JPS63455A - 薄膜蒸着装置 - Google Patents

薄膜蒸着装置

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JPS63455A
JPS63455A JP14219786A JP14219786A JPS63455A JP S63455 A JPS63455 A JP S63455A JP 14219786 A JP14219786 A JP 14219786A JP 14219786 A JP14219786 A JP 14219786A JP S63455 A JPS63455 A JP S63455A
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vapor deposition
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JP14219786A
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Mikio Kinoshita
幹夫 木下
Wasaburo Oota
太田 和三郎
Tadao Katsuragawa
忠雄 桂川
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Ricoh Co Ltd
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Ricoh Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は、薄膜蒸着装置に関する。
(従来技術) 薄膜蒸着装置としては従来、多種多様のものが提案せら
れ、矧られている。これら種々の薄膜蒸着装置のうちに
、基!に対するぢ層性のよい薄膜を形成でき、なおかつ
、基板として、耐%性のないプラスチック基板をも用い
5る装置が知られ℃いる。
この薄膜蒸着装置では、被蒸着基板を保持する対電極と
、−これに対向する蒸発源との間にグリッドが介設され
る。そして、このグリ、7ドは対蝿ホに対して正電位と
される。さらに、グリッドと蒸発源との間には熱電子発
生用のフィラメントが配備される。
蒸発源から蒸発した蒸着物質は、フィラメントから放出
される熱電子により陽イオン化される。
この陽イオンは、グリッドを通過すると、グリッドから
対電極へと向う電界の作用により加速され非蒸溜基板に
衝突し、密着性の艮い薄Iメを形成する。
このような薄膜蒸着装置rcおける問題点は、陽イオン
が王として、グリッドより蒸発源側で発生するため、グ
リッドの正電位のため、相当量の陽イオンかグリッドを
通過できず、このため、薄膜形成に与る陽イオンの数、
が少くなって、薄膜形成の能率か必らすしも良くないこ
とである。
(目 的) 不発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであって
、その目的とするところは、上述の薄膜蒸着装置をさら
番で改良し、薄膜形成を能率よく行ない5る新規な薄膜
蒸着装置の提共にある。
(悔 成〕 以下、不発明を説明する。
不発明の薄2摸蒸溜装貨は、真空槽と、蒸発源と。
対電極と、フィラメントと、グリッドと、電源手段と、
導電手段とを有する。
真空槽は、その内部空間に活性ガスあるいは不活性ガス
、もしくは活性ガスと不活性ガスの混合ガスを導入しう
ろようになっており、蒸発源、対電極、フィラメント、
グリッドは、真空槽内に配備される。
対電極と蒸発源とは、互いに対向するよつVC配備され
る。対電極は、その蒸発源と対向する側、て、被蒸着基
板を保持しうるようになっている。蒸発源は、蒸着物質
を蒸発させるための手段である。
グリッドは、蒸発源と対電極との間に介設され、電源手
段により、対電極に対し正電位にされる。
従って、蒸着時には、発生する電界はグリッドから対電
極へと向う。勿論グリッドは蒸発したM’7W物質を通
過させうるものである。
フィラメントは熱電子発生用であって、グリッドと対電
極との間に配備される。
゛電源手段は、真空僧門に所定の電気的状態に人現する
ための手段であり、この電源手段と真空槽内部が、導電
手段により電気的に連結される。
このように、本発明の薄膜蒸着装置では、フィラメント
が、グリッドの対電極側にあるので、熱電子による。蒸
着物質、導入ガスの陽イオンは、王として、グリ、yド
の対電極側で発生−jる。
以下、図面を参照しながら説明する。
図は、本発明の1実施例を示している。
図にお(・て、符号10はベースプレート、符号12は
バッキング、符号14はペルジャーを、それぞれ示ス。
ペルジャー14とベースプレート10とはバッキング1
2により一体化され″′C真空槽な購成し、内わ6仝間
には公知の適宜の方法で、活性ガスおよび/または不f
i性ガス?等入できるようになっている。ベースプレー
ト比の中央部に穿設された孔10Aは、図示されない頁
仝系に連結されている。
ベースプレート10には、江空慴内部の気密性を保チ、
かつベースグレート10との電気絶縁性を保ちつつ、叉
侍本をジにねた電トメ16.18.20.22か置設さ
れている。
これら1ヒ唖16.18.2U、22は、真空1曹内側
と外i、1:jとY ?i気ηンて連浩するものであっ
