JPS63310963A - 薄膜形成装置 - Google Patents
薄膜形成装置Info
- Publication number
- JPS63310963A JPS63310963A JP14655587A JP14655587A JPS63310963A JP S63310963 A JPS63310963 A JP S63310963A JP 14655587 A JP14655587 A JP 14655587A JP 14655587 A JP14655587 A JP 14655587A JP S63310963 A JPS63310963 A JP S63310963A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- grid
- counter electrode
- vacuum chamber
- source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明は、薄膜形成装置に関する。
(従来技術)
薄膜の形成に関しては従来からCVD法やPvD法等の
形成方式がしられ、これらを利用した種々の形成装置が
提案されている。
形成方式がしられ、これらを利用した種々の形成装置が
提案されている。
低温で薄膜形成でき、かつ密着性のよい薄膜を得る事を
ねらいとして、呂願人は先に、蒸発源と、これに対向す
るように基板を保持する対電極との間に熱電子発生用の
フィラメントを配するとともに、フィラメントと対電極
との間にグリッドを配し、グリッドを対電極に対して正
電位とするようにした薄膜形成装置を提案した(特開昭
59−89763号公報)。
ねらいとして、呂願人は先に、蒸発源と、これに対向す
るように基板を保持する対電極との間に熱電子発生用の
フィラメントを配するとともに、フィラメントと対電極
との間にグリッドを配し、グリッドを対電極に対して正
電位とするようにした薄膜形成装置を提案した(特開昭
59−89763号公報)。
この装置では、蒸発源から蒸発した蒸発物質をフィラメ
ントからの熱電子でイオン化し、グリッド、対電極間の
電界で加速して基板に当て、薄膜を形成するのであるが
、対電極に対するグリッ゛ドの電位が高すぎると、イオ
ンは過剰に加速され、かえって薄膜を損傷する恐れがあ
る。従ってグリッドの電位をなるべく低くしたい訳であ
るが、そうするとフィラメントからの熱電子が強く加速
されず、イオン化に適したエネルギーを持つ熱電子の密
度が少なくなり、蒸発物質のイオン化率が小さくなって
形成される薄膜の基板に対する密着性や結晶性に問題が
生ずる恐れがある。このため、この装置では良好な薄膜
形成の為にグリッド電圧の調整が面倒であった。
ントからの熱電子でイオン化し、グリッド、対電極間の
電界で加速して基板に当て、薄膜を形成するのであるが
、対電極に対するグリッ゛ドの電位が高すぎると、イオ
ンは過剰に加速され、かえって薄膜を損傷する恐れがあ
る。従ってグリッドの電位をなるべく低くしたい訳であ
るが、そうするとフィラメントからの熱電子が強く加速
されず、イオン化に適したエネルギーを持つ熱電子の密
度が少なくなり、蒸発物質のイオン化率が小さくなって
形成される薄膜の基板に対する密着性や結晶性に問題が
生ずる恐れがある。このため、この装置では良好な薄膜
形成の為にグリッド電圧の調整が面倒であった。
(目 的)
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであって
、その目的とするところは、良好な薄膜を低温で、容易
且つ確実に形成しうる新規な、薄膜形成装置の提供にあ
る。
、その目的とするところは、良好な薄膜を低温で、容易
且つ確実に形成しうる新規な、薄膜形成装置の提供にあ
る。
(構 成)
以下、本発明を説明する。
本発明の薄膜形成装置は、真空槽と、蒸発源と、対電極
と、グリッドと、電子銃と、電源手段と、導電手段とを
有する。
と、グリッドと、電子銃と、電源手段と、導電手段とを
有する。
真空槽には、活性ガスもしくは不活性ガス、または、こ
れら間者の混合ガスが導入される。蒸発源、対電極、グ
リッド、電子銃は真空槽内に配備される。
れら間者の混合ガスが導入される。蒸発源、対電極、グ
リッド、電子銃は真空槽内に配備される。
蒸発源は、真空槽内において蒸発物質を蒸発させるため
