JPS6325308B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6325308B2 JPS6325308B2 JP21034081A JP21034081A JPS6325308B2 JP S6325308 B2 JPS6325308 B2 JP S6325308B2 JP 21034081 A JP21034081 A JP 21034081A JP 21034081 A JP21034081 A JP 21034081A JP S6325308 B2 JPS6325308 B2 JP S6325308B2
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- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/12—Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
- G01R33/1207—Testing individual magnetic storage devices, e.g. records carriers or digital storage elements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、磁気デイスク媒体の出力特性の検
査、特にオーバライト特性検査回路に関するもの
である。
査、特にオーバライト特性検査回路に関するもの
である。
磁気デイスク媒体の表面には磁性材料が塗布ま
たはめつきされているが、媒体の厚さ方向の残留
磁化状態は、ヘツドに印加する書込電流値とその
周波数により異なり、書込電流値が小さく書込周
波数が高いほど、媒体の残留磁化の深さは小さく
なる。したがつて、周波数の低いパターンの上
に、同一電流値で周波数の高いパターンを上書き
しても周波数の低いパターンは媒体の深いところ
では周波数の高いパターンに書き換えられず、残
留する。磁気デイスク媒体としては、前記残留分
が小さいほど特性が良いとされ、この特性をデシ
ベル値で表わし、オーバライト特性と呼んで媒体
の特性評価に用いている。
たはめつきされているが、媒体の厚さ方向の残留
磁化状態は、ヘツドに印加する書込電流値とその
周波数により異なり、書込電流値が小さく書込周
波数が高いほど、媒体の残留磁化の深さは小さく
なる。したがつて、周波数の低いパターンの上
に、同一電流値で周波数の高いパターンを上書き
しても周波数の低いパターンは媒体の深いところ
では周波数の高いパターンに書き換えられず、残
留する。磁気デイスク媒体としては、前記残留分
が小さいほど特性が良いとされ、この特性をデシ
ベル値で表わし、オーバライト特性と呼んで媒体
の特性評価に用いている。
従来、オーバライト特性を検査するには、媒体
をデスク装置に用いて記録するときの最低周波数
（以下LFと略す）で書いたときのリード信号をス
ペクトラムアナライザを用いてLFの出力値を測
定した後、媒体に記録するときの最高周波数（以
下、HFと略す）を上書きし、残留しているLF成
分を前記スペクトラムアナライザで測定し、両者
の差をとつてオーバライト特性を計算していた
が、人手を介して測定するため、測定に時間がか
かる上、測定に用いるスペクトラムアナライザが
非常に高価であるという欠点があつた。
をデスク装置に用いて記録するときの最低周波数
（以下LFと略す）で書いたときのリード信号をス
ペクトラムアナライザを用いてLFの出力値を測
定した後、媒体に記録するときの最高周波数（以
下、HFと略す）を上書きし、残留しているLF成
分を前記スペクトラムアナライザで測定し、両者
の差をとつてオーバライト特性を計算していた
が、人手を介して測定するため、測定に時間がか
かる上、測定に用いるスペクトラムアナライザが
非常に高価であるという欠点があつた。
本発明の目的は、上述の欠点を除去し、無人化
が行なえ得るとともに高速かつ安価なオーバライ
ト特性検査回路を得ることにある。他の目的は、
測定したデータを直接コンピユータで読み取るこ
とにより、統計的な処理をリアルタイム化するこ
とにある。
が行なえ得るとともに高速かつ安価なオーバライ
ト特性検査回路を得ることにある。他の目的は、
測定したデータを直接コンピユータで読み取るこ
とにより、統計的な処理をリアルタイム化するこ
とにある。
本発明によれば、増巾されたヘツドからのリー
ド信号の規定周波数帯域を通過させるバンドパス
フイルタと、前記バンドパスフイルタの出力を非
反転入力とし、後記ローパスフイルタの出力を反
転入力とした比較器と、前記比較器出力の規定周
波数以下の周波数成分を通過させるローパスフイ
ルタと、前記ローパスフイルタの出力を対数増巾
する対数増巾器と、前記対数増巾器の出力をデイ
ジタルに変換するアナログ−デイジタル変換器と
で構成し、ヘツドからのリード信号の大きさをデ
シベル値で中央処理装置に与えることを特徴とす
る磁気デイスク媒体特性測定装置が得られる。
ド信号の規定周波数帯域を通過させるバンドパス
