JPH0445085B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0445085B2 JPH0445085B2 JP5943987A JP5943987A JPH0445085B2 JP H0445085 B2 JPH0445085 B2 JP H0445085B2 JP 5943987 A JP5943987 A JP 5943987A JP 5943987 A JP5943987 A JP 5943987A JP H0445085 B2 JPH0445085 B2 JP H0445085B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plate
- thickness
- measured
- absorption coefficient
- mass absorption
- Prior art date
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- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
〔産業上の利用分野〕
本発明は例えば圧延鋼板の板厚を放射線を用い
て測定する方法に関する。 〔従来技術〕 圧延鋼板の板厚を測定する一方法に放射線透過
方式があり、これは圧延鋼板に対して放射線を透
過させ、その透過量Itを検出し、予め設定された
演算式に代入して、板厚を算出するものである。 次に板厚ｔを求める一般式を示す。 ｔ＝１／μｍ・ρ・lnIo／It …(1) ここで ρ：板の密度 μｍ：板の質量吸収数 Io：放射線源と検出器との間に板がない場合の放
射線検出量 It：放射線検出量 である。 前記(1)式における板の質量吸収係数μｍは次に
示す演算式(2)によつて求められる。 μｍ＝ 〓i μｍｉAi／100 …(2) 但し、 μｍｉ：構成元素ｉの質量吸収係数 Ai：構成元素ｉの構成百分率（％） である。 そして板の密度ρは次に示す演算式(3)によつて
求められる。 但し ρs：純鉄の密度（≒7.86ｇ／cm3） ai：Aiについて定まる係数 である。 つまり、予め質量吸収係数μｍと密度ρとを成
分構成の分析結果に基づいて上述の(2)及び(3)式に
よつて算出し、この算出結果と放射線検出量とが
(1)式に代入され板厚ｔが算出される。 〔発明が解決しようとする問題点〕 ところで前記質量吸収係数μｍは理論的には板
厚に関係せず構成元素ごとに特定の値となるはず
であるが、見掛け上、板厚に関係する性質、即ち
板厚依存性を示すことが公知であつた。このため
ある２種の元素Ａ及びＢによつて構成される板に
ついて例えば元素Ａのある板厚t1における板厚サ
ンプル板を用い、見掛け上の板厚依存性曲線を作
成しておけば、この板厚依存性曲線が元素Ｂにつ
いての板厚依存性をも代表することができるとさ
れてきた。 つまり、元素Ａ及びＢの板厚t1におけるμｍの
値の比、μｍBt1／μｍAt1によつて決定される
板厚依存性曲線は板厚がt1以外の値であつても同
じ板厚依存性曲線を有するとしていたのである。 具体的に説明すると、測定対象板の概略の板厚
がt2の場合、元素Ａにおける質量吸収係数μｍ
At2を用いて元素Ｂにおける質量吸収係数μｍ
Bt2を算出するという方法が行われており、μｍ
Bt2は、 μｍBt2＝μｍAt2×μｍBt1／μｍAt1 として求められてきた。 ところが実際にはμｍ値の比、μｍＢ／μｍＡ
は一定ではなく板厚によつて異なることが判明し
た。即ち元素ごとに板厚依存性を示す曲線の形が
異なり、一つの元素の板厚依存性曲線を代表して
用い、他の元素の質量吸収係数μｍを求めると誤
差が生じることが本発明者の研究によつて明らか
にされた。 本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであ
り、元素ごとに異なる板厚依存性曲線に対応して
質量吸収係数μｍを求め測定精度の向上を図つた
放射線板厚測定方法の提供を目的とする。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明に係る放射線板厚測定方法は、測定対象
となる板に放射線を透過させて検出される放射線
透過量と、測定対象板を構成する各元素の密度及
び測定対象板の質量吸収係数とを用いて板厚を演
算する放射線板厚測定方法において板厚依存性を
有する各元素固有の質量吸収係数を測定対象板の
概略の板厚に対して個々に算出し、この算出結果
を用いて前記測定対象板の質量吸収係数を求める
ことを特徴とする。 〔作用〕 測定対象板の質量吸収係数は測定対象板の概略
の板厚に対して個々に算出される各元素固有の質
量吸収係数を用いることによつて求められ、この
結果と測定対象板の密度と放射線透過量とによつ
て測定対象板の板厚が演算される。 〔実施例〕 以下本発明をその実施例によつて説明する。本
発明は測定対象板を構成する各元素の質量吸収係
数μｍを正確に算出することにより、高精度の板
