延時間で定まる
時間TDだけ遅らせ、クロックの反転時にφ1.φ2が
同時に論理“0”レベルとなる期間を生成することによ
り論理“1゛レベルの重複を防止するものである。
しかるに、上記第7図に示したような多相クロック発生
回路を用いて前記第5図のシフトレジスタの制御を行な
った場合、シフトレジスタのテストのために基本クロッ
クφinを停止すると、クロックφ1あるいはφ2のい
ずれか一方が論理″1#レベルで停止する。従って、例
えばクロックφ1が論理“1”レベルの時に基本クロッ
クφ1nが停止された場合、第1段目のラッチ部11は
「データの取込み」の状態で停止されることになり、「
データを保持する」という動作の確認は不可能である。
このテストを可能にするためにはクロックφ1が論理“
0#レベルである時に基本クロックφ1nを停止させな
ければならない。しかしながら、前記第7図に示した多
相クロック発生回路では、クロックφ1を論理“0”レ
ベルで停止させるとクロックφ2が論理“1#レベルと
なり、今度は第2段目のラッチ部が「データの取込み」
の状態で停止することになる。すなわち、この回路では
両ラッチ部11.12を「データを保持する」という安
定な状態で停止することができない。このことは、低消
費電力化するためにクロックを停止する場合に動作の不
安定性を生ずる可能性がある。
また、大規模な論理回路においては、前記第5図に示し
たようにクロックφ1を第1段目に、φ2を第2段目に
それぞれ供給するシフトレジスタと、クロックφ2を第
1段目に、φ1を第2段目にそれぞれ供給するシフトレ
ジスタとが混用されることが良くあり、テスト時に各シ
フトレジスタの初段に所望の値をセットした後で動作を
開始させる場合、クロックφ1が供給されたラッチ部が
「データ保持状態」にある時には、クロックφ2が供給
されたラッチ部は「データ取込み状態」となり、所望の
データをセットできないという不都合がある。
(発明が解決しようとする聞届点) 上述したように、従来の多相クロック発生回路では、所
望の時点で全クロックを論理“0“レベルに設定して停
止させることができず、この回路で駆動される回路を安
定した状態で停止できないため、テストが複雑化する欠
点がある。
この発明は上記のような事情に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、発生する多相クロックを所望
の時点で全て論理′0”レベルに設定して停止可能に構
成することにより、この回路で駆動される回路を安定し
た状態で停止できテストの容易化が図れる多相タロツク
発生回路を提供することである。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段と作用)すなわち、この
発明においては、上記の目的を達成するために、基本ク
ロック、停止信号および位相指示信号が供給され、同時
に複数のクロックが論理″1”レベルとならない多相ク
ロックを発生する多相クロック発生手段と、この多相ク
ロック発生手段から出力される複数のクロックと基本ク
ロックとが供給され、上記位相指示信号を出力する位相
記憶手段とから多相クロック発生回路を構成しており、
上記停止信号が入力された時に上記多相クロック発生手
段から出力されるクロックを全て“0”レベルに設定し
た状態で停止するとともに、上記停止信号の入力停止時
に上記位相記憶手段から出力される位相指示信号によっ
て定まる位相のクロックから発生を再開するようにして
いる。
(実施例) 以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。第1図において、14はクロック信号発生部、1
5は位相記憶部を示している。上記クロック信号発生部
14は、クロックφ1.φ2にそれぞれ対応する回路1
4. 、142と遅延回路161 *18□とから成る
。上記回路141には、基本クロックφ1n、停止信号
STを反転した信号ST、遅延回路162の遅延出力D
2、および上記位相記憶部I5から出力される位相指示
信号(マスク信号Ml)が供給され、RSフリップフロ
ップ171のセット入力端Sには5−Ml ・D2・φ
1n−ST、リセット入力端Rには、RmMl−・φ1
nなる論理信号が入力されるように論理構成されている
。そして、上記フリップフロップ171の出力端Qから
クロックφ1を得、出力端Φの信号を遅延回路161に
供給する。また、回路142には、基本クロックφ1n
停止信号STの反転信号子〒、遅延回路161の遅延出
力D1、およびマスク信号M2が供給され、RSフリッ
プフロップ172のセット入力端Sおよびリセット入力
端Rにはそれぞれ、上記RSフリップフロップ171と
同じ論理信号が入力されるように構成されている。そし
て、上記フリップフロップ1γ2の出力端Qからクロッ
クφ2を得、出力端Qの信号を遅延回路162に供給す
る。
一方、上記位相記憶部15は、上記RSフリップフロッ
プl’h 、 172から出力されるクロックφ1゜φ
2が入力され、基本クロックφinが論理“12レベル
になった時にこれらの値を取り入れる記憶回路として働
<RSフリップフロップ18を用いて構成されており、
クロックφ□が論理“1”レベルになった時にはマスク
