JPS63301405A - 低温焼成型導電性ペ−スト及び回路基板の製造方法 - Google Patents
低温焼成型導電性ペ−スト及び回路基板の製造方法Info
- Publication number
- JPS63301405A JPS63301405A JP13747687A JP13747687A JPS63301405A JP S63301405 A JPS63301405 A JP S63301405A JP 13747687 A JP13747687 A JP 13747687A JP 13747687 A JP13747687 A JP 13747687A JP S63301405 A JPS63301405 A JP S63301405A
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- Japan
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- copper
- conductive paste
- low
- type conductive
- circuit board
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- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
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- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子機器等の内部配線材として用いられるプリ
ント回路基板に用いられる低温焼成型の導電性ペースト
及びこれを用いた回路基板の製造方法に関するものであ
る。
ント回路基板に用いられる低温焼成型の導電性ペースト
及びこれを用いた回路基板の製造方法に関するものであ
る。
〔従来の技術及びその問題点]
従来この種の導電性ペーストは、金属粉末、ガラスフリ
ット及び有機質ビヒクルにて構成されており、その金属
粉末としては、Au、Ag、Ag−Pd、Cu等の金属
が使用され、それぞれAuペースト、Agペースト、A
g−Pdペースト、Cuペーストと呼ばれている。これ
らの導電性ペーストは絶縁性基板上に印刷され、900
℃前後の温度で焼成し、厚膜を形成して、5X10−’
Ω・am程度の比抵抗を持つ導体回路として使用してい
るものである。
ット及び有機質ビヒクルにて構成されており、その金属
粉末としては、Au、Ag、Ag−Pd、Cu等の金属
が使用され、それぞれAuペースト、Agペースト、A
g−Pdペースト、Cuペーストと呼ばれている。これ
らの導電性ペーストは絶縁性基板上に印刷され、900
℃前後の温度で焼成し、厚膜を形成して、5X10−’
Ω・am程度の比抵抗を持つ導体回路として使用してい
るものである。
このような導電性ペーストの印刷に用いられる絶縁性基
板としては、上記焼成温度にて変化せず、導電性ペース
トと充分に密着し、電気絶縁性に優れたセラミックス基
体、特にアルミナ基板がもちいられている。
板としては、上記焼成温度にて変化せず、導電性ペース
トと充分に密着し、電気絶縁性に優れたセラミックス基
体、特にアルミナ基板がもちいられている。
また近年、AuやAg、Pdが高価であることから、C
uによるペーストが注目を集めている。
uによるペーストが注目を集めている。
銅は安価であるだけでなく、電気伝導性に優れ、ハンダ
付は性も良好であり、又マイグレーションも起こりにく
い等特性的にも優れている。しかしCuペーストは、銅
は酸化しやすいために大気中で焼成することが出来ず、
通常有機質ビヒクルを飛散させることが出来、かつ銅を
酸化させないある特定の酸素分圧を有する窒素雰囲気中
で焼成しなければならないという取り扱いの難しさがあ
り、現状ではCuペーストは決して安くはない。
付は性も良好であり、又マイグレーションも起こりにく
い等特性的にも優れている。しかしCuペーストは、銅
は酸化しやすいために大気中で焼成することが出来ず、
通常有機質ビヒクルを飛散させることが出来、かつ銅を
酸化させないある特定の酸素分圧を有する窒素雰囲気中
