JPS63263447A - 気体濃度検出装置 - Google Patents
気体濃度検出装置Info
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- JPS63263447A JPS63263447A JP62098127A JP9812787A JPS63263447A JP S63263447 A JPS63263447 A JP S63263447A JP 62098127 A JP62098127 A JP 62098127A JP 9812787 A JP9812787 A JP 9812787A JP S63263447 A JPS63263447 A JP S63263447A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
- G01N21/031—Multipass arrangements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、測定媒体として光を用いる気体濃度検出装置
に関し、特に、例えば鉄鋼業において使用される各種熱
処理炉その他、各業種において使用されている各種プロ
セスにおいて行なわれる雰囲気気体の濃度を検出する装
置に関するものである。
に関し、特に、例えば鉄鋼業において使用される各種熱
処理炉その他、各業種において使用されている各種プロ
セスにおいて行なわれる雰囲気気体の濃度を検出する装
置に関するものである。
鉄鋼業において使用される加熱炉、焼鈍炉を始め、気体
の成分濃度および分圧が管理された雰囲気中で行なわれ
るプロセスは数多く存在し、そこでは気体の濃度および
l又は分圧を測定することが不可欠である。
の成分濃度および分圧が管理された雰囲気中で行なわれ
るプロセスは数多く存在し、そこでは気体の濃度および
l又は分圧を測定することが不可欠である。
光の吸収強度を利用し、測定用の光のプロセス中の管理
雰囲気中を直接通過させることにより、そのガス成分の
濃度および分圧を正確にするための方法および装置が、
特願昭59−169994号、同59−169995号
および同59−169996号に提供されている。この
方法および装置では、光学系の汚れ、光−軸のずれ等に
より被測定気体に照射される光の強度が変化すると、測
定誤差が大きくなる。そこで、被測定気体に照射される
光の強度をも検出し、該強度をモニタしつつ被測定ガス
の濃度および分圧の測定を正確に行なう方法および装置
を特願昭60−296854号で提供した。この出願の
発明では、チョッパを用いて、光源からの光をチョッピ
ングして、チョッピング光をビームスプリッタで分岐し
て分岐光の波長λ1の光(参照光)の強度(11)を検
出する一方、チョッピング光を被測定気体に通し、通過
した光を更にもう1つのビームスプリッタで2系統の光
に分岐して、1系統においては被測定気体により実質上
吸収を受けない参照光(λ1)の強度)I2)を検出し
、もう1つの系統においては被測定気体により吸収を受
ける波長λ2の光(?IIl定光)の強度(I3)を検
出し、11で光源の特性変化をモニタし、演算装置で、
検出強度I2およびI3に基づいて被測定気体の濃度n
および分圧pを演算する。チョッピングは、光透過開口
を開けた円板を回転させることにより行なわれる。
雰囲気中を直接通過させることにより、そのガス成分の
濃度および分圧を正確にするための方法および装置が、
特願昭59−169994号、同59−169995号
および同59−169996号に提供されている。この
方法および装置では、光学系の汚れ、光−軸のずれ等に
より被測定気体に照射される光の強度が変化すると、測
定誤差が大きくなる。そこで、被測定気体に照射される
光の強度をも検出し、該強度をモニタしつつ被測定ガス
の濃度および分圧の測定を正確に行なう方法および装置
を特願昭60−296854号で提供した。この出願の
発明では、チョッパを用いて、光源からの光をチョッピ
ングして、チョッピング光をビームスプリッタで分岐し
て分岐光の波長λ1の光(参照光)の強度(11)を検
出する一方、チョッピング光を被測定気体に通し、通過
した光を更にもう1つのビームスプリッタで2系統の光
に分岐して、1系統においては被測定気体により実質上
吸収を受けない参照光(λ1)の強度)I2)を検出し
、もう1つの系統においては被測定気体により吸収を受
ける波長λ2の光(?IIl定光)の強度(I3)を検
出し、11で光源の特性変化をモニタし、演算装置で、
検出強度I2およびI3に基づいて被測定気体の濃度n
および分圧pを演算する。チョッピングは、光透過開口
を開けた円板を回転させることにより行なわれる。
周波数fのチョッピングにより、11〜工3を検出する
センサの検出レベルが周波数fで脈動するので、センサ
の検出信号の、f周波数のものが抽出される。
センサの検出レベルが周波数fで脈動するので、センサ
