JPS63292033A - 光ファイバの片端測定方法 - Google Patents
光ファイバの片端測定方法Info
- Publication number
- JPS63292033A JPS63292033A JP12737287A JP12737287A JPS63292033A JP S63292033 A JPS63292033 A JP S63292033A JP 12737287 A JP12737287 A JP 12737287A JP 12737287 A JP12737287 A JP 12737287A JP S63292033 A JPS63292033 A JP S63292033A
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- JP
- Japan
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- optical fiber
- light pulse
- reflected
- optical
- light
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光ファイバの片端測定方法に関する。
従来の光ファイバの片端測定方法は第３図に示すように
光ファイバ１と測定装置２とを入射端３にて供給し、前
記測定装置２内に光源４、受光器５、方向性結合器６＾
を配置した構成において、光源４から光パルスを出射し
、方向性結合器６＾を通り入射端３を通り光ファイバｌ
に入射する。光ファイバ１に入射した光パルスは遠端７
または長手方向に分布する複数の地点に設けられた反射
手段８または破断点９によって反射され、反射された光
パルスは入射＠３にもどり方向性結合器６＾を通り受光
器５に到達する。その受光器５に到達した光パルスの状
態を調べることにより、光ファイバの遠端７、反射手段
８あるいは破断点９までの距離及び伝送特性を知ること
ができる。入射端３から破断点９までの距離をｌ、光パ
ルスの速度をＶ、光源４から出射された出射光パルスが
前記破断点９にて反射されて受光器５にもどってくるま
での時間をｔとし、光源４、及び受光器５から入射端３
までの距離は無視できるものとするとｌ ＝ ｖ’ ｔ
／２なる関係式によってｉは計算できる。第４図（ａ）
は光源４から出射された光パルスの時間と強度の関係を
示す図、同図（ｂｌは破断点９及び入射端３によって反
射されて受光器５に到達した反射光パルスの時間と強度
の関係を示す図であり、Ａが入射端３にて反射された反
射光パルス、Ｂが破断点９にて反射された反射光パルス
を示している。同図（Ｃ）は前記の反射光パルスが受光
器５内の受光素 。
光ファイバ１と測定装置２とを入射端３にて供給し、前
記測定装置２内に光源４、受光器５、方向性結合器６＾
を配置した構成において、光源４から光パルスを出射し
、方向性結合器６＾を通り入射端３を通り光ファイバｌ
に入射する。光ファイバ１に入射した光パルスは遠端７
または長手方向に分布する複数の地点に設けられた反射
手段８または破断点９によって反射され、反射された光
パルスは入射＠３にもどり方向性結合器６＾を通り受光
器５に到達する。その受光器５に到達した光パルスの状
態を調べることにより、光ファイバの遠端７、反射手段
８あるいは破断点９までの距離及び伝送特性を知ること
ができる。入射端３から破断点９までの距離をｌ、光パ
ルスの速度をＶ、光源４から出射された出射光パルスが
前記破断点９にて反射されて受光器５にもどってくるま
での時間をｔとし、光源４、及び受光器５から入射端３
までの距離は無視できるものとするとｌ ＝ ｖ’ ｔ
／２なる関係式によってｉは計算できる。第４図（ａ）
は光源４から出射された光パルスの時間と強度の関係を
示す図、同図（ｂｌは破断点９及び入射端３によって反
射されて受光器５に到達した反射光パルスの時間と強度
の関係を示す図であり、Ａが入射端３にて反射された反
射光パルス、Ｂが破断点９にて反射された反射光パルス
を示している。同図（Ｃ）は前記の反射光パルスが受光
器５内の受光素 。
子によって検出された反射光パルスの電気レベルを示す
図である。また測定装置２内の光源４から出射される出
射光パルスの特定波長のみを、反射する反射手段８を有
する地点から反射されて受光器５に到達する光パルスの
状態を調べることにより測定装置から該地点までの伝送
損失特性を調べることもできる。
図である。また測定装置２内の光源４から出射される出
射光パルスの特定波長のみを、反射する反射手段８を有
する地点から反射されて受光器５に到達する光パルスの
状態を調べることにより測定装置から該地点までの伝送
損失特性を調べることもできる。
しかしながら上記の方向性結合器を用いて反射パルスを
測定する方法においては、方向性結合器自身のもつ損失
（例えば１：ｌカブラの場合３ｄ［ｌの損失増）のため
被測定光ファイバに入射される光パルスの強度が弱まる
ため、測定できる光ファイバの長さが制限されるという
問題がある。また入射端３に近い光フアイバ内の破断点
９に関しては、第５図（ｂ）に示すように入射端３から
の反射光パルスＡと破断点９からの反射光パルスＢとが
接近し、かつ入射端からの反射光パルスＡは一般に破断