で焼成しなければならないという取り扱いの難しさがあ
り、現状ではCuペーストは決して安くはない。
最近、酸化銅−を用いた導電性ペーストの考え方が開示
された。これは、酸化銅粉末に少量のpt粉、Pd粉、
Ni粉、酸化マンガン粉を加えたもので、大気中で70
0℃程度で焼成したのち、1000℃程度で還元性雰囲
気中で還元することによって導体を形成するものであり
、厳密な雰囲気コントロールは必要としていない。しか
しこの導電性ペーストは、同時焼成多層回路基板に用い
ることを前提としており、酸化銅が銅に還元される時の
体積収縮が問題となる為高価な貴金属粉末が添加されて
おり未だかなり高価となる(特開昭和61−28969
1、特開昭61−292394、特開昭61−2923
93参照)。
された。これは、酸化銅粉末に少量のpt粉、Pd粉、
Ni粉、酸化マンガン粉を加えたもので、大気中で70
0℃程度で焼成したのち、1000℃程度で還元性雰囲
気中で還元することによって導体を形成するものであり
、厳密な雰囲気コントロールは必要としていない。しか
しこの導電性ペーストは、同時焼成多層回路基板に用い
ることを前提としており、酸化銅が銅に還元される時の
体積収縮が問題となる為高価な貴金属粉末が添加されて
おり未だかなり高価となる(特開昭和61−28969
1、特開昭61−292394、特開昭61−2923
93参照)。
一方近年、500〜675℃程度の温度でも焼成が可能
な導電性ペーストが提案された。この導電性ペーストは
、Ag、Cu又はAg合金、Cu合金等の金属粉末とガ
ラスフリット及び有機質ビヒクルとにより構成されてお
り、基板との密着強度及び形成される厚膜自体の強度を
向上させる為、ガラスフリフトの量を増加して焼成して
いる(特開昭58−71507、特開昭58−1030
2参照)、又酸化銅粉末を基体とし、硼素を7〜27%
、ガラスフリントを0〜35%含む導電性ペーストが、
500〜675℃の大気中で加熱することにより、厚い
フィルム導体を形成することが出来るとの提案がなされ
ている(特開昭57−55005参1)i1f)、Lか
しこれらの導電性ペーストは比抵抗が5 X 10−’
Ω・Cmより大きく、又半田付性も悪く、回路基板用と
しては使用出来ないものであった。
な導電性ペーストが提案された。この導電性ペーストは
、Ag、Cu又はAg合金、Cu合金等の金属粉末とガ
ラスフリット及び有機質ビヒクルとにより構成されてお
り、基板との密着強度及び形成される厚膜自体の強度を
向上させる為、ガラスフリフトの量を増加して焼成して
いる(特開昭58−71507、特開昭58−1030
2参照)、又酸化銅粉末を基体とし、硼素を7〜27%
、ガラスフリントを0〜35%含む導電性ペーストが、
500〜675℃の大気中で加熱することにより、厚い
フィルム導体を形成することが出来るとの提案がなされ
ている(特開昭57−55005参1)i1f)、Lか
しこれらの導電性ペーストは比抵抗が5 X 10−’
Ω・Cmより大きく、又半田付性も悪く、回路基板用と
しては使用出来ないものであった。
[問題点を解決する為の手段]
本発明は上記の点に鑑み鋭意検討の結果なされた物であ
り、その目的とするところは、300〜600℃の如き
低温度で焼成することが出来ると共に、形成した導電回
路は絶縁性基板と充分な密着強度を有し、且つ導電性及
び半田付性に優れた回路を形成出来る導電性ペーストを
堤供することである。
り、その目的とするところは、300〜600℃の如き
低温度で焼成することが出来ると共に、形成した導電回
路は絶縁性基板と充分な密着強度を有し、且つ導電性及
び半田付性に優れた回路を形成出来る導電性ペーストを
堤供することである。
即ち本発明は、銅、銅を生成分とした銅合金の群から選
ばれた1種または2種以上の混合物からなる導電性物質
の粉末50〜95wt%と、軟化点が300〜600℃
1熱膨張率が6〜13×10−’℃−1のガラス粉末5
〜50wt%とからなる基材を有機質ビヒクル中に分散
させたことを特徴とする低温焼成型導電性ペースト、並
びにかかる導電性ペーストを用いて、電気絶縁性無機基
板上に所望の方法により回路パターンを形成したのち、
これを300〜600℃の大気中で加熱し、ついで還元
性雰囲気中で400〜600℃に加熱する事を特徴とす
