JPS63307197A - 高温超伝導酸化物薄膜の製造方法 - Google Patents
高温超伝導酸化物薄膜の製造方法Info
- Publication number
- JPS63307197A JPS63307197A JP62140895A JP14089587A JPS63307197A JP S63307197 A JPS63307197 A JP S63307197A JP 62140895 A JP62140895 A JP 62140895A JP 14089587 A JP14089587 A JP 14089587A JP S63307197 A JPS63307197 A JP S63307197A
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- thin film
- temperature superconductive
- crystal structure
- xnx
- substance
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
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- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は高温超伝導酸化物薄膜を任意の基板材料上にエ
ピタキシャル成長させるための薄膜の製法に関するもの
である。
ピタキシャル成長させるための薄膜の製法に関するもの
である。
(従来の技術)
(Lal−x Bax )2CuO4、(La+−X
5rX)zcuo4、(0,01<x<0.15) 、
Ba2YCu+0.−6 (δ’−0,2)は超伝導転
移温度(Tc)がそれぞれ約30に、40におよび90
にの高温超伝導酸化物であり、特にBazYCu:+0
t−6は窒素温度で動作する超伝導デバイス実現のため
に重要な材料である。
5rX)zcuo4、(0,01<x<0.15) 、
Ba2YCu+0.−6 (δ’−0,2)は超伝導転
移温度(Tc)がそれぞれ約30に、40におよび90
にの高温超伝導酸化物であり、特にBazYCu:+0
t−6は窒素温度で動作する超伝導デバイス実現のため
に重要な材料である。
超伝導デバイスを実現する第一歩として薄膜化が必要で
あり、その薄膜作製には基板材料が非常に重要となって
来る。
あり、その薄膜作製には基板材料が非常に重要となって
来る。
上記超伝導物質は超伝導特性に大きな異方性があること
が判っており(Y、 Hidaka et al、J
pn。
が判っており(Y、 Hidaka et al、J
pn。
J、Appl、Phys、26 (4)、 L377
(1987)および26 (5)L344 (198
7))、従ってその超伝導特性を充分発揮させた状態で
利用するためには基板上にエピタキシャル成長させるこ
とが望ましい。ところが、エピタキシャル成長のために
は、結晶の対称性、格子定数が薄膜に近いことが必要で
、現在までにエピタキシャル成長を可能としている基板
材料は5rTi03のみである( M、5uzuki
et al、+ Jpn、J。
(1987)および26 (5)L344 (198
7))、従ってその超伝導特性を充分発揮させた状態で
利用するためには基板上にエピタキシャル成長させるこ
とが望ましい。ところが、エピタキシャル成長のために
は、結晶の対称性、格子定数が薄膜に近いことが必要で
、現在までにエピタキシャル成長を可能としている基板
材料は5rTi03のみである( M、5uzuki
et al、+ Jpn、J。
Appl、 Phy、 26 (4) 、 L521
(1987))。
(1987))。
(発明が解決しようとする問題点)
ところが、SrTiO3の単結晶はベルヌーイ法で製作
されており、引き上げ法で製作されるSiなどのように
大きなサイズの単結晶を得ることができない。そこでS
i基板など充分な大きさのものが入手可能な材料の上に
薄膜をエピタキシャル成長する技術が要求される。
されており、引き上げ法で製作されるSiなどのように
大きなサイズの単結晶を得ることができない。そこでS
i基板など充分な大きさのものが入手可能な材料の上に
薄膜をエピタキシャル成長する技術が要求される。
