JPS63303884A - 半導体結晶成長用アンプル - Google Patents

半導体結晶成長用アンプル

Info

Publication number
JPS63303884A
JPS63303884A JP14051387A JP14051387A JPS63303884A JP S63303884 A JPS63303884 A JP S63303884A JP 14051387 A JP14051387 A JP 14051387A JP 14051387 A JP14051387 A JP 14051387A JP S63303884 A JPS63303884 A JP S63303884A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ampoule
crucible
semiconductor crystal
carbon
wall surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14051387A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuo Saito
哲男 齊藤
Mitsuo Yoshikawa
吉河 満男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP14051387A priority Critical patent/JPS63303884A/ja
Publication of JPS63303884A publication Critical patent/JPS63303884A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 ブリッジマン法を用いてカドミウム・亜鉛・テルル(C
d+−2Znz Te)のような化合物半導体の単結晶
を製造する際に用いるアンプルであって、このアンプル
を外管と該外管内に挿入される坩堝の二重構造とし、こ
の坩堝はカーボン製とし、かつ単結晶形成材料が充填さ
れる坩堝の内壁面はカーボン被膜を塗布し、坩堝を加工
する際に坩堝内壁に生じた凹凸部をカーボン被膜で埋め
ることで平滑にする。そして坩堝内部に半導体結晶を充
填した後、外管と坩堝内を排気後、外管の他端部を封止
し、坩堝内部の結晶形成材料を溶融後、坩堝の・底部よ
り溶融物を固化させて単結晶に成長させた時、溶融した
結晶形成材料が坩堝内壁の凹凸部に入り込み、この入り
込んだ結晶形成材料が固化する際に結晶内に入る歪を無
(すようにして低転位密度の結晶を得るようにする。
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体結晶成長用アンプルに係り、特に溶融し
た半導体結晶形成材料が、アンプルの内壁面の凹凸部に
入り込まないようにした半導体結晶成長用アンプルに関
する。
赤外線検知素子の形成材料としてはエネルギーバンドギ
ャップの狭い、光電変換効率の良い水銀・カドミウム・
テルル(Hg+□Cd、 Te)のような化合物半導体
結晶が用いられている。
このような化合物半導体結晶は素子形成上、都合が良い
ように薄層で大面積の結晶が必要で、そのためこのHg
1−XCd、 Teと格子整合が得やすいCd+−+t
 Zn、 Teの単結晶を基板結晶として用い、そのの
上にHg+−x Cdx Teの結晶をエピタキシャル
成長している。このような基板として用いるCd、−、
Zn。
Teの単結晶は転位密度が低く、かつ小傾角粒界の少な
い単結晶が望まれている。
〔従来の技術〕
従来、このようなCd、、 ZnヨTeの単結晶を形成
するには、第3図に示すように有底で先端部Aが尖った
構造の石英製のアンプル1内の内壁面にプロパンガス等
を反応ガスとして用いた化学的蒸着法(CVD)により
カーボンの被膜2を塗布する。
次いで単結晶形成材料としてのカドミウム(Cd)、亜
鉛(Zn)、テルル(Te)のそれぞれを所定の重量で
秤量した後、該形成材料3を先端の尖ったアンプル1中
に充填し、このアンプル内を排気した後、他端部Bを封
止する。
次いでこのアンプル1を、図示しないが加熱炉内に挿入
し、該形成材料3を溶融後、アンプル1を加熱炉3内で
矢印C方向に沿って降下させながら単結晶形成材料3の
融液を先端部Aより固化させてCd+−z Zn、 T
eの単結晶を得ている。そしてカーボン被膜2をアンプ
ル1の内壁に塗布することで、単結晶形成材料のZnと
Cdとの酸化物が石英アンプルと反応するのを防止する
ことが、J、Electrochem、soc、5OL
ID 5TATE 5CIENCE vol 118.
No1l、P1790 (1971)に開示されている
然し、このようなアンプルではアンプルを形成する石英
ガラスとカーボン膜との間の熱膨張率の相違によって、
石英アンプル1の内壁に塗布したカーボン膜2が剥離し
、結晶形成材料3と石英アンプル1が反応し、溶融した
結晶形成材料3を固化する過程で形成される結晶に歪み
が導入される問題がある。
そこで第4図に示すように上記石英アンプル1内にカー
ボン坩堝11を設け、上記したカーボン膜のの剥離現象
を防止し、石英アンプル1と結晶形成材料3の反応を防
止した構造を採っている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
然し、上記したカーボン坩堝を用いた場合でも、坩堝の
内壁面は平滑に加工することは困難で、結晶成長時に坩
堝の内壁面に溶融した結晶形成材料が坩堝の内壁面の凹
