JPS63244841A - 薄膜形成装置 - Google Patents
薄膜形成装置Info
- Publication number
- JPS63244841A JPS63244841A JP62080111A JP8011187A JPS63244841A JP S63244841 A JPS63244841 A JP S63244841A JP 62080111 A JP62080111 A JP 62080111A JP 8011187 A JP8011187 A JP 8011187A JP S63244841 A JPS63244841 A JP S63244841A
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- Japan
- Prior art keywords
- rod
- shaped substrates
- high frequency
- thin films
- thin film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
[Mi業上の利用分野]
この発明は、棒状の基板表面に非晶質薄膜材料を均一に
形成するための装置に関する。
形成するための装置に関する。
棒状基JIi表面へ非晶質、例えばアモルファスシリコ
ン(a−Si)の薄膜を形成するためには、従来は、第
2図に示すような、がラス基板にa−8i太陽電池を形
成するのに用いる容量結合型の平行平板型ト:、・プラ
ズマCVD装置を用いており、平面の基板ホルダー電価
11の上に適当な絶縁物12、例えばガラス、テフロン
等の台を置き、その上に棒状基板13を載置して反応槽
14を真空にし、そして反応槽14に原料〃スを導入し
た上で、前記基板ホルダー電極11に対向して設けられ
た高周波電極15に高周波電源16からの高周波を印加
して放電させ、この放電により、前記原料ガスを分解し
、棒状基板13の表面に*膜を堆積形成していた。 【発明が解決しようとする問題点] しかし、上記方法では、ガラス基板の片面に薄膜を形成
する装置を用いているため、棒状基板13の周囲に均一
にプラズマが発生せず、棒表面の一方の電極側表面しか
膜が形成されず、被膜の均一性に問題があった。又、多
数の棒状基板13に膜を形成しようとする場合、棒状基
板13を相互にla隔して並べなくてはならないため、
反応槽14の装置が大型化し、生産効率が低くなるとい
う欠点があった。 即ち、容量結合型の平行平板型プラズマCVD装置では
、棒状基板13の表面への膜形成が片面だけとなり不均
一な膜となる。又、基板ホルグー電極11上の棒状基板
13の配置によっては各々の棒状基板13間で膜厚の9
幅が大きくバラツキがある。 又、上述のごとく、一度の膜形成では棒状基板130表
面全体に膜が形成されないため、始めに棒の片面半分に
主に膜を形成した後、反応槽14を冷却し、窒素パージ
の後、反応層14を開放して、棒状基板を裏返して配置
した後、再度同じ工程を経て他の面への薄膜形成を行う
等の複数の工程を要していた。そのため、連続しての薄
膜形成が難しく、又、一旦、大気中に棒状基板13をさ
らすことにより、表面に水分の吸着等の恐れがあり、薄
膜へ不純物が混入する可能性があり、薄膜の付着性が悪
くなる事等の所望の薄膜を得ることが難しくなった。 この発明は、多数の棒状基板上に良質で均一な薄膜を同
時に形成する薄膜形成装置を提供することを目的とする
。 [問題点を解決するための手段] この発明のWi膜形成装置は、周囲に誘導結合型コイル
を配した絶縁体にてなるペルジャー内にて複数の棒状基
板に対して薄膜形成が行えるよう、該複数の棒状基板を
、相互が所定の間隔を隔てるようにして保持する保持部
材を設けたことを特徴とする。 [作用] 上記装置によれば、誘導結合型コイルを高周波電力を供
給すれば、ベルツヤ−内の原料〃スは、グロー放電によ
りブラXマ化して拡散するため、相互が所定の間隔を隔
てるようにして設けられた各棒状基板の表面に均一な薄
膜が形成されるようになる。 [実施例] 第1図は、この発明の薄膜形成装置の1実施例を示して
いる。 1は、内部にでWi膜形成が行なわれるペルジャーであ
り、このベルツヤ−1は、石英からなるるつぼ形状をな
しでおり、その閏日部を下にして絶縁物の底板2上に載
置される。3は、ペルジャー1の周囲に配した高周波フ
ィルであり、この高周波コイル3には、高周波電源4か
らの13.56MHzの高周波が印加されるとともに、
パイプからなる高周波コイル3の内部には図示しない冷