本発明は高Tc超伝導酸化物の薄膜を大きな基板面積の
得られる基板材料上にエピタキシャル成長させる製法を
提供することを目的とする。
得られる基板材料上にエピタキシャル成長させる製法を
提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
高温超伝導酸化物(M+−xNx)2CuOn また
はMNzCuJff−6(M=Y、La+希土類元素;
N=Ba、Sr+Ca ;δζ0.1〜0.2)など
はペロブスカイト型結晶構造の変形で、ペロブスカイト
型およびNaCl型の両法の結晶構造と整合性がよい(
第1図参照)。第2図のようにシリコン(Si)、サフ
ァイア(A1zO+)などの基板1の上に、NaCl型
結晶構造をもち、格子定数が上記物質に近い材料の薄膜
2を数10A〜数1000Aだけエピタキシャル成長さ
せておき、その上に上述の超伝導酸化物3を堆積させる
ことにより、これら高Tc超伝導酸化物をエピタキシャ
ル成長させることができる。
はMNzCuJff−6(M=Y、La+希土類元素;
N=Ba、Sr+Ca ;δζ0.1〜0.2)など
はペロブスカイト型結晶構造の変形で、ペロブスカイト
型およびNaCl型の両法の結晶構造と整合性がよい(
第1図参照)。第2図のようにシリコン(Si)、サフ
ァイア(A1zO+)などの基板1の上に、NaCl型
結晶構造をもち、格子定数が上記物質に近い材料の薄膜
2を数10A〜数1000Aだけエピタキシャル成長さ
せておき、その上に上述の超伝導酸化物3を堆積させる
ことにより、これら高Tc超伝導酸化物をエピタキシャ
ル成長させることができる。
本発明について概説すると本発明の第一の発明は高温超
伝導酸化物(M+−xNx)zcuo4(M=Y、La
、希土類元素; N=Ba、 Sr、 Ca )または
MNzCuaOl−6(δζ0.1〜0.2)の薄膜作
製工程において、格子定数が上記物質に近< NaCl
型結晶構造をもつ物質の薄膜層を基板表面にエピタキシ
ャル成長させた後、上記の(M+−XNx) 1cu0
4またはMNzCu30t−6の薄膜を堆積させ、エピ
タキシャル成長させるものである。
伝導酸化物(M+−xNx)zcuo4(M=Y、La
、希土類元素; N=Ba、 Sr、 Ca )または
MNzCuaOl−6(δζ0.1〜0.2)の薄膜作
製工程において、格子定数が上記物質に近< NaCl
型結晶構造をもつ物質の薄膜層を基板表面にエピタキシ
ャル成長させた後、上記の(M+−XNx) 1cu0
4またはMNzCu30t−6の薄膜を堆積させ、エピ
タキシャル成長させるものである。
第二の発明は、第一の発明で形成させた薄膜の上にNa
Cl型結晶構造の絶縁層を10〜30A堆積させ、さら
に(M+−xNx)2CuO4 またはMNzCu3
0y−6なる薄膜を堆積させ、ジョセフソン接合を同時
に形成させるものである。
Cl型結晶構造の絶縁層を10〜30A堆積させ、さら
に(M+−xNx)2CuO4 またはMNzCu3
0y−6なる薄膜を堆積させ、ジョセフソン接合を同時
に形成させるものである。
ここでNaCl型結晶構造をもつ物質としてはBad。
SrO,CaO等のアルカリ土類の酸化物が適している
。
。
(実施例)
以下実施例により本発明を具体的に説明する。
(実施例1 ) St (100)面上に特願昭61
−180661 r複合酸化物薄膜の製造方法」、特願
昭61−252486 r酸化物薄膜の製造装置」によ
る第3図の装置中の基板ホルダ11にシリコン(St)
基板1を取りつける。真空度10−9Torr以下とし
、基板温度を500°Cとして、Kセル12から金属S
rを蒸発させながら、Srの堆積膜に酸素ビームを50
eVで打ち込み、NaCl型のSrO薄膜を厚さ500
A堆積させる。SrOの格子定数は第1図りで3.63
4 A ?BazYCu30.−6の軸の長さに極めて
近い。
−180661 r複合酸化物薄膜の製造方法」、特願
昭61−252486 r酸化物薄膜の製造装置」によ
る第3図の装置中の基板ホルダ11にシリコン(St)
基板1を取りつける。真空度10−9Torr以下とし
、基板温度を500°Cとして、Kセル12から金属S
rを蒸発させながら、Srの堆積膜に酸素ビームを50
eVで打ち込み、NaCl型のSrO薄膜を厚さ500