フイルタと、前記バンドパスフイルタの出力を非
反転入力とし、後記ローパスフイルタの出力を反
転入力とした比較器と、前記比較器出力の規定周
波数以下の周波数成分を通過させるローパスフイ
ルタと、前記ローパスフイルタの出力を対数増巾
する対数増巾器と、前記対数増巾器の出力をデイ
ジタルに変換するアナログ−デイジタル変換器と
で構成し、ヘツドからのリード信号の大きさをデ
シベル値で中央処理装置に与えることを特徴とす
る磁気デイスク媒体特性測定装置が得られる。
以下本発明の一実施例を示す図面を参照して説
明する。
明する。
第１図は本発明の一実施例を示す回路構成図で
入力端子１０１に入力される増巾されたヘツドか
らのリード信号は、バンドパスフイルタ１に接続
される。バンドパスフイルタ１はLFを中心周波
数とし、HFでは50デシベル以上の減衰特性をも
つように設計する。バンドパスフイルタ１を通過
したリード信号は比較器２の非反転入力端子１１
に接続される。比較器２の出力１３はローパスフ
イルタ３を介して比較器２の反転入力端子１２に
接続されるとともに対数増巾器４に接続される。
ローパスフイルタ３の遮断周波数は数ヘルツにな
るように設計する。対数増巾器４の出力１７はア
ナログデイジタル変換器５（以下Ａ−Ｄ変換器と
略す）に入力され、デイジタルに変換された後、
中央処理装置６（以下CPUと略す）に読み込ま
れる。Ａ−Ｄ変換のタイミングは信号１０３を用
いてCPU６から制御する。
入力端子１０１に入力される増巾されたヘツドか
らのリード信号は、バンドパスフイルタ１に接続
される。バンドパスフイルタ１はLFを中心周波
数とし、HFでは50デシベル以上の減衰特性をも
つように設計する。バンドパスフイルタ１を通過
したリード信号は比較器２の非反転入力端子１１
に接続される。比較器２の出力１３はローパスフ
イルタ３を介して比較器２の反転入力端子１２に
接続されるとともに対数増巾器４に接続される。
ローパスフイルタ３の遮断周波数は数ヘルツにな
るように設計する。対数増巾器４の出力１７はア
ナログデイジタル変換器５（以下Ａ−Ｄ変換器と
略す）に入力され、デイジタルに変換された後、
中央処理装置６（以下CPUと略す）に読み込ま
れる。Ａ−Ｄ変換のタイミングは信号１０３を用
いてCPU６から制御する。
以下動作について説明する。端子１０１にリー
ド信号がが入力されると、バンドパスフイルタ１
でLF成分のみが選択され、比較器２の非反転入
力端子１１に、第２図Ａに示すような信号ｅ（ｔ）
が入力される。このときローパスフイルタ３から
フイードバツクされている比較器２の反転入力端
子１２の入力信号が第２図Ａに示す破線の信号Ｅ
（ｔ）であつたとすると、比較器２の出力端子１
３にはｅ（ｔ）≧Ｅ（ｔ）のとき第２図Ｂに示すよ
うなパルスが出力される。前記パルスはローパス
フイルタ３で高周波成分が除去され、第２図Ｃに
示すような直流に近い波形Ｅ（ｔ）としてローパ
スフイルタ３の出力端子１５に出力され、比較器
２の反転入力端子１２にフイードバツクされて第
２図Ａに示した破線波形Ｅ（ｔ）となる。
ド信号がが入力されると、バンドパスフイルタ１
でLF成分のみが選択され、比較器２の非反転入
力端子１１に、第２図Ａに示すような信号ｅ（ｔ）
が入力される。このときローパスフイルタ３から
フイードバツクされている比較器２の反転入力端
子１２の入力信号が第２図Ａに示す破線の信号Ｅ
（ｔ）であつたとすると、比較器２の出力端子１
３にはｅ（ｔ）≧Ｅ（ｔ）のとき第２図Ｂに示すよ
うなパルスが出力される。前記パルスはローパス
フイルタ３で高周波成分が除去され、第２図Ｃに
示すような直流に近い波形Ｅ（ｔ）としてローパ
スフイルタ３の出力端子１５に出力され、比較器
２の反転入力端子１２にフイードバツクされて第
２図Ａに示した破線波形Ｅ（ｔ）となる。
一方対数増巾器４は第３図に示すように入力電
圧の対数的な変化に対して、出力電圧は直線的に
変化する。したがつて、入力信号が１桁変化する
ごとに出力信号が2V変化するように設計してお
けば、入力１デシベルの変化は出力0.1Vの変化
に対応することになる。この対数増巾器４のアナ
ログ出力１７をＡ−Ｄ変換器５でデイジタルに変
換する。CPU６はデイジタルに変換された値を
信号ライン１０２から読み込むことによつて、入
力信号の大きさをデシベル値で知ることができ
る。また入力信号変化量のデシベル値は対数演算
を行なわなくとも、簡単な減算を行なうことによ
り知ることができる。
圧の対数的な変化に対して、出力電圧は直線的に
変化する。したがつて、入力信号が１桁変化する
ごとに出力信号が2V変化するように設計してお
けば、入力１デシベルの変化は出力0.1Vの変化
に対応することになる。この対数増巾器４のアナ
ログ出力１７をＡ−Ｄ変換器５でデイジタルに変
換する。CPU６はデイジタルに変換された値を
信号ライン１０２から読み込むことによつて、入
力信号の大きさをデシベル値で知ることができ
る。また入力信号変化量のデシベル値は対数演算
を行なわなくとも、簡単な減算を行なうことによ
り知ることができる。
この回路を用いてオーバライト特性を測定する
