JPS63254783A - 発光装置 - Google Patents
発光装置Info
- Publication number
- JPS63254783A JPS63254783A JP62089425A JP8942587A JPS63254783A JP S63254783 A JPS63254783 A JP S63254783A JP 62089425 A JP62089425 A JP 62089425A JP 8942587 A JP8942587 A JP 8942587A JP S63254783 A JPS63254783 A JP S63254783A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- lens
- photodetector
- emitting device
- light emitting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は光通信、光計測、光記録用の発光装置に関する
ものである。
ものである。
従来の技術
近年、発光装置は特に光通信の発達から多く用いられ、
その性能としては周波数の安定性が高いものが望まれて
いる。特に半導体レーザは高性能を有しているため、そ
の単一モード化に対して多くの改良がなされている。
その性能としては周波数の安定性が高いものが望まれて
いる。特に半導体レーザは高性能を有しているため、そ
の単一モード化に対して多くの改良がなされている。
以下図面を参照しながら従来の発光装置の一例について
説明する。
説明する。
第２図は従来の発光装置の実施例である。■は半導体レ
ーザ素子である。２はレンズで半導体レーザ素子ｌから
出た光を平行光にする。３は回折格子である。５はレン
ズであり、６は光検出器である。以上のように構成され
た発光装置について以下その動作について説明する。半
導体レーザ素子ｌより出た光はレンズ２により平行光と
なり回折格子３に入射される。入射光７はその波長に従
い分散され特定の波長の光８がレンズ２を通して半導体
レーザ素子ｌに帰還される。帰還光は半導体レーザ素子
１と結合して発振モードは単一化され、周波数が安定化
した状態で半導体レーザ素子１は発振する。発振波長は
回折格子３と半導体レーザ素子１との位置関係により幾
何学的に決定される。さらに、光の出力強度の変動を測
定するためにその代りとして回折格子３の法線１２に対
する入射角１０と反射角１１が等しい関係で正反射する
光９をレンズ５で光検出器６の検出面上に集光させてい
る。
ーザ素子である。２はレンズで半導体レーザ素子ｌから
出た光を平行光にする。３は回折格子である。５はレン
ズであり、６は光検出器である。以上のように構成され
た発光装置について以下その動作について説明する。半
導体レーザ素子ｌより出た光はレンズ２により平行光と
なり回折格子３に入射される。入射光７はその波長に従
い分散され特定の波長の光８がレンズ２を通して半導体
レーザ素子ｌに帰還される。帰還光は半導体レーザ素子
１と結合して発振モードは単一化され、周波数が安定化
した状態で半導体レーザ素子１は発振する。発振波長は
回折格子３と半導体レーザ素子１との位置関係により幾
何学的に決定される。さらに、光の出力強度の変動を測
定するためにその代りとして回折格子３の法線１２に対
する入射角１０と反射角１１が等しい関係で正反射する
光９をレンズ５で光検出器６の検出面上に集光させてい
る。
発明が解決しようとする問題点
しかし、上記に述べた発光装置では発振波長を変える場
合、回折格子３の回転角度を変更せねばならない。この
ため回折格子３への入射光７の入射角１０が変化する。
合、回折格子３の回転角度を変更せねばならない。この
ため回折格子３への入射光７の入射角１０が変化する。
これに伴い反射角１１も変化することになる。第３図に
回折格子３を回転させた時の反射光９、レンズ５ｂ及び
光検出器６ｂの配置の様子を示す。点線で示したレンズ
５ａ、光検出器６ａの位置は第２図におけるレンズ５と
光検出器６の位置である。以上のように、第２図のよう
な構成では発振波長によってレンズ５、光検出器６の配
置を変えなければならないという問題点を有している。
回折格子３を回転させた時の反射光９、レンズ５ｂ及び
光検出器６ｂの配置の様子を示す。点線で示したレンズ
５ａ、光検出器６ａの位置は第２図におけるレンズ５と
光検出器６の位置である。以上のように、第２図のよう
な構成では発振波長によってレンズ５、光検出器６の配
置を変えなければならないという問題点を有している。
また、発振光を直接検出していないので検出信号が出力
強度を忠実に反映しているとは言えない。
強度を忠実に反映しているとは言えない。
本発明は上記問題に鑑み、出力強度を容易にしかも直接
に検出できる装置構成を提供するものである。
に検出できる装置構成を提供するものである。
問題点を解決するための手段
上記問題点を解決するために本発明の発光装置はレーザ
素子の片側に配置された一方のレンズと回折格子の間に
透明板を斜めに配置し、透明板の反射による光強度をも
う一方のレンズを通して光検出器で検出する構成をとる
ものである。
素子の片側に配置された一方のレンズと回折格子の間に
透明板を斜めに配置し、透明板の反射による光強度をも
う一方のレンズを通して光検出器で検出する構成をとる
ものである。
作用
本発明は上記した構成によって、発振周波数に拘わらず
レンズと光検出器の配置を固定したままで極めて容易に
、しかも直接に光強度の変動を検出することができる。
レンズと光検出器の配置を固定したままで極めて容易に
、しかも直接に光強度の変動を検出することができる。
実施例
以下本発明の一実施例の発光装置について図面を参照し
ながら説明する。
ながら説明する。
第１図は本発明の一実施例における発光装置の構成図を
示すものである。１は半導体レーザ素子、２．５はレン
ズ、３は回折格子、４は透明板、６は光検出器である。
示すものである。１は半導体レーザ素子、２．５はレン
ズ、３は回折格子、４は透明板、６は光検出器である。
半導体レーザ素子ｌより出た光はレンズ２によって平行
光となり透明板４を通過し、回折格子３に入射される。
光となり透明板４を通過し、回折格子３に入射される。
入射光７は回折格子３で分散され特定の波長のみが半導
