JPS63308536A - 伸び計 - Google Patents
伸び計Info
- Publication number
- JPS63308536A JPS63308536A JP3880687A JP3880687A JPS63308536A JP S63308536 A JPS63308536 A JP S63308536A JP 3880687 A JP3880687 A JP 3880687A JP 3880687 A JP3880687 A JP 3880687A JP S63308536 A JPS63308536 A JP S63308536A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image sensor
- test piece
- gauge
- signal
- gauge mark
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［作業上の利用分野］
本発明は、材料試験における試験片の標点間の変位を測
定する伸び計に関する。
定する伸び計に関する。
［従来技術］
材料試験機の伸び計として、イメージ・センサを用いて
試験片に明暗のコントラストをつけて表示された標点マ
ークを光学的に読み取るようにしたものが使用されてい
る。イメージ・センサへの投影像は、明暗をあらわす二
値化信号に変換されるが、二値化のためにイメージ・セ
ンサからの出力をあらかじめ設定されているスライスレ
ベルとコンパレータ処理している。
試験片に明暗のコントラストをつけて表示された標点マ
ークを光学的に読み取るようにしたものが使用されてい
る。イメージ・センサへの投影像は、明暗をあらわす二
値化信号に変換されるが、二値化のためにイメージ・セ
ンサからの出力をあらかじめ設定されているスライスレ
ベルとコンパレータ処理している。
［発明が解決しようとする問題点］
しかしながら、イメージ・センサとしては、従来例えば
ＣＣＤイメージ・センサであって一次元（リニア）イメ
ージ・センサ２５，２６をイ吏用しており、このリニア
イメージ・センサによって試験片上の標線を追従するよ
うに構成した伸び計では、第３図に示すように視野２７
．２８内の試験片の一部を見ていることになる。
ＣＣＤイメージ・センサであって一次元（リニア）イメ
ージ・センサ２５，２６をイ吏用しており、このリニア
イメージ・センサによって試験片上の標線を追従するよ
うに構成した伸び計では、第３図に示すように視野２７
．２８内の試験片の一部を見ていることになる。
そのため、試験片が引張り試験の途中できわめて細くな
る材質のものであれば、試験片そのものが視野外（視野
の右や左）へ出てしまうといった事態を生じる可能性が
あり、測定を続けることができないという問題点があっ
た。
る材質のものであれば、試験片そのものが視野外（視野
の右や左）へ出てしまうといった事態を生じる可能性が
あり、測定を続けることができないという問題点があっ
た。
［問題点を解決するための手段］
上記問題点を解決するために、本発明は次のような構成
を採用した。
を採用した。
すなわち、本発明にかかる伸び計は、試験片に明暗のコ
ントラストをつけて表示された標点マークを読み取るイ
メージ・センサから出力されるビデオ信号を予め設定さ
れているスライス信号と比較して明をあらわす信号と暗
をあらわす信号に二値化し明暗識別信号として出力し、
この信号により試験片の伸びを計測する伸び計において
、前記イメージ・センサとして２次元（エリア）イメー
ジ・センサを使用したことを特徴としている。
ントラストをつけて表示された標点マークを読み取るイ
メージ・センサから出力されるビデオ信号を予め設定さ
れているスライス信号と比較して明をあらわす信号と暗
をあらわす信号に二値化し明暗識別信号として出力し、
この信号により試験片の伸びを計測する伸び計において
、前記イメージ・センサとして２次元（エリア）イメー
ジ・センサを使用したことを特徴としている。
［作用］
イメージ・センサとしてエリアイメージ・センサを使用
することによりセンサの視野が広がるので、試験片刃弓
■長り試験において極めて細くなっても視野からはずれ
なくなる。
することによりセンサの視野が広がるので、試験片刃弓
■長り試験において極めて細くなっても視野からはずれ
なくなる。
［実施例］
第１図は本発明の実施例を示す図で、試験片１に明暗の
コントラストをつけて表示された標点マーク２は、モー
タ２０で駆動される送りネジ（ねじざお）２１に取り付
けられた追跡カメラ３で読み取られる。追跡カメラ３は
、レンズ５によって結像する像をＣＣＤイメージ・セン
サ６によって読み取り、ビデオ信号として出力するよう
に構成されている。ＣＣＤ６にはエリアイメージ・セン
サが使用され、ＸＹ方向の２次元で結像する像を読み取
る。またＣＣＤ６はＣＣＤドライブ７によって駆動され
る。
コントラストをつけて表示された標点マーク２は、モー
タ２０で駆動される送りネジ（ねじざお）２１に取り付
けられた追跡カメラ３で読み取られる。追跡カメラ３は
、レンズ５によって結像する像をＣＣＤイメージ・セン
サ６によって読み取り、ビデオ信号として出力するよう
に構成されている。ＣＣＤ６にはエリアイメージ・セン
サが使用され、ＸＹ方向の２次元で結像する像を読み取
る。またＣＣＤ６はＣＣＤドライブ７によって駆動され
る。
ＣＣＤ６からの出力信号はＣＣＤビデオアンプ９へ人力
され、コンパレータ１１を介してビデオＲＡＭ］２へビ
デオ信号として格納される。ビデオ信号はさらにスライ
スしレベル発生Ｄ／Ａ装置１４から出力されたスライス
信号とともにコンパレータ１１へ人力され、スライス信
号と比較されて、明細書をあられす信号と暗をあらわす
信号に二値化される。
され、コンパレータ１１を介してビデオＲＡＭ］２へビ
デオ信号として格納される。ビデオ信号はさらにスライ
スしレベル発生Ｄ／Ａ装置１４から出力されたスライス
信号とともにコンパレータ１１へ人力され、スライス信
号と比較されて、明細書をあられす信号と暗をあらわす
信号に二値化される。
二値化された信号はＲＡＭ］９へ格納されてＣＰＵ］６
でデータ解析が行なわれる。ＣＰＵ１６でのデータ解析
はＲ２Ｍ１７に格納されたプログラムにしたがって行な
われる。すなわち、二値化された明暗識別信号における
