JPS63243712A - X線厚み計 - Google Patents
X線厚み計Info
- Publication number
- JPS63243712A JPS63243712A JP7586587A JP7586587A JPS63243712A JP S63243712 A JPS63243712 A JP S63243712A JP 7586587 A JP7586587 A JP 7586587A JP 7586587 A JP7586587 A JP 7586587A JP S63243712 A JPS63243712 A JP S63243712A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thickness
- ray
- measured
- tube voltage
- correction value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、X線を使用して、物質の厚さ、密度を測定す
るX線厚み計に関する。
るX線厚み計に関する。
(従来の技術)
放射線が物質を透過するとき、その減衰量が物質の厚さ
に対応していることを利用した放射線厚さ計は、被測定
物に非接触で高精度、高速応答の測定が出来るため、鉄
、非鉄製造ラインで多く使用されている。
に対応していることを利用した放射線厚さ計は、被測定
物に非接触で高精度、高速応答の測定が出来るため、鉄
、非鉄製造ラインで多く使用されている。
放射線厚さ計の中で放射線にX線を使用したX線厚さ計
は、放射線量が多く出来るため、最つども高精度、高速
応答の測定が出来る。X線厚さ計の測定の方法としては
何種類かあるが、−例としては、特許1249848号
に示す装置がある。
は、放射線量が多く出来るため、最つども高精度、高速
応答の測定が出来る。X線厚さ計の測定の方法としては
何種類かあるが、−例としては、特許1249848号
に示す装置がある。
これらのX線厚さ計では、被測定物の測定は、装置に内
蔵の基準板との比較測定か、あらかじめ基準の物質によ
って較正した上で行われる。すなわち基準との相対測定
となっている。ところで、放射線の物質中での減衰量は
、物質の種類(元素)と放射線のエネルギーによって決
まる。このため、被測定物の種類が基準の物質と異なる
ときには厚さ計の測定値には誤差が生じる。これは、合
金などの測定には不都合である。
蔵の基準板との比較測定か、あらかじめ基準の物質によ
って較正した上で行われる。すなわち基準との相対測定
となっている。ところで、放射線の物質中での減衰量は
、物質の種類(元素)と放射線のエネルギーによって決
まる。このため、被測定物の種類が基準の物質と異なる
ときには厚さ計の測定値には誤差が生じる。これは、合
金などの測定には不都合である。
このため、放射線厚さ計では、基準となる物質を定め、
これにより厚さ計の校正を行い、被測定物が基準の物質
と異る場合は、被測定物の種類(元素成分)に対応した
補正値を定め、予めこの補正値を厚さ計に与えることに
より、補正を行なって、正確な測定を行なっている。基
準の物質は、例えば、鉄鋼測定用では純鉄、アルミニウ
ム測定用では純アルミニウムのように純物質が通常使わ
れる。そして、合金を測定する場合には、その元素成分
より予め計算により補正値を求めるか、または、実際の
厚さ計で補正値を求めることにより補正値を定めている
。
これにより厚さ計の校正を行い、被測定物が基準の物質
と異る場合は、被測定物の種類(元素成分)に対応した
補正値を定め、予めこの補正値を厚さ計に与えることに
より、補正を行なって、正確な測定を行なっている。基
準の物質は、例えば、鉄鋼測定用では純鉄、アルミニウ
ム測定用では純アルミニウムのように純物質が通常使わ
れる。そして、合金を測定する場合には、その元素成分
より予め計算により補正値を求めるか、または、実際の
厚さ計で補正値を求めることにより補正値を定めている
。
(発明が解決しようとする問題点)
ところが、従来のX線厚さ計では、X線は分布エネルギ
ーを持つことから生ずる不都合が生じている。それは、
合金に対する補正値がそれぞれの種類の合金に対して一
定の値とならず、測定板厚に対応して変換してしまうこ
とである。
