JPS6332263B2 - - Google Patents
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- JPS6332263B2 JPS6332263B2 JP57139981A JP13998182A JPS6332263B2 JP S6332263 B2 JPS6332263 B2 JP S6332263B2 JP 57139981 A JP57139981 A JP 57139981A JP 13998182 A JP13998182 A JP 13998182A JP S6332263 B2 JPS6332263 B2 JP S6332263B2
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- JP
- Japan
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- substrate
- semiconductor chip
- reference voltage
- chip carrier
- voltage bus
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W44/00—Electrical arrangements for controlling or matching impedance
- H10W44/401—Resistive arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/60—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
- H10W70/62—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers characterised by their interconnections
- H10W70/65—Shapes or dispositions of interconnections
- H10W70/654—Top-view layouts
- H10W70/655—Fan-out layouts
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07551—Connecting or disconnecting of bond wires characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
-
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- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/12—All metal or with adjacent metals
- Y10T428/12493—Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
- Y10T428/12528—Semiconductor component
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体チツプの基板に係り、特に信号
リードとアースバスとの間に個々の抵抗が選択的
に接続され種々の抵抗値を持つパワーおよびアー
スバス構造に関するものである。
リードとアースバスとの間に個々の抵抗が選択的
に接続され種々の抵抗値を持つパワーおよびアー
スバス構造に関するものである。
集積回路半導体チツプ用のチツプ担持体は当技
術界で周知であり広く用いられている。普通の型
の半導体チツプ担持体は基板とその端縁の複数位
置から基板中央に向かつて延びる基板上に配列さ
れた電導リードとを含み(例えば米国特許第
4195193号参照)、そのリードはチツプ担持体の中
央に接合された半導体チツプ上の接合パツドに接
合される。
術界で周知であり広く用いられている。普通の型
の半導体チツプ担持体は基板とその端縁の複数位
置から基板中央に向かつて延びる基板上に配列さ
れた電導リードとを含み(例えば米国特許第
4195193号参照)、そのリードはチツプ担持体の中
央に接合された半導体チツプ上の接合パツドに接
合される。
基板上のリードは薄くて過負荷となりやすいの
で、パワー電圧やアース電圧をチツプ上の適当な
パツドに供給するにはチツプ担持体上の複数のリ
ードを充用することが必要であつた。また、リー
ド抵抗を最小にするために多数の並列のリードが
用いられて、信号リードとして利用できるリード
の数を制約していた。
で、パワー電圧やアース電圧をチツプ上の適当な
パツドに供給するにはチツプ担持体上の複数のリ
ードを充用することが必要であつた。また、リー
ド抵抗を最小にするために多数の並列のリードが
用いられて、信号リードとして利用できるリード
の数を制約していた。
在来の基板上の信号リードは二つの部分から成
り、第一の部分は基板面に被着されて基板外縁か
らチツプの装着される基板内縁に延びる導体片で
ある。また、第二の部分は被着導体片の内端縁か
ら空中をわたつてチツプに達する細線ないし細い
リードであつてボンデングワイヤと称される。接
続用リード抵抗と称される接地抵抗は一般には基
板外縁の先で印刷回路板上の信号リードに接続さ
れる。この構成は抵抗リードの装着位置にてイン