A堆積させる。SrOの格子定数は第1図りで3.63
4 A ?BazYCu30.−6の軸の長さに極めて
近い。
次に、このSrOの上にBa、 Y、 Cuの金属をに
セル12から蒸発させながら、酸素ビーム(0)を50
eVで打ち込んだ酸化膜をエピタキシャル成長させる。
セル12から蒸発させながら、酸素ビーム(0)を50
eVで打ち込んだ酸化膜をエピタキシャル成長させる。
約2000A堆積させた薄膜の抵抗変化を第4図に示す
が、Tcは約90にである。SrOとBazYCu+(
1+−6の結晶構造の整合性が非常によいため、すぐれ
た超伝導薄膜が得られる。
が、Tcは約90にである。SrOとBazYCu+(
1+−6の結晶構造の整合性が非常によいため、すぐれ
た超伝導薄膜が得られる。
〔実施例2〕 実施例1の工程に引続き、SrOを20
A堆積させ、さらにBazYCus(++−6を200
0 A堆積させることによりジョセフソン接合を形成で
きる(第5図) 、 4.2 Kで■c〜5×105A
IcIIlで2△はBC3の値の約2.5倍であった。
A堆積させ、さらにBazYCus(++−6を200
0 A堆積させることによりジョセフソン接合を形成で
きる(第5図) 、 4.2 Kで■c〜5×105A
IcIIlで2△はBC3の値の約2.5倍であった。
〔実施例3〕 実施例と同じ< St (100)面上
に500°CでSrOを50OA堆積させた後、La、
Sr。
に500°CでSrOを50OA堆積させた後、La、
Sr。
Cuの金属をにセルより蒸発させながら、酸素ビームを
照射して(Lao、 qSro、 I)2CLI04を
厚さ3000人堆積させ、第4図の特性の超伝導薄膜を
得た。
照射して(Lao、 qSro、 I)2CLI04を
厚さ3000人堆積させ、第4図の特性の超伝導薄膜を
得た。
以上Ba、YCu+Ot−6および(Lao、 、sr
o、 1)2CL104の場合について実施例を述べた
が、Nacl型構造の物質として適当な材料(BaO、
SrO,CaO等のアルカリ土類の酸化物)を選ぶこ
とにより、任意の(Ml−X Nx)zcuo4、MN
zCu+(1+−6の薄膜をSt基板、サファイア基板
等の上にエピタキシャル成長させることができる。
o、 1)2CL104の場合について実施例を述べた
が、Nacl型構造の物質として適当な材料(BaO、
SrO,CaO等のアルカリ土類の酸化物)を選ぶこ
とにより、任意の(Ml−X Nx)zcuo4、MN
zCu+(1+−6の薄膜をSt基板、サファイア基板
等の上にエピタキシャル成長させることができる。
(発明の効果)
St、サファイア、Zr(hなど比較的大きな単結晶が
入手できる材料を基板として用い、その上に岩塩構造の
物質をエピタキシャル成長させ、その上に高Tc超伝導
酸化物をエピタキシャル成長させることができ、広い面
積を利用できるので超伝導デバイス開発上の利点が大き
い。
入手できる材料を基板として用い、その上に岩塩構造の
物質をエピタキシャル成長させ、その上に高Tc超伝導
酸化物をエピタキシャル成長させることができ、広い面
積を利用できるので超伝導デバイス開発上の利点が大き
い。
第1図Aはペロブスカイト形超伝導酸化物BaPb1−
x Bix 03の結晶構造、Bは(La+−XSrx
)zcuo4の構造、CはBa2YCu3O7−6の
構造、DはNaCl型のSrOまたはBrOの構造であ
る。 第2図は本発明の薄膜の構成、第3図は本発明に用いる
薄膜製造装置、第4図は実施例1と3の薄膜の抵抗温度
変化、第5図はBa2YCuiO+−6のジョセフソン
接合の特性である。 1・・・基板、 2・・・NaCl型薄膜層、3− (
Ml−、Nx)2Cu04またはMNzCu:+07−
6 なる酸化物超伝導薄膜、4・・・エビ成長室、5
・・・酸素イオン源、6・・・イオンソース、7・・・
質量分離器、8・・・酸素ビーム、9・・・減速機構、
10・・・中和機構、11・・・基板ホルダ、12・・
・Kセル、13・・・Eガン、14・・・金属元素ビー
ム、15・・・予備排気室。
x Bix 03の結晶構造、Bは(La+−XSrx
)zcuo4の構造、CはBa2YCu3O7−6の
構造、DはNaCl型のSrOまたはBrOの構造であ
る。 第2図は本発明の薄膜の構成、第3図は本発明に用いる
