JPS63250048A - 走査型電子顕微鏡等における試料交換装置 - Google Patents
走査型電子顕微鏡等における試料交換装置Info
- Publication number
- JPS63250048A JPS63250048A JP8269187A JP8269187A JPS63250048A JP S63250048 A JPS63250048 A JP S63250048A JP 8269187 A JP8269187 A JP 8269187A JP 8269187 A JP8269187 A JP 8269187A JP S63250048 A JPS63250048 A JP S63250048A
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- Japan
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- sample
- moving
- chamber
- moving body
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、走査型電子顕微鏡等における試料交換装置の
改良に関する。
改良に関する。
「従来の技術]
かかる試料交換装置としては、試料室外壁にこの試料室
内に仕切弁を介して連通された試料交換室を固定し、こ
の試料交換室の前記仕切弁と対向する側壁に覗き窓を設
け、この覗き窓の中央部に球体軸受を介して先端に雄ネ
ジを有する試料交換棒を摺動かつ回動可能に貫通して取
付けた禍造が広く使用されている。試料を交換する際は
、仕切弁を開け、前記覗き窓を覗きながら試料交換棒を
前進させ、その維ネジを試料室内に防かれた試料ホルダ
の雌ネジ穴に螺合させて両者を一体化した後、試料交換
棒を後退させて試料ホルダを試料交換室内に収納してか
ら仕切弁を閉じ、試料交換室内を大気圧に戻して新しい
試料と交換するようにしている。
内に仕切弁を介して連通された試料交換室を固定し、こ
の試料交換室の前記仕切弁と対向する側壁に覗き窓を設
け、この覗き窓の中央部に球体軸受を介して先端に雄ネ
ジを有する試料交換棒を摺動かつ回動可能に貫通して取
付けた禍造が広く使用されている。試料を交換する際は
、仕切弁を開け、前記覗き窓を覗きながら試料交換棒を
前進させ、その維ネジを試料室内に防かれた試料ホルダ
の雌ネジ穴に螺合させて両者を一体化した後、試料交換
棒を後退させて試料ホルダを試料交換室内に収納してか
ら仕切弁を閉じ、試料交換室内を大気圧に戻して新しい
試料と交換するようにしている。
一方、走査型電子顕微鏡においては、水平移動機構の移
動範囲を長くすることなくできるだけ大型の試料をあら
ゆる方向から観察9分析可能となすため、試料には通常
に行なわれる水平移動に加えて回転や傾斜が与えられる
。また、試料像を高分解能で観察する場合には、試料表
面をできるだけ対物レンズに接近させて配置する必要が
あり、逆に低倍率や大型試料の傾斜状態を観察する場合
には、試料は対物レンズから離す必要がある。そのため
試料位置は電子線の光軸方向に上下移動できるように構
成されている。
動範囲を長くすることなくできるだけ大型の試料をあら
ゆる方向から観察9分析可能となすため、試料には通常
に行なわれる水平移動に加えて回転や傾斜が与えられる
。また、試料像を高分解能で観察する場合には、試料表
面をできるだけ対物レンズに接近させて配置する必要が
あり、逆に低倍率や大型試料の傾斜状態を観察する場合
には、試料は対物レンズから離す必要がある。そのため
試料位置は電子線の光軸方向に上下移動できるように構
成されている。
r発明が解決しようとする問題点コ
そのため、試料の水平移動や回転及び傾斜、さらには上
下移動により試料ホルダに形成した雌ネジ穴と試料交換
棒との位置関係がズレることを避けることができない。
下移動により試料ホルダに形成した雌ネジ穴と試料交換
棒との位置関係がズレることを避けることができない。
そこで、試料の交換を行なうために試料ホルダの雌ネジ