て、他の配俵具とともに、導電手取ケ陶成する。
1対の電516の間には、タングステン、モリブテン等
の合間をコイル状に形成した。抵抗加熱式の蒸発ぷ24
が支持さユている。蒸発源の形状は、コイル状に代えて
ボート状としてもよい。また、抵抗加熱式の蒸発源のか
わりに、電子ビーム蒸発源等、従来の真空蒸着方式で用
いられている蒸発源を適宜用いることができる。
また、1対の電極20の間には、タングステン等による
熱電子発生用のフィラメント28が支持されている。こ
のフィラメント28の形状は、複数本のフィラメントケ
平行に配列したり、網目状にしたりするなどして、蒸発
源から蒸発した蒸発物質の粒子の拡がり2カバーするよ
) iで定めら匙でいる。
電極18にはグリッド26か支持されている。このグリ
ッドは、蒸発した蒸涜物負ヲフィラメント28側へ通過
させ5る形状に形状を定められるのであるが、この例に
おいては、網目状である。
電極22の先海部に)よ、対電極30が支持さn、この
対電極60の、蒸発源24に対向する供11の囲゛:で
、被蒸渚基板100が適宜の方法で林持される。
蒸発源24を支持する電極16は、加熱用の交流電音6
2に接伏さnている。
また、電極18は、直流電圧電源66の正−グ側に接続
され、同電源66の負極側には、電極22が接続されて
いる。従って、グリッド26は、対電極60に対して正
電位となり、グリッド26.対電極60間で、電界はグ
リッド26から、対電極60へ向う。
さらに、1対の電極20は、電源34に接続されている
従って、この実施例において、電源62.34.36は
電源手段を構成する。なお、図中における接地は、必ら
ずしも必要ない。
実線には、上記電気的接続は種々のスイッチ(導電手段
の一部を構成する)を含入、これらスイッチの操作によ
り蒸着プロセスを実行するのであるが、これらスイッチ
は図示を省略され℃いる。
以下、この装置例による薄膜?4着につぎ説明する。
被蒸N基板100を図の如く対電極60に保持させて、
蒸着物質を、蒸着源24に保持させる。蒸着物質は、も
ちろん、どのような薄膜を形成するかに応じて定まる。
例えば、アルミニウムや金のような金属、あるいは金属
の酸化物、フッ化物、硫化物、あるいは合金等である。
また、真空槽内には、予め活性ガスもしくは不活性ガス
、あるいは、これらの混合ガスが10−2〜IQ  T
orrの圧力で導入される。さしあたっての説明では、
この導入ガスを、例えばアルゴン等の不活性ガスである
とする。
この状態において装#を作動させると、蒸発源24 V
Cよる加熱により、蒸発源24Vc保持された蒸着物質
が蒸発する。この蒸発物質、すなわち2型着物質の粒子
は、被蒸着基板100へ向って、狐がりつつ飛行し、グ
リッド26を通過する。
一方、フィラメント28からは熱電子が放出されるが、
発生した熱電子は、グリッド26と幻1襲0との間の電
′!¥により加速されつつグリッド26へ向って飛行し
、グリッド26を通過してきた蒸着物質粒子に衝突する
と同粒子を陽イオンしてイオン化する。
イオン化された蒸着物質は、グリッド28から別電極6
0へ向う電界の作用により加速されつつ、飛行し、高速
で被蒸着基板100に衝突し、かくして被蒸着基板10
0上に、所望の薄膜を形成する。この薄膜は基板への密
着性にすぐれ、結晶性、配向性がよい。これは、蒸着物
質のイオンfヒによるものである。
本発明の薄膜蒸着装置では、蒸発した蒸着物質のイオン
化率が賜いため、真空槽内に活性ガスを単独で、あるい
は不活性ガスととも[4人して蒸着を行うことにより、
蒸発物質と活性ガスとを化合させ、この化合物により薄
膜を形成する場合にも、所望の物性を有する薄j漠を容
易に得ることができる。
例えば、不活性ガスとしてアルゴン、活性ガスとして酸
素ケ導入し1圧力を10 〜1[J  Torrに調整
し、蒸発物質としてアルミニウムを選択すると、被蒸着
全板上にAe203の薄膜を得ることができ、蒸発物質
として、In、Znを選べば、それぞれ、In2O5,
ZnOのン1」腿が得られる。
父、活性ガスとして、H2S、蒸発物質としてCd を
選べば、CdSの薄膜が得られる。さらに、活性ガスと
してアンモニアを、アルゴンとともに用い、蒸発!+′
/lJ質としてTi、Taを選べば、TiN 。
TaNなどの薄膜を得ることか可能であるみ蒸発物質及
び導入ガスのイオン化には、熱電子が有効に寄与するた
め、IQ  Torr以上の高度の真空下で蒸着を行う
ことがd1龍で夛)す、薄膜中へのガス分子のとり込み
を傷めて少なくすることができるため、高純度の薄膜な
傳る・二とができる。
すなわち、不発明の薄膜蒸着装置は、IC,LSI等を
構成する半導体薄膜や、その電極としての高純度金属薄
膜の形成に適している。
(効 果) 以上、本発明によれば新規な薄′;処盗シコ装置を尿供
できる。この装置では、薄;漠形成に与るイオンが、グ
リッドの被蒸着基板側1で発生するので発生したイオン
を有効に薄膜形成に参与させることかでき、薄膜形成を
能羊的5C行うことができる。
【図面の簡単な説明】
図は、本発明の1実流例を示す一部Di面正面図である
。 10・・・ベースプレート、14・・・ペルジャー、2
4・・・蒸発源、26・・・グリッド、2B・・・フィ
ラメント、30・・・対電極、10口・・・被蒸着基板

