JPS6328655B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6328655B2 JPS6328655B2 JP54013226A JP1322679A JPS6328655B2 JP S6328655 B2 JPS6328655 B2 JP S6328655B2 JP 54013226 A JP54013226 A JP 54013226A JP 1322679 A JP1322679 A JP 1322679A JP S6328655 B2 JPS6328655 B2 JP S6328655B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- filter
- adsorbent
- gas
- iodine
- concentration
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
- Separation Of Gases By Adsorption (AREA)
Description
本発明は、吸着材充填フイルタのリーク検出方
法、特に、原子力発電所で使用される高性能ヨウ
素除去フイルタのリーク検出方法に関する。 原子力発電所などの原子力プラントにおいては
環境保全の立場から、放射性ガス、特に、放射性
ヨウ素の放出防止が重要視されている。しかし
て、従来、原子力発電所には、核燃料が溶解する
ような事故時の放射性ヨウ素の放出を防止する目
的で、除去効率99％以上の高性能ヨウ素除去フイ
ルタ装置が設置されている。また、最近において
は、通常時における環境への放射性ヨウ素の放出
量を可能な限り低減させる目的で、これら放射性
ヨウ素ガスの放出源ならびに建屋換気系などに
も、ヨウ素除去フイルタ装置が設けられるように
なつた。このヨウ素除去フイルタ装置のフイルタ
性能を維持するためには、高性能ヨウ素吸着材を
用いることはいうまでもないが、高性能ヨウ素吸
着材を用いた場合であつても、当該吸着材が装置
化された場合は、吸着材充填層に空隙ないし薄層
部が形成されたり、フイルタ枠やガスケツトなど
にバイパスリーク路が形成されることがあり、こ
のような場合、フイルタ装置全体の性能は低下す
る。したがつて、ヨウ素除去フイルタは、その設
置時、さらには設置後、定期的にリークを検出す
る必要がある。 従来、リークを検出する方法としては、吸着材
を充填したフイルタに通気ガスを供給し、このガ
ス中にフレオンなどの不純物を連続的に導入し、
フイルタ前面のガス入口濃度が安定した後、出口
ガス中の不純物濃度を測定してそのリーク量を求
めていた。しかし、この従来方法によると、不純
物を連続的に供給するためには、試験中の不純物
濃度を一定にする必要があり、さらにはガス入口
部と出口部の濃度を別々に測定する必要があるな
ど、操作が複雑である。また、不純物を長時間連
続して供給する必要があるため、当該不純物が吸
着材に化学吸着されてしまい、吸着材の性能が低
下するのみならず、測定終了後、フイルタ内に不
純物が残在し、この不純物が次回の測定時に流出
されるため、その測定結果に誤差を生じるという
問題がある。 本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を除
去し、操作が容易で、しかも測定精度の高いヨウ
素除去フイルタのリーク検出方法を提供しようと
するものである。 本発明は、ヨウ素除去フイルタのリーク検出方
法において、上記フイルタに通気ガスを供給する
とともに、ヨウ素除去フイルタに物理吸着される
吸着性ガスをパルス状に導入し、これと同時にフ
イルタ出口部における吸着性ガスの濃度を連続的
に測定し、その結果得られた濃度測定曲線の第１
ピーク面積を、当該第１ピーク面積と吸着材に一
定時間ホールドアツプされた後得られる第２ピー
ク面積との和で除し、その値によつてリーク率を
表示することを特徴とするものである。 以下、本発明を、図面にもとずいて説明する。
なお、実施例においては、フイルタに充填する吸
着材に活性炭を用い、吸着性ガスには、キセノン
を用いた。 第１図はフイルタ出口部におけるキセノン濃度
の経時的変化を示した線図である。同図ａに示す
ように、フイルタ入口からキセノンを導入する
と、フイルタ出口部では、同図ｂあるいはｃに示