穴と試料交換棒とが対向することのできる試料の交換位
置を予め決めておき、試料を交換する度に、試料を水平
移動。
穴と試料交換棒とが対向することのできる試料の交換位
置を予め決めておき、試料を交換する度に、試料を水平
移動。
回転及び上下移動させることにより交換位置に戻す操作
が必要となる。そのため取扱い操作が非常に面倒である
。
が必要となる。そのため取扱い操作が非常に面倒である
。
そこで、本発明はこのような点に鑑みてなされたもので
あり、少なくとも水平方向の移動に関しては試料位置に
関係なく試料交換を行なうことのできる走査型電子顕微
鏡等における試料交換装置を提供することを目的とする
ものである。
あり、少なくとも水平方向の移動に関しては試料位置に
関係なく試料交換を行なうことのできる走査型電子顕微
鏡等における試料交換装置を提供することを目的とする
ものである。
[問題点を解決するための手段]
上記目的を達成するために、本発明は高真空に保たれI
ζ試料室と、該試料室内に置かれ、かつ電子線光軸と直
交する平面内で移動覆る移動体と、該移動体を前記光軸
を中心にして互いに直交する×及びY方向に夫々移動さ
せるためのX及びY移動機構と、前記移動体に着脱可能
に装着され、かつ試料を保持する試料ホルダと、前記試
料室内に仕切弁を介して連通した試料交換室と、前記試
料ホルダをその先端に着脱可能に取付けた状態で試料室
と試料交換室との間を往復させるため該試料交換室側壁
に摺動可能に貫通して取付けられた試料交換棒とを備え
、前記試料交換棒の軸心を前記移動体のX方向あるいは
Y方向のいずれか一方の移動方向に一致させると共に、
前記移動体の他方の移動方向の移動に連動して前記試料
交換室をこの移動体の他方の移動方向に移動させるよう
に構成したことを特徴とするものである。
ζ試料室と、該試料室内に置かれ、かつ電子線光軸と直
交する平面内で移動覆る移動体と、該移動体を前記光軸
を中心にして互いに直交する×及びY方向に夫々移動さ
せるためのX及びY移動機構と、前記移動体に着脱可能
に装着され、かつ試料を保持する試料ホルダと、前記試
料室内に仕切弁を介して連通した試料交換室と、前記試
料ホルダをその先端に着脱可能に取付けた状態で試料室
と試料交換室との間を往復させるため該試料交換室側壁
に摺動可能に貫通して取付けられた試料交換棒とを備え
、前記試料交換棒の軸心を前記移動体のX方向あるいは
Y方向のいずれか一方の移動方向に一致させると共に、
前記移動体の他方の移動方向の移動に連動して前記試料
交換室をこの移動体の他方の移動方向に移動させるよう
に構成したことを特徴とするものである。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳説する。
[実施例コ
第1図は本発明の一実施例を示す縦断面図、第2図は第
1図のAA断面図である。
1図のAA断面図である。
第1図及び第2図において、1は試料室で、上方には図
示外の電子銃から発生した電子線EBを細く集束して試
料2上に照射するための対物レンズ3が設置しである。
示外の電子銃から発生した電子線EBを細く集束して試
料2上に照射するための対物レンズ3が設置しである。
また、試料室1の底部には図示外の真空ポンプに連通さ
れた排気管4が接続してあり、試料室内は高真空に保た
れる。さらに、この試料室1の前面には前面カバー5が
取外し可能に設けである。
れた排気管4が接続してあり、試料室内は高真空に保た
れる。さらに、この試料室1の前面には前面カバー5が
取外し可能に設けである。
6は前記前面カバー5の内壁に案内板7a、7bを介し
て前記電子線EBの光軸7と平行に上下動可能に保持さ
れた試料用移動体で、この上下移動体6の側面には軸受
8を介して傾斜体9が回動可能に取付けられている。前
記傾斜体9の傾動軸Tは光軸7と直交するように配置さ
れており、また、この傾斜体9の下端には光軸2と交差
する方向に張出し部9aが設けである。この張出し部9
a上にはX移動体10.Y移動体11及び回転台12が
夫々積重ねるようにして設置しである。前記回転台12