の検出信号の、f周波数のものが抽出される。
光源の経時変化や光路各要素の汚れ等により被測定気体
に照射される光の強度が変化しても、被測定気体通過前
の光強度(工1)と通過後の光強度(I2)を共に検出
し、jlで光源の光強度をモニタするが、ビームスプリ
ッタを2組光路に介挿するので、光学系における光の減
衰が大きく、したがって安定した信頼性を得るために、
比較的に高輝度の光源、すなわち大型、高電力消費の光
源を用いる必要がある。
に照射される光の強度が変化しても、被測定気体通過前
の光強度(工1)と通過後の光強度(I2)を共に検出
し、jlで光源の光強度をモニタするが、ビームスプリ
ッタを2組光路に介挿するので、光学系における光の減
衰が大きく、したがって安定した信頼性を得るために、
比較的に高輝度の光源、すなわち大型、高電力消費の光
源を用いる必要がある。
本発明は光学系に介挿するビームスプリッタの個数を低
減し得る気体濃度検出装置を提供することを目的とする
。
減し得る気体濃度検出装置を提供することを目的とする
。
上記目的を達成する本発明は、チョッパを、所定回転角
でのみ前記光源の光を被測定気体に反射する反射面を有
するロータとこのロータを回転駆動する電気モータでな
るものとする。
でのみ前記光源の光を被測定気体に反射する反射面を有
するロータとこのロータを回転駆動する電気モータでな
るものとする。
これによれば、ロータの回転が所定回転角にあるときの
み光が被測定気体に照射されるので、被測定気体にチョ
ッピング光が与えられる。参照光強度(I1)は、例え
ば、ロータの回転が該所定回転角でないときの前記反射
面の反射光を検出することにより、チョッピング光とし
て検出する。
み光が被測定気体に照射されるので、被測定気体にチョ
ッピング光が与えられる。参照光強度(I1)は、例え
ば、ロータの回転が該所定回転角でないときの前記反射
面の反射光を検出することにより、チョッピング光とし
て検出する。
あるいは、ロータを、光源からの光を被測定気体に反射
する反射面を有するテーパを有し回転軸に平行な方向の
光の透過は遮断する反射部材と1回転軸に平行な方向の
光を透過する開口を1回転軸を中心とする同一円周上に
有するものとして、該開口を透過した光を検出すること
によりチョッピング光として検出する。
する反射面を有するテーパを有し回転軸に平行な方向の
光の透過は遮断する反射部材と1回転軸に平行な方向の
光を透過する開口を1回転軸を中心とする同一円周上に
有するものとして、該開口を透過した光を検出すること
によりチョッピング光として検出する。
このように、ビームスプリッタを介さずに、チョッピン
グ光を被測定気体に照射しかつチョッピング光を参照光
として得ることができる。ビームスプリッタが省略にな
る分、光路における光減衰量が低減するので、その分低
容量の発光源を用いることができる。
グ光を被測定気体に照射しかつチョッピング光を参照光
として得ることができる。ビームスプリッタが省略にな
る分、光路における光減衰量が低減するので、その分低
容量の発光源を用いることができる。
本発明の他の目的および特徴は、図面を参照した以下の
実施例の説明より明らかになろう。
実施例の説明より明らかになろう。
〔実施例1〕
第1図に本発明の一実施例の構成を示す、この実施例は
、前述の特願昭60−296854号に提供した気体濃
度および分圧測定装置の測定原理と同様な測定原理で気
体濃度および分圧を測定するものである。第1図におい
て、光源1から放射された光は、楕円面鏡2により集光
され、さらに軸はずし放物面鏡3により平行光束にされ
七、ロータ5の反射面に照射される。ロータ5は、円筒
状筒体を斜め切りし、切断面にミラーを接合した形状の
ものである。筒体の中心軸に電気モータ6の回転軸の中
心を合せてロータ5が電気モータ6に結合されている。
、前述の特願昭60−296854号に提供した気体濃
度および分圧測定装置の測定原理と同様な測定原理で気
体濃度および分圧を測定するものである。第1図におい
て、光源1から放射された光は、楕円面鏡2により集光
され、さらに軸はずし放物面鏡3により平行光束にされ
七、ロータ5の反射面に照射される。ロータ5は、円筒
状筒体を斜め切りし、切断面にミラーを接合した形状の
ものである。筒体の中心軸に電気モータ6の回転軸の中
心を合せてロータ5が電気モータ6に結合されている。
放物面fi3からの平行光束は、ロータ5の反射面が被
測定気体が内部にある容器lOの光透過窓11に対向す
るときに、ロータ5の反射面で反射されて容器10内に
照射される。
測定気体が内部にある容器lOの光透過窓11に対向す
るときに、ロータ5の反射面で反射されて容器10内に
照射される。
容器10の垂直壁の内面には、光の多重反射を行なう反
射面13a*135が形成されており、光透過窓11か
ら容器10に進入した光は、これらの反射面で反射して
光透過窓12から出て、ビームスプリッタ14で一部が
反射されて、被測定気体で吸収される波長λ2の光のみ