ピーダンスが連続しない不整合伝送線路をつくり
だす。抵抗リード装着位置から先の、残りの接続
部分は、不整合スタブと称される。
り、第一の部分は基板面に被着されて基板外縁か
らチツプの装着される基板内縁に延びる導体片で
ある。また、第二の部分は被着導体片の内端縁か
ら空中をわたつてチツプに達する細線ないし細い
リードであつてボンデングワイヤと称される。接
続用リード抵抗と称される接地抵抗は一般には基
板外縁の先で印刷回路板上の信号リードに接続さ
れる。この構成は抵抗リードの装着位置にてイン
ピーダンスが連続しない不整合伝送線路をつくり
だす。抵抗リード装着位置から先の、残りの接続
部分は、不整合スタブと称される。
最近の集積回路技術の傾向は高周波信号伝送に
向かつているが、不整合信号リード上の高周波信
号は前記のインピーダンス不連続位置で信号反射
を起す。
向かつているが、不整合信号リード上の高周波信
号は前記のインピーダンス不連続位置で信号反射
を起す。
一般に、伝送線路の基準面が中断されても、そ
の間隙が1/4波長よりも小さいときは、伝送線路
上の信号がひどく乱されることはない。しかし、
この間隙か1/4波長よりも大きいと反射が大きく
なる。工業規格はこの間隙を1/20波長に制限し、
軍規格はこれを1/50に規定している。さらに、低
ピコ秒の立上り時間では、等価1/50波長はチツプ
のパツケージングで当面する寸法の範囲に属す
る。従つて、反射を減少するために人為的に基準
アース面をつくることが必要である。信号反射は
隣接するデイジタル回路コンポーネントに無用の
スイツチングを起こすおそれがあり、信号リード
の不連続は排除することが望ましい。理想的な解
決法は印刷回路板上に置かれた終端用リード抵抗
を半導体デバイスへの信号投入点に移動すること
である。
の間隙が1/4波長よりも小さいときは、伝送線路
上の信号がひどく乱されることはない。しかし、
この間隙か1/4波長よりも大きいと反射が大きく
なる。工業規格はこの間隙を1/20波長に制限し、
軍規格はこれを1/50に規定している。さらに、低
ピコ秒の立上り時間では、等価1/50波長はチツプ
のパツケージングで当面する寸法の範囲に属す
る。従つて、反射を減少するために人為的に基準
アース面をつくることが必要である。信号反射は
隣接するデイジタル回路コンポーネントに無用の
スイツチングを起こすおそれがあり、信号リード
の不連続は排除することが望ましい。理想的な解
決法は印刷回路板上に置かれた終端用リード抵抗
を半導体デバイスへの信号投入点に移動すること
である。
よつて、本発明による上記の形式のチツプ担持
体は、さらに基板中央寄りの第一基準電圧バスを
包含し、この第一基準電圧バスが一つのリードに
接続される。第一基準電圧バスは基板の中央部を
取囲む第二基準電圧バスを実質的に取囲む。第一
第二両基準電圧バスはそれぞれアースバス、パワ
ーバスとすることが好ましい。基板に接合される
銅リードフレームを使用すれば、中央にチツプを
搭載する基板上にこのバス構造を形成してパワー
およびアースの多重接続をチツプとバス構造との
間に直接に接合することができる。各バスは一つ
のリードしか必要としないのでチツプのごく近く
で両リード間に減結合キヤパシタを取付けてスイ
ツチングによる低リアクタンスを保証することが
できる。
体は、さらに基板中央寄りの第一基準電圧バスを
包含し、この第一基準電圧バスが一つのリードに
接続される。第一基準電圧バスは基板の中央部を
取囲む第二基準電圧バスを実質的に取囲む。第一
第二両基準電圧バスはそれぞれアースバス、パワ
ーバスとすることが好ましい。基板に接合される
銅リードフレームを使用すれば、中央にチツプを
搭載する基板上にこのバス構造を形成してパワー
およびアースの多重接続をチツプとバス構造との
間に直接に接合することができる。各バスは一つ
のリードしか必要としないのでチツプのごく近く
で両リード間に減結合キヤパシタを取付けてスイ
ツチングによる低リアクタンスを保証することが
できる。
本発明はまた一面において、前記の形式のチツ
プ担持体にさらに次の特徴を持たせるものであ
る。すなわち、その電導リードは大部分信号リー
ドであつて、基板上にはそれらの信号リードと第
一基準電圧バスとの間に抵抗材が接合され、この
抵抗材を選択的に除去することにより少なくも一
つの信号リードと第一基準電圧バスとの間に所望
抵抗値の個別通路を形成することができる。
プ担持体にさらに次の特徴を持たせるものであ
る。すなわち、その電導リードは大部分信号リー
ドであつて、基板上にはそれらの信号リードと第
一基準電圧バスとの間に抵抗材が接合され、この
抵抗材を選択的に除去することにより少なくも一
つの信号リードと第一基準電圧バスとの間に所望
抵抗値の個別通路を形成することができる。
この面において、本発明は、被着信号リードが
チツプに向かうボンデングワイヤに変る位置で信
号リードを独自のアース抵抗によりインピーダン
ス整合することを可能ならしめる技術を包含す
る。これにより、不整合スタブのインピーダンス
不連続は排除され高周波反射信号が著減する。こ
の技術は二つのステツプから成る。第一のステツ
プはすべての信号リードを抵抗帯域の一側に整合
させることである。抵抗帯域は他側でアースバス
に整合される。次のステツプはレーザー等のビー
ムを用いて抵抗帯域を各信号リードに一つずつの
個々の抵抗に分割することである。各リード抵抗
の値はここで所望の値に調節ないし微調される。