ーを持つことから生ずる不都合が生じている。それは、
合金に対する補正値がそれぞれの種類の合金に対して一
定の値とならず、測定板厚に対応して変換してしまうこ
とである。
その−例を第1図に示す。これは、アルミニウム測定用
のX線厚さ訓における、合金材の被測定板の厚さと補正
値をグラフにしたものである。この図に示すように、板
厚によって補正値が大きく変化することが判る。したが
って、被測定物の厚さに対して補正値を変えることが必
要になる。X線厚み計ではX線が分イ[エネルギーのた
め、この補正値を合金の成分元素より求めるのは困難で
あり、補正値は既知の厚さの合金板を用意して、実測に
より定めなければならないため、多大の労力を必要とし
、また、補正値の決定も、板厚に対して決めなければな
らず、実際の製造ラインでの使用上の大きな問題となっ
ている。
のX線厚さ訓における、合金材の被測定板の厚さと補正
値をグラフにしたものである。この図に示すように、板
厚によって補正値が大きく変化することが判る。したが
って、被測定物の厚さに対して補正値を変えることが必
要になる。X線厚み計ではX線が分イ[エネルギーのた
め、この補正値を合金の成分元素より求めるのは困難で
あり、補正値は既知の厚さの合金板を用意して、実測に
より定めなければならないため、多大の労力を必要とし
、また、補正値の決定も、板厚に対して決めなければな
らず、実際の製造ラインでの使用上の大きな問題となっ
ている。
実際の製造ライン、特にアルミニウム、ステンレス、銅
合金などの圧延ラインでは非常に多種類の合金板が圧延
、製造するため、前記の材質補正値の決定が非常に複雑
な処理が必要となっていた。
合金などの圧延ラインでは非常に多種類の合金板が圧延
、製造するため、前記の材質補正値の決定が非常に複雑
な処理が必要となっていた。
本発明の目的とするところは、従来のX線厚み計で合金
材測定時、材質補正が測定板厚によって変化する不都合
を解消することにある。
材測定時、材質補正が測定板厚によって変化する不都合
を解消することにある。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明は、上記目的を達成するために、被測定物へX線
を放射し、その透過最により被測定物の厚さを測定する
X線厚み計において、X線ビームを放射するX線発生器
と、透過放射線ωに対応した電気信号を発生する放射線
検出器系統とこの電気信号により被測定物板厚を演算す
る手段と、被測定物の目標板厚及び材質を設定する目標
値設定器と、目標値設定器の設定データよりX線管電圧
を決定する手段と、決定したX線管電圧値にX線発生器
の管電圧を設定するX線制御回路とを備え、板厚に対応
してX線管電圧を変え、材質補正値を一定化して被測定
物厚さを測定するX線厚み計を提供するものである。
を放射し、その透過最により被測定物の厚さを測定する
X線厚み計において、X線ビームを放射するX線発生器
と、透過放射線ωに対応した電気信号を発生する放射線
検出器系統とこの電気信号により被測定物板厚を演算す
る手段と、被測定物の目標板厚及び材質を設定する目標
値設定器と、目標値設定器の設定データよりX線管電圧
を決定する手段と、決定したX線管電圧値にX線発生器
の管電圧を設定するX線制御回路とを備え、板厚に対応
してX線管電圧を変え、材質補正値を一定化して被測定
物厚さを測定するX線厚み計を提供するものである。
(作用)
このように構成し、被測定板の測定板厚に対応して、X
線発生器の管電圧すなわち発生X線エネルギーを変え、
材質補正値を一定値に保つようにした。
線発生器の管電圧すなわち発生X線エネルギーを変え、
材質補正値を一定値に保つようにした。
(実施例)
第2図に本発明のX線厚さ計の一実施例を示す。
本発明のX線厚さ計は、X線ビームを放射するX線発生
器1、装置を校正するための内蔵基準板2、内蔵基準板
2または被測定板12を透過したX線を受け、その線量
に対応した電気信号を発生する放射線検出器3、放射線
検出器3の出力信号を増幅するプリアンプ4、A/D変
換器5、D/A変換器7などを備えた演算処理装置6、
装置の測定中心値すなわち被測定板12の目標板厚値を
設定する目標値設定器9、X線発生器1のX線管電圧を
、電流を制御、安定化し、演算処理装置6の指令により