信号M□は論理“0°レベルを、マスク信号M2は論理
“19レベルを出力する。また、クロックφ2が論理“
1“レベルとなるとマスク信号M工は論理“1″レベル
、M2は論理“0”レベルとなり、クロックφ1゜φ2
の両者が論理“0”レベルである時にはそれ以前の状態
を保持するように構成されている。
次に、上記のような構成において第2図のタイミングチ
ャートを参照しつつ動作を説明する。まず、時刻t1に
おいては停止信号STが“0”レベル、マスク信号M工
が“1″”レベル、マスク信号M2が“0“レベルであ
り、クロックφ2が“1″レベルから“0″レベルに変
化すると、このクロックφ2と逆相の信号が遅延回路1
62に供給され、この回路182から出力される遅延信
号D2は遅延時間tDだけ遅れて回路141に入力され
る。この信号が入力された時に回路141におけるRS
フリップフロップ17.のセット入力端Sは“1”レベ
ルとなり、クロックφ□として“1゜レベルの信号が出
力される。従って、クロックφ1とφ2の両者が論理″
0″レベルである期間が生ずる。また、基本クロックφ
1nが“0”レベルの期間には、クロックφ1とφ2と
に基づいて位相記憶部15から出力されるマスク信号M
1は“0”レベル、M2は°1”レベルとなる。
次の時刻t2において、回路141のリセット入力端R
はマスク信号M1の“0”レベルにより直ちに“1″レ
ベルとなり、クロックφ1の“l”レベルから“0”レ
ベルへの遷移が生ずる。このクロックφ、は遅延回路1
G□により時間tpだけ遅延されて回路142に供給さ
れる。この信号が入力された後に回路142のセット入
力端Sは“1”レベルとなり、クロックφ2が“1″レ
ベルとなる。このように、停止信号STが0“レベルの
期間は、回路14.と142が交互に動作し、連続した
クロックφ□とφ2が出力される(クロック発生期間)
次に、時刻t4の直前に停止信号STが“1#レベルと
なった場合の動作について説明する。時刻t4において
は、マスク信号M1が“0”レベル、M2が“1”レベ
ルであるので回路141のリセット入力端Rは直ちに“
1“レベルとなり、クロックφ、は“1#レベルから“
0#レベルへの遷移を生ずる。また、遅延回路161の
遅延信号D1は、tD時間経過後に回路142に供給さ
れる。
しかし、停止信号STが“1”レベルであるのでRSフ
リップフロップ172のセット入力端Sが“1”レベル
となることはなく、クロックφ2は110レベルにはな
らない。すなわち、クロックφ1.φ2は共に論理mO
°レベルの状態で停止する。時刻t5においても停止信
号STは“1″レベルであるので、時刻t4の場合と同
様にクロックφ1.φ2は“0#レベルで停止する。ま
た、位相記憶部15は、クロックφ1.φ2が共に“0
“レベルであることから、その記憶状態は変化しない。
次に、時刻t6の直前に停止信号STが“0゛レベルと
なった場合の動作について説明する。この時は、マスク
信号M1が“0#レベルであることから、回路14□の
セット入力端Sは“0″レベルであり、マスク信号M2
は“1″レベルであることから回路142のセット入力
端Sはml”レベルとなり、クロックφ2は“1”レベ
ルとなる。
このように、クロックφ、が“1”レベルの時に停止信
号STを“1#レベルに設定してクロックを停止した時
(例えば時刻t3)は、停止信号STが′0”レベルに
なった直後の基本クロックφinの“1”レベルにより
、クロックφ2の“1”レベルからクロックの発生が再
開される。同様にして、クロックφ2が“1“レベルの
時の状態で停止信号STを1“レベルに設定してクロッ
クを停止した時には、クロックφ1の“1”レベルから
クロックの発生が再開される。
このような構成によれば、発生する多相クロックを所望
の時点で全て論理′0”レベルに設定して停止できるの
で、この回路で駆動される回路を安定した状態で停止で
きる。しかも、クロックの再発生を行なう場合にも各ク
ロック相互の順序関係を保てるのでテストの容易化が図
れる。また、従来の多相クロック発生回路ではクロック
φ1あるいはφ2のいずれか一方が論理“1″レベルで
停止するため、第3図(a)に示すようなりロックドイ
ンバータ等の論理回路を駆動する場合には、クロックφ
□が“1@レベルで停止し、入力信号INが“0”レベ
ルの場合には、出力端が低インピーダンス状態となって
貫通電流Iが流れ無駄な電力を消費していた。これに対
し、この発明の多相タロツク発生回路では、クロックφ
1.φ2が共に論理“0”レベルで停止するので、第3
図(b)に示すように出力端はハイインピーダンス状態
となり、貫通電流による無駄な電力は消費しないので駆
動される回路の低消費電力化が図れる。
なお、上記実施例では2相のクロック発生回路を例に取
って説明したが、3相以上のクロック発生回路にもこの
発明を適用可能であり、n相のクロックを発生する場合
には第4図に示すように構成すれば良い。第4図におい
て前記第1図と同一構成部分には同じ符号を付してその
詳細な説明は省略する。すなわち、クロック信号発生部
14をn個の回路14.〜14nと遅延回路161〜1
6nによって構成し、位相記憶部15をn−1個の記憶
用のRSフリップフロップ181〜18ト1 によって
構成している。
このような構成によれば、n相のクロックφ。