凸部に入り込み、それが凝固するために、その凝固の際
に形成される半導体結晶に歪みが入って形成される半導
体結晶に結晶欠陥が発生したり、或いはカーボン坩堝に
凝固した結晶形成材料が付着した状態となり、坩堝より
結晶が取り出せなく成る問題がある。
本発明は上記した問題点を解決し、内壁面を平滑にして
凹凸を無くし、その凹凸部に結晶形成材料が入り込まな
いようにして形成される半導体結晶に結晶欠陥が発生し
ていようにし、また容易に成長した結晶が取り出せるよ
うな半導体結晶成長用アンプルの提供を目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的を達成する本発明の半導体結晶成長用アンプル
は、一端が有底の外管と、該外管内に挿入され、内壁面
にカーボン被膜が塗布され、内部に半導体結晶形成材料
が充填されるカーボン類の坩堝とよりなる構成を採って
いる。
〔作用〕
本発明の半導体結晶成長用アンプルは、石英製のアンプ
ル内に、内壁面にカーボン被膜が塗布されたカーボン類
の坩堝が設けられ、この坩堝の内壁面はカーボン被膜が
塗布されているので、加工時の内壁面の凹凸部が、上記
カーボン被膜のカーボンの粒子で埋められることになる
ので内壁面が平滑となる。そのため、この坩堝内に半導
体結晶形成用材料を充填して該材料を溶融した後、固化
して結晶を形成する際に、カーボン坩堝の内壁面の凹凸
部分に溶融した半導体結晶が入り込み、それが凝固する
際に形成される半導体結晶の内部に歪が入るのを防ぐこ
とができる。
また半導体結晶形成材料が充填される坩堝の内壁面がテ
ーパー状を呈しているので坩堝より成長して固化した結
晶が容易に取り出せるようになる。
〔実施例〕
第1図は本発明の半導体結晶成長用アンプルの断面図で
、第2図は第1図の要部拡大図である。
第1図に示すように本発明の半導体結晶成長用アンプル
21は、先端りが尖った構造で他端部Eが絞られた有底
の石英製の外管22と、その内部に挿入されるカーボン
坩堝23の二重管構造を採っており、そのカーボン坩堝
23の内壁面にはカーボン被膜24が塗布されている。
このような半導体結晶成長用アンプル21を形成するに
は、一端が有底の石英よりなる外管22の内部に、内壁
面の側壁部25が垂直方向から所定の角度θの傾斜角度
を有するように、形成されているカーボン坩堝23を挿
入する。そして後の工程でアンプル21内に半導体結晶
形成材料を充填してアンプル内21を排気後、封止する
工程を容易にするため、他端部Eを絞る。
この状態で石英アンプル21内を排気した後、該アンプ
ル21内にメタンガス等の炭素原子を含むガスを担持し
た不活性ガスをキャリアガスとして導入し、石英アンプ
ル21を加熱して前記導入されたメタンガスを熱分解し
、形成されるカーボン被膜24をカーボン坩堝23の内
壁面に約5μmの厚さで被着させる。
この坩堝23内に前記したCd、 Zn、↑eの半導体
結晶形成材料26を充填し、アンプル21内を排気した
後、アンプル21の他端部Eを封止して、アンプル21
を絞った他端部Eに支持具を取りつけてこのアンプル2
1を図示しない加熱炉内に導入して半導体結晶形成材料
26を溶融した後、カーボン坩堝23の底部の尖端部よ
り順次固化して単結晶を形成する。
このようにすると、第2図に示すようにカーボン坩堝2
3の内壁面は凹凸形状を採っているが、その内壁面23
にカーボン被膜24を塗布することで、溶融した半導体
結晶形成材料26が接触する面は平滑な面となり、従来
のアンプルに於けるようにアンプルの側壁部の凹凸部に
溶融した結晶形成材料が入り込まないようになり、結晶
欠陥の少ない結晶を形成することができる。
〔発明の効果〕
以上述べたように、本発明の半導体結晶成長用アンプル
によれば、半導体結晶内部に転位が発生するのが防止さ
れ、低転位の高品位な半導体結晶が得られる効果がある
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の半導体結晶成長用アンプルの断面図、 第2図は第1図の要部拡大図、 第3図および第4図は従来の半導体結晶成長用アンプル
の断面図である。 図に於いて、 21は半導体結晶成長用アンプル、22は外管、23は
カーボン坩堝、24はカーボン被膜、25は側壁部、2
6は半導体結晶形成用材料、Dは底部、Eは他端第1図 S囃(fむ7き74/l翼尺凶 第2図 赴の7)7・ル3鉾面図 第3図 突上めT〉7・歩め制“面図 第4図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一端が有底の外管(21)と、該外管(21)内
    に挿入され、内壁面にカーボン被膜(24)が塗布され
    、内部に半導体結晶形成材料(26)が充填されるカー
    ボン製の坩堝(23)の二重管構造であることを特徴と
    する半導体結晶成長用アンプル。
  2. (2)前記坩堝(23)の内壁の側壁部(25)に垂直
    方向に対して所定の傾斜角度を付設したことを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の半導体結晶成長用アンプ
    ル。
JP14051387A 1987-06-03 1987-06-03 半導体結晶成長用アンプル Pending JPS63303884A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14051387A JPS63303884A (ja) 1987-06-03 1987-06-03 半導体結晶成長用アンプル