る回路基板の製造方法に関するものである。
ばれた1種または2種以上の混合物からなる導電性物質
の粉末50〜95wt%と、軟化点が300〜600℃
1熱膨張率が6〜13×10−’℃−1のガラス粉末5
〜50wt%とからなる基材を有機質ビヒクル中に分散
させたことを特徴とする低温焼成型導電性ペースト、並
びにかかる導電性ペーストを用いて、電気絶縁性無機基
板上に所望の方法により回路パターンを形成したのち、
これを300〜600℃の大気中で加熱し、ついで還元
性雰囲気中で400〜600℃に加熱する事を特徴とす
る回路基板の製造方法に関するものである。
[作用]
従来の銅系の導電性ペーストは、銅を酸化させないよう
に非酸化性雰囲気中で焼成されている。
に非酸化性雰囲気中で焼成されている。
しかし本発明の導電性ペーストは逆に銅を酸化させるこ
とによって、低温での焼成を可能としている。
とによって、低温での焼成を可能としている。
−Iifflに金属粉の表面は酸化被膜が形成されてい
るため、理論焼結温度で焼結することは出来ない。
るため、理論焼結温度で焼結することは出来ない。
このため一般に焼結は還元性雰囲気中で行われる。
しかし、導電性ペーストのように有機質ビヒクルをふく
む場合は、これを飛散させる必要があるため、還元性雰
囲気中での焼成は行えない。
む場合は、これを飛散させる必要があるため、還元性雰
囲気中での焼成は行えない。
そこで本発明の導電性ペーストにおいては、まず大気中
で焼成することによって有機質ビヒクルを飛散させ、酸
化した銅粉即ち酸化銅粉とガラスとの濡れ性を向上させ
、導電膜の強度向上を図っている。そして次に還元性雰
囲気中での焼成において、前記酸化銅粉を還元すると同
時に焼結を促進させることによって電気伝導度の良い導
電膜を形成させている。しかし本発明の導電性ペースト
は、銅又は銅合金の粉末のみでは低温で焼成するには充
分ではなく、低軟化点温度のガラスと組み合わせること
によって、充分な特性を持った導電膜が得られるもので
ある。更に特開昭60−248424号に酸化銅粉を用
いた低温焼成型導電性ペーストが開示されているが、こ
れによって得られる導電膜は、還元による体積減少のた
めに膜厚が薄くなり、所望の厚さに制御することが難し
い。
で焼成することによって有機質ビヒクルを飛散させ、酸
化した銅粉即ち酸化銅粉とガラスとの濡れ性を向上させ
、導電膜の強度向上を図っている。そして次に還元性雰
囲気中での焼成において、前記酸化銅粉を還元すると同
時に焼結を促進させることによって電気伝導度の良い導
電膜を形成させている。しかし本発明の導電性ペースト
は、銅又は銅合金の粉末のみでは低温で焼成するには充
分ではなく、低軟化点温度のガラスと組み合わせること
によって、充分な特性を持った導電膜が得られるもので
ある。更に特開昭60−248424号に酸化銅粉を用
いた低温焼成型導電性ペーストが開示されているが、こ
れによって得られる導電膜は、還元による体積減少のた
めに膜厚が薄くなり、所望の厚さに制御することが難し
い。
しかし本発明による導電性ペーストは、大気中で焼成す
るため一時体積が膨張するが、最終的には還元工程を行
なう為、膜厚が初期の厚さより大幅に減少することがな
く、膜厚の制御が容易である。
るため一時体積が膨張するが、最終的には還元工程を行
なう為、膜厚が初期の厚さより大幅に減少することがな
く、膜厚の制御が容易である。
更に本発明の導電性ペーストは低温で焼成することを目
的としている為、高温で焼成しても充分な特性は得られ
ない。即ち650℃以上の温度で大気中で焼成すると、
Cu、Oとガラス中の成分であるPbO等の酸化物が反
応し、複合酸化物が形成されて、還元性雰囲気中での焼
成において健全な銅が得られなくなるものである。
的としている為、高温で焼成しても充分な特性は得られ
ない。即ち650℃以上の温度で大気中で焼成すると、
Cu、Oとガラス中の成分であるPbO等の酸化物が反
応し、複合酸化物が形成されて、還元性雰囲気中での焼
成において健全な銅が得られなくなるものである。
本発明の導電性ペーストにおいて軟化点が300〜60
0℃1熱膨張率が6〜13X10−”℃−1のガラス粉
末の含有量を5〜50wL%と限定した理由は、ガラス
