JPS63298003A - 移動体の移動量検出装置 - Google Patents

移動体の移動量検出装置

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JPS63298003A
JPS63298003A JP62133704A JP13370487A JPS63298003A JP S63298003 A JPS63298003 A JP S63298003A JP 62133704 A JP62133704 A JP 62133704A JP 13370487 A JP13370487 A JP 13370487A JP S63298003 A JPS63298003 A JP S63298003A
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JP
Japan
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pattern
mask
light
opening
receiving element
Prior art date
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Pending
Application number
JP62133704A
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English (en)
Inventor
Takashi Koyama
剛史 小山
Hidefumi Nodagashira
英文 野田頭
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPS63298003A publication Critical patent/JPS63298003A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の利用分舒] この発明は移動体の移動量を光電式に検出するいわゆる
フォトリフレクタの如き移動量検出装置に関し、特に、
従来の同種装置よりも微小移動量の検出を行うことので
きる、改良された移動量検出装置に関するものである。
[発明の背景] 投光素子と受光素子とを有した静止検出器で移動体上の
明暗のパターンを読み取ることによって該移動体の移動
量を検出する、いわゆるフォトリフレクタは従来から知
られている。
従来公知のフォトリフレクタでは、投光素子及び受光素
子とパターンとの距離や投光素子と受光素子との間隔に
くらべてパターンのピッチが大きい場合はS/N比のよ
い信号を得ることができるがパターンのピッチが小さい
場合はS/N比が著しく低下するという欠点があった。
第4図はフォトリフレクタにおいてパターンのピッチが
粗い場合と細かい場合とにおける光束の状態と受光素子
の出力信号とを示したものである。第4図において、1
は投光素子、2は受光素子、3は矢印方向に移動するパ
ターン、である。
第4図(a)はパターン3の明暗部のピッチが粗い場合
であL、この場合は同図にて明らかなようにパターン3
で正反射して受光素子2中に入射してくる光束には二ピ
ッチ分のパターンしか人らないので第4図(C)に示す
ように受光素子2の出力信号の波形はパターン3に対応
したものとなL、従って、出力信号のS/N比は良好で
あるが、パターン3のピッチが粗いので微小移動量の検
出はできない。
第4図(b)はパターン3のピッチが細かい場合を示し
ておL、この場合はパターン3で正反射して受光素子2
に入る光束にはパターンの1ピッチ以上が入っているの
で移動量の検出が不可能である。すなわち、第4図(d
)  に示すように受光素子2の出力信号の波形はパタ
ーンのピッチを表わさないものとなる。
なお、第4図(b)よりもパターンのピッチが粗くて受
光素子2の出力信号の波形がかなり規則正しい凹凸を示
す場合であっても、パターン3の暗部における反射率が
実際には零でないため、出力信号のS/N比は悪くなる
ことがわかっている。
[発明の目的コ この発明の目的は、従来のフォトリフレクタの欠点を排
除し、微小移動量を高精度に検出することかできるg動
量検出装置を提供することである。
[発明の概要] 本発明による移動量検出装置では、開口を備えたマスク
が該検出器(すなわち、投光素子と受光素子)と該パタ
ーンとの間に配置されるとともに該マスクの開口が備え
た該投光素子と該受光素子とのほぼ中間位置に配置され
、該マスクの該開口の巾Xが下記の式、 a≦X≦(d + l D −a l ) −+ aを