の手段であり、周知の各種の蒸発源1例えば、後述する
コイル状のものや、ポート状のもの、或は電子ビーム蒸
発源等を用い得る。
の手段であり、周知の各種の蒸発源1例えば、後述する
コイル状のものや、ポート状のもの、或は電子ビーム蒸
発源等を用い得る。
対電極は基板、即ち薄膜を形成すべき板状部材を蒸発源
と対向するように保持し、グリッドに対する電極となる
。
と対向するように保持し、グリッドに対する電極となる
。
グリッドは、上記蒸発源と対電極との間に配備されるが
、蒸発物質を通過させうる形態、例えば網状に構成され
る。
、蒸発物質を通過させうる形態、例えば網状に構成され
る。
電子銃は、蒸発物質をイオン化するための電子を発生す
る。
る。
電源手段は、真空槽内に所定の電気的状態を実現するた
めの手段である。
めの手段である。
導電手段は真空槽内と電源手段とを電気的に接続する手
段である。
段である。
薄膜形成時には、電源手段によりグリッドが対電極に対
し正電位に保たれる。
し正電位に保たれる。
本発明では、電子銃による電子で蒸発物質のイオン化を
行うので、グリッドの電位を低くしても蒸発物質を効率
よくイオン化できる。
行うので、グリッドの電位を低くしても蒸発物質を効率
よくイオン化できる。
(実施例)
以下、図面を参照しながら具体的な実施例に即して説明
する。
する。
図において、符号1は真空槽を示す。この真空槽はペル
ジャー3をベースプレート2の上に、バッキング4を介
して一体化することにより内部に密閉空間を形成する様
に構成されている。ベースプレート2には孔2aが穿設
されており、真空槽内部は図示されない真空排気系へ孔
2aを介して連結され真空槽1内の機密性を維持しつつ
、周知の方法で真空槽内に活性ガスもしくは不活性ガス
、又は、これら両者の混合ガスを導入しうるようになっ
ている。
ジャー3をベースプレート2の上に、バッキング4を介
して一体化することにより内部に密閉空間を形成する様
に構成されている。ベースプレート2には孔2aが穿設
されており、真空槽内部は図示されない真空排気系へ孔
2aを介して連結され真空槽1内の機密性を維持しつつ
、周知の方法で真空槽内に活性ガスもしくは不活性ガス
、又は、これら両者の混合ガスを導入しうるようになっ
ている。
真空槽1内には、図示のように蒸発源11、対電極5、
グリッド6、電子銃30が配備されている。電子銃30
はアノード9、補助グリッド8、フィラメント7により
構成される。
グリッド6、電子銃30が配備されている。電子銃30
はアノード9、補助グリッド8、フィラメント7により
構成される。
これら真空槽1内の各部材は、それぞれ支持体13.1
4,15,16,17.18により支持されている。
4,15,16,17.18により支持されている。
これら支持体13ないし18はいずれも導電性であって
、ベースプレート2との絶縁性を確保されつつ、かつ、
真空槽1内の密閉性を確保した状態でベースプレート2
を貫通して真空槽外へ引き出されている。即ち、これら
支持体は、各部材を支持するとともに、これら真空槽内
の部材と真空槽外とを電気的に接続する機能をも有し、
他の配線具とともに導電手段を構成する。
、ベースプレート2との絶縁性を確保されつつ、かつ、
真空槽1内の密閉性を確保した状態でベースプレート2
を貫通して真空槽外へ引き出されている。即ち、これら
支持体は、各部材を支持するとともに、これら真空槽内
の部材と真空槽外とを電気的に接続する機能をも有し、
他の配線具とともに導電手段を構成する。
なお、真空槽1内において、対電極5、蒸発源11は略
水平状態に設けられている。
水平状態に設けられている。
蒸発源11は例えばタングステ゛ンやモリブデン等の金
晟をコイル状に形成してなる抵抗加熱式のものであるが
、前述のごとく、ポート状に形成した蒸発源や、電子ビ
ーム蒸発源など、従来真空蒸着方式で用いられている各
種の蒸発源を蒸発源11にかえて用いることが出来る。
晟をコイル状に形成してなる抵抗加熱式のものであるが
、前述のごとく、ポート状に形成した蒸発源や、電子ビ
ーム蒸発源など、従来真空蒸着方式で用いられている各
種の蒸発源を蒸発源11にかえて用いることが出来る。
電源手段40は真空槽外に設けられ、図の如く、交流の
電源22、直流の電源23,24,25゜26.28を
有し、その外、図示されない、操作用の各種スイッチを
含んでいる。
電源22、直流の電源23,24,25゜26.28を