粉末の含を量が5wt%未満であると、得られたペース
トは絶縁性基板との接着性が悪く、一方50wt%を越
えて大量に含有されると、当該ペーストを用いて形成し
た回路への半田付性が著しく低下する為である。
0℃1熱膨張率が6〜13X10−”℃−1のガラス粉
末の含有量を5〜50wL%と限定した理由は、ガラス
粉末の含を量が5wt%未満であると、得られたペース
トは絶縁性基板との接着性が悪く、一方50wt%を越
えて大量に含有されると、当該ペーストを用いて形成し
た回路への半田付性が著しく低下する為である。
尚軟化点が300〜600℃1熱膨張率が6〜13X1
0−’℃−1の低軟化点ガラスとしては、PbQ B
2O2Sing系ガラスやZn0Bto、−pbo系ガ
ラス等がある。又これらのガラス系にBaO1Apz○
3 、Ti1t 、Zr0z、ZnO等の酸化物を少量
含有してもよい。又ガラス粉末は−325メツシユ程度
より小さいものが好ましい。
0−’℃−1の低軟化点ガラスとしては、PbQ B
2O2Sing系ガラスやZn0Bto、−pbo系ガ
ラス等がある。又これらのガラス系にBaO1Apz○
3 、Ti1t 、Zr0z、ZnO等の酸化物を少量
含有してもよい。又ガラス粉末は−325メツシユ程度
より小さいものが好ましい。
銅を主成分とした銅合金としては、例えばCu−Ag、
Cu−3Cu−3nSCu−Aの群から選ばれたAg含
有量が0.05〜50wt%、或いはSn含有量が0.
01〜10wt%のものが好ましい、前記銅合金におい
てAg或いはSnを添加したのは、本発明の導電性ペー
ストを用いて形成した回路への半田付性を更に改善する
ためであって、前記含有量の下限未満ではこれら元素添
加の効果が見られなく、又上限を超えると、Sn添加の
場合は比抵抗が大きくなりすぎ、Ag添加の場合はマイ
グレーションを起こしやすく、またコストアップになっ
て、経済上不利となる。
Cu−3Cu−3nSCu−Aの群から選ばれたAg含
有量が0.05〜50wt%、或いはSn含有量が0.
01〜10wt%のものが好ましい、前記銅合金におい
てAg或いはSnを添加したのは、本発明の導電性ペー
ストを用いて形成した回路への半田付性を更に改善する
ためであって、前記含有量の下限未満ではこれら元素添
加の効果が見られなく、又上限を超えると、Sn添加の
場合は比抵抗が大きくなりすぎ、Ag添加の場合はマイ
グレーションを起こしやすく、またコストアップになっ
て、経済上不利となる。
又有機質ビヒクルとしては、例えばエチルセルローズ、
飽和脂肪酸変性アルキッド樹脂等の基材を10重量%程
度、テルピネオール、ブチルカルピトールやテレピン油
等に溶解したものがあげられる。そして基材と有機質ビ
ヒクルとの混合割合は、最終的に得られるペーストの粘
度との関連で決めれば良い。
飽和脂肪酸変性アルキッド樹脂等の基材を10重量%程
度、テルピネオール、ブチルカルピトールやテレピン油
等に溶解したものがあげられる。そして基材と有機質ビ
ヒクルとの混合割合は、最終的に得られるペーストの粘
度との関連で決めれば良い。
本発明による導電性ペーストは、スクリーン印刷等でセ
ラミックス基板、ホーロー基板等に印刷し、乾燥後、3
00〜600℃で大気中で加熱し、その後400〜60
0℃で還元性雰囲気中で加熱することによって、導体回
路を形成出来る。
ラミックス基板、ホーロー基板等に印刷し、乾燥後、3
00〜600℃で大気中で加熱し、その後400〜60
0℃で還元性雰囲気中で加熱することによって、導体回
路を形成出来る。
(実施例1〕
次に本発明を実施例により更に具体的に説明する。平均
粒径1μmの銅粉末と軟化点約400℃1熱膨張率8.
5X10−6℃−1のPbOBzOz−3−SiO2系
ガラス粉末(PbOニア0%、B2O3:tS、S%、
SIO,:4.5%、ZnO: 8%、A1.O,:2
%)とを種々の割合で混合して基材を作り、これをエチ
ルセルローズをブチルカルピトールに10重量%溶解し
た有機質ビヒクル中に分散させて、導電性ペーストを作
成した。この導電性ペーストをアルミナ基板上にスクリ
ーン印刷し、所定の温度で焼成して得られた導体の比抵
抗、密着強度及び半田付性を調べ、その結果を第1表に
示した。
粒径1μmの銅粉末と軟化点約400℃1熱膨張率8.