これにより各リードは独自の一抵抗を介してアー
ス整合することが可能である。信号リードを抵抗
材から完全に隔離する場合は、そのレーザーカツ
ト部とアースバスとの間に残された抵抗材がアー
ス電位となり基準アース面として作用する。この
ことはアース基準にないワイヤボンデイングの距
離を最小にし高周波信号の不連続性および反射の
度合を減少する。
チツプに向かうボンデングワイヤに変る位置で信
号リードを独自のアース抵抗によりインピーダン
ス整合することを可能ならしめる技術を包含す
る。これにより、不整合スタブのインピーダンス
不連続は排除され高周波反射信号が著減する。こ
の技術は二つのステツプから成る。第一のステツ
プはすべての信号リードを抵抗帯域の一側に整合
させることである。抵抗帯域は他側でアースバス
に整合される。次のステツプはレーザー等のビー
ムを用いて抵抗帯域を各信号リードに一つずつの
個々の抵抗に分割することである。各リード抵抗
の値はここで所望の値に調節ないし微調される。
これにより各リードは独自の一抵抗を介してアー
ス整合することが可能である。信号リードを抵抗
材から完全に隔離する場合は、そのレーザーカツ
ト部とアースバスとの間に残された抵抗材がアー
ス電位となり基準アース面として作用する。この
ことはアース基準にないワイヤボンデイングの距
離を最小にし高周波信号の不連続性および反射の
度合を減少する。
以下、図面に示す実施例について本発明を説明
する。
する。
第1図は半導体チツプを搭載接続する前の本発
明の基板10を示す。この基板は酸化ベリリウ
ム、酸化アルミニウム等の適当な誘電材料から成
り、回路系は光エツチング、印刷等の標準的方法
によつて基板上に形成されるか或いは米国特許第
3744120号、第3766634号、第3994430号および第
4129243号に記載の方法により銅リードフレーム
が基板に接合される。これらの米国特許に記載の
方法によればそのリードフレームは始めに一側を
酸化されてセラミツクの基板10上に定置され
る。次いでこのリードフレームと基板が約1068℃
に加熱され、この温度で酸化銅は溶融して基板に
融着する。これは銅の融点より低温である。チツ
プ支持パツド12は基板10の中央を占め、パワ
ーリード23で基板の一隅において接続されるパ
ワーバス22によつて完全に取囲まれる。またパ
ワーバス22はアースバス18によつてほとんど
完全に取囲まれ、アースバス18はアースリード
19によつて対角隅に接続される。アースバス1
8はパワーリード23の通るところで切れてお
り、この位置にアースバス18上の取付けパツド
20とパワーバス上の取付けパツド24とが並ん
でいる。パツド20,24はパワー構造とアース
構造の間に減結合キヤパシタを装着するための取
付け手段として役立つ。基板10の各外縁17と
アースバス18の間には複数の信号リード14が
延びている。ただし、これらのリード14は基板
上に形成された長形の抵抗帯域26によつてアー
スバス18から離隔されており、抵抗帯域26を
介してアースバス18に接続されることになる。
明の基板10を示す。この基板は酸化ベリリウ
ム、酸化アルミニウム等の適当な誘電材料から成
り、回路系は光エツチング、印刷等の標準的方法
によつて基板上に形成されるか或いは米国特許第
3744120号、第3766634号、第3994430号および第
4129243号に記載の方法により銅リードフレーム
が基板に接合される。これらの米国特許に記載の
方法によればそのリードフレームは始めに一側を
酸化されてセラミツクの基板10上に定置され
る。次いでこのリードフレームと基板が約1068℃
に加熱され、この温度で酸化銅は溶融して基板に
融着する。これは銅の融点より低温である。チツ
プ支持パツド12は基板10の中央を占め、パワ
ーリード23で基板の一隅において接続されるパ
ワーバス22によつて完全に取囲まれる。またパ
ワーバス22はアースバス18によつてほとんど
完全に取囲まれ、アースバス18はアースリード
19によつて対角隅に接続される。アースバス1
8はパワーリード23の通るところで切れてお
り、この位置にアースバス18上の取付けパツド
20とパワーバス上の取付けパツド24とが並ん
でいる。パツド20,24はパワー構造とアース
構造の間に減結合キヤパシタを装着するための取
付け手段として役立つ。基板10の各外縁17と
アースバス18の間には複数の信号リード14が
延びている。ただし、これらのリード14は基板
上に形成された長形の抵抗帯域26によつてアー
スバス18から離隔されており、抵抗帯域26を
介してアースバス18に接続されることになる。
被着抵抗帯域26は、炭素と二つの酸化金属と
結合剤との組成物であることが多い、厚膜または
薄膜の材料で形成される。これらの抵抗帯域は、
ハイブリツド回路技術でよく知られているよう
に、普通の厚膜技術によりスクリーン印刷して基
板上に固定することができる。
結合剤との組成物であることが多い、厚膜または
薄膜の材料で形成される。これらの抵抗帯域は、
ハイブリツド回路技術でよく知られているよう
に、普通の厚膜技術によりスクリーン印刷して基
板上に固定することができる。
第2図は抵抗帯域の役割をいくつかの例につい
て図示する。抵抗帯域26に形成されるレーザー
カツト部27は一般に各信号リード14とアース
バス18との間に設けられることによつて個別の
抵抗帯域部分を分割形成するが、レーザーカツト
部27aのように、信号リード14aをアースバ