すようなキセノンの流出パターンが測定される。
第１図ｂは、フイルタにリークがない場合を示
し、キセノンは、吸着材である活性炭に一定時間
ホールドアツプされた後放出される。第１図ｃ
は、フイルタにリークがある場合を示し、フイル
タにリークがある場合は、同図に示すように、キ
セノン導入後ただちにみられる第１のピークＡ
と、吸着材に一定時間ホールドアツプされていた
キセノンが放出されて得られる第２のピークＢと
がある。第１のピークＡは、フイルタのリークに
よるものであつて、上記キセノンのリーク率は、
次式により算出することができる。 リーク率（％） ＝第１のピーク面積／第１のピーク面積＋第２のピ
ーク面積× 100 第２図は本発明方法によつて得られたフイルタ
のリーク率をヨウ素の透過率と対比して示す線図
であつて、ヨウ素の透過率と本発明方法により測
定されたリーク率とにかなりよい一致がみられ
た。 本発明方法を実施して得られる効果は下記のと
おりである。 (1) フイルタ出口部における吸着性ガスの濃度を
測定するだけでリーク率が算出されるため、従
来法に較べて操作が容易である。 (2) 吸着性ガスの導入時間が短かいため、吸着材
の性能劣化が少ない。 (3) リークした吸着性ガスの一部が吸着材に吸着
された場合でも、第２のピークは小さくなるた
め、測定されるリーク率は大きめの値となり、
安全な測定評価が得られる。 (4) 吸着性ガスを連続的に供給する必要がないた
め、測定終了後のフイルタ内は不純物が残存す
ることなく清浄であり、次回測定に誤差を生じ
るものではない。 なお、本発明で使用する吸着材と吸着性ガスと
の組合せは、たとえば次の表のとおりであるが、
この表に示されている吸着材と吸着性ガスとの組
合せは、あくまでも例示にすぎない。
法、特に、原子力発電所で使用される高性能ヨウ
素除去フイルタのリーク検出方法に関する。 原子力発電所などの原子力プラントにおいては
環境保全の立場から、放射性ガス、特に、放射性
ヨウ素の放出防止が重要視されている。しかし
て、従来、原子力発電所には、核燃料が溶解する
ような事故時の放射性ヨウ素の放出を防止する目
的で、除去効率99％以上の高性能ヨウ素除去フイ
ルタ装置が設置されている。また、最近において
は、通常時における環境への放射性ヨウ素の放出
量を可能な限り低減させる目的で、これら放射性
ヨウ素ガスの放出源ならびに建屋換気系などに
も、ヨウ素除去フイルタ装置が設けられるように
なつた。このヨウ素除去フイルタ装置のフイルタ
性能を維持するためには、高性能ヨウ素吸着材を
用いることはいうまでもないが、高性能ヨウ素吸
着材を用いた場合であつても、当該吸着材が装置
化された場合は、吸着材充填層に空隙ないし薄層
部が形成されたり、フイルタ枠やガスケツトなど
にバイパスリーク路が形成されることがあり、こ
のような場合、フイルタ装置全体の性能は低下す
る。したがつて、ヨウ素除去フイルタは、その設
置時、さらには設置後、定期的にリークを検出す
る必要がある。 従来、リークを検出する方法としては、吸着材
を充填したフイルタに通気ガスを供給し、このガ
ス中にフレオンなどの不純物を連続的に導入し、
フイルタ前面のガス入口濃度が安定した後、出口
ガス中の不純物濃度を測定してそのリーク量を求
めていた。しかし、この従来方法によると、不純
物を連続的に供給するためには、試験中の不純物
濃度を一定にする必要があり、さらにはガス入口
部と出口部の濃度を別々に測定する必要があるな
ど、操作が複雑である。また、不純物を長時間連
続して供給する必要があるため、当該不純物が吸
着材に化学吸着されてしまい、吸着材の性能が低
下するのみならず、測定終了後、フイルタ内に不
純物が残在し、この不純物が次回の測定時に流出
されるため、その測定結果に誤差を生じるという
問題がある。 本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を除
去し、操作が容易で、しかも測定精度の高いヨウ
素除去フイルタのリーク検出方法を提供しようと
するものである。 本発明は、ヨウ素除去フイルタのリーク検出方
法において、上記フイルタに通気ガスを供給する
とともに、ヨウ素除去フイルタに物理吸着される
吸着性ガスをパルス状に導入し、これと同時にフ
イルタ出口部における吸着性ガスの濃度を連続的
に測定し、その結果得られた濃度測定曲線の第１