の上面には前記試料2を収納した試料ホルダ13がアリ
及びアリ溝等によって着肌可能に装着される。ここで、
試料ホルダ13を回転台12に装着したとき、試料2の
表面が前記傾斜体9の傾動軸Tと一致するようにしであ
る。
て前記電子線EBの光軸7と平行に上下動可能に保持さ
れた試料用移動体で、この上下移動体6の側面には軸受
8を介して傾斜体9が回動可能に取付けられている。前
記傾斜体9の傾動軸Tは光軸7と直交するように配置さ
れており、また、この傾斜体9の下端には光軸2と交差
する方向に張出し部9aが設けである。この張出し部9
a上にはX移動体10.Y移動体11及び回転台12が
夫々積重ねるようにして設置しである。前記回転台12
の上面には前記試料2を収納した試料ホルダ13がアリ
及びアリ溝等によって着肌可能に装着される。ここで、
試料ホルダ13を回転台12に装着したとき、試料2の
表面が前記傾斜体9の傾動軸Tと一致するようにしであ
る。
14は前記傾斜体9の上端部に前記傾動軸Tと同心状に
取付けられた円弧状のつ4−ム歯車で、この歯車には前
記軸受8(上下移動体6でも良い)に回転可能に保持さ
れたウオーム15が噛合っている。このつA−ム15は
図示外のスプライン軸受及び回転軸を介して前記前面カ
バー5の外壁に回転可能に取イ」けられたつまみに連結
されている。
取付けられた円弧状のつ4−ム歯車で、この歯車には前
記軸受8(上下移動体6でも良い)に回転可能に保持さ
れたウオーム15が噛合っている。このつA−ム15は
図示外のスプライン軸受及び回転軸を介して前記前面カ
バー5の外壁に回転可能に取イ」けられたつまみに連結
されている。
16aは前記X移動体10を前記光軸Zと直交し、かつ
前記傾動軸Tと直交するX軸方向に移動させるだめのマ
イクロメータヘッドで、このマイクロメータヘッドはモ
ータ17aで駆動される。
前記傾動軸Tと直交するX軸方向に移動させるだめのマ
イクロメータヘッドで、このマイクロメータヘッドはモ
ータ17aで駆動される。
また、このマイクロメータヘッド16a及びモータ17
aは傾斜体9の張出し部9a上に取付けられている。1
6b及び17bは前記Y移動体11を前記傾動軸T1つ
まりY軸方向に移動するためのマイクロメータヘッド及
びモータで、これらは前記X移動体10上に取付けられ
ている。
aは傾斜体9の張出し部9a上に取付けられている。1
6b及び17bは前記Y移動体11を前記傾動軸T1つ
まりY軸方向に移動するためのマイクロメータヘッド及
びモータで、これらは前記X移動体10上に取付けられ
ている。
18は前記試料ホルダ13の側面に設けた雌ネジ穴で、
この雌ネジ穴はその中心が前記試料ホルダの13(試料
2)の中心0と直交すると共に試料2表面とも一致する
ように形成されている。
この雌ネジ穴はその中心が前記試料ホルダの13(試料
2)の中心0と直交すると共に試料2表面とも一致する
ように形成されている。
19は前記前面カバー5の大気側に案内板20a、20
bを介して移動可能に保持された試料交換室用上下移動
体で、この上下移動体は前記試料用移動体6の移動方向
と同一方向に移動する、つまり光軸Zと平行に上下移動
する。また、この上下移動体19の側面には、さらに案
内板218゜21bを介して前記X軸と平行に移動する
移動体22が取付けである。23及び24はこの移動体
22を移動させるためのマイクロメータヘッド及びモー
タである。
bを介して移動可能に保持された試料交換室用上下移動
体で、この上下移動体は前記試料用移動体6の移動方向
と同一方向に移動する、つまり光軸Zと平行に上下移動
する。また、この上下移動体19の側面には、さらに案
内板218゜21bを介して前記X軸と平行に移動する
移動体22が取付けである。23及び24はこの移動体
22を移動させるためのマイクロメータヘッド及びモー
タである。
25は前記移動体22に気密を保って固定された中空状
の試料交換室で、その軸心が前記傾動軸Tと略一致する
ように配置されており、この試料交換室の右側は前記前
面カバー5.軸受8.各上下移動体6,19及び移動体