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14051387A JPS63303884A (ja) 1987-06-03 1987-06-03 半導体結晶成長用アンプル

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63303884A true JPS63303884A (ja) 1988-12-12

Family

ID=15270395

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14051387A Pending JPS63303884A (ja) 1987-06-03 1987-06-03 半導体結晶成長用アンプル

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63303884A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005298301A (ja) * 2004-04-15 2005-10-27 Sumitomo Electric Ind Ltd 化合物単結晶の製造方法およびそれに用いられる保持具付き単結晶成長用容器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005298301A (ja) * 2004-04-15 2005-10-27 Sumitomo Electric Ind Ltd 化合物単結晶の製造方法およびそれに用いられる保持具付き単結晶成長用容器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0244987B1 (en) A process for growing a multi-component crystal
EP0186213B1 (en) Method for synthesizing compound semiconductor polycrystals and apparatus therefor
JPS60251191A (ja) 高解離圧化合物単結晶成長方法
JPS63303884A (ja) 半導体結晶成長用アンプル
JPS54123585A (en) Method and apparatus for growing high dissociation pressure compound single crystal for semiconductor by pulling double-sealed melt
JP3656266B2 (ja) 化合物半導体結晶の製造方法及び製造用るつぼ
JPS58135626A (ja) 化合物半導体単結晶の製造方法及び製造装置
JPS63225595A (ja) 半導体結晶成長用アンプル
JP2830306B2 (ja) 化合物半導体結晶の製造装置
JP2611336B2 (ja) 高解離圧化合物半導体処理装置
JPS582036A (ja) 半導体結晶の製造方法
JPH05139884A (ja) 単結晶の製造方法
JPH07165488A (ja) 結晶成長装置及び結晶成長方法
JPS5935878B2 (ja) 半導体単結晶育成法
JPS63274691A (ja) 単結晶育成方法と装置
JPH10139597A (ja) Iii −v 族化合物半導体単結晶の成長容器
JPS58176194A (ja) 単結晶成長用容器
JPS60218851A (ja) 半導体装置の製造方法
JP3011214B1 (ja) Ii―vi族化合物半導体結晶の成長方法
JPH0450188A (ja) 単結晶の製造方法および製造装置
JP2726887B2 (ja) 化合物半導体単結晶の製造方法
JPS6379792A (ja) 単結晶成長装置
JPH01122995A (ja) 化合物半導体単結晶の成長方法
JPS58135195A (ja) 半導体結晶成長用アンプル
JPH11147800A (ja) Ii−vi族化合物半導体結晶の成長方法