却系からの冷却水が通水さ八る。又、前記ペルジャー1
内にて、′Wi膜の形成を行う棒状基板5を保持できシ
、よう、前記底板2の上面所定部には、ステンレス製の
金属ホルダー6が嵌め込まれていて、この金属ホルダー
6には、相互が等間隔となるように複数個の差込み孔6
aが形成されている。又、WI膜形成時に棒状基板5に
所望のバイアス電圧を印加で終るように、金属ホルダー
6は、切替スイッチS1を介して直流電源7あるいはグ
ランドGに接続される。更にペルジャー1内の上部には
、流量を調節するマスプローコントローラMFCを介し
で供給される反応がスをペルジャー1内に均−會4崎慕
山−a−h^1ゆ 宥課講f^ 1bい1齢慕−消がス
吹出孔8aを備えたガス分散板8が設けられる。 9は、ペルジャー1を真空1訃する真空ポンプであり、
圧力を一定に保つためのコングクタンスパルプ10を介
してペルジャー1に接続される。11は、ペルジャー1
内の真空圧を測定するための圧力計である。 次に、上記装置を用いた薄膜形成について述べる。まず
、金属ホルダー6の差込み孔6aに棒状基板5の一端を
差し込み、直立状態に各棒状基板5を保持させる。ここ
で言う棒状基板5とは、一般に0.1ないし数−一ある
いはそれ以上の径を有する#1.真鋳、アルミニム等の
金属や絶縁物であり、大型、角型、四角型□等の各種の
形状であってもよく、その長さは、高周波コイル3の軸
方向長さ程度、つまり、高周波コイル3によるグロー放
電領域内に収まる長さであることが望ましいが、形成さ
れる薄膜に均一性が要求されない場合はこの限りではな
い。 その後、ペルジャー1を底板2上の所定位置にセットす
る。そして棒状基板5に所望の直流バイアス電圧が印加
されるよう、切り替えスイッチS1を直流電源7あるい
はグランドG側に切り替える。そして、真空ポンプ9に
よりペルジャー1内の真空引きを行う。 さて、ペルジャー1内が所定の真空圧になれば、マス7
0−コントローラMFCを介して原料である反応ガスを
供給し、ガス分散板8の吹出孔8aより棒状基板5に対
して均一に吹き付ける0反応ガスとしては、形成する薄
膜の種類によって異なるが、非晶質のシリコン系の場合
、シラン、ジシラン、トリシランあるいはシランの“H
″元素CIl″あるいは“F”元素で置き替えたシラン
化合物、更にこれにメタン、エタン等の炭化水素、水素
、窒素、酸素等が使用される。 この状態にて、高周波コイル3に冷却用の冷却水を通水
した上で、高周波?!!源4より高周波コイル3に高周
波を印加する。これにより、反応ガスはプラズマ分解し
て棒状基板5の表面に薄膜として堆積するようになり、
このとき、所望の直流バイアス電圧を棒状基板5に印加
しておくことにより、該棒状基板5の表面に対する最適
のイオン衝撃効果が得られ、形成される薄膜に所望の付
着強度を得ることがで終る。尚、棒状基板5へのバイア
ス電圧を所定以上にしてバイアス電流を必要以上にすれ
ば、薄膜が逆にエツチングされ、形成される膜が不均一
になる恐れがあるので、バイアスの設定を正確に行う必
要がある。′N膜形成に供した反応ガスは、コンダクタ
ンスパルプ10を介して排気される。 尚、上記のTii膜形成を行うに際し、最初に窒素ある
いは水xJk〃スを用いたプラズマ放電を行い、棒状基
板5の予備加熱も殻ねた基板表面のクリーニングを行い
、表面に付着している水分等の不純物を除去しておくが
望ましい。 [発明の効果1 以上説明したように、この発明の薄膜形成装置によれば
、1工程でもって複数の棒状基板に対して薄膜を形成す
ることかで慇、又、生じたプラズマが棒状基板の周囲に
拡がるため、棒状基板が種々の断面形状を有していても
均一な薄膜を形成することがで終る。
ン(a−Si)の薄膜を形成するためには、従来は、第
2図に示すような、がラス基板にa−8i太陽電池を形
成するのに用いる容量結合型の平行平板型ト:、・プラ
ズマCVD装置を用いており、平面の基板ホルダー電価
11の上に適当な絶縁物12、例えばガラス、テフロン
等の台を置き、その上に棒状基板13を載置して反応槽
14を真空にし、そして反応槽14に原料〃スを導入し
た上で、前記基板ホルダー電極11に対向して設けられ
た高周波電極15に高周波電源16からの高周波を印加
して放電させ、この放電により、前記原料ガスを分解し
、棒状基板13の表面に*膜を堆積形成していた。 【発明が解決しようとする問題点] しかし、上記方法では、ガラス基板の片面に薄膜を形成
する装置を用いているため、棒状基板13の周囲に均一
にプラズマが発生せず、棒表面の一方の電極側表面しか