5X10−6℃−1のPbOBzOz−3−SiO2系
ガラス粉末(PbOニア0%、B2O3:tS、S%、
SIO,:4.5%、ZnO: 8%、A1.O,:2
%)とを種々の割合で混合して基材を作り、これをエチ
ルセルローズをブチルカルピトールに10重量%溶解し
た有機質ビヒクル中に分散させて、導電性ペーストを作
成した。この導電性ペーストをアルミナ基板上にスクリ
ーン印刷し、所定の温度で焼成して得られた導体の比抵
抗、密着強度及び半田付性を調べ、その結果を第1表に
示した。
第1表から明らかな様に、ガラス量が本発明の範囲内で
ある本発明例No、1〜6はいずれも比抵抗が小さく、
密着強度及び半田付性も良好である。一方ガラス量が少
なすぎる比較例No、7は基板への密着強度が低く、又
ガラス量が多すぎる比較例No、8は半田付性が低下し
ている。
ある本発明例No、1〜6はいずれも比抵抗が小さく、
密着強度及び半田付性も良好である。一方ガラス量が少
なすぎる比較例No、7は基板への密着強度が低く、又
ガラス量が多すぎる比較例No、8は半田付性が低下し
ている。
〔実施例2]
実施例1にて調整した本発明例No、4の導電性ペース
トをアルミナ基板上にスクリーン印刷し、種々の温度で
焼成して得られた導体の比抵抗、密着強度及び半田付性
を調べ、その結果を第2表に示した。
トをアルミナ基板上にスクリーン印刷し、種々の温度で
焼成して得られた導体の比抵抗、密着強度及び半田付性
を調べ、その結果を第2表に示した。
第2表から明らかな様に、焼成温度が本発明の範囲内で
ある本発明例NO19〜1)はいずれも比抵抗が小さく
、密着強度及び半田付性も良好である。一方焼成温度が
本発明の範囲外である比較例No、12〜16はいずれ
も比抵抗が大きくなっている。
ある本発明例NO19〜1)はいずれも比抵抗が小さく
、密着強度及び半田付性も良好である。一方焼成温度が
本発明の範囲外である比較例No、12〜16はいずれ
も比抵抗が大きくなっている。
〔実施例3]
平均粒径lumで、第3表に示した組成の銅合金粉末7
0wt%と、軟化点約350℃1熱膨張率1)×10−
6°c−1のP b OB2O2S i Ox系ガラス
粉末(Pb0:85%、B2O2:1B%、5iOz:
4%、ZnO:2%、A/!、03:1%)30%とを
混合して基材を作り、これをエチルセルローズをブチル
カルピトールに1(1量%溶解した有機質ビヒクル中に
分散させて、導電性ペーストを作成した。この導電性ペ
ーストをアルミナ基板上にスクリーン印刷し、所定の温
度で焼成して得られた導体の比抵抗、密着強度及び半田
付性を趨べ、その結果を第3表に示した。
0wt%と、軟化点約350℃1熱膨張率1)×10−
6°c−1のP b OB2O2S i Ox系ガラス
粉末(Pb0:85%、B2O2:1B%、5iOz:
4%、ZnO:2%、A/!、03:1%)30%とを
混合して基材を作り、これをエチルセルローズをブチル
カルピトールに1(1量%溶解した有機質ビヒクル中に
分散させて、導電性ペーストを作成した。この導電性ペ
ーストをアルミナ基板上にスクリーン印刷し、所定の温
度で焼成して得られた導体の比抵抗、密着強度及び半田
付性を趨べ、その結果を第3表に示した。
第3表から明らかな様に、Ag或いはSn含有量が本発
明の範囲内である本発明例No、21〜27はいずれも
比抵抗が小さく、密着強度が良好で、半田付性が非常に
優れている。(◎+、◎+士は、◎よりも更に半田付性
が改善されている事を示す)。一方Ag或いはSn含有
量が少ない比較例No、28.29は、Ag或いはSn
添加による半田付性の一層の改善は認められない、又S
n含有量が多すぎる比較例No、31は比抵抗が大きく
なっている。
明の範囲内である本発明例No、21〜27はいずれも
比抵抗が小さく、密着強度が良好で、半田付性が非常に
優れている。(◎+、◎+士は、◎よりも更に半田付性
が改善されている事を示す)。一方Ag或いはSn含有
量が少ない比較例No、28.29は、Ag或いはSn
添加による半田付性の一層の改善は認められない、又S
n含有量が多すぎる比較例No、31は比抵抗が大きく
なっている。
(発明の効果〕
本発明による導電性ペーストは、低温度で焼成すること
が出来ると共に、絶縁基板と充分な密着性を有し、且つ
導電性及び半田付性に優れた導電回路を形成することが
出来、工業上顕著な効果を奏するものである。
が出来ると共に、絶縁基板と充分な密着性を有し、且つ
導電性及び半田付性に優れた導電回路を形成することが
出来、工業上顕著な効果を奏するものである。
Claims (7)
- (1)銅、銅を主成分とした銅合金の群から選ばれた1
種または2種以上の混合物からなる導電性物質の粉末5
0〜95wt%と、軟化点が300〜600℃、熱膨張
率が6〜13×10^−^6℃^−^1のガラス粉末5