を透過するフィルタ19および集束レンズ18を通して
、光検出器20で検出される。光透過窓12から出た光
の一部は、ビームスプリッタ14を透過して、被測定気
体で実質上吸収されない波長λ1のみを透過するフィル
タ16および集束レンズ15を通して光検出器17で検
出される。
射面13a*135が形成されており、光透過窓11か
ら容器10に進入した光は、これらの反射面で反射して
光透過窓12から出て、ビームスプリッタ14で一部が
反射されて、被測定気体で吸収される波長λ2の光のみ
を透過するフィルタ19および集束レンズ18を通して
、光検出器20で検出される。光透過窓12から出た光
の一部は、ビームスプリッタ14を透過して、被測定気
体で実質上吸収されない波長λ1のみを透過するフィル
タ16および集束レンズ15を通して光検出器17で検
出される。
ロータ5の反射面が容器10の光透過窓11に対して丁
度背中合せになる回転角度では、放物面fi3からの平
行光束は第1ミラー131に反射され、次に第2ミラー
132および第3ミラー133で反射され、更にビーム
スプリッタ14で反射されて光検出器17で検出される
。 −ここでこの実施例における被測定気体の濃度
および分圧の測定原理を説明する。
度背中合せになる回転角度では、放物面fi3からの平
行光束は第1ミラー131に反射され、次に第2ミラー
132および第3ミラー133で反射され、更にビーム
スプリッタ14で反射されて光検出器17で検出される
。 −ここでこの実施例における被測定気体の濃度
および分圧の測定原理を説明する。
第1表に示すように気体分子は分子振動に対応して特定
の波長の光を強く吸収する。そこで、この特定の吸収波
長をもつ光を用いて、気体の吸収強度を測定し、これか
ら測定対象ガスの濃度を測定する方法は、例えば、特公
昭51−20904号公報に開示されているようにすで
に行なおれている。
の波長の光を強く吸収する。そこで、この特定の吸収波
長をもつ光を用いて、気体の吸収強度を測定し、これか
ら測定対象ガスの濃度を測定する方法は、例えば、特公
昭51−20904号公報に開示されているようにすで
に行なおれている。
第1図に示す実施例では、被測定気体の吸収波長(I2
)をもつ光(以下測定光という、)の他に、吸取波長(
I2)に近いが、被測定気体により光吸収を実質上受け
ない波長(I1)の光(以下参照光という)を用い、し
かも両者が同一光路(1−3−5−11−12)を通過
するようにし、かつ参照光(I1)について光源の光強
度(以下始強度という“)および被測定気体中を通過し
、該気体による光吸収を受けた後の光強度(以下終強度
という)を測定し、これらの値からガス濃度の光路に沿
う平均値を測定しようとするものである。
)をもつ光(以下測定光という、)の他に、吸取波長(
I2)に近いが、被測定気体により光吸収を実質上受け
ない波長(I1)の光(以下参照光という)を用い、し
かも両者が同一光路(1−3−5−11−12)を通過
するようにし、かつ参照光(I1)について光源の光強
度(以下始強度という“)および被測定気体中を通過し
、該気体による光吸収を受けた後の光強度(以下終強度
という)を測定し、これらの値からガス濃度の光路に沿
う平均値を測定しようとするものである。
一般に、光吸収はLaabert −Beerの法則に
従いI(L)=Io (IXp (−a−n−L)と
表わされる。但し、1.は始強度(透過前の強度)、n
は被測定気体の体積モル濃度、Lは被測定気体を通る光
路長、αは吸収係数、I (L)は終強度(透過後の強
度)である、なお、吸収係数αは被測定気体、使用波長
等により一義的に決まる物理定数である。
従いI(L)=Io (IXp (−a−n−L)と
表わされる。但し、1.は始強度(透過前の強度)、n
は被測定気体の体積モル濃度、Lは被測定気体を通る光
路長、αは吸収係数、I (L)は終強度(透過後の強
度)である、なお、吸収係数αは被測定気体、使用波長
等により一義的に決まる物理定数である。
光検出器20が検出するI2の光強度I3.光検出器1
7が検出する被測定気体を通過したI1の光強度■2お
よび光検出器17が検出する被測定気体を通過しないI
1の光強度11は下記のように表わされる。
7が検出する被測定気体を通過したI1の光強度■2お
よび光検出器17が検出する被測定気体を通過しないI
1の光強度11は下記のように表わされる。
11=1入1(0)
I2 =K I 入1(0)exp(−a Atono
L)Ia =K I A2 (0)exp(−aA2・
n−L)但し、I1は参照光の波長、I2は測定光の波
長、αA1は波長λ1に対する被測定気体の吸収係数。
L)Ia =K I A2 (0)exp(−aA2・
n−L)但し、I1は参照光の波長、I2は測定光の波
長、αA1は波長λ1に対する被測定気体の吸収係数。
αA2は波長λ2に対する被測定気体の吸収係数。
I 入t (0)は参照光の始強度、I 入2 (0)