膜が形成されず、被膜の均一性に問題があった。又、多
数の棒状基板13に膜を形成しようとする場合、棒状基
板13を相互にla隔して並べなくてはならないため、
反応槽14の装置が大型化し、生産効率が低くなるとい
う欠点があった。 即ち、容量結合型の平行平板型プラズマCVD装置では
、棒状基板13の表面への膜形成が片面だけとなり不均
一な膜となる。又、基板ホルグー電極11上の棒状基板
13の配置によっては各々の棒状基板13間で膜厚の9
幅が大きくバラツキがある。 又、上述のごとく、一度の膜形成では棒状基板130表
面全体に膜が形成されないため、始めに棒の片面半分に
主に膜を形成した後、反応槽14を冷却し、窒素パージ
の後、反応層14を開放して、棒状基板を裏返して配置
した後、再度同じ工程を経て他の面への薄膜形成を行う
等の複数の工程を要していた。そのため、連続しての薄
膜形成が難しく、又、一旦、大気中に棒状基板13をさ
らすことにより、表面に水分の吸着等の恐れがあり、薄
膜へ不純物が混入する可能性があり、薄膜の付着性が悪
くなる事等の所望の薄膜を得ることが難しくなった。 この発明は、多数の棒状基板上に良質で均一な薄膜を同
時に形成する薄膜形成装置を提供することを目的とする
。 [問題点を解決するための手段] この発明のWi膜形成装置は、周囲に誘導結合型コイル
を配した絶縁体にてなるペルジャー内にて複数の棒状基
板に対して薄膜形成が行えるよう、該複数の棒状基板を
、相互が所定の間隔を隔てるようにして保持する保持部
材を設けたことを特徴とする。 [作用] 上記装置によれば、誘導結合型コイルを高周波電力を供
給すれば、ベルツヤ−内の原料〃スは、グロー放電によ
りブラXマ化して拡散するため、相互が所定の間隔を隔
てるようにして設けられた各棒状基板の表面に均一な薄
膜が形成されるようになる。 [実施例] 第1図は、この発明の薄膜形成装置の1実施例を示して
いる。 1は、内部にでWi膜形成が行なわれるペルジャーであ
り、このベルツヤ−1は、石英からなるるつぼ形状をな
しでおり、その閏日部を下にして絶縁物の底板2上に載
置される。3は、ペルジャー1の周囲に配した高周波フ
ィルであり、この高周波コイル3には、高周波電源4か
らの13.56MHzの高周波が印加されるとともに、
パイプからなる高周波コイル3の内部には図示しない冷
却系からの冷却水が通水さ八る。又、前記ペルジャー1
内にて、′Wi膜の形成を行う棒状基板5を保持できシ
、よう、前記底板2の上面所定部には、ステンレス製の
金属ホルダー6が嵌め込まれていて、この金属ホルダー
6には、相互が等間隔となるように複数個の差込み孔6
aが形成されている。又、WI膜形成時に棒状基板5に
所望のバイアス電圧を印加で終るように、金属ホルダー
6は、切替スイッチS1を介して直流電源7あるいはグ
ランドGに接続される。更にペルジャー1内の上部には
、流量を調節するマスプローコントローラMFCを介し
で供給される反応がスをペルジャー1内に均−會4崎慕
山−a−h^1ゆ 宥課講f^ 1bい1齢慕−消がス
吹出孔8aを備えたガス分散板8が設けられる。 9は、ペルジャー1を真空1訃する真空ポンプであり、
圧力を一定に保つためのコングクタンスパルプ10を介
してペルジャー1に接続される。11は、ペルジャー1
内の真空圧を測定するための圧力計である。 次に、上記装置を用いた薄膜形成について述べる。まず
、金属ホルダー6の差込み孔6aに棒状基板5の一端を
差し込み、直立状態に各棒状基板5を保持させる。ここ
で言う棒状基板5とは、一般に0.1ないし数−一ある
いはそれ以上の径を有する#1.真鋳、アルミニム等の
金属や絶縁物であり、大型、角型、四角型□等の各種の
形状であってもよく、その長さは、高周波コイル3の軸
方向長さ程度、つまり、高周波コイル3によるグロー放
電領域内に収まる長さであることが望ましいが、形成さ
れる薄膜に均一性が要求されない場合はこの限りではな
い。 その後、ペルジャー1を底板2上の所定位置にセットす
る。そして棒状基板5に所望の直流バイアス電圧が印加
されるよう、切り替えスイッチS1を直流電源7あるい
はグランドG側に切り替える。そして、真空ポンプ9に
よりペルジャー1内の真空引きを行う。 さて、ペルジャー1内が所定の真空圧になれば、マス7
0−コントローラMFCを介して原料である反応ガスを
供給し、ガス分散板8の吹出孔8aより棒状基板5に対
して均一に吹き付ける0反応ガスとしては、形成する薄
膜の種類によって異なるが、非晶質のシリコン系の場合
、シラン、ジシラン、トリシランあるいはシランの“H