ス18から完全に切離して第3図に断面を示すア
ース面29を残したり、ジグザグ形のレーザーカ
ツト部27bを作つて信号リード14bとアース
バス18との間に抵抗28を画成形成したり、さ
らには微調用のレーザーカツト部27cを作つて
信号リード14cからアース18までの抵抗値を
若干変更したりすることもできる。半導体チツプ
13には種々のボンデイングワイヤ32,33,
34が接続されているが、ボンデイングワイヤ3
2は信号リード14をチツプ13に接続するも
の、ボンデイングワイヤ33はチツプ13はパワ
ーを直接に供給するパワーリード、ボンデイング
ワイヤ34はチツプ13から直接のアース接続を
与えるアースリードである。これらのボンデイン
グワイヤ32,33,34はすべて次に述べるボ
ンデイングワイヤ32と同様に基板から離れて橋
をかけるようにのびる導電線である。
て図示する。抵抗帯域26に形成されるレーザー
カツト部27は一般に各信号リード14とアース
バス18との間に設けられることによつて個別の
抵抗帯域部分を分割形成するが、レーザーカツト
部27aのように、信号リード14aをアースバ
ス18から完全に切離して第3図に断面を示すア
ース面29を残したり、ジグザグ形のレーザーカ
ツト部27bを作つて信号リード14bとアース
バス18との間に抵抗28を画成形成したり、さ
らには微調用のレーザーカツト部27cを作つて
信号リード14cからアース18までの抵抗値を
若干変更したりすることもできる。半導体チツプ
13には種々のボンデイングワイヤ32,33,
34が接続されているが、ボンデイングワイヤ3
2は信号リード14をチツプ13に接続するも
の、ボンデイングワイヤ33はチツプ13はパワ
ーを直接に供給するパワーリード、ボンデイング
ワイヤ34はチツプ13から直接のアース接続を
与えるアースリードである。これらのボンデイン
グワイヤ32,33,34はすべて次に述べるボ
ンデイングワイヤ32と同様に基板から離れて橋
をかけるようにのびる導電線である。
第3図は各信号リード14をチツプ支持パツド
12に搭載された半導体チツプ13に接続するボ
ンデイングワイヤ32を示す。このボンデイング
ワイヤ32は両端で接合されアースバス18とパ
ワーバス22を跨いでいる。従つてこのボンデイ
ングワイヤ32はレーザーカツトによつて形成さ
れた抵抗28とだいたい平行に配置されている。
12に搭載された半導体チツプ13に接続するボ
ンデイングワイヤ32を示す。このボンデイング
ワイヤ32は両端で接合されアースバス18とパ
ワーバス22を跨いでいる。従つてこのボンデイ
ングワイヤ32はレーザーカツトによつて形成さ
れた抵抗28とだいたい平行に配置されている。
第1図はパワーバス22を板上に有し信号リー
ド14とアースバス18の間に抵抗帯域26を有
する基板10の平面図、第2図はレーザー切込み
後の信号リード14とチツプ13の間の基板一部
の拡大平面図、第3図は第2図と同じ基板10の
一部の3−3線による切断側面図である。 10……基板、12……チツプ支持パツド、1
3……半導体チツプ、14……信号リード、17
……基板端縁、18……第一基準電圧バス(アー
スバス)、19……アースリード、20……取付
けパツド、22……第二基準電圧バス(パワーバ
ス)、23……パワーリード、24……取付けパ
ツド、26……抵抗帯域、27……レーザーカツ
ド部、28……画成抵抗、29……アース面、3
2,33,34……ボンデイングワイヤ。
ド14とアースバス18の間に抵抗帯域26を有
する基板10の平面図、第2図はレーザー切込み
後の信号リード14とチツプ13の間の基板一部
の拡大平面図、第3図は第2図と同じ基板10の
一部の3−3線による切断側面図である。 10……基板、12……チツプ支持パツド、1
3……半導体チツプ、14……信号リード、17
……基板端縁、18……第一基準電圧バス(アー
スバス)、19……アースリード、20……取付
けパツド、22……第二基準電圧バス(パワーバ
ス)、23……パワーリード、24……取付けパ
ツド、26……抵抗帯域、27……レーザーカツ
ド部、28……画成抵抗、29……アース面、3
2,33,34……ボンデイングワイヤ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 基板10と、その端縁の複数位置から基板中
央に向かつて延びる基板表面に配設された電導リ
ード14,19,23とを含む型の半導体チツプ
担持体において、前記基板10の中央部を実質的
に取囲み、前記電導リード14,19,23が配
設された基板表面と同一の基板表面上に配設され
た第一基準電圧バス18を含み、前記電導リード
14,19,23が前記第一基準電圧バス18の
外側に配設され、前記第一基準電圧バス18が前
記電導リードの1つ19に接続されることを特徴
とする半導体チツプ担持体。 2 特許請求の範囲第1項に記載の半導体チツプ
担持体において、前記第一基準電圧バス18の内
側にあつて前記基板10の中央部を実質的に取囲
み、前記電導リード14,19,23が配設され
た基板表面と同一の基板表面上に配設された第二
基準電圧バス22を含み、前記第二基準電圧バス
22が前記電導リードの1つ23に接続されるこ
とを特徴とする半導体チツプ担持体。 3 特許請求の範囲第2項に記載の半導体チツプ
担持体において、前記第一及び第二両基準電圧バ
ス18,22が前記基板10上の減結合コンデン