点からの反射光パルスＢにくらべて大きいため（接続損
失を低減させるため入射端における光ファイバは鏡面研
磨されているため）、受光器５内の受光素子の感度に応
じて第５図（Ｃ）のような電気レベルを示し、破断点を
判定できないといった問題がある。
測定する方法においては、方向性結合器自身のもつ損失
（例えば１：ｌカブラの場合３ｄ［ｌの損失増）のため
被測定光ファイバに入射される光パルスの強度が弱まる
ため、測定できる光ファイバの長さが制限されるという
問題がある。また入射端３に近い光フアイバ内の破断点
９に関しては、第５図（ｂ）に示すように入射端３から
の反射光パルスＡと破断点９からの反射光パルスＢとが
接近し、かつ入射端からの反射光パルスＡは一般に破断
点からの反射光パルスＢにくらべて大きいため（接続損
失を低減させるため入射端における光ファイバは鏡面研
磨されているため）、受光器５内の受光素子の感度に応
じて第５図（Ｃ）のような電気レベルを示し、破断点を
判定できないといった問題がある。
〔問題点を解決するための手段］
本発明は上記の問題点を解決するために鋭意器、究の結
果なされたもので、光ファイバの遠端もしくは長手方向
に分布する複数の地点に反射手段を設け、前記光ファイ
バの入射端側に設けられた測定装置内の光源から光パル
スを出射し、前記反射手段にて反射きせた反射光パルス
を前記測定装置内の受光器にて測定する光ファイバの片
端測定方法において、光スイッチを用いて、出射光パル
ス通過時には光源と被測定光ファイバを接続し、反射光
パルス通過時には受光器と光ファイバとを接続すること
を特徴とするものである。
果なされたもので、光ファイバの遠端もしくは長手方向
に分布する複数の地点に反射手段を設け、前記光ファイ
バの入射端側に設けられた測定装置内の光源から光パル
スを出射し、前記反射手段にて反射きせた反射光パルス
を前記測定装置内の受光器にて測定する光ファイバの片
端測定方法において、光スイッチを用いて、出射光パル
ス通過時には光源と被測定光ファイバを接続し、反射光
パルス通過時には受光器と光ファイバとを接続すること
を特徴とするものである。
以下本発明の光ファイバの片端測定方法を第１図ないし
第２図にもとづいて詳細に説明する。光ファイバ１と測
定装置２とを入射端３にて結合し、前記測定装置２内に
光源４、受光器５、光スイッチ６を配置した構成におい
て、光源４から光パルスを出射しスイッチ状態■の光ス
イッチを通って入射端３から光ファイバ１に光パルスを
入射する。
第２図にもとづいて詳細に説明する。光ファイバ１と測
定装置２とを入射端３にて結合し、前記測定装置２内に
光源４、受光器５、光スイッチ６を配置した構成におい
て、光源４から光パルスを出射しスイッチ状態■の光ス
イッチを通って入射端３から光ファイバ１に光パルスを
入射する。
光フアイバｌ内に入射された光パルスは遠端７または長
手方向に分布する複数の地点に設けられた反射手段８（
例えば反射フィルタ）または破断点９によって反射され
、反射された光パルスは入射端３にもどりスイッチ状態
■の光スイッチを通って、受光器５に到達する。その受
光器５に到達した光パルスの状態を調べることにより光
ファイバの破断点９までの距離あるいは伝送特性を知る
ことができる。また測定装置２から出射される光パルス
の特定波長のみを反射する反射手段８例えば反射フィル
タを有する地点から反射された受光器５に到達する反射
光パルスの状態を調べることにより測定装置２から該地
点までの伝送特性を調べることもできる。ここで、通常
通信に使用されている波長以外の光を使うことにより、
通信を中断することなく光ファイバの特性を調査できる
。なお光源から出射される光パルスの周期Ｔは遠端７ま
での距離し、光パルスの速度をＶとすると次式によって
決定される： Ｔ＝２１．／ｖ。
手方向に分布する複数の地点に設けられた反射手段８（
例えば反射フィルタ）または破断点９によって反射され
、反射された光パルスは入射端３にもどりスイッチ状態
■の光スイッチを通って、受光器５に到達する。その受
光器５に到達した光パルスの状態を調べることにより光
ファイバの破断点９までの距離あるいは伝送特性を知る
ことができる。また測定装置２から出射される光パルス
の特定波長のみを反射する反射手段８例えば反射フィル
タを有する地点から反射された受光器５に到達する反射
光パルスの状態を調べることにより測定装置２から該地
点までの伝送特性を調べることもできる。ここで、通常
通信に使用されている波長以外の光を使うことにより、
通信を中断することなく光ファイバの特性を調査できる
。なお光源から出射される光パルスの周期Ｔは遠端７ま
での距離し、光パルスの速度をＶとすると次式によって
決定される： Ｔ＝２１．／ｖ。
本発明の光ファイバの片端測定方法においては従来の方
向性結合器のかわりに光スイッチを用いているため、第
２図（Ｃ）に示すように入射端３からの反射光パルスＡ
をカットすることができるため入射端３からより近い破
断点９までの距離を測定できる。但し光スイッチの■の
状態の時間幅をＳとすると光源から光パルスが出射され
てからＳ／２の後に光スイッチ■に切り替るため、わず
かではあるがＳ／２の時間内に光パルスが往復する範囲
の距離内における破断点の測定は不可能である。また光
スイッチにおける損失が少ないため光ファイバの測定で