〜φnを発生可能であり、且つこれらのクロックを全て
論理“0”レベルに設定した状態で停止できる。
[発明の効果] 以上説明したようにこの発明によれば、発生する多相ク
ロックを所望の時点で全て論理“0”レベルに設定して
停止可能に構成することにより、この回路で駆動される
回路を安定した状態で停止でき、テストの容易化が図れ
る多相クロック発生回路が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例に係わる多相クロック発生
回路を示す図、第2図は上記第1図の回路の動作を説明
するためのタイミングチャート、第3図はこの発明の効
果について説明するための図、第4図はこの発明の他の
実施例について説明するための回路図、第5図は多相タ
ロツク発生回路で駆動される論理回路の一例を示す図、
第6図は上記第5図の回路の動作を説明するためのタイ
ミングチャート、第7図は従来の多相クロック発生回路
を示す図、第8図は上記第7図の回路の動作を説明する
ためのタイミングチャートである。 φin・・・基本クロック、ST・・・停止信号、M□
。 M2・・・マスク信号(位、相指示信号)、φ1.φ2
・・・クロック、14・・・クロック信号発生部(多相
クロック発生手段)、15・・・位相記憶部(位相記憶
手段)。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第3図 1sai 第7図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基本クロック、停止信号および位相指示信号が供
    給され、同時に複数のクロックが論理“1”レベルとな
    らない多相クロックを発生する多相クロック発生手段と
    、この多相クロック発生手段から出力される複数のクロ
    ックと基本クロックとが供給され、上記位相指示信号を
    出力する位相記憶手段とを具備し、上記停止信号が入力
    された時に上記多相クロック発生手段から出力されるク
    ロック信号を全て“0”レベルに設定した状態で停止し
    、上記停止信号の入力停止時に上記位相記憶手段から出
    力される位相指示信号で定まる位相のクロックから発生
    を再開することを特徴とする多相クロック発生回路。
  2. (2)前記位相記憶手段から発生されるn番目の位相指
    示信号は、n−1番目のクロック信号が論理“1”レベ
    ルになった後に論理“1”レベルを取り、且つn番目の
    クロック信号が論理“1”レベルとなった時に論理“0
    ”レベルを取ることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の多相クロック発生回路。
  3. (3)前記多相クロック発生手段から発生されるn番目
    のクロックは、n−1番目のクロックが論理“0”レベ
    ルになってから所定時間経過後に論理“1”レベルとな
    る信号とn番目の位相指示信号と基本クロックとの論理
    積が論理“1”レベルであり、且つ前記停止信号が入力
    されていない場合に論理“1”レベルをセットされ、基
    本クロックが“1”レベルで、且つn番目の位相指示信
    号が論理“0”レベルとなった時に論理“0”レベルを
    セットされることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の多相クロック発生回路。
JP7330887A 1987-03-27 1987-03-27 多相クロツク発生回路 Pending JPS63240120A (ja)

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JP7330887A JPS63240120A (ja) 1987-03-27 1987-03-27 多相クロツク発生回路

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JPS63240120A true JPS63240120A (ja) 1988-10-05

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JP7330887A Pending JPS63240120A (ja) 1987-03-27 1987-03-27 多相クロツク発生回路

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JP (1) JPS63240120A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100347147B1 (ko) * 2000-09-23 2002-08-03 주식회사 하이닉스반도체 클럭 발생회로

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100347147B1 (ko) * 2000-09-23 2002-08-03 주식회사 하이닉스반도체 클럭 발생회로

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