は測定光の始強度、nは被測定気体の体積モル濃度、L
は光路長、には被測定気体による光吸収以外の光損失を
表わす係数で、光路上に存在する窓ガラスの透過率およ
びよごれによる損失、光軸ずれによる一損失等を表わす
。
は測定光の始強度、nは被測定気体の体積モル濃度、L
は光路長、には被測定気体による光吸収以外の光損失を
表わす係数で、光路上に存在する窓ガラスの透過率およ
びよごれによる損失、光軸ずれによる一損失等を表わす
。
光強度11は光源強度を表わし、光源の劣化による輝度
低下を監視することで、光源寿命の推定、交換時期の見
極めを行なう、参照光λ1の透過率τ1は・ tl =I2/11 =K exp(−α入t ・nI
L)となる。αA1は被測定気体に吸収されないので、
参照光λ1は、 α入l職0 としてよく。
低下を監視することで、光源寿命の推定、交換時期の見
極めを行なう、参照光λ1の透過率τ1は・ tl =I2/11 =K exp(−α入t ・nI
L)となる。αA1は被測定気体に吸収されないので、
参照光λ1は、 α入l職0 としてよく。
τ1=に
となる。τ1は光路上での不要な光損失を表わすので、
τ1を監視することにより、窓ガラスのよごれの監視、
交換時期判定、光軸ずれの有無判定を行なう、また、測
定光の透過率τ2は、t2 =I3 /11 =に(I
A2 (0)/I工入 (の) exp((X 入2
・n−L)となる、さらに透過率で1.τ2の比τは、
t=t2 /11=CI入2 (0)/I工入 (0)
) axp((IA2 ・n−L’)となり、経時変化
する係数Kを消去できる。
τ1を監視することにより、窓ガラスのよごれの監視、
交換時期判定、光軸ずれの有無判定を行なう、また、測
定光の透過率τ2は、t2 =I3 /11 =に(I
A2 (0)/I工入 (の) exp((X 入2
・n−L)となる、さらに透過率で1.τ2の比τは、
t=t2 /11=CI入2 (0)/I工入 (0)
) axp((IA2 ・n−L’)となり、経時変化
する係数Kを消去できる。
本装置においては、同一光源から参照光λ1および測定
光λ2を得ているから、それぞれの光源強度工人1(0
)、IA2(0)の間には、一定の関係があり、工人1
(0)の値からIA2(0)の値を推定することができ
る。従って光源強度工人1(0)を測定するだけで参照
光と測定光の光強度の比CC=I入2 (0)/IA1
(0) を知ることができる。この比Cを用いると、t=c・e
xp(−1m入2 ・n−L)=−(1)となる0式(
1)の両辺の対数をとり、被測定気の体の体積モル濃度
nについて整理すると、n=−(Q n t/C)/(
a A2 ・L)−(2)となる、C1α入2およびL
は定数である。そこで式(2)と、気体の状態方程式 p = n RT (但し、pは被測定気体の分圧、Tは被測定気体の温度
、Rは気体定数)を組合せると、p =−(RT/(a
入2 ・L)) Q n t /C−(3)となり
、式(3)より、被測定気体の分圧を求めることができ
る。
光λ2を得ているから、それぞれの光源強度工人1(0
)、IA2(0)の間には、一定の関係があり、工人1
(0)の値からIA2(0)の値を推定することができ
る。従って光源強度工人1(0)を測定するだけで参照
光と測定光の光強度の比CC=I入2 (0)/IA1
(0) を知ることができる。この比Cを用いると、t=c・e
xp(−1m入2 ・n−L)=−(1)となる0式(
1)の両辺の対数をとり、被測定気の体の体積モル濃度
nについて整理すると、n=−(Q n t/C)/(
a A2 ・L)−(2)となる、C1α入2およびL
は定数である。そこで式(2)と、気体の状態方程式 p = n RT (但し、pは被測定気体の分圧、Tは被測定気体の温度
、Rは気体定数)を組合せると、p =−(RT/(a
入2 ・L)) Q n t /C−(3)となり
、式(3)より、被測定気体の分圧を求めることができ
る。
以上を要約すると。
τ鵞=I2/11e。
τ2 ” I 3 / I 1 e
τ=τ21τ1
から、 τ=Ia/I2・・・(4)が求ま
り、この(4)式と上記(2)式で気体濃度nが求まり
、nを上記(3)式に代入して気体の分圧pが求まる。
り、この(4)式と上記(2)式で気体濃度nが求まり
、nを上記(3)式に代入して気体の分圧pが求まる。
上記演算において、濃度nの算出およびpの算出には、
■1は不要であるが、これは、光源1゜放物面鏡3.ミ
ラー131〜13aおよびビームスプリッタ14の特性
、特に光源1の特性の変化を監視するために重要である
。11は光源の劣化や被測定気体を通らない光学系の汚
れをモニタするのに用いることができ、■2は光源1の
劣化や被測定気体を通る光学系の汚れをモニタするのに
用いることができる。
■1は不要であるが、これは、光源1゜放物面鏡3.ミ
ラー131〜13aおよびビームスプリッタ14の特性
、特に光源1の特性の変化を監視するために重要である