明から暗若しくは暗から明への変化点を取り上げ、第１
の変化点と第２の変化点との中点位置を標点位置として
演算検出する。
でデータ解析が行なわれる。ＣＰＵ１６でのデータ解析
はＲ２Ｍ１７に格納されたプログラムにしたがって行な
われる。すなわち、二値化された明暗識別信号における
明から暗若しくは暗から明への変化点を取り上げ、第１
の変化点と第２の変化点との中点位置を標点位置として
演算検出する。
また、引張試験において試験片１が伸びると、標点マー
ク２も伸びて試験片の地肌とのコントラストも次第に低
下するためスライスレベル発生Ｄ／Ａ装置１４からのス
ライス信号のレベルを下げる必要がある。そこで、スラ
イスレベル発生Ｄ／Ａ装置１４のスライスレベルは、Ｉ
１０ボート１５からの信号によってコントロールされ、
その設定はＣＰＵ］６からの指令によって行なわれる。
ク２も伸びて試験片の地肌とのコントラストも次第に低
下するためスライスレベル発生Ｄ／Ａ装置１４からのス
ライス信号のレベルを下げる必要がある。そこで、スラ
イスレベル発生Ｄ／Ａ装置１４のスライスレベルは、Ｉ
１０ボート１５からの信号によってコントロールされ、
その設定はＣＰＵ］６からの指令によって行なわれる。
試験片１が伸びることによフて、標点マーク２が移動す
ると、ＣＰＵ］６からの指令がＩ１０ボート１５を介し
てモータ２０へ送られ、モータ２０を駆動することによ
って追跡カメラ３が標点マークを追跡する。
ると、ＣＰＵ］６からの指令がＩ１０ボート１５を介し
てモータ２０へ送られ、モータ２０を駆動することによ
って追跡カメラ３が標点マークを追跡する。
上記のように構成された伸び計において、ＣＯＤエリア
イメージ・センサが使用されているので、第２図に示す
ようにＸＹ方向の２次元像としてその視野が広がり、試
験片の標点マークを見失なうことなく追跡することがで
きる。
イメージ・センサが使用されているので、第２図に示す
ようにＸＹ方向の２次元像としてその視野が広がり、試
験片の標点マークを見失なうことなく追跡することがで
きる。
図示しない試験片１の他端に表示された標点マークも上
記と同様に構成された追跡カメラによって標点位置が検
出され、両標点位置が検出されることで標点間距離の変
位が正確に測定される。
記と同様に構成された追跡カメラによって標点位置が検
出され、両標点位置が検出されることで標点間距離の変
位が正確に測定される。
［発明の効果］
上記説明から明らかなように本発明にかかる伸び計によ
れば、イメージ・センサの視野が広がるので、引張試験
によって試験片が極めて細くなるような材質であっても
標点マークを視野からはずれることなく追跡でき、標点
間の変位を正確に測定することができるようになった。
れば、イメージ・センサの視野が広がるので、引張試験
によって試験片が極めて細くなるような材質であっても
標点マークを視野からはずれることなく追跡でき、標点
間の変位を正確に測定することができるようになった。
第１図は本発明の実施例の構成を示すブロック図、第２
図はエリアイメージ・センサによる読み取り像を例示す
る図である。 １・・・試験片 ２・・・標点マーク３・・・
追跡カメラ
図はエリアイメージ・センサによる読み取り像を例示す
る図である。 １・・・試験片 ２・・・標点マーク３・・・
追跡カメラ
Claims (1)
- （１）試験片に明暗のコントラストをつけて表示された
標点マークを読み取るイメージ・センサから出力される
ビデオ信号を予め設定されているスライス信号と比較し
て明をあらわす信号と暗をあらわす信号に二値化し明暗
識別信号として出力し、この信号により試験片の伸びを
計測する伸び計において、前記イメージ・センサとして
２次元（エリア）イメージ・センサを使用したことを特
徴とする伸び計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3880687A JPS63308536A (ja) | 1987-02-20 | 1987-02-20 | 伸び計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3880687A JPS63308536A (ja) | 1987-02-20 | 1987-02-20 | 伸び計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63308536A true JPS63308536A (ja) | 1988-12-15 |
Family
ID=12535535
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3880687A Pending JPS63308536A (ja) | 1987-02-20 | 1987-02-20 | 伸び計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63308536A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04204106A (ja) * | 1990-11-30 | 1992-07-24 | Shimadzu Corp | 光学式伸び計 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6136162A (ja) * | 1984-07-27 | 1986-02-20 | 導電性無機化合物技術研究組合 | 導電性セラミツク複合体 |
-
1987
- 1987-02-20 JP JP3880687A patent/JPS63308536A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6136162A (ja) * | 1984-07-27 | 1986-02-20 | 導電性無機化合物技術研究組合 | 導電性セラミツク複合体 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04204106A (ja) * | 1990-11-30 | 1992-07-24 | Shimadzu Corp | 光学式伸び計 |
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