体レーザ素子１と結合し、その波長で半導体レーザ素子
１は安定に発振する。一方、レンズ２によって平行光と
なった光は透明板４で屈折率の差により反射される。反
射光９は透明板４に入射する光の数％程度である。この
反射光９はレンズ５で集光し、光検出器６で検出される
。この構成にすることにより発振光の一部を取り出し発
振光の変動を直接検出できるとともに、発振する波長を
変えるために回折格子３の回転角度を変えても透明板４
から反射される光の方向は変化しない。従ってレンズ５
、光検出器６は配置を固定することができ、発振光の出
力強度を容易に、しかも直接に検出できる利点をもう。
体レーザ素子１と結合し、その波長で半導体レーザ素子
１は安定に発振する。一方、レンズ２によって平行光と
なった光は透明板４で屈折率の差により反射される。反
射光９は透明板４に入射する光の数％程度である。この
反射光９はレンズ５で集光し、光検出器６で検出される
。この構成にすることにより発振光の一部を取り出し発
振光の変動を直接検出できるとともに、発振する波長を
変えるために回折格子３の回転角度を変えても透明板４
から反射される光の方向は変化しない。従ってレンズ５
、光検出器６は配置を固定することができ、発振光の出
力強度を容易に、しかも直接に検出できる利点をもう。
また、第１図ではレンズ２によって平行光となった光の
強度変動を検出する構成の一例であるが、レンズ５、検
出器６゛ヲ透明板４に対し対称な位置に配置することに
より回折格子３からの帰還光８の強度変動を検出するこ
とも可能である。
強度変動を検出する構成の一例であるが、レンズ５、検
出器６゛ヲ透明板４に対し対称な位置に配置することに
より回折格子３からの帰還光８の強度変動を検出するこ
とも可能である。
なお、レーザ素子は半導体レーザ素子に限定するもので
はない。
はない。
発明の効果
以上のように、本発明はレーザ素子の片側に配置された
一方のレンズと回折格子との間に透明板を斜めに配置し
、透明板の反射による光をもう一方のレンズを通して、
光検出器で光強度の一部を直接検出する。従って、発振
周波数に拘わらずレンズと光検出器の配置を固定したま
まで極めて容易に、しかも直接に光強度の変動を検出す
ることができる。
一方のレンズと回折格子との間に透明板を斜めに配置し
、透明板の反射による光をもう一方のレンズを通して、
光検出器で光強度の一部を直接検出する。従って、発振
周波数に拘わらずレンズと光検出器の配置を固定したま
まで極めて容易に、しかも直接に光強度の変動を検出す
ることができる。
第１図は本発明は実施例における発光装置の構成図、第
２図は従来の実施例における発光装置の構成図、第３図
は従来の実施例において発振波長を変えた場合の発光装
置の構成図である。 ■・・・・・・半導体レーザ素子、２，５・・・・・・
レンズ、３・・・・・・回折格子、４・・・・・・透明
板、６・・・・・・光検出器、７・・・・・・入射光、
８・・・・・・帰還光、９・・・・・・反射光。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか１名第１図 ：ｆＪ２図 Ｉ −＋導体レーｆ棄チ ２．５− レンズ ３−回緯柊チ ４−゛透明征 ６−光検出器 ７・・・大計光 ８−鐸！Ｌ光 ９−ＪＥＲ九
２図は従来の実施例における発光装置の構成図、第３図
は従来の実施例において発振波長を変えた場合の発光装
置の構成図である。 ■・・・・・・半導体レーザ素子、２，５・・・・・・
レンズ、３・・・・・・回折格子、４・・・・・・透明
板、６・・・・・・光検出器、７・・・・・・入射光、
８・・・・・・帰還光、９・・・・・・反射光。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか１名第１図 ：ｆＪ２図 Ｉ −＋導体レーｆ棄チ ２．５− レンズ ３−回緯柊チ ４−゛透明征 ６−光検出器 ７・・・大計光 ８−鐸！Ｌ光 ９−ＪＥＲ九
Claims (1)
- 回折格子とレーザ素子と光検出器と透明板と２つのレン
ズとを具備し、前記半導体レーザ素子の片側に配置され
た前記一方のレンズと、前記回折格子との間に前記透明
板を斜めに配置し、前記透明板の反射による光強度を前
記もう一方のレンズを通して前記光検出器で検出するこ
とを特徴とする発光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62089425A JPS63254783A (ja) | 1987-04-10 | 1987-04-10 | 発光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62089425A JPS63254783A (ja) | 1987-04-10 | 1987-04-10 | 発光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63254783A true JPS63254783A (ja) | 1988-10-21 |
Family
ID=13970305
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62089425A Pending JPS63254783A (ja) | 1987-04-10 | 1987-04-10 | 発光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63254783A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6159368B2 (ja) * | 1981-09-28 | 1986-12-16 | Daido Steel Co Ltd |
-
1987
- 1987-04-10 JP JP62089425A patent/JPS63254783A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6159368B2 (ja) * | 1981-09-28 | 1986-12-16 | Daido Steel Co Ltd |
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