″元素CIl″あるいは“F”元素で置き替えたシラン
化合物、更にこれにメタン、エタン等の炭化水素、水素
、窒素、酸素等が使用される。 この状態にて、高周波コイル3に冷却用の冷却水を通水
した上で、高周波?!!源4より高周波コイル3に高周
波を印加する。これにより、反応ガスはプラズマ分解し
て棒状基板5の表面に薄膜として堆積するようになり、
このとき、所望の直流バイアス電圧を棒状基板5に印加
しておくことにより、該棒状基板5の表面に対する最適
のイオン衝撃効果が得られ、形成される薄膜に所望の付
着強度を得ることがで終る。尚、棒状基板5へのバイア
ス電圧を所定以上にしてバイアス電流を必要以上にすれ
ば、薄膜が逆にエツチングされ、形成される膜が不均一
になる恐れがあるので、バイアスの設定を正確に行う必
要がある。′N膜形成に供した反応ガスは、コンダクタ
ンスパルプ10を介して排気される。 尚、上記のTii膜形成を行うに際し、最初に窒素ある
いは水xJk〃スを用いたプラズマ放電を行い、棒状基
板5の予備加熱も殻ねた基板表面のクリーニングを行い
、表面に付着している水分等の不純物を除去しておくが
望ましい。 [発明の効果1 以上説明したように、この発明の薄膜形成装置によれば
、1工程でもって複数の棒状基板に対して薄膜を形成す
ることかで慇、又、生じたプラズマが棒状基板の周囲に
拡がるため、棒状基板が種々の断面形状を有していても
均一な薄膜を形成することがで終る。
第1図はこの発明のm膜形成装置の1実施例を示す概略
構成図、第2図は、従来の薄膜形成装置の断面図である
。 1・・・ペルジャー、2・・・底板、3・・・高周波コ
イル、4・・・高周波電源、5・・・棒状基板、6・・
・金属ホルダー、7・・・直流電源、8・・・ガス分散
板、9・・・真空ポンプ、10・・・コンダクタンスパ
ルプ、11・・・圧力計、Sl・・・スイッチ、MFC
・・・マス70−コントローラ。 特許出願人 鐘淵化学工業株式会社 代理人 弁理士 青 山 葆 外2名 第1図
構成図、第2図は、従来の薄膜形成装置の断面図である
。 1・・・ペルジャー、2・・・底板、3・・・高周波コ
イル、4・・・高周波電源、5・・・棒状基板、6・・
・金属ホルダー、7・・・直流電源、8・・・ガス分散
板、9・・・真空ポンプ、10・・・コンダクタンスパ
ルプ、11・・・圧力計、Sl・・・スイッチ、MFC
・・・マス70−コントローラ。 特許出願人 鐘淵化学工業株式会社 代理人 弁理士 青 山 葆 外2名 第1図
Claims (2)
- (1)周囲に誘導結合型コイルを配した絶縁体にてなる
ペルジャー内にて複数の棒状基板に対して薄膜形成が行
えるよう、該複数の棒状基板を、相互が所定の間隔を隔
てるようにして保持する保持部材を設けたことを特徴と
する薄膜形成装置。 - (2)上記保持部材は導電体からなり、該導電体に所定
の直流バイアス電圧を印加する特許請求の範囲第1項に
記載の薄膜形成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62080111A JPS63244841A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | 薄膜形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62080111A JPS63244841A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | 薄膜形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63244841A true JPS63244841A (ja) | 1988-10-12 |
Family
ID=13709074
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62080111A Pending JPS63244841A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | 薄膜形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63244841A (ja) |
-
1987
- 1987-03-31 JP JP62080111A patent/JPS63244841A/ja active Pending
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