22に形成した連通穴26a、26b、26c、26d
、26eを介して前記試料室1内に連通されている。ま
た、この試料交換室25の左側には蓋体27が着脱可能
に装着されている。前記蓋体27はガラス等の透明な物
質で形成され、この蓋体を通して試料交換室25や試料
室1内を観察できるようにしである。
の試料交換室で、その軸心が前記傾動軸Tと略一致する
ように配置されており、この試料交換室の右側は前記前
面カバー5.軸受8.各上下移動体6,19及び移動体
22に形成した連通穴26a、26b、26c、26d
、26eを介して前記試料室1内に連通されている。ま
た、この試料交換室25の左側には蓋体27が着脱可能
に装着されている。前記蓋体27はガラス等の透明な物
質で形成され、この蓋体を通して試料交換室25や試料
室1内を観察できるようにしである。
28はこの蓋体に気密を保った状態で囲動可能に貫通し
て取付けられた試料交換棒で、この試料交換棒の軸心は
前記傾動軸Tと略一致するように配置されている。また
、試料交換棒の一端(真空側)には前記雌ネジ穴18に
螺合可能な雄ネジ29が設けである。30は試料室1と
試料交換室25との境に設けられた仕切弁である。
て取付けられた試料交換棒で、この試料交換棒の軸心は
前記傾動軸Tと略一致するように配置されている。また
、試料交換棒の一端(真空側)には前記雌ネジ穴18に
螺合可能な雄ネジ29が設けである。30は試料室1と
試料交換室25との境に設けられた仕切弁である。
31は前記2つの上下移動体6と19を一体的に移動さ
せるためのコの字状のアームで、このアームは前記前面
カバー5に固定されたマイクロメータヘッドの如き上下
移動機4M32に連結されている。
せるためのコの字状のアームで、このアームは前記前面
カバー5に固定されたマイクロメータヘッドの如き上下
移動機4M32に連結されている。
33は前記モータ17a、17b及び24を制御するた
めの制御回路で、ブツシュスイッチ34a、34b、3
4c、34dが夫々設けである。
めの制御回路で、ブツシュスイッチ34a、34b、3
4c、34dが夫々設けである。
尚、図示しないが前記各X、Y移動体10.11は夫々
バネによってマイクロメータヘッド16a、16b側に
押圧され、両者の係合が常に維持されている。
バネによってマイクロメータヘッド16a、16b側に
押圧され、両者の係合が常に維持されている。
かかる構成において、スイッチ34aあるいは34bを
夫々押せば、モータ17aが正、逆転してマイクロメー
タヘッド16Hの軸が前進あるいは後退するため、X移
動体10(試料2)がX軸に沿って往復移動する。また
、スイッチ34Cあるいは34dを夫々押せば、モータ
17bが正。
夫々押せば、モータ17aが正、逆転してマイクロメー
タヘッド16Hの軸が前進あるいは後退するため、X移
動体10(試料2)がX軸に沿って往復移動する。また
、スイッチ34Cあるいは34dを夫々押せば、モータ
17bが正。
逆転してマイクロメータヘッド16bが前進あるいは後
退するため、Y移動体11(試料2)がY軸に沿って往
復移動する。その結果、各スイッチ34a乃至34dを
任意に押すことにより試料2の任意の場所の走査像を観
察することができる。
退するため、Y移動体11(試料2)がY軸に沿って往
復移動する。その結果、各スイッチ34a乃至34dを
任意に押すことにより試料2の任意の場所の走査像を観
察することができる。
ここで、スイッチ34aあるいは34bを押した場合、
モータ16aに供給される信号と同一の信号がモータ2
4に供給されるため、マイクロメータヘッド23を介し
て移動体22がX移動体10と同方向に、しかも同じ移
動聞だけ移動する。
モータ16aに供給される信号と同一の信号がモータ2
4に供給されるため、マイクロメータヘッド23を介し
て移動体22がX移動体10と同方向に、しかも同じ移
動聞だけ移動する。
また、この各スイッチ34a乃至34dを操作し、X、
Y移動体10.11を動かして回転台12の回転中心を
光軸Zからある距離ズラした状態で、この回転台を断続