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  活性ガスおよび/または不活性ガスを導入しうる真空
    槽と、 この真空槽内に配備された蒸発源と、 上記真空槽内において上記蒸発源と対向するように配備
    され、被蒸着基板を保持する対電極と、これら蒸発源と
    対電極との間に配備された熱電子発生用のフィラメント
    と、 このフィラメントと上記蒸発源との間に配備され、蒸着
    物質を通過させうるグリッドと、 真空槽内に所定の電気的状態を実現するための電源手段
    と、 真空槽内と上記電源手段とを電気的に連結する導電手段
    と、を有し、 上記対電極に対し、上記グリッドが正電位となるように
    したことを特徴とする、薄膜蒸着装置。
JP61142197A 1986-06-18 1986-06-18 薄膜蒸着装置 Expired - Lifetime JPH0765165B2 (ja)

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JP61142197A JPH0765165B2 (ja) 1986-06-18 1986-06-18 薄膜蒸着装置
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DE3790317A DE3790317C2 (ja) 1986-06-18 1987-06-18
US07/167,850 US4854265A (en) 1986-06-18 1987-06-18 Thin film forming apparatus
DE19873790317 DE3790317T (ja) 1986-06-18 1987-06-18
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5989763A (ja) * 1983-09-28 1984-05-24 Ricoh Co Ltd 薄膜蒸着装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5989763A (ja) * 1983-09-28 1984-05-24 Ricoh Co Ltd 薄膜蒸着装置

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