JPS6329227B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6329227B2 JPS6329227B2 JP55083613A JP8361380A JPS6329227B2 JP S6329227 B2 JPS6329227 B2 JP S6329227B2 JP 55083613 A JP55083613 A JP 55083613A JP 8361380 A JP8361380 A JP 8361380A JP S6329227 B2 JPS6329227 B2 JP S6329227B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- frequency
- clock pulse
- reference clock
- gate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/02—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
- G01R23/06—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into an amplitude of current or voltage
- G01R23/09—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into an amplitude of current or voltage using analogue integrators, e.g. capacitors establishing a mean value by balance of input signals and defined discharge signals or leakage
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は特定周波数、特に低い周波数の絶対値
を測定する周波数測定装置に関する。
を測定する周波数測定装置に関する。
低い周波数を測定するにあたり、従来は一定時
間内の波数を計数する方法あるいは可変時間内の
基準クロツク信号数を計数する方法が採用されて
いる。ところで前者の方法ではサンプリング周期
が長くリアルタイムの測定ができず、また後者の
方法では周波数を求めるためには除算が必要とな
り、除算を実行するための除算回路の付加が不可
欠となり周波数測定回路の構成が複雑になる欠点
があつた。
間内の波数を計数する方法あるいは可変時間内の
基準クロツク信号数を計数する方法が採用されて
いる。ところで前者の方法ではサンプリング周期
が長くリアルタイムの測定ができず、また後者の
方法では周波数を求めるためには除算が必要とな
り、除算を実行するための除算回路の付加が不可
欠となり周波数測定回路の構成が複雑になる欠点
があつた。
本発明はかかる欠点を除去するものであり、回
路構成の簡単な減数カウンタを用いて低周波信号
を正確にリアルタイム測定することのできる周波
数測定装置を提供するものである。
路構成の簡単な減数カウンタを用いて低周波信号
を正確にリアルタイム測定することのできる周波
数測定装置を提供するものである。
以下、本発明を図面に基づいて説明する。
第１図は本発明にかかわる周波数測定装置の構
成を示す回路図であり、１は被測定周波数信号の
印加される入力端子、２はゲート信号発生回路、
３は基準クロツクパルス発生回路、４はゲート信
号発生回路２の出力と基準クロツクパルス発生回
路３の出力とを入力とするANDゲート回路、５
は減数カウンタ、６は同カウンタへ所定の数値を
プリセツトするプリセツト回路、７は減数カウン
タ５の動作タイミングを決定するタイミング回
路、そして８はラツチ回路を有する表示装置であ
る。
成を示す回路図であり、１は被測定周波数信号の
印加される入力端子、２はゲート信号発生回路、
３は基準クロツクパルス発生回路、４はゲート信
号発生回路２の出力と基準クロツクパルス発生回
路３の出力とを入力とするANDゲート回路、５
は減数カウンタ、６は同カウンタへ所定の数値を
プリセツトするプリセツト回路、７は減数カウン
タ５の動作タイミングを決定するタイミング回
路、そして８はラツチ回路を有する表示装置であ
る。
なお、ゲート信号発生回路２はｎ分周器で構成
され、基準クロツク発生回路３は水晶振動子９を
内蔵するクロツクパルス発生回路１０とｍ分周器
１１とで構成されている。
され、基準クロツク発生回路３は水晶振動子９を
内蔵するクロツクパルス発生回路１０とｍ分周器
１１とで構成されている。
次にその動作を説明する。入力端子１から入つ
た被測定周波数（基準値o＋変動分△）はゲ
ート信号発生回路２によりｎ分周され、ゲートの
時間幅τ＝ｎ／のゲート信号とする。一方、水
晶振動子９を内蔵するクロツクパルス発生回路１
０の出力周波数をxとし、ｍ分周器１１でｍ分