的に回転させながら走査像を観察するようになせば、X
、Y移動体10,11の移動範囲を大きくすることなく
大型の試料を観察することができる。ここで、本実施例
ではユーセントリックタイプの試料傾斜装置、つまり試
料2を傾斜させる傾斜体9に水平移動機構を組込むと共
に、傾動軸Tに試料表面を一致させているため、X、Y
移動体10.11により試料の観察位置を変えても、そ
の観察位置は常に傾動軸下と一致させることができる。
Y移動体10.11を動かして回転台12の回転中心を
光軸Zからある距離ズラした状態で、この回転台を断続
的に回転させながら走査像を観察するようになせば、X
、Y移動体10,11の移動範囲を大きくすることなく
大型の試料を観察することができる。ここで、本実施例
ではユーセントリックタイプの試料傾斜装置、つまり試
料2を傾斜させる傾斜体9に水平移動機構を組込むと共
に、傾動軸Tに試料表面を一致させているため、X、Y
移動体10.11により試料の観察位置を変えても、そ
の観察位置は常に傾動軸下と一致させることができる。
そのため試料を傾斜させても像のニゲが生じない。
さらに、つA−ム15を回転させてウオーム歯車14を
回せば、傾斜体9が傾動軸Tを中心にして時計あるいは
反部h1方向に回動するため、試料2が光軸Zに対して
傾斜し、試料の任意角度の傾斜状態の走査像を観察する
ことができる。
回せば、傾斜体9が傾動軸Tを中心にして時計あるいは
反部h1方向に回動するため、試料2が光軸Zに対して
傾斜し、試料の任意角度の傾斜状態の走査像を観察する
ことができる。
さらに、上下移動機構32を回せば、アーム31を介し
て上下移動体6と19が第1図中上あるいは下方向に同
時に移動する。この一方の上下移動体6の移動によって
試F3J2が光軸Zに沿って上下移動するため、対物レ
ンズ3と試料2との距離を任意に変化させることができ
、高分解能の観察や大型試料の傾斜を行なうことができ
る。
て上下移動体6と19が第1図中上あるいは下方向に同
時に移動する。この一方の上下移動体6の移動によって
試F3J2が光軸Zに沿って上下移動するため、対物レ
ンズ3と試料2との距離を任意に変化させることができ
、高分解能の観察や大型試料の傾斜を行なうことができ
る。
一方、新しい試料と交換する際には、従来ノように試料
の水平方向及び光軸方向における試料位置を交換位置ま
で戻す必要がなくなる。っまり試料2をX方向に移動さ
せた場合、試料交換室25がこの試料の移動に伴って同
方向に、しかも同じ距離移動するため、試料交換棒28
の軸心は常に傾動軸下と一致している。また、試FI2
のY軸方向の移動に関しては、予めY軸が傾動軸下と一
致しているため、試料交換棒28の軸心と傾動軸Tとは
常に一致している。そのため、傾斜体9の傾斜角表示目
盛を零に合わせて試料2を水平状態に保つと共に、回転
台12の回転角表示目盛を零に合わせれば、試料交換棒
28の軸心と試料ホルダ13の雌ネジ穴18の中心とが
合致する。また、試料2の上下移動に伴って試料交換室
25が同方向に上下移動するため、試料2の光軸Z方向
の移動に伴って試料交換棒28の軸心と傾斜体9の傾動
軸Tとがズレることはない。そこで、試料交換棒28を
試料室1側に押込み、その先端に設けた雄ネジ29を試
料ホルダ13の雌ネジ穴18に挿人し螺合させて両者を
一体化させる。そして、試料交換棒を前述とは逆の方向
に動かし試料ホルダ13を回転台72から抜き出して試
料交換室25内に収納した後、仕切弁30を閉じて試料
室と試料交換室とを遮断した状態で、試料交換室をり一
りして蓋体27を外す。そして、試料交換棒の先端に新
しい試料を収納した試料ホルダを取付けた後、再び蓋体
27を試料交換室25に装着し、試料交換室内を粗引き
してから前述とは逆の動作を行なうことにより新しい試
料を試料室1内に装着することができる。
の水平方向及び光軸方向における試料位置を交換位置ま
で戻す必要がなくなる。っまり試料2をX方向に移動さ
せた場合、試料交換室25がこの試料の移動に伴って同