満たすように設計されていることを特徴とするものであ
る。
ここに、a:該投光素子と該受光素子の並び方向におけ
る該パターンの高反射部の巾、d:該投光素子と該受光
素子との中心間隔、l:該マスクと該パターンとの距離
、 L:該投光素子と該パターンとの距離、D:該投光素子
の直径(パターン3の移動方向に沿った長さ)、である
[発明の実施例] 以下に第1図乃至第3図を参照して本発明の詳細な説明
する。
第1図は本発明による移動量検出装置の構造を示したも
のであL、第4図と同じ符号で示された部材は第4図の
従来の検出装置と同じ部材である。
本実施例の移動量検出装置では、検出器(投光素子1と
受光素子2)とパターン3との間にマスク4が配置され
るとともに該マスク4の開口が該投光素子と該受光素子
とのほぼ中間位置に配置され、該開口の巾Xが式 大きさに設計されていることを特徴とするものである。
781図の装置では、パターン3の明暗部のピッチや投
光素子1と受光素子2の大きさ及び位置関係は第4図(
b)に示した従来装置と同じであるが、マスク4を配置
したことによL、パターン3で正反射した光束のうち受
光素子2に入射するものが限定されるため、S/N比の
よい出力信号が得られる。すなわち、受光素子2に入射
光束であるため、出力信号中の雑音が少なくなる。
第2図はマスク4の開口の巾Xを決定するための理論を
説明するための図であL、投光素子1から出た光束がパ
ターン3で反射した後に受光素子2に入射する折返し光
学系を展開したものである。
第2図において、4′及び4″はマスク4の開口縁を表
わしておL、パターン3の高反射部で反射した光束(同
図では透過部分に相当する)が投光素子1の中心部と受
光素子2の中心部とを結ぶ2本の線分R1及びR2とし
て描かれている。
なお、第2図において、aは投光素子1と受光素子2の
並び方向におけるパターンの高反射部の巾、dは投光素
子1と受光素子2の中心間隔、Lはマスク4とパターン
3との距離、Lは投光素子1とパターン3の距離、Dは
投光素子1の大きさくパターン3の8勅方向に沿った長
さ)である。
第2図(a)はD≧aの場合であL、この場合はマスク
4の開口の中心がパターン3の高反射部の中心と重なっ
ている時である。パターン3の高反射光束、すなわち開
口aで正反射する光束(図では開口aを透過する光束、
を透過させるマスク開口寸法は下側の線分R1で決L、
線分R1の近傍のマスク開口縁4′の位置−は第2図(
a)に示す幾何学的関係から スフ4の開口の巾Xは、 x = (d + D −a ) −+ a  となる
N 2 図(b)はD≦aの場合を示しておL、この場
合は前記と同様の考察によL、上側の線分R2に近いマ
スク開口縁4′の位置によってマスク4の開口の巾Xが
決定される。すなわち、x = (d −D + a 
) −+ a  となる。
従って、第2図(a)の場合のXと第2図(b)の場合
のXとを一式にまとめて表わすと、この式はマスク4の
開口巾寸法Xの理論値を表わしているが、マスク4の開
口巾Xがこの式で表わされる寸法より大きいと、パター
ン3の低反射部(図では非透過部)に当る光束が多くな
L、必要な信号光束(図においては透過光束)は増加せ
ずに雑音光束のみが増加して検出信号のS/N比が低下
することになる。
また、第2図(a)では線分R2とマスク開口縁4″と
の間に余裕(間隙)があL、第2図(b)では線分R1
とマスク開口縁4′ との間に余裕(間隙)があるため
、低反射部に関する光束が受光素子2に入射してS/N
比を若干下げることになる。
従って、マスク開口の巾Xの値を前記理論式の値より小
さくすると信号光束はやや少くなるが低反射部からの光
束がなくなるため、S/N比は改善される。それ故、S
/N比を良好にするためには ましい。Xの最大値をこの値よりも大きくならぬように
マスク4の開口を設計すると、光量の絶対量が検出に充
分な大きさである時には効果的である。
一方、マスク4とパターン3との距@fLが非常に小さ
い場合は、上式の右辺第1項は小さな値となるのでXの
値はaに近くなL、また、マスク4の開口巾Xがaより
も小さくなるとパターンの検出は不可能になるのでXが
aよりも少くとも大きい値であることは必要条件となる
従って、Xが ℃ a≦X≦(d + l D −a l ) −+ aな
る条件を満すようにマスク4を設計することによってど
のような微小パターンの検出も可能であるとともにS/
N比のよい出力信号を得ることができることになる。
第2図(C)は前記の式で(d+1D−al)く0とな
る場合を図示したものであL、この場合は正反射光束の
すべてがパターンの高反射部に入射して受光素子2に入