周することにより出力周波数をx／ｍなる基準クロ ツクパルスとする。ここにおいて、m／ｍ＝1000／ｎ o2を満足するようにx、ｍを設定する。基準ク
ロツクパルスx／ｍとゲート信号／ｎとをAND ゲート回路４に入力することにより、第２図で示
すように時間幅τの間だけ基準クロツクパルス
x／ｍが出力される。減数カウンタ５を、例えば被 測定周波数の基準値oの2000倍の値をプリセツ
ト回路６を通して、プリセツトし、ゲート回路出
力を減数カウントする。カウント終了後減数カウ
ンタ５の出力をラツチ回路を有する表示装置８に
て被測定周波数を表示する。なお、プリセツト
回路作動のタンミングはゲート信号を入力とする
タイミング回路７の出力信号により行なう。
た被測定周波数（基準値o＋変動分△）はゲ
ート信号発生回路２によりｎ分周され、ゲートの
時間幅τ＝ｎ／のゲート信号とする。一方、水
晶振動子９を内蔵するクロツクパルス発生回路１
０の出力周波数をxとし、ｍ分周器１１でｍ分
周することにより出力周波数をx／ｍなる基準クロ ツクパルスとする。ここにおいて、m／ｍ＝1000／ｎ o2を満足するようにx、ｍを設定する。基準ク
ロツクパルスx／ｍとゲート信号／ｎとをAND ゲート回路４に入力することにより、第２図で示
すように時間幅τの間だけ基準クロツクパルス
x／ｍが出力される。減数カウンタ５を、例えば被 測定周波数の基準値oの2000倍の値をプリセツ
ト回路６を通して、プリセツトし、ゲート回路出
力を減数カウントする。カウント終了後減数カウ
ンタ５の出力をラツチ回路を有する表示装置８に
て被測定周波数を表示する。なお、プリセツト
回路作動のタンミングはゲート信号を入力とする
タイミング回路７の出力信号により行なう。
上記関係を数式を用いて示すと次のようにな
る。あらかじめ、被測定周波数＝o＋△の
基準値を想定し基準クロツクパルスx／ｍが、x／ｍ ＝1000／ｎo2なる関係式を満足するように基準クロ ツクパルス発生回路３を調整する。
る。あらかじめ、被測定周波数＝o＋△の
基準値を想定し基準クロツクパルスx／ｍが、x／ｍ ＝1000／ｎo2なる関係式を満足するように基準クロ ツクパルス発生回路３を調整する。
次に、プリセツト回路６により減数カウンタ５
を2000o相当の数値にプリセツトした後ゲート
回路出力τ×x／ｍに相当する数値を減数カウント する。すなわち、減数カウンタ５の出力数値をＦ
にすると、 Ｆ＝2000o−τ×x／ｍ＝1000o（２−１／１＋△
／o） ＝1000o｛１＋△／o−（△／o）2＋（△
／o）3 ……｝ となる。
を2000o相当の数値にプリセツトした後ゲート
回路出力τ×x／ｍに相当する数値を減数カウント する。すなわち、減数カウンタ５の出力数値をＦ
にすると、 Ｆ＝2000o−τ×x／ｍ＝1000o（２−１／１＋△
／o） ＝1000o｛１＋△／o−（△／o）2＋（△
／o）3 ……｝ となる。
ここでo≫△の場合、（△／o）2以下の項は
無 視しうるから、 Ｆ≒1000（o＋△）＝1000 これより明らかなように、減数カウンタ５の出
力数値Ｆは被測定周波数の1000倍となつているか
ら、ラツチ回路を有する表示装置８にてその旨表
示し、被測定周波数を表示すればよい。
無 視しうるから、 Ｆ≒1000（o＋△）＝1000 これより明らかなように、減数カウンタ５の出
力数値Ｆは被測定周波数の1000倍となつているか
ら、ラツチ回路を有する表示装置８にてその旨表
示し、被測定周波数を表示すればよい。
なお、実施例においては、x／ｍ＝1000／ｎ0 2を
満 足するように、x、ｍを設定したが、一般にx／ｍ ＝ｋ／ｎ0 2（ｋ：正の整数）を満足するようにx、 ｍを設定すればよく、表示装置８には被測定周波
数のｋ倍の値が表示される。
満 足するように、x、ｍを設定したが、一般にx／ｍ ＝ｋ／ｎ0 2（ｋ：正の整数）を満足するようにx、 ｍを設定すればよく、表示装置８には被測定周波
数のｋ倍の値が表示される。
ここで近似の誤差はほぼ（△／o）2となる。こ
のことから被測定周波数の基準値oに対して変
動分△が小さいほど精度の高い測定結果が得ら
れる。
動分△が小さいほど精度の高い測定結果が得ら
れる。
例えば被測定周波数が60±0.245Hzの範囲以内
の場合、 △／o＝0.245／60、o×（△／o）2≒0.0
01 従つて、測定誤差は±0.001Hz以下となすこと
ができる。
の場合、 △／o＝0.245／60、o×（△／o）2≒0.0
01 従つて、測定誤差は±0.001Hz以下となすこと
ができる。
なお、ANDゲート回路にかえてNANDゲート
または他の論理回路を組合せて用いることもでき
る。
または他の論理回路を組合せて用いることもでき
る。
以上本発明によれば、被測定周波数信号から、
ゲート信号を形成するゲート信号発生回路と、基
準クロツクパルスを発生する基準クロツクパルス
発生回路と、前記ゲート信号発生回路から出力さ
れるゲート信号と前記基準クロツクパルス発生回
路から出力される基準クロツクパルスが入力され