方向に、しかも同じ距離移動するため、試料交換棒28
の軸心は常に傾動軸下と一致している。また、試FI2
のY軸方向の移動に関しては、予めY軸が傾動軸下と一
致しているため、試料交換棒28の軸心と傾動軸Tとは
常に一致している。そのため、傾斜体9の傾斜角表示目
盛を零に合わせて試料2を水平状態に保つと共に、回転
台12の回転角表示目盛を零に合わせれば、試料交換棒
28の軸心と試料ホルダ13の雌ネジ穴18の中心とが
合致する。また、試料2の上下移動に伴って試料交換室
25が同方向に上下移動するため、試料2の光軸Z方向
の移動に伴って試料交換棒28の軸心と傾斜体9の傾動
軸Tとがズレることはない。そこで、試料交換棒28を
試料室1側に押込み、その先端に設けた雄ネジ29を試
料ホルダ13の雌ネジ穴18に挿人し螺合させて両者を
一体化させる。そして、試料交換棒を前述とは逆の方向
に動かし試料ホルダ13を回転台72から抜き出して試
料交換室25内に収納した後、仕切弁30を閉じて試料
室と試料交換室とを遮断した状態で、試料交換室をり一
りして蓋体27を外す。そして、試料交換棒の先端に新
しい試料を収納した試料ホルダを取付けた後、再び蓋体
27を試料交換室25に装着し、試料交換室内を粗引き
してから前述とは逆の動作を行なうことにより新しい試
料を試料室1内に装着することができる。
尚、前述の説明は本発明の一例であり、実施にあたって
は幾多の変形が考えられる。例えば、上記実施例では試
料交換室25はX移動体10と連動して同方向に動く移
動体22に固定したが、移動体22を使用することなく
直接試料交換室がX移動体10と同方向に連動して動く
ように上下移動体19に移動可能に取付けても良い。
は幾多の変形が考えられる。例えば、上記実施例では試
料交換室25はX移動体10と連動して同方向に動く移
動体22に固定したが、移動体22を使用することなく
直接試料交換室がX移動体10と同方向に連動して動く
ように上下移動体19に移動可能に取付けても良い。
また、試料交換室25をX移動体10のX軸方向の移動
に連動して動かずために夫々モータを使用して両者を連
結させたが、モータに代えて歯車機構等を利用して両者
を一本の操作軸で駆動可能とし、その操作軸を手動ある
いはモータによって駆動させるように構成しても良い。
に連動して動かずために夫々モータを使用して両者を連
結させたが、モータに代えて歯車機構等を利用して両者
を一本の操作軸で駆動可能とし、その操作軸を手動ある
いはモータによって駆動させるように構成しても良い。
また、試F12及び試料交換室25を光軸Z方向に移動
する際に夫々専用の上下移動体6,19を設けたが、こ
れに限定されることなく1つの上下移動体に傾斜体9及
び移動体22あるいは試料交換室25を夫々取付けても
良い。
する際に夫々専用の上下移動体6,19を設けたが、こ
れに限定されることなく1つの上下移動体に傾斜体9及
び移動体22あるいは試料交換室25を夫々取付けても
良い。
また、上記実施例では本発明をユーセントリックタイプ
の試料傾斜装置に実施したが、非ユーセントリックタイ
プ、つまり水平移動させるためのX、Y移動体の上に傾
斜機構を組込むタイプにも同様に実施することができる
。このようなタイプに実施した場合には試料の観察位置
を変えた際、観察位置が傾斜中心からズして傾斜時に像
のニゲが生じるが、その反面試料ホルダに形成した雌ネ
ジの穴は水平移動させても常に同じ高さを雛持している
ため、前述の実施例のように試料交換時に傾斜角を零ま
で戻す操作が不要となる。
の試料傾斜装置に実施したが、非ユーセントリックタイ
プ、つまり水平移動させるためのX、Y移動体の上に傾
斜機構を組込むタイプにも同様に実施することができる
。このようなタイプに実施した場合には試料の観察位置
を変えた際、観察位置が傾斜中心からズして傾斜時に像
のニゲが生じるが、その反面試料ホルダに形成した雌ネ
ジの穴は水平移動させても常に同じ高さを雛持している
ため、前述の実施例のように試料交換時に傾斜角を零ま
で戻す操作が不要となる。
第1図は本発明の一実施例を示すIi1断面図、第2図