。11は光源の劣化や被測定気体を通らない光学系の汚
れをモニタするのに用いることができ、■2は光源1の
劣化や被測定気体を通る光学系の汚れをモニタするのに
用いることができる。
再度第1図を参照する。光検出器17の検出信号はピー
クホールド回路22および23に与えられ、光検出器2
0の検出信号はピークホールド回路24に与えられる。
クホールド回路22および23に与えられ、光検出器2
0の検出信号はピークホールド回路24に与えられる。
ピークホールド回路22〜24は、ピークホールド用の
入力ダイオードおよび積分コンデンサ、該コンデンサの
充電電圧を増幅する高入力インピーダンスの増幅器(F
ET)。
入力ダイオードおよび積分コンデンサ、該コンデンサの
充電電圧を増幅する高入力インピーダンスの増幅器(F
ET)。
該コンデンサを放電させる放電用のスイッチング素子お
よび入力電圧を入力用ダイオードを介して該コンデンサ
に印加する入力用のスイッチング素子を有するものであ
り、読込指示信号が到来するとその立上り点で放電用の
スイッチング素子がオンしてコンデンサを放電しくリセ
ット)、その後読込指示信号が消えるまで入力用のスイ
ッチング素子がオンして、入力電圧を入力ダイオードを
介してコンデンサに蓄積する(ピーク値読込)。読込指
示信号が無いときには、コンデンサの電圧はそれ以前の
電圧のままホールドされている。
よび入力電圧を入力用ダイオードを介して該コンデンサ
に印加する入力用のスイッチング素子を有するものであ
り、読込指示信号が到来するとその立上り点で放電用の
スイッチング素子がオンしてコンデンサを放電しくリセ
ット)、その後読込指示信号が消えるまで入力用のスイ
ッチング素子がオンして、入力電圧を入力ダイオードを
介してコンデンサに蓄積する(ピーク値読込)。読込指
示信号が無いときには、コンデンサの電圧はそれ以前の
電圧のままホールドされている。
ピークホールド回路23および24には、フォトセンサ
8の、開ロアh検出(H)信号が読込指示信号として印
加され、ピークホールド回路22には、フォトセンサ9
の、開ロアh検出(H)信号が読込指示信号として印加
される。モータ6の回転軸には、第2図に示すように開
ロアhを有する回転板7が固着されており、この回転板
7の開ロアhが、ロータ5の反射面が透光窓11に対向
するときにフォトセンサ8の位置にあり、ロータ5の反
射面が透光窓11に背向かいのときにフォトセンサ9の
位置にある。すなわち、ロータ5が透光窓11に光を反
射するとき、フォトセンサ8がH(開ロアh検出)の信
号を発生し、ピークホールド回路23.24をリセット
しかつホールド値更新を行なわせる。これにより、ピー
クホールド回路23には、被測定気体を通過した参照光
λ1の光強度■2を示す信号レベルがホールドされ、ピ
ークホールド回路24には、被測定気体を通過した測定
光λ2の光強度■3の信号レベルがホールドされる。ロ
ータ5がミラー131に光を反射するときには、フォト
センサ9がH(開ロアh検出)の信号を発生してピーク
ホールド回路22をリセットしかつホールド値更新を行
なわせる。これにより、ピークホールド回路22には。
8の、開ロアh検出(H)信号が読込指示信号として印
加され、ピークホールド回路22には、フォトセンサ9
の、開ロアh検出(H)信号が読込指示信号として印加
される。モータ6の回転軸には、第2図に示すように開
ロアhを有する回転板7が固着されており、この回転板
7の開ロアhが、ロータ5の反射面が透光窓11に対向
するときにフォトセンサ8の位置にあり、ロータ5の反
射面が透光窓11に背向かいのときにフォトセンサ9の
位置にある。すなわち、ロータ5が透光窓11に光を反
射するとき、フォトセンサ8がH(開ロアh検出)の信
号を発生し、ピークホールド回路23.24をリセット
しかつホールド値更新を行なわせる。これにより、ピー
クホールド回路23には、被測定気体を通過した参照光
λ1の光強度■2を示す信号レベルがホールドされ、ピ
ークホールド回路24には、被測定気体を通過した測定
光λ2の光強度■3の信号レベルがホールドされる。ロ
ータ5がミラー131に光を反射するときには、フォト
センサ9がH(開ロアh検出)の信号を発生してピーク
ホールド回路22をリセットしかつホールド値更新を行
なわせる。これにより、ピークホールド回路22には。
被測定気体を通過しない参照光λ1の光強度11を示す
信号レベルがホールドされる。
信号レベルがホールドされる。
このようにして、ピークホールド回路22には。
被測定気体を通らない参照光λ1の強度■1が。
ロータ5の一回転周期で更新ホールドされ、ピークホー
ルド回路23には、被測定気体を通った操窯光λ1の強
度■2がロータ5の一回転周期で更新ホールドされ、ピ
ークホールド回路24には。
ルド回路23には、被測定気体を通った操窯光λ1の強
度■2がロータ5の一回転周期で更新ホールドされ、ピ
ークホールド回路24には。