ゲート信号の印加期間に到来する基準クロツクパ
ルスを出力するゲート回路と、所定の数値にプリ
セツトするプリセツト回路と前記プリセツト値か
ら、前記ゲート回路出力であるパルス数をタイミ
ング回路からの指示に従つて減数カウンタで減数
するという簡単な回路構成により被測定信号の周
波数を高精度に測定しうる周波数測定装置を提供
することができる。
ゲート信号を形成するゲート信号発生回路と、基
準クロツクパルスを発生する基準クロツクパルス
発生回路と、前記ゲート信号発生回路から出力さ
れるゲート信号と前記基準クロツクパルス発生回
路から出力される基準クロツクパルスが入力され
ゲート信号の印加期間に到来する基準クロツクパ
ルスを出力するゲート回路と、所定の数値にプリ
セツトするプリセツト回路と前記プリセツト値か
ら、前記ゲート回路出力であるパルス数をタイミ
ング回路からの指示に従つて減数カウンタで減数
するという簡単な回路構成により被測定信号の周
波数を高精度に測定しうる周波数測定装置を提供
することができる。
第１図は本発明の一実施例を示す周波数測定装
置の回路図、第２図はゲート回路の入力信号と出
力信号との関係を示すタイミングチヤートであ
る。 １……入力端子、２……ゲート信号発生回路、
３……基準クロツクパルス発生回路、４……ゲー
ト回路、５……減数カウンタ、６……プリセツト
回路、７……タイミング回路、８……表示装置、
９……水晶振動子、１０……クロツクパルス発生
器、１１……ｍ分周器。
置の回路図、第２図はゲート回路の入力信号と出
力信号との関係を示すタイミングチヤートであ
る。 １……入力端子、２……ゲート信号発生回路、
３……基準クロツクパルス発生回路、４……ゲー
ト回路、５……減数カウンタ、６……プリセツト
回路、７……タイミング回路、８……表示装置、
９……水晶振動子、１０……クロツクパルス発生
器、１１……ｍ分周器。
Claims (1)
- １ 被測定周波数信号（ただし＝0＋Δ、
：基準周波数、Δ：変動分）の信号をｎ分周
（ただしｎは正の整数）するゲート信号発生回路
と、0 2／ｎの整数倍の周波数の基準クロツクパ
ルスを発生する基準クロツクパルス発生回路と、
前記ゲート信号発生回路から出力されるゲート信
号と前記基準クロツクパルス発生回路から出力さ
れる基準クロツクパルスが入力されゲート信号の
印加期間に到来する基準クロツクパルスを出力す
るゲート回路と、所定の数値にプリセツトするプ
リセツト回路と前記プリセツト値から、前記ゲー
ト回路出力であるパルス数を減数する減数カウン
タとを具備してなることを特徴とする周波数測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8361380A JPS578458A (en) | 1980-06-19 | 1980-06-19 | Device for measuring frequency |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8361380A JPS578458A (en) | 1980-06-19 | 1980-06-19 | Device for measuring frequency |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS578458A JPS578458A (en) | 1982-01-16 |
| JPS6329227B2 true JPS6329227B2 (ja) | 1988-06-13 |
Family
ID=13807331
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8361380A Granted JPS578458A (en) | 1980-06-19 | 1980-06-19 | Device for measuring frequency |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS578458A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6315514A (ja) * | 1986-07-08 | 1988-01-22 | Sanyo Electric Co Ltd | 計数回路 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5010169A (ja) * | 1973-05-25 | 1975-02-01 |
-
1980
- 1980-06-19 JP JP8361380A patent/JPS578458A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS578458A (en) | 1982-01-16 |
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