は第1図のAA断面図である。 1:試料室 2:試料 3:対物レンズ 4:排気管 5コ前面カバー 〇:試料用上下移動体7a、7
b:案内板 8:軸受 9:傾斜体 10:X移動体11:Y移動体
12:回転台 13:試料ホルダ 14:ウォーム歯車15:ウオ
ーム 16a、16b:マイクロメータヘッド17a、17b
、24:E−タ 18:雌ネジ 19:試料交換室用上下移動体 20a、20b、21a、21b:案内板22:移動体 23:マイクロメータヘッド 25:試料交換室 26a乃至26e:連通穴 27:蓋体 28試料交換棒29:雄ネジ
30:仕切弁 31:アーム 32:上下移動機構33:制御
回路
は第1図のAA断面図である。 1:試料室 2:試料 3:対物レンズ 4:排気管 5コ前面カバー 〇:試料用上下移動体7a、7
b:案内板 8:軸受 9:傾斜体 10:X移動体11:Y移動体
12:回転台 13:試料ホルダ 14:ウォーム歯車15:ウオ
ーム 16a、16b:マイクロメータヘッド17a、17b
、24:E−タ 18:雌ネジ 19:試料交換室用上下移動体 20a、20b、21a、21b:案内板22:移動体 23:マイクロメータヘッド 25:試料交換室 26a乃至26e:連通穴 27:蓋体 28試料交換棒29:雄ネジ
30:仕切弁 31:アーム 32:上下移動機構33:制御
回路
Claims (2)
- (1)高真空に保たれた試料室と、該試料室内に置かれ
、かつ電子線光軸と直交する平面内で移動する移動体と
、該移動体を前記光軸を中心にして互いに直交するX及
びY方向に夫々移動させるためのX及びY移動機構と、
前記移動体に着脱可能に装着され、かつ試料を保持する
試料ホルダと、前記試料室内に仕切弁を介して連通した
試料交換室と、前記試料ホルダをその先端に着脱可能に
取付けた状態で試料室と試料交換室との間を往復させる
ため該試料交換室側壁に摺動可能に貫通して取付けられ
た試料交換棒とを備え、前記試料交換棒の軸心を前記移
動体のX方向あるいはY方向のいずれか一方の移動方向
に一致させると共に、前記移動体の他方の移動方向の移
動に連動して前記試料交換室をこの移動体の他方の移動
方向に移動させるように構成したことを特徴とする走査
型電子顕微鏡等における試料交換装置。 - (2)前記移動体と試料交換室とを前記光軸方向に連動
して移動できるように構成したことを特徴とする特許請
求の範囲第1項に記載の走査型電子顕微鏡等における試
料交換装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8269187A JPS63250048A (ja) | 1987-04-03 | 1987-04-03 | 走査型電子顕微鏡等における試料交換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8269187A JPS63250048A (ja) | 1987-04-03 | 1987-04-03 | 走査型電子顕微鏡等における試料交換装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63250048A true JPS63250048A (ja) | 1988-10-17 |
Family
ID=13781437
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8269187A Pending JPS63250048A (ja) | 1987-04-03 | 1987-04-03 | 走査型電子顕微鏡等における試料交換装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63250048A (ja) |
-
1987
- 1987-04-03 JP JP8269187A patent/JPS63250048A/ja active Pending
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