サに接続されることを特徴とする半導体チツプ担
持体。 4 特許請求の範囲第1項に記載の半導体チツプ
担持体において、前記第一基準電圧バス18がア
ース電位を有することを特徴とする半導体チツプ
担持体。 5 特許請求の範囲第1項に記載の半導体チツプ
担持体において、前記基板10の中央に半導体チ
ツプ13を支持するための電気的熱的伝導性パツ
ド12を有することを特徴とする半導体チツプ担
持体。 6 特許請求の範囲第1項に記載の半導体チツプ
担持体において、前記電導リード14,19,2
3の大部分が信号リード14であり、前記基板1
0上には前記信号リード14と前記第一基準電圧
バス18との間に抵抗材26が接合され、該抵抗
材を選択的に除去することによつて少なくとも一
つの信号リード14と前記第一基準電圧バス18
との間に所望抵抗値の個別通路を形成しうること
を特徴とする半導体チツプ担持体。 7 特許請求の範囲第1項に記載の半導体チツプ
担持体において、前記電導リード14,19,2
3が銅であつて、前記基板10に近接して酸化銅
表面が該基板に融着され、前記基板はセラミツク
材から成ることを特徴とする半導体チツプ担持
体。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US293052 | 1981-08-14 | ||
| US06/293,052 US4417266A (en) | 1981-08-14 | 1981-08-14 | Power and ground plane structure for chip carrier |
| US314921 | 1981-10-26 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5839038A JPS5839038A (ja) | 1983-03-07 |
| JPS6332263B2 true JPS6332263B2 (ja) | 1988-06-29 |
Family
ID=23127447
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57139981A Granted JPS5839038A (ja) | 1981-08-14 | 1982-08-13 | 半導体チツプ担持体 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4417266A (ja) |
| JP (1) | JPS5839038A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0233572A (ja) * | 1988-07-25 | 1990-02-02 | Sanyo Electric Co Ltd | 冷凍機の制御方法 |
Families Citing this family (119)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4612564A (en) * | 1984-06-04 | 1986-09-16 | At&T Bell Laboratories | Plastic integrated circuit package |
| US4918511A (en) * | 1985-02-01 | 1990-04-17 | Advanced Micro Devices, Inc. | Thermal expansion compensated metal lead frame for integrated circuit package |
| US5126820A (en) * | 1985-02-01 | 1992-06-30 | Advanced Micro Devices, Inc. | Thermal expansion compensated metal lead frame for integrated circuit package |
| US4873615A (en) * | 1986-10-09 | 1989-10-10 | Amp Incorporated | Semiconductor chip carrier system |
| JPS63253635A (ja) * | 1987-04-10 | 1988-10-20 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 半導体装置 |
| JPS63306633A (ja) * | 1987-06-08 | 1988-12-14 | Toshiba Corp | フイルムキヤリア |
| US4801999A (en) * | 1987-07-15 | 1989-01-31 | Advanced Micro Devices, Inc. | Integrated circuit lead frame assembly containing voltage bussing and distribution to an integrated circuit die using tape automated bonding with two metal layers |
| US5250844A (en) * | 1990-09-17 | 1993-10-05 | Motorola, Inc. | Multiple power/ground planes for tab |