被測定気体を通った測定光λ2の強度工3がロータ5の
一回転周期で更新ホールドされる。
一回転周期で更新ホールドされる。
これらのホールド値11〜■3は、A/Dコンバータ2
5でデジタルデータに変換されて、制御器26に読込ま
れ、演算器27に転送される。制御器26は、フォトセ
ンサ8および9の開口検出パルスに同期して、所定のタ
イミングでA/Dコンバータ25に各位11〜I3のA
/D変換を指示し、変換データを読込む。
5でデジタルデータに変換されて、制御器26に読込ま
れ、演算器27に転送される。制御器26は、フォトセ
ンサ8および9の開口検出パルスに同期して、所定のタ
イミングでA/Dコンバータ25に各位11〜I3のA
/D変換を指示し、変換データを読込む。
演算器27は、11〜工3をそれぞれ、m個のデータを
記憶する平均値基礎データレジスタに、最も古いデータ
を捨てて、最新のデータを加える形で書込み、これらの
レジスタの内容の平均値を演算して、11の平均値と1
2の平均値を表示器28に与えてそれらを表示させると
共に、平均値データに基づいて、τ=i3 /I2を演
算して、これを上記(2)式に導入して気体濃度nを算
出し、次に、nと、温度センサ37が検出している容器
内の気体温度Tを上記(3)式に導入して気体の分圧p
を算出し、nとpを示すデータを表示器28に与えてそ
れらを表示させる。このような演算と表示データの更新
出力は、ロータ5の、1回転につき1回行なう。
記憶する平均値基礎データレジスタに、最も古いデータ
を捨てて、最新のデータを加える形で書込み、これらの
レジスタの内容の平均値を演算して、11の平均値と1
2の平均値を表示器28に与えてそれらを表示させると
共に、平均値データに基づいて、τ=i3 /I2を演
算して、これを上記(2)式に導入して気体濃度nを算
出し、次に、nと、温度センサ37が検出している容器
内の気体温度Tを上記(3)式に導入して気体の分圧p
を算出し、nとpを示すデータを表示器28に与えてそ
れらを表示させる。このような演算と表示データの更新
出力は、ロータ5の、1回転につき1回行なう。
以上に説明した光強度検出値の回路22〜24へのホー
ルドおよび濃度演算等のタイミングを第3図に示す。
ルドおよび濃度演算等のタイミングを第3図に示す。
なお、第4図に示すように、11を読取るタイミングと
同じタイミングで光検出l120の検出値Ia (=
I導入 (0))を読取って、演算器27において、I
1とI4で定数Cを算出し、この定数Cを上記(2)式
に導入するようにしてもよい。
同じタイミングで光検出l120の検出値Ia (=
I導入 (0))を読取って、演算器27において、I
1とI4で定数Cを算出し、この定数Cを上記(2)式
に導入するようにしてもよい。
また、演算器27において、I1とI2の差又は比を演
算し、それが所定範囲を外れると、被測定気体を通さな
い光学系と通す光学系の一方の特性が(汚れなどで)変
ったとしてそれを表示するようにしてもよい。
算し、それが所定範囲を外れると、被測定気体を通さな
い光学系と通す光学系の一方の特性が(汚れなどで)変
ったとしてそれを表示するようにしてもよい。
11およびI2の同時の同方向の変化は光源1の特性変
化であるので、これを表示するようにしてもよい。
化であるので、これを表示するようにしてもよい。
〔実施例2〕
第5rJRに本発明のもう1つの実施例を示す、この実
施例においては、ロータ5は、略傘歯車状の外形であり
、歯に相当するテーパ状の突出部材5aのテーパ面が反
射面となっている。
施例においては、ロータ5は、略傘歯車状の外形であり
、歯に相当するテーパ状の突出部材5aのテーパ面が反
射面となっている。
突出部材5a間は、放物面鏡3からの平行光束を上から
下に通過させるように関口5bとなっている。開口5b
が該平行光束を通過させるときにその一部を検出するよ
うにフォトセンサ8が配置されている。
下に通過させるように関口5bとなっている。開口5b
が該平行光束を通過させるときにその一部を検出するよ
うにフォトセンサ8が配置されている。
ロータ5が回転し突出部材5aが平行光束通路にあると
きには、平行光束が突出部材5aの反射テーパ面で反射
されて透光gttに入射する。このときフォトセンサ8
の検出信号はLである。J口5bが平行光束通路にある
ときには、平行光束がフォトセンサ8および第1ミラー
131に当り、フォトセンサ8の検出信号がHになると
共に、平行光束が第2ミラー132およびビームスプリ
ッタ14で反射されて光検出器17″′!!検出される
。
きには、平行光束が突出部材5aの反射テーパ面で反射
されて透光gttに入射する。このときフォトセンサ8
の検出信号はLである。J口5bが平行光束通路にある
ときには、平行光束がフォトセンサ8および第1ミラー
131に当り、フォトセンサ8の検出信号がHになると
共に、平行光束が第2ミラー132およびビームスプリ
ッタ14で反射されて光検出器17″′!!検出される