、X線管電圧を設定するX線制御回路10などで構成さ
れる。
器1、装置を校正するための内蔵基準板2、内蔵基準板
2または被測定板12を透過したX線を受け、その線量
に対応した電気信号を発生する放射線検出器3、放射線
検出器3の出力信号を増幅するプリアンプ4、A/D変
換器5、D/A変換器7などを備えた演算処理装置6、
装置の測定中心値すなわち被測定板12の目標板厚値を
設定する目標値設定器9、X線発生器1のX線管電圧を
、電流を制御、安定化し、演算処理装置6の指令により
、X線管電圧を設定するX線制御回路10などで構成さ
れる。
そして、演算処理装置6のプログラム中には、被測定板
の目標板厚と被測定板の材質によって決まる材質補正値
より計算される基準材質板厚とX線管電圧を対応させる
プログラムを含み、目標値設定器9に設定された目標板
厚値と材質補正値を読込み、基準材質板厚を計算し、そ
の値に対応するX線管電圧を求め、X線制御回路10に
指令してX線発生器1のX線管電圧を設定させるプログ
ラムを含む。この基準材質板厚とX線管電圧の対応は一
つの材質(合金または基準材質以外の物質)に対して決
まる材質補正値が、測定板厚によって変化しない様に作
られている事を特徴とする。
の目標板厚と被測定板の材質によって決まる材質補正値
より計算される基準材質板厚とX線管電圧を対応させる
プログラムを含み、目標値設定器9に設定された目標板
厚値と材質補正値を読込み、基準材質板厚を計算し、そ
の値に対応するX線管電圧を求め、X線制御回路10に
指令してX線発生器1のX線管電圧を設定させるプログ
ラムを含む。この基準材質板厚とX線管電圧の対応は一
つの材質(合金または基準材質以外の物質)に対して決
まる材質補正値が、測定板厚によって変化しない様に作
られている事を特徴とする。
次に以上のように構成された装置を用いて、基準材質と
異なる材質の板厚測定動作について説明する。
異なる材質の板厚測定動作について説明する。
演算処理装置6は、目標値設定器9に設定された目標厚
みTを入力し、被測定板12の材質によって決まる材質
補正値Nと共に(1)式により、基準材質換算板厚T′
を演算する。
みTを入力し、被測定板12の材質によって決まる材質
補正値Nと共に(1)式により、基準材質換算板厚T′
を演算する。
T”=T (1+N/’too) ・・・(1
)ここで T−:基準材質換算板厚 T :目標厚み N :材質補正値 更に、演算処理装置6は、T′に対応するX線管電圧を
管電圧テーブルにより決定し、X線制御回路10により
X線管電圧を設定する。
)ここで T−:基準材質換算板厚 T :目標厚み N :材質補正値 更に、演算処理装置6は、T′に対応するX線管電圧を
管電圧テーブルにより決定し、X線制御回路10により
X線管電圧を設定する。
管電圧テーブルによるX線管電圧の決定は、あらかしめ
実測により求めた基準材質換算板厚とX線管電圧との関
係を用いて行われる。第3図に基準材質換算板厚とX線
管電圧の関係を示す。図中のX1〜X3は、あらかじめ
実測により求めた、基準材質換算板厚T1〜T3に対応
するX線管電圧で、各ポイントの間を直線近似又はその
他の方法により近似しである。図では、基準材質換算板
厚Tに対応するX線管電圧Xを、Xl、×2間の直線近
似により求めている。
実測により求めた基準材質換算板厚とX線管電圧との関
係を用いて行われる。第3図に基準材質換算板厚とX線
管電圧の関係を示す。図中のX1〜X3は、あらかじめ
実測により求めた、基準材質換算板厚T1〜T3に対応
するX線管電圧で、各ポイントの間を直線近似又はその
他の方法により近似しである。図では、基準材質換算板
厚Tに対応するX線管電圧Xを、Xl、×2間の直線近
似により求めている。
X線管電圧の設定後、被測定板を透過したX線は、放射
線検出器3により、その線量に対応した電気信号に交換
され、プリアンプ4、A/D変換器5を経由して演算処
理装置6に入力される。演算処理装置6では入力信号に
対応する基準材質換算板厚TH′を演算し、材質によっ
て決まる材質補正値Nにより(2)式より測定板厚TM
を決定する。
線検出器3により、その線量に対応した電気信号に交換
され、プリアンプ4、A/D変換器5を経由して演算処
理装置6に入力される。演算処理装置6では入力信号に