ピーク面積を、当該第１ピーク面積と吸着材に一
定時間ホールドアツプされた後得られる第２ピー
ク面積との和で除し、その値によつてリーク率を
表示することを特徴とするものである。 以下、本発明を、図面にもとずいて説明する。
なお、実施例においては、フイルタに充填する吸
着材に活性炭を用い、吸着性ガスには、キセノン
を用いた。 第１図はフイルタ出口部におけるキセノン濃度
の経時的変化を示した線図である。同図ａに示す
ように、フイルタ入口からキセノンを導入する
と、フイルタ出口部では、同図ｂあるいはｃに示
すようなキセノンの流出パターンが測定される。
第１図ｂは、フイルタにリークがない場合を示
し、キセノンは、吸着材である活性炭に一定時間
ホールドアツプされた後放出される。第１図ｃ
は、フイルタにリークがある場合を示し、フイル
タにリークがある場合は、同図に示すように、キ
セノン導入後ただちにみられる第１のピークＡ
と、吸着材に一定時間ホールドアツプされていた
キセノンが放出されて得られる第２のピークＢと
がある。第１のピークＡは、フイルタのリークに
よるものであつて、上記キセノンのリーク率は、
次式により算出することができる。 リーク率（％） ＝第１のピーク面積／第１のピーク面積＋第２のピ
ーク面積× 100 第２図は本発明方法によつて得られたフイルタ
のリーク率をヨウ素の透過率と対比して示す線図
であつて、ヨウ素の透過率と本発明方法により測
定されたリーク率とにかなりよい一致がみられ
た。 本発明方法を実施して得られる効果は下記のと
おりである。 (1) フイルタ出口部における吸着性ガスの濃度を
測定するだけでリーク率が算出されるため、従
来法に較べて操作が容易である。 (2) 吸着性ガスの導入時間が短かいため、吸着材
の性能劣化が少ない。 (3) リークした吸着性ガスの一部が吸着材に吸着
された場合でも、第２のピークは小さくなるた
め、測定されるリーク率は大きめの値となり、
安全な測定評価が得られる。 (4) 吸着性ガスを連続的に供給する必要がないた
め、測定終了後のフイルタ内は不純物が残存す
ることなく清浄であり、次回測定に誤差を生じ
るものではない。 なお、本発明で使用する吸着材と吸着性ガスと
の組合せは、たとえば次の表のとおりであるが、
この表に示されている吸着材と吸着性ガスとの組
合せは、あくまでも例示にすぎない。
【表】
また、本発明によつて得られる効果をより一層
高めるためには、吸着性ガスとして、吸着材に物
理吸着されるガスを使用するとよい。その理由
は、吸着性ガスとして吸着材に化学吸着されるガ
スを用いると、吸着材に性能劣化をもたらすこと
になり、吸着性ガスの濃度を高めることができな
くなるためである。 以上、詳述したように、本発明によれば、操作
が容易で、しかも測定精度の高いヨウ素除去フイ
ルタのリーク検出方法を提供することができるも
のであつて、その効果は大きく、本発明方法を実
施して得られる工業的利益は非常に顕著なものが
ある。
高めるためには、吸着性ガスとして、吸着材に物
理吸着されるガスを使用するとよい。その理由
は、吸着性ガスとして吸着材に化学吸着されるガ
スを用いると、吸着材に性能劣化をもたらすこと
になり、吸着性ガスの濃度を高めることができな
くなるためである。 以上、詳述したように、本発明によれば、操作
が容易で、しかも測定精度の高いヨウ素除去フイ
ルタのリーク検出方法を提供することができるも
のであつて、その効果は大きく、本発明方法を実
施して得られる工業的利益は非常に顕著なものが
ある。
第１図は本発明を実施して測定されたフイルタ
出入口部のキセノン濃度値を示し、同図ａはフイ
ルタ入口部のキセノン濃度値を経時的に示す線
図、同図ｂはリークがない場合のフイルタ出口部
のキセノン濃度値を経時的に示す線図、同図ｃは
リークがある場合のフイルタ出口部のキセノン濃
度値を経時的に示す線図、第２図は本発明方法に
よつて得られたフイルタのリーク率をヨウ素の透
過率と対比して示す線図である。 Ａ……キセノンがフイルタからリークして得ら
れた第１のピーク、Ｂ……吸着材に一定時間ホー
ルドアツプされていたキセノンが放出されて得ら
れた第２のピーク。
出入口部のキセノン濃度値を示し、同図ａはフイ
ルタ入口部のキセノン濃度値を経時的に示す線
図、同図ｂはリークがない場合のフイルタ出口部