。
フォトセンサ8の検出信号(H)はサンプルホールド回
路22に読込指示信号として、該検出信号をインバータ
INVで反転した信号がピークホールド回路23および
24に読込指示信号として与えられ1回路22は、開口
5bが窓11に対向するときに光検出器17の検出信号
(I1)を更新ホールドし1回路23および24は、突
出部材5aが窓11に対向するときに光検出器17およ
び20の検出信号(I2およびIs)を更新ホールドす
る。その他の信号処理および演算等は、前述の実施例1
と同様である。
路22に読込指示信号として、該検出信号をインバータ
INVで反転した信号がピークホールド回路23および
24に読込指示信号として与えられ1回路22は、開口
5bが窓11に対向するときに光検出器17の検出信号
(I1)を更新ホールドし1回路23および24は、突
出部材5aが窓11に対向するときに光検出器17およ
び20の検出信号(I2およびIs)を更新ホールドす
る。その他の信号処理および演算等は、前述の実施例1
と同様である。
第1図および第5図に示すように、ロータ5の反射面が
、平行光束を窓11と第1ミラー131(ここに11検
出用の光検出器を配置してもよい)に振り分けるので、
ビームスプリッタは1個で済む、すなわち従来はチョッ
パの回転板と窓11との間に介挿されたもう1個のビー
ムスプリッタを省略し得る。該ビームスプリッタは被測
定気体に入射する光の強度を減するので、この省略は窓
11に入射する光の強度を高くすることになり、これは
、光源の発光強度を下げ得ること、すなわち低パワーの
光源を用い得ること、を意味する。
、平行光束を窓11と第1ミラー131(ここに11検
出用の光検出器を配置してもよい)に振り分けるので、
ビームスプリッタは1個で済む、すなわち従来はチョッ
パの回転板と窓11との間に介挿されたもう1個のビー
ムスプリッタを省略し得る。該ビームスプリッタは被測
定気体に入射する光の強度を減するので、この省略は窓
11に入射する光の強度を高くすることになり、これは
、光源の発光強度を下げ得ること、すなわち低パワーの
光源を用い得ること、を意味する。
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
2図は第1図に示すロータ5の平面図、第3図は第1図
に示す回路要素の信号ホールドタイミングおよび演算タ
イミングを示すタイムチャートである。第4図は第1図
に示した本発明の実施例の変形部を示すブロック図であ
る。 第5図は本発明のもう1つの実施例の構成を示すブロッ
ク図、第6図は第5図に示すロータ5の平面図、第7図
は第5図に示す回路要素の信号ホールドタイミングおよ
び演算タイミングを示すタイムチャートである。 1:光源 2:楕円面鏡 3:放物面鏡 4:円筒 5:ロータ 5A:反射面の傾斜方向5a:
突出部材 5b:開口 6:モータ 7:回転板 7h:開口 8,9:フオトセンサ10:
容器 11:透光窓12:透光窓
131〜133:ミラー134.135 :反射面
14:ビームスプリッタ15.18:収束レンズ
16,19:フィルタ17.20:光検出器(光強度検
出手段)22〜24:ピークホールド回路 25 : A/Dコンバータ 26 : A/D変換
制御器27:演算器 25〜27:(信号処理手
段)28:表示器 37:温度センサINV
:インバータ 第4図
2図は第1図に示すロータ5の平面図、第3図は第1図
に示す回路要素の信号ホールドタイミングおよび演算タ
イミングを示すタイムチャートである。第4図は第1図
に示した本発明の実施例の変形部を示すブロック図であ
る。 第5図は本発明のもう1つの実施例の構成を示すブロッ
ク図、第6図は第5図に示すロータ5の平面図、第7図
は第5図に示す回路要素の信号ホールドタイミングおよ
び演算タイミングを示すタイムチャートである。 1:光源 2:楕円面鏡 3:放物面鏡 4:円筒 5:ロータ 5A:反射面の傾斜方向5a:
突出部材 5b:開口 6:モータ 7:回転板 7h:開口 8,9:フオトセンサ10:
容器 11:透光窓12:透光窓
131〜133:ミラー134.135 :反射面
14:ビームスプリッタ15.18:収束レンズ
16,19:フィルタ17.20:光検出器(光強度検
出手段)22〜24:ピークホールド回路 25 : A/Dコンバータ 26 : A/D変換
制御器27:演算器 25〜27:(信号処理手
段)28:表示器 37:温度センサINV
:インバータ 第4図
Claims (3)
- (1)光源、該光源から被測定気体に向けての光をチョ
ッピングするチョッパ、チョッピングした光の内の、被
測定気体を通さない光と被測定気体を通った光の強度を
検出する光強度検出手段、および、光強度検出手段の検
出値から被測定気体の濃度を求める信号処理手段、を備
える気体濃度検出装置において、 チョッパを、所定回転角でのみ前記光源からの光を被測
定気体に反射する反射面を有するロータとこのロータを