には、まずLFを書き込んだときの信号のデシベ
ル値を読み取りその値をＸとする。次にHFを上
書きするが、HF成分は、バンドパスフイルタ１
で除去され、信号に含まれるLF成分のみがバン
ドパスフイルタ１を通過し、そのときの信号のデ
シベル値を読み取りその値をＹとする。（Ｙ−Ｘ）
デシベルがオーバライト特性を示す値になる。
には、まずLFを書き込んだときの信号のデシベ
ル値を読み取りその値をＸとする。次にHFを上
書きするが、HF成分は、バンドパスフイルタ１
で除去され、信号に含まれるLF成分のみがバン
ドパスフイルタ１を通過し、そのときの信号のデ
シベル値を読み取りその値をＹとする。（Ｙ−Ｘ）
デシベルがオーバライト特性を示す値になる。
以上説明したように本発明によれば高価な測定
器を用いなくても、短時間で簡単にオーバライト
特性を測定できる上に、使用素子数が少ないため
小型で安価な検査装置を作ることができる。
器を用いなくても、短時間で簡単にオーバライト
特性を測定できる上に、使用素子数が少ないため
小型で安価な検査装置を作ることができる。
第１図は本発明の一実施例を示す回路構成図で
１はバンドパスフイルタ、２は比較器、３はロー
パスフイルタ、４は対数増巾器、５はＡ−Ｄ変換
器、６はCPUを示す。第２図Ａ，Ｂ，Ｃは第１
図の各部の波形を示し、Ａのｅ（ｔ）は比較器２
の入力端子１１に入力される信号、ＡのＥ（ｔ）
はＣのＥ（ｔ）と同一で、ローパスフイルタ３の
出力端子１５の信号、Ｂは比較器２の出力信号を
示す。第３図は第１図に示した対数増巾器４の入
出力特性例を示す。
１はバンドパスフイルタ、２は比較器、３はロー
パスフイルタ、４は対数増巾器、５はＡ−Ｄ変換
器、６はCPUを示す。第２図Ａ，Ｂ，Ｃは第１
図の各部の波形を示し、Ａのｅ（ｔ）は比較器２
の入力端子１１に入力される信号、ＡのＥ（ｔ）
はＣのＥ（ｔ）と同一で、ローパスフイルタ３の
出力端子１５の信号、Ｂは比較器２の出力信号を
示す。第３図は第１図に示した対数増巾器４の入
出力特性例を示す。
Claims (1)
- １ 磁気デイスク媒体の出力特性を検査する装置
において、増巾されたヘツドからのリード信号の
規定周波数帯域を通過させるバンドパスフイルタ
と、前記バンドパスフイルタの出力を非反転入力
とし、後記ローパスフイルタの出力を反転入力と
した比較器と、前記比較器出力の規定周波数以下
の周波数成分を通過させるローパスフイルタと、
前記ローパスフイルタの出力を対数増巾する対数
増巾器と、前記対数増巾器の出力をデイジタルに
変換するアナログ−デイジタル変換器とで構成
し、ヘツドからのリード信号の大きさをデシベル
値で中央処理装置に与えることを特徴とする磁気
デイスク媒体特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21034081A JPS58113871A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 磁気デイスク媒体特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21034081A JPS58113871A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 磁気デイスク媒体特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58113871A JPS58113871A (ja) | 1983-07-06 |
| JPS6325308B2 true JPS6325308B2 (ja) | 1988-05-25 |
Family
ID=16587783
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21034081A Granted JPS58113871A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 磁気デイスク媒体特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58113871A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60251521A (ja) * | 1984-05-28 | 1985-12-12 | Nec Corp | 磁気デイスク板検査装置 |
| JPS62188984A (ja) * | 1986-02-14 | 1987-08-18 | Nec Corp | 磁気デイスク媒体特性測定装置 |
-
1981
- 1981-12-28 JP JP21034081A patent/JPS58113871A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58113871A (ja) | 1983-07-06 |
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