有し、その外、図示されない、操作用の各種スイッチを
含んでいる。
上記各電源は、以下の如く接続されている。
先ず、交流の電源22は蒸発源11を加熱するためのも
のであり、一対の支持体15−により蒸発源11に接続
されている。
のであり、一対の支持体15−により蒸発源11に接続
されている。
直流の電源23,24,25,26,28のうち電源2
3はそのプラス側が支持体14を介してグリッド6に接
続され、マイナス側は支持体13を介して対電極5に接
続されている。電源24は、電子銃30のフィラメント
7を支持する一対の支持体16に接続され、電源25は
そのプラス側が電源24.28のマイナス側に、マイナ
ス側は支持体17を介して電子銃30の補助グリッド8
に接続されている。電源26のプラス側は支持体18を
介して電子銃30のアノード9に接続され、マイナス側
は接地されている。さらに、電源28のプラス側は接地
されマイナス側は電源24のマイナス側と接続されてい
る。なお、図中の接地は必ずしも必用ではない。
3はそのプラス側が支持体14を介してグリッド6に接
続され、マイナス側は支持体13を介して対電極5に接
続されている。電源24は、電子銃30のフィラメント
7を支持する一対の支持体16に接続され、電源25は
そのプラス側が電源24.28のマイナス側に、マイナ
ス側は支持体17を介して電子銃30の補助グリッド8
に接続されている。電源26のプラス側は支持体18を
介して電子銃30のアノード9に接続され、マイナス側
は接地されている。さらに、電源28のプラス側は接地
されマイナス側は電源24のマイナス側と接続されてい
る。なお、図中の接地は必ずしも必用ではない。
グリッド6は網状など、蒸発物質を通過させ得る形態に
構成され、電源23の作用により、対電極5に対して正
電位とされる。従って、グリッド6と対電極5とのあい
だには、グリッド6から対電極5へ向かう電界が形成さ
れる。
構成され、電源23の作用により、対電極5に対して正
電位とされる。従って、グリッド6と対電極5とのあい
だには、グリッド6から対電極5へ向かう電界が形成さ
れる。
なお、図の装置にたいし、付加的なスリットや公知の電
子レンズの類を使用することも可能である。さらに、電
子銃30は、これを図のグリッド6を含む水平面に関し
、図示の態位と対称的に配備しても良い、基板や電子銃
の冷却の為の冷却水などの導入のためのパイプ等を真空
槽1内に配備することも勿論可能である。
子レンズの類を使用することも可能である。さらに、電
子銃30は、これを図のグリッド6を含む水平面に関し
、図示の態位と対称的に配備しても良い、基板や電子銃
の冷却の為の冷却水などの導入のためのパイプ等を真空
槽1内に配備することも勿論可能である。
さて、以下に実施例装置によ、る薄膜形成を説明する。
薄膜を形成するべき基板100を図の如く対電極5に保
持させて一グリッド6を介して蒸発源11と対向させる
。蒸発源11には、蒸発物質を保持させる。用いる蒸発
物質は、形成する薄膜に応じて定まり、例えばアルミニ
ウム、金のような金属や、金属の酸化物、フッ化物、硫
化物、あるいは合金等である。
持させて一グリッド6を介して蒸発源11と対向させる
。蒸発源11には、蒸発物質を保持させる。用いる蒸発
物質は、形成する薄膜に応じて定まり、例えばアルミニ
ウム、金のような金属や、金属の酸化物、フッ化物、硫
化物、あるいは合金等である。
真空槽1内には、活性ガス、不活性ガスあるいは、これ
らの混合ガスが10〜10−’Paの圧力で導入される
。ここでは説明の具体性のために、導入ガスは、アルゴ
ン等の不活性ガスであるとする。
らの混合ガスが10〜10−’Paの圧力で導入される
。ここでは説明の具体性のために、導入ガスは、アルゴ
ン等の不活性ガスであるとする。
この状態で装置を作動させると、蒸発源11に保持され
た蒸発物質が蒸発する。蒸発して微粒子となった蒸発物
質は、基板100へ向かって、広がるように飛行し、グ
リッド6を通り抜ける。
た蒸発物質が蒸発する。蒸発して微粒子となった蒸発物
質は、基板100へ向かって、広がるように飛行し、グ
リッド6を通り抜ける。
一方、電子銃30からは電子が放出されるが、この電子
もグリッド6へと向かう、そして、飛行中の蒸発物質に
ぶつかると5.これをイオン化する。
もグリッド6へと向かう、そして、飛行中の蒸発物質に