〜50wt%とからなる基材を有機質ビヒクル中に分散
させたことを特徴とする低温焼成型導電性ペースト。 - (2)導電性物質粉末が銅粉末である事を特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の低温焼成型導電性ペースト。 - (3)銅合金がCu−Ag、Cu−Sn、Cu−Ag−
Snの群から選ばれたいずれかの合金で、Agの含有量
が0.05〜50wt%、Snの含有量が0.01〜1
0wt%の範囲のものである事を特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の低温焼成型導電性ペースト。 - (4)軟化点が300〜600℃、熱膨張率が6〜13
×10^−^6℃^−^1のガラス粉末が、PbO−B
_2O_3−SiO_2を主成分とした硼硅酸鉛ガラス
である事を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の低温
焼成型導電性ペースト。 - (5)電気絶縁性無機基板上に銅、銅を主成分とした銅
合金の群から選ばれた1種または2種以上の混合物から
なる導電性物質の粉末50〜95wt%と、軟化点が3
00〜600℃、熱膨張率が6〜13×10^−^6℃
^−^1のガラス粉末5〜50wt%とからなる基材を
有機質ビヒクル中に分散させてなる低温焼成型導電性ペ
ーストを用いて、所望の方法により回路パターンを形成
したのち、これを300〜600℃の大気中で加熱し、
ついで還元性雰囲気中で400〜600℃に加熱する事
を特徴とする回路基板の製造方法。 - (6)電気絶縁性無機基板がセラミックス基板、ホーロ
ー基板の群から選ばれたいずれかの基板である事を特徴
とする特許請求の範囲第5項記載の回路基板の製造方法
。 - (7)低温焼成型導電性ペーストをスクリーン印刷して
回路パターンを形成する事を特徴とする特許請求の範囲
第5項記載の回路基板の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13747687A JPS63301405A (ja) | 1987-05-30 | 1987-05-30 | 低温焼成型導電性ペ−スト及び回路基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13747687A JPS63301405A (ja) | 1987-05-30 | 1987-05-30 | 低温焼成型導電性ペ−スト及び回路基板の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63301405A true JPS63301405A (ja) | 1988-12-08 |
Family
ID=15199510
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13747687A Pending JPS63301405A (ja) | 1987-05-30 | 1987-05-30 | 低温焼成型導電性ペ−スト及び回路基板の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63301405A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03245405A (ja) * | 1990-02-23 | 1991-11-01 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 銀系合金粉末ならびに該粉末を用いた導電性ペースト |
| JPH03245404A (ja) * | 1990-02-23 | 1991-11-01 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 銀合金導電性ペースト |
-
1987
- 1987-05-30 JP JP13747687A patent/JPS63301405A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03245405A (ja) * | 1990-02-23 | 1991-11-01 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 銀系合金粉末ならびに該粉末を用いた導電性ペースト |
| JPH03245404A (ja) * | 1990-02-23 | 1991-11-01 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 銀合金導電性ペースト |
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