対応する基準材質換算板厚TH′を演算し、材質によっ
て決まる材質補正値Nにより(2)式より測定板厚TM
を決定する。
TM =TH”/ (1+N/100) ・・・(2
)TEはD/A変換器7より測定出力8として外部へ出
力される。
)TEはD/A変換器7より測定出力8として外部へ出
力される。
なお、被測定板の材質ごとに、管電圧テーブルを記憶し
それぞれに材質の種類を表すコードを対応させる。目標
値設定器9に目標板厚を設定する際、材質に対応するコ
ードを設定することにより、自動的に、対応する管電圧
テーブルを選択し、目標板厚によりX線管電圧を決定す
る。目標値設定器9に、材質を示すコードの設定機能を
符加することにより厚み計の設定操作が容易に行える。
それぞれに材質の種類を表すコードを対応させる。目標
値設定器9に目標板厚を設定する際、材質に対応するコ
ードを設定することにより、自動的に、対応する管電圧
テーブルを選択し、目標板厚によりX線管電圧を決定す
る。目標値設定器9に、材質を示すコードの設定機能を
符加することにより厚み計の設定操作が容易に行える。
[発明の効果]
従って、以上のような実施例の構成にすれば、同一材質
において、目標板厚ごとに材質補正値を決定する必要が
なくなり、厚み計の目標値設定器9への設定操作が容易
になる。更に、膨大な量に及ぶ材質補正値のデータ管理
は、測定材質ごとに一つの材質補正値という具合に、デ
ータ管理が容易となるなどの効果を奏する。
において、目標板厚ごとに材質補正値を決定する必要が
なくなり、厚み計の目標値設定器9への設定操作が容易
になる。更に、膨大な量に及ぶ材質補正値のデータ管理
は、測定材質ごとに一つの材質補正値という具合に、デ
ータ管理が容易となるなどの効果を奏する。
第1図は本発明の一実施例を説明するための構成図、第
2図は板厚とX線管電圧の関係を示す特性図、第3図は
板厚と材質補正の関係を示す特性図である。
2図は板厚とX線管電圧の関係を示す特性図、第3図は
板厚と材質補正の関係を示す特性図である。
Claims (1)
- 被測定物へX線を放射し、その透過量により被測定物の
厚さを測定するX線厚み計において、X線ビームを放射
するX線発生器と、透過放射線量に対応した電気信号を
発生する放射線検出器系統とこの電気信号により被測定
物板厚を演算する手段と、被測定物の目標板厚及び材質
を設定する目標値設定器と、目標値設定器の設定データ
よりX線管電圧を決定する手段と、決定したX線管電圧
値にX線発生器の管電圧を設定するX線制御回路とを備
え、板厚に対応してX線管電圧を変え、材質補正値を一
定化して被測定物厚さを測定するX線厚み計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7586587A JPS63243712A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | X線厚み計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7586587A JPS63243712A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | X線厚み計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63243712A true JPS63243712A (ja) | 1988-10-11 |
Family
ID=13588572
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7586587A Pending JPS63243712A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | X線厚み計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63243712A (ja) |
-
1987
- 1987-03-31 JP JP7586587A patent/JPS63243712A/ja active Pending
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