厚測定を実現するものである。μｍを算出する方
法には２通りの方法があり、いずれも予め各元素
のμｍ値と板厚との関係を示す曲線、即ち見掛け
上板厚依存性を示す曲線を実測データ等から作成
したものを用いる。そしてμｍ値の算出において
第１の方法は測定対象板の概略の板厚、即ち圧延
機等の製造目標板厚あるいは公称板厚を設定板厚
tsとして、これより各元素の設定板厚tsに対応す
るμｍ値である各μｍｉ（ts）、（ｉは構成元素を
示す）を前記板厚依存性曲線から求め、これらの
μｍｉ（ts）と成分構成％値Aiとから次に示す(4)
式によつてμｍを算出する。 μｍ＝ 〓i ｛μｍｉ（ts）・Ai／100｝ …(4) 第２の方法は同じく実測データ等からμｍ値と
板厚との板厚依存性曲線を作成した後に、次に βi（tj）＝μｍｉ（tj）／μｍｋ（tj） を示す曲線を作成する。 βi（tj）は各板厚tjにおける基本とする元素（例
えばFe）のμｍ値、即ちμｍｋ（tj）に対する他
の元素のμｍ値であるμｍｉ（tj）の比である。 そしてβi（tj）を測定対象板の概略の板厚であ
る設定板厚tsについて求めたβi（ts）と、各元素
の成分構成％値Aiとから次に示す(5)式によつて
μｍを算出する。 μｍ＝ 〓i ｛μｍｋ（ts）・βi（ts）・Ai／100｝ …(5) 次に第(2)式に示す従来方法と本発明における第
(4)式に示す方法とを用い、その数値例を説明す
る。
て測定する方法に関する。 〔従来技術〕 圧延鋼板の板厚を測定する一方法に放射線透過
方式があり、これは圧延鋼板に対して放射線を透
過させ、その透過量Itを検出し、予め設定された
演算式に代入して、板厚を算出するものである。 次に板厚ｔを求める一般式を示す。 ｔ＝１／μｍ・ρ・lnIo／It …(1) ここで ρ：板の密度 μｍ：板の質量吸収数 Io：放射線源と検出器との間に板がない場合の放
射線検出量 It：放射線検出量 である。 前記(1)式における板の質量吸収係数μｍは次に
示す演算式(2)によつて求められる。 μｍ＝ 〓i μｍｉAi／100 …(2) 但し、 μｍｉ：構成元素ｉの質量吸収係数 Ai：構成元素ｉの構成百分率（％） である。 そして板の密度ρは次に示す演算式(3)によつて
求められる。 但し ρs：純鉄の密度（≒7.86ｇ／cm3） ai：Aiについて定まる係数 である。 つまり、予め質量吸収係数μｍと密度ρとを成
分構成の分析結果に基づいて上述の(2)及び(3)式に
よつて算出し、この算出結果と放射線検出量とが
(1)式に代入され板厚ｔが算出される。 〔発明が解決しようとする問題点〕 ところで前記質量吸収係数μｍは理論的には板
厚に関係せず構成元素ごとに特定の値となるはず
であるが、見掛け上、板厚に関係する性質、即ち
板厚依存性を示すことが公知であつた。このため
ある２種の元素Ａ及びＢによつて構成される板に
ついて例えば元素Ａのある板厚t1における板厚サ
ンプル板を用い、見掛け上の板厚依存性曲線を作
成しておけば、この板厚依存性曲線が元素Ｂにつ
いての板厚依存性をも代表することができるとさ
れてきた。 つまり、元素Ａ及びＢの板厚t1におけるμｍの
値の比、μｍBt1／μｍAt1によつて決定される
板厚依存性曲線は板厚がt1以外の値であつても同
じ板厚依存性曲線を有するとしていたのである。 具体的に説明すると、測定対象板の概略の板厚
がt2の場合、元素Ａにおける質量吸収係数μｍ
At2を用いて元素Ｂにおける質量吸収係数μｍ
Bt2を算出するという方法が行われており、μｍ
Bt2は、 μｍBt2＝μｍAt2×μｍBt1／μｍAt1 として求められてきた。 ところが実際にはμｍ値の比、μｍＢ／μｍＡ
は一定ではなく板厚によつて異なることが判明し
た。即ち元素ごとに板厚依存性を示す曲線の形が
異なり、一つの元素の板厚依存性曲線を代表して
用い、他の元素の質量吸収係数μｍを求めると誤
差が生じることが本発明者の研究によつて明らか
にされた。 本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであ
り、元素ごとに異なる板厚依存性曲線に対応して
質量吸収係数μｍを求め測定精度の向上を図つた
放射線板厚測定方法の提供を目的とする。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明に係る放射線板厚測定方法は、測定対象
となる板に放射線を透過させて検出される放射線
透過量と、測定対象板を構成する各元素の密度及
び測定対象板の質量吸収係数とを用いて板厚を演
算する放射線板厚測定方法において板厚依存性を
有する各元素固有の質量吸収係数を測定対象板の
概略の板厚に対して個々に算出し、この算出結果
を用いて前記測定対象板の質量吸収係数を求める
ことを特徴とする。 〔作用〕 測定対象板の質量吸収係数は測定対象板の概略
の板厚に対して個々に算出される各元素固有の質
量吸収係数を用いることによつて求められ、この
結果と測定対象板の密度と放射線透過量とによつ
て測定対象板の板厚が演算される。 〔実施例〕 以下本発明をその実施例によつて説明する。本