のキセノン濃度値を経時的に示す線図、同図ｃは
リークがある場合のフイルタ出口部のキセノン濃
度値を経時的に示す線図、第２図は本発明方法に
よつて得られたフイルタのリーク率をヨウ素の透
過率と対比して示す線図である。 Ａ……キセノンがフイルタからリークして得ら
れた第１のピーク、Ｂ……吸着材に一定時間ホー
ルドアツプされていたキセノンが放出されて得ら
れた第２のピーク。
Claims (1)
- １ ヨウ素除去フイルタのリーク検出方法におい
て、上記フイルタに通気ガスを供給するとともに
ヨウ素除去フイルタに物理吸着される吸着性ガス
をパルス状に導入し、これと同時にフイルタ出口
部における吸着性ガスの濃度を連続的に測定し、
その結果得られた濃度測定曲線の第１ピーク面積
を、当該第１ピーク面積と吸着材に一定時間ホー
ルドアツプされた後得られる第２ピーク面積との
和で除し、その値によつてリーク率を表示するこ
とを特徴とするヨウ素除去フイルタのリーク検出
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1322679A JPS55106516A (en) | 1979-02-09 | 1979-02-09 | Leak detection of adsorbent-packed filter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1322679A JPS55106516A (en) | 1979-02-09 | 1979-02-09 | Leak detection of adsorbent-packed filter |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55106516A JPS55106516A (en) | 1980-08-15 |
| JPS6328655B2 true JPS6328655B2 (ja) | 1988-06-09 |
Family
ID=11827258
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1322679A Granted JPS55106516A (en) | 1979-02-09 | 1979-02-09 | Leak detection of adsorbent-packed filter |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55106516A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0319860U (ja) * | 1989-07-10 | 1991-02-27 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5641912B2 (ja) * | 2010-12-14 | 2014-12-17 | 株式会社日本環境調査研究所 | 除去効率測定システム |
| CN112403183B (zh) * | 2020-01-07 | 2022-05-03 | 中冶长天国际工程有限责任公司 | 一种检测解析塔生产安全性的方法和系统 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5249175Y2 (ja) * | 1972-07-19 | 1977-11-09 | ||
| US3765225A (en) * | 1972-10-30 | 1973-10-16 | American Air Filter Co | Carbon filter leak detector |
-
1979
- 1979-02-09 JP JP1322679A patent/JPS55106516A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0319860U (ja) * | 1989-07-10 | 1991-02-27 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55106516A (en) | 1980-08-15 |
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