きる距離を長くすることができる。光スイッチの１の状
態の時間幅Ｓは光パルスが反射されて受光器にもどって
くるまでに光パルスのすそ野が広がることを考慮して光
パルス幅Ｗよりやや大きめに決定するのがふつうである
。
向性結合器のかわりに光スイッチを用いているため、第
２図（Ｃ）に示すように入射端３からの反射光パルスＡ
をカットすることができるため入射端３からより近い破
断点９までの距離を測定できる。但し光スイッチの■の
状態の時間幅をＳとすると光源から光パルスが出射され
てからＳ／２の後に光スイッチ■に切り替るため、わず
かではあるがＳ／２の時間内に光パルスが往復する範囲
の距離内における破断点の測定は不可能である。また光
スイッチにおける損失が少ないため光ファイバの測定で
きる距離を長くすることができる。光スイッチの１の状
態の時間幅Ｓは光パルスが反射されて受光器にもどって
くるまでに光パルスのすそ野が広がることを考慮して光
パルス幅Ｗよりやや大きめに決定するのがふつうである
。
以上説明したように本発明の光ファイバの片端測定方法
は方向性結合器のかわりに光スイッチを用いたため光フ
ァイバの測定できる距離を長くすることができるととも
に入射端からより近い破断点までの距離を測定できる等
工業上顕著な効果を奏するものである。
は方向性結合器のかわりに光スイッチを用いたため光フ
ァイバの測定できる距離を長くすることができるととも
に入射端からより近い破断点までの距離を測定できる等
工業上顕著な効果を奏するものである。
第１図は本発明の光ファイバの片端測定力−法を示すブ
ロック図、第２図は本発明の光ファイバの片端測定方法
における出射光パルスと光スイッチと反射光パルスと受
光素子の電気レベルを示すタイミングチャート、第３図
は従来の光ファイバの片端測定方法を示すブロック図、
第４図及び第５図は従来の光ファイバの片端測定方法に
おける出射光パルスと反射光パルスと受光素子の電気レ
ベルを示すタイミングチャートである。 １〜光フアイバ、 ２〜測定装置、 ３〜入射端、 ４
〜光源、 ５〜受光器、 ６〜光スイツチ、 ７〜遠端
、 ８〜反射手段、 ９〜破断点。
ロック図、第２図は本発明の光ファイバの片端測定方法
における出射光パルスと光スイッチと反射光パルスと受
光素子の電気レベルを示すタイミングチャート、第３図
は従来の光ファイバの片端測定方法を示すブロック図、
第４図及び第５図は従来の光ファイバの片端測定方法に
おける出射光パルスと反射光パルスと受光素子の電気レ
ベルを示すタイミングチャートである。 １〜光フアイバ、 ２〜測定装置、 ３〜入射端、 ４
〜光源、 ５〜受光器、 ６〜光スイツチ、 ７〜遠端
、 ８〜反射手段、 ９〜破断点。
Claims (1)
- 光ファイバの遠端または長手方向に分布する複数の地点
に反射手段を設け、前記光ファイバの入射端側に設けら
れた測定装置内の光源から光パルスを出射し、前記反射
手段にて反射させた反射光パルスを前記測定装置内の受
光器にて測定する光ファイバの片端測定方法において、
光スイッチを用いて、出射光パルス通過時には光源と被
測定光ファイバを接続し、反射光パルス通過時には受光
器と光ファイバとを接続することを特徴とする光ファイ
バの片端測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12737287A JPS63292033A (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | 光ファイバの片端測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12737287A JPS63292033A (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | 光ファイバの片端測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63292033A true JPS63292033A (ja) | 1988-11-29 |
Family
ID=14958347
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12737287A Pending JPS63292033A (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | 光ファイバの片端測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63292033A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0432053U (ja) * | 1990-07-10 | 1992-03-16 |
-
1987
- 1987-05-25 JP JP12737287A patent/JPS63292033A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0432053U (ja) * | 1990-07-10 | 1992-03-16 |
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