JPH0432053U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案の一実施例の構成を示すブロ
ツク図、第２図は、一実施例の要部である光スイ
ツチの構造を模式的に示す図、第３図は、第２図
の構造の光スイツチの印加電圧に対する光路の切
換え動作を示す図である。第４図は、一実施例の
動作を説明するためのタイミング図、第５図は、
第４図の動作状態における表示図面を示す図、第
６図は、一実施例の動作を説明するためのタイミ
ング図、第７図は、第６図の動作状態における表
示図面を示す図である。第８図は、従来装置の概
略構成を示すブロツク図、第９図は、従来装置の
動作状態における表示画面を示す図、第１０図は
光スイツチの印加電圧に対する光通過特性のドリ
フト変化を説明するための図である。 １０……光パルス試験器、１１……パルス光源
、１４……ＥＯスイツチ、２１……受光器、２３
……表示装置、２６……マスク信号出力回路、２
７……極性反転回路。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 被測定光路に対してパルス光源からの光パルス
   を供給し、被測定光路側から戻つてくる光を受光
   器で受光することにより、被測定光路の伝送特性
   を測定する光パルス試験器において、 被測定光路に対する前記パルス光源または前記
   受光器の光路切換えを、正負いずれの電圧印加で
   も同一方向の光路切換えが可能な電気光学効果型
   の光スイツチを介して行ない、 極性を所定期間毎に反転させた電圧を前記光ス
   イツチに印加することを特徴とする光パルス試験
   器。