射する光束はすべてがパターン3の高反射部から出た光
束となる。
従って、この場合はマスク4°を設置する必要がないが
、マスク4の開口巾Xがaであればよい。
第3図は本発明装置の別の実施例の平面図である。なお
、この実施例の装置も前記の理論に基いて構成されてい
ることは当然である。
第3図において、1は投光素子、2は受光素子、3は矢
印方向に回転する円板形のパターンであL、投光素子1
及び受光素子2とパターン3との間に配置されたマスク
4は扇形の開口を有しておL、該扇形開口の周縁部の円
弧の曲率中心はパターン3の中心と同心である。また、
マスク4の開口の巾は前記の条件式に基づいて設計され
ている。
なお、以上に示した実施例は本発明をフォトリフレクタ
型の検出装置に適用した場合であるが、本発明をフォト
インタラプタ型の検出装置にも適用しうることは明らか
である。すなわち、フォトインタラプタ型の検出装置に
本発明を適用する場合には、パターンの前後のほぼ同一
距離に同一開口のパターンを設ければよい。
[発明の効果] 以上に説明したように、本発明によれば、従来装置では
検出不可能であった微細なパターンをも検出することが
できるとともにS/N比のよい出力信号を得ることがで
きる移動量検出装置を提供することができる。また、本
発明の装置によれば、マスクとパターンとが離れている
場合であってもS/N比を向上させることができ、高精
度の検出が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の移動量検出装置の概略構成を示した図
、第2図(a)乃至第2図(c)は本発明装置に装備さ
れたマスクの開口巾の理論値と条件式とを導くための原
理を示した図、第3図は本発明装置の実施例の平面図、
第4図(a)乃至(k)は従来公知のフォトリフレクタ
型検出装置における問題点を説明するための図である。 1・・・投光素子、   2・・・受光素子、3・・・
パターン、   4・・・マスク。 第2図 (C) 第4図 (α)(b)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)所定間隔をおいて横並びに配置された投光素子と
    受光素子とで構成された検出器を有 し、該投光素子と該受光素子の並び方向に沿って相対移
    動する所定ピッチのパターンを該検出器によって検出す
    るように構成した移動体の移動量検出装置において、 開口を備えたマスクが該検出器と該パター ンとの間に配置されるとともに該マスクの該開口は該投
    光素子と該受光素子とのほぼ中間の位置に配置されてお
    り、該マスクの該開口の巾xが、該投光素子と該受光素
    子との中心間隔をd、該投光素子と該パターンとの距離
    をL、該マスクと該パターンの距離をl、該投光素子と
    該受光素子の並び方向における該パターンの高反射部の
    巾をa、該投光素子と該受光素子の並び方向の該投光素
    子の投光部の大きさをDとした時、 a≦x≦(d+|D−a|)l/L+a で表わされる大きさに設計されていることを特徴とする
    移動体の移動量検出装置。
  2. (2)特許請求の範囲第1項において、該パターンが回
    転する放射状のパターンであり、該マスクの開口が該パ
    ターンの回転中心と同心の円弧によって形成された扇形
    になっていることを特徴とする移動体の移動量検出装 置。
JP62133704A 1987-05-29 1987-05-29 移動体の移動量検出装置 Pending JPS63298003A (ja)

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JPS63298003A true JPS63298003A (ja) 1988-12-05

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JP (1) JPS63298003A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0676809U (ja) * 1993-04-06 1994-10-28 スタンレー電気株式会社 光学式検出装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0676809U (ja) * 1993-04-06 1994-10-28 スタンレー電気株式会社 光学式検出装置

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