薄膜製造装置、第4図は実施例1と3の薄膜の抵抗温度
変化、第5図はBa2YCuiO+−6のジョセフソン
接合の特性である。 1・・・基板、 2・・・NaCl型薄膜層、3− (
Ml−、Nx)2Cu04またはMNzCu:+07−
6 なる酸化物超伝導薄膜、4・・・エビ成長室、5
・・・酸素イオン源、6・・・イオンソース、7・・・
質量分離器、8・・・酸素ビーム、9・・・減速機構、
10・・・中和機構、11・・・基板ホルダ、12・・
・Kセル、13・・・Eガン、14・・・金属元素ビー
ム、15・・・予備排気室。
Claims (3)
- (1)高温超伝導酸化物(M_1_−_xNx)_2C
uO_4(M=Y、La、希土類元素;N=Ba、Sr
、Ca)またはMN_2Cu_3O_7_−_δ(δ≒
0.1〜0.2)の薄膜作製工程において、格子定数が
上記物質に近く、NaCl型結晶構造をもつ物質の薄膜
層を基板表面にエピタキシャル成長させた後、上記の(
M_1_−_xNx)_2CuO_4またはMN_2C
u_3O_7_−_δの薄膜を堆積させ、エピタキシャ
ル成長させることを特徴とする高温超伝導酸化物薄膜の
製造方法。 - (2)高温超伝導酸化物(M_1_−_xNx)_2C
uO_4(M=Y、La、希土類元素;N=Ba、Sr
、Ca)またはMN_2Cu_3O_7_−_δ(δ≒
0.1〜0.2)の薄膜作製工程において、格子定数が
上記物質に近く、NaCl型結晶構造をもつ物質の薄膜
層を基板表面にエピタキシャル成長させた後、上記の(
M_1_−_xNx)_2CuO_4またはMN_2C
u_3O_7_−_δの薄膜を堆積させ、エピタキシャ
ル成長させた後該薄膜の上にNaCl型結晶構造の絶縁
層を10〜30Å堆積させ、再び(M_1_−_xNx
)_2CuO_4またはMN_2Cu_3O_7_−_
δの薄膜を堆積させ、ジョセフソン接合を同時に形成す
ることを特徴とする高温超伝導酸化物薄膜の製造方法。 - (3)NaCl型結晶構造をもつ物質としてアルカリ土
類の酸化物(BaO、SrO、CaO)を用いることを
特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項記載の高
温超伝導酸化物薄膜の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62140895A JPS63307197A (ja) | 1987-06-05 | 1987-06-05 | 高温超伝導酸化物薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62140895A JPS63307197A (ja) | 1987-06-05 | 1987-06-05 | 高温超伝導酸化物薄膜の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63307197A true JPS63307197A (ja) | 1988-12-14 |
Family
ID=15279285
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62140895A Pending JPS63307197A (ja) | 1987-06-05 | 1987-06-05 | 高温超伝導酸化物薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63307197A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104178808A (zh) * | 2014-08-06 | 2014-12-03 | 上海交通大学 | 一种制备高温超导人工晶界的液相外延方法 |
-
1987
- 1987-06-05 JP JP62140895A patent/JPS63307197A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104178808A (zh) * | 2014-08-06 | 2014-12-03 | 上海交通大学 | 一种制备高温超导人工晶界的液相外延方法 |
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