ぶつかると5.これをイオン化する。
かくして、グリッド近傍の空間にプラズマ状態が実現さ
れる。イオン化された蒸発物質は、グリッド6から対電
極5に向かう電界の作用により基板100に向かって加
速され、窩速で基板100に衝突し、これにより基板1
00上に所望の薄膜が形成される。
れる。イオン化された蒸発物質は、グリッド6から対電
極5に向かう電界の作用により基板100に向かって加
速され、窩速で基板100に衝突し、これにより基板1
00上に所望の薄膜が形成される。
電子銃30から放出される電子の、密度、エネルギー、
空間的分布は、電源手段の操作で制御することができ、
グリッド6の電圧が低い場合でも、蒸発物質を有効にイ
オン化出来る。
空間的分布は、電源手段の操作で制御することができ、
グリッド6の電圧が低い場合でも、蒸発物質を有効にイ
オン化出来る。
真空槽1内に、活性ガスを単独で、または不活性ガスと
ともに導入して成膜を行えば、蒸発物質を活性ガスと化
合させて、化合物による薄膜を得る事ができる。
ともに導入して成膜を行えば、蒸発物質を活性ガスと化
合させて、化合物による薄膜を得る事ができる。
例えば、不活性ガスとしてアルゴン、活性ガスとして酸
素を導入し、圧力を10−1〜10−”Paに調整し、
蒸発物質としてアルミニウムを選べば、基板上にA l
z Osの薄膜を形成する事ができる。
素を導入し、圧力を10−1〜10−”Paに調整し、
蒸発物質としてアルミニウムを選べば、基板上にA l
z Osの薄膜を形成する事ができる。
また、この場合、蒸着物質としてSiまたは、Si○を
選べば、5iOzの薄膜を得る事が出来る。蒸発物質と
してIn*Znを選べばIn2Oユ、ZnOの薄膜が得
られる。また、ガスとしてH2S、蒸発物質としてCd
を選べばCdSの薄膜が得られる。さらに、活性ガスと
してアンモニアをアルゴンと共に用い、蒸発物質として
Ti、Taを用いると、TiN、TaN等の薄膜を得る
事も可能である。
選べば、5iOzの薄膜を得る事が出来る。蒸発物質と
してIn*Znを選べばIn2Oユ、ZnOの薄膜が得
られる。また、ガスとしてH2S、蒸発物質としてCd
を選べばCdSの薄膜が得られる。さらに、活性ガスと
してアンモニアをアルゴンと共に用い、蒸発物質として
Ti、Taを用いると、TiN、TaN等の薄膜を得る
事も可能である。
(効 果)
以上、本発明によれば、新規な薄膜形成装置を提供でき
る。
る。
この装置による薄膜形成においては、蒸発物質はイオン
化され電気的に加速されて高エネルギーを有するので、
成膜、結晶化に必要なエネルギーを熱の形で与える必用
がなく、したがって、耐熱性に劣るプラスチックなどを
基板として薄膜形成を行うこともできる。またグリッド
の電圧を低くしても十分なイオン化効率が得られるので
、イオン衝撃による損傷の少ない、良質の薄膜を形成す
ることが出来る。
化され電気的に加速されて高エネルギーを有するので、
成膜、結晶化に必要なエネルギーを熱の形で与える必用
がなく、したがって、耐熱性に劣るプラスチックなどを
基板として薄膜形成を行うこともできる。またグリッド
の電圧を低くしても十分なイオン化効率が得られるので
、イオン衝撃による損傷の少ない、良質の薄膜を形成す
ることが出来る。
蒸発物質のイオン化には電子銃による電子が極めて有効
に寄与するので1O−3Pa以下の圧力の高真空下に於
いても蒸発物質のイオン化が可能であり、このため薄膜
中へのガス分子の取り込みが極めて少なく出来、高純度
の薄膜形成が可能である。また、薄膜の構造も極めて緻
密なものとすることが可能であり、通常、薄膜の密度は
バルクのそれより小さいとされているが、本発明の装置
で形成すると、バルクの密度と略同程度の密度が得られ
る。
に寄与するので1O−3Pa以下の圧力の高真空下に於
いても蒸発物質のイオン化が可能であり、このため薄膜
中へのガス分子の取り込みが極めて少なく出来、高純度
の薄膜形成が可能である。また、薄膜の構造も極めて緻
密なものとすることが可能であり、通常、薄膜の密度は
バルクのそれより小さいとされているが、本発明の装置
で形成すると、バルクの密度と略同程度の密度が得られ
る。
本発明の薄膜形成装置はLSI、IC等を構成する半導
体薄膜や、電極に用いられる高純度の金属薄膜の形成に
極めて適している。
体薄膜や、電極に用いられる高純度の金属薄膜の形成に
極めて適している。