発明は測定対象板を構成する各元素の質量吸収係
数μｍを正確に算出することにより、高精度の板
厚測定を実現するものである。μｍを算出する方
法には２通りの方法があり、いずれも予め各元素
のμｍ値と板厚との関係を示す曲線、即ち見掛け
上板厚依存性を示す曲線を実測データ等から作成
したものを用いる。そしてμｍ値の算出において
第１の方法は測定対象板の概略の板厚、即ち圧延
機等の製造目標板厚あるいは公称板厚を設定板厚
tsとして、これより各元素の設定板厚tsに対応す
るμｍ値である各μｍｉ（ts）、（ｉは構成元素を
示す）を前記板厚依存性曲線から求め、これらの
μｍｉ（ts）と成分構成％値Aiとから次に示す(4)
式によつてμｍを算出する。 μｍ＝ 〓i ｛μｍｉ（ts）・Ai／100｝ …(4) 第２の方法は同じく実測データ等からμｍ値と
板厚との板厚依存性曲線を作成した後に、次に βi（tj）＝μｍｉ（tj）／μｍｋ（tj） を示す曲線を作成する。 βi（tj）は各板厚tjにおける基本とする元素（例
えばFe）のμｍ値、即ちμｍｋ（tj）に対する他
の元素のμｍ値であるμｍｉ（tj）の比である。 そしてβi（tj）を測定対象板の概略の板厚であ
る設定板厚tsについて求めたβi（ts）と、各元素
の成分構成％値Aiとから次に示す(5)式によつて
μｍを算出する。 μｍ＝ 〓i ｛μｍｋ（ts）・βi（ts）・Ai／100｝ …(5) 次に第(2)式に示す従来方法と本発明における第
(4)式に示す方法とを用い、その数値例を説明す
る。
【表】
以上、本発明においては各元素毎によつて板厚
依存性曲線が異なることを考慮し、各元素個々の
板厚依存性に基づいて質量吸収係数μｍを算出す
る為、板厚測定精度が向上する等、本発明は優れ
た効果を奏する。
依存性曲線が異なることを考慮し、各元素個々の
板厚依存性に基づいて質量吸収係数μｍを算出す
る為、板厚測定精度が向上する等、本発明は優れ
た効果を奏する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 測定対象となる板に放射線を透過させて検出
される放射線透過量と、測定対象板を構成する各
元素の密度及び測定対象板の質量吸収係数とを用
いて板厚を演算する放射線板厚測定方法におい
て、 板厚依存性を有する各元素固有の質量吸収係数
を測定対象板の概略の板厚に対して個々に算出
し、この算出結果を用いて前記測定対象板の質量
吸収係数を求めることを特徴とする放射線板厚測
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5943987A JPS63225114A (ja) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | 放射線板厚測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5943987A JPS63225114A (ja) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | 放射線板厚測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63225114A JPS63225114A (ja) | 1988-09-20 |
| JPH0445085B2 true JPH0445085B2 (ja) | 1992-07-23 |
Family
ID=13113311
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5943987A Granted JPS63225114A (ja) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | 放射線板厚測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63225114A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002350120A (ja) * | 2001-05-23 | 2002-12-04 | Anritsu Corp | Ｘ線による厚さ測定方法及びｘ線厚さ測定装置 |
| JP7298577B2 (ja) * | 2020-10-01 | 2023-06-27 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 板厚算出方法、板厚制御方法、板材の製造方法、板厚算出装置および板厚制御装置 |
-
1987
- 1987-03-13 JP JP5943987A patent/JPS63225114A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63225114A (ja) | 1988-09-20 |
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