回転駆動する電気モータでなるものとしたことを特徴と
する、気体濃度検出装置。 - (2)ロータの反射面は、前記所定角度で光を被測定気
体に反射し、他の所定角度で光を他の方向に反射する単
面である前記特許請求の範囲第(1)項記載の気体濃度
検出装置。 - (3)ロータは、光源からの光を被測定気体に反射する
反射面を有するテーパを有し回転軸に平行な方向の光の
透過は遮断する反射部材と、回転軸に平行な方向の光を
透過する開口を、回転軸を中心とする同一円周上に有す
る、前記特許請求の範囲第(1)項記載の気体濃度検出
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62098127A JPS63263447A (ja) | 1987-04-21 | 1987-04-21 | 気体濃度検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62098127A JPS63263447A (ja) | 1987-04-21 | 1987-04-21 | 気体濃度検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63263447A true JPS63263447A (ja) | 1988-10-31 |
Family
ID=14211607
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62098127A Pending JPS63263447A (ja) | 1987-04-21 | 1987-04-21 | 気体濃度検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63263447A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0283454U (ja) * | 1988-12-15 | 1990-06-28 | ||
| JPH0283453U (ja) * | 1988-12-15 | 1990-06-28 | ||
| US5485276A (en) * | 1994-09-22 | 1996-01-16 | Spectral Sciences Inc. | Multi-pass optical cell species concentration measurement system |
| US6493086B1 (en) | 1995-10-10 | 2002-12-10 | American Air Liquide, Inc. | Chamber effluent monitoring system and semiconductor processing system comprising absorption spectroscopy measurement system, and methods of use |
| JP2010528274A (ja) * | 2007-05-24 | 2010-08-19 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | ガス分析方法およびガス分析装置 |
-
1987
- 1987-04-21 JP JP62098127A patent/JPS63263447A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0283454U (ja) * | 1988-12-15 | 1990-06-28 | ||
| JPH0283453U (ja) * | 1988-12-15 | 1990-06-28 | ||
| US5485276A (en) * | 1994-09-22 | 1996-01-16 | Spectral Sciences Inc. | Multi-pass optical cell species concentration measurement system |
| US6493086B1 (en) | 1995-10-10 | 2002-12-10 | American Air Liquide, Inc. | Chamber effluent monitoring system and semiconductor processing system comprising absorption spectroscopy measurement system, and methods of use |
| JP2010528274A (ja) * | 2007-05-24 | 2010-08-19 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | ガス分析方法およびガス分析装置 |
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