図は、本発明の1実施例を示す図である。
190.真空槽、599.対電極、690.グリッド、
116.蒸発源、30.、、電子銃、40 +++電源
手段
116.蒸発源、30.、、電子銃、40 +++電源
手段
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 活性ガスもしくは不活性ガス、または、これら両者の混
合ガスが導入される真空槽と、 この真空槽内において蒸発物質を蒸発させるための蒸発
源と、上記真空槽内に配備され、基板を上記蒸発源と対
向するように保持する対電極と、上記蒸発源と対電極と
の間に配備され、蒸発物質を通過させうる、グリッドと
、 上記真空槽内に配備され、薄膜形成時に蒸発物質をイオ
ン化するための電子を発生させる電子銃と、 上記真空槽内に所定の電気的状態を実現するための電源
手段と、真空槽内と電源手段とを接続する導電手段と、
を有し、 薄膜形成時に、上記電源手段により上記グリッドが上記
対電極に対し正電位に保たれることを特徴とする、薄膜
形成装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14655587A JPS63310963A (ja) | 1987-06-12 | 1987-06-12 | 薄膜形成装置 |
| US07/204,279 US4876984A (en) | 1987-06-12 | 1988-06-09 | Apparatus for forming a thin film |
| GB8813735A GB2205860B (en) | 1987-06-12 | 1988-06-10 | Apparatus for forming a thin film |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14655587A JPS63310963A (ja) | 1987-06-12 | 1987-06-12 | 薄膜形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63310963A true JPS63310963A (ja) | 1988-12-19 |
Family
ID=15410316
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14655587A Pending JPS63310963A (ja) | 1987-06-12 | 1987-06-12 | 薄膜形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63310963A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51111483A (en) * | 1975-03-28 | 1976-10-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method of preparing thin layer of compound |
| JPS5521108A (en) * | 1978-07-31 | 1980-02-15 | Nec Home Electronics Ltd | Method of manufacturing semiconductor device |
-
1987
- 1987-06-12 JP JP14655587A patent/JPS63310963A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51111483A (en) * | 1975-03-28 | 1976-10-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method of preparing thin layer of compound |
| JPS5521108A (en) * | 1978-07-31 | 1980-02-15 | Nec Home Electronics Ltd | Method of manufacturing semiconductor device |
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