| KR940008066A (ko) * | 1992-09-18 | 1994-04-28 | 윌리엄 이. 힐러 | 집적 회로용 다중층 리드 프레임 어셈블리 및 방법 |
| JP2917868B2 (ja) * | 1995-07-31 | 1999-07-12 | 日本電気株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
| US7005326B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-02-28 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
| US6143981A (en) | 1998-06-24 | 2000-11-07 | Amkor Technology, Inc. | Plastic integrated circuit package and method and leadframe for making the package |
| US7332375B1 (en) | 1998-06-24 | 2008-02-19 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
| US6893900B1 (en) | 1998-06-24 | 2005-05-17 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
| US7030474B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-04-18 | Amkor Technology, Inc. | Plastic integrated circuit package and method and leadframe for making the package |
| US7071541B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-07-04 | Amkor Technology, Inc. | Plastic integrated circuit package and method and leadframe for making the package |
| US7112474B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-09-26 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
| US6448633B1 (en) * | 1998-11-20 | 2002-09-10 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package and method of making using leadframe having lead locks to secure leads to encapsulant |
| KR100403142B1 (ko) * | 1999-10-15 | 2003-10-30 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 |
| KR100526844B1 (ko) * | 1999-10-15 | 2005-11-08 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 및 그 제조방법 |
| KR100379089B1 (ko) | 1999-10-15 | 2003-04-08 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 리드프레임 및 이를 이용한 반도체패키지 |
| KR20010037247A (ko) * | 1999-10-15 | 2001-05-07 | 마이클 디. 오브라이언 | 반도체패키지 |
| US20070176287A1 (en) * | 1999-11-05 | 2007-08-02 | Crowley Sean T | Thin integrated circuit device packages for improved radio frequency performance |
| US6580159B1 (en) | 1999-11-05 | 2003-06-17 | Amkor Technology, Inc. | Integrated circuit device packages and substrates for making the packages |
| US6847103B1 (en) | 1999-11-09 | 2005-01-25 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with exposed die pad and body-locking leadframe |
| KR100421774B1 (ko) | 1999-12-16 | 2004-03-10 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 및 그 제조 방법 |
| US6639308B1 (en) * | 1999-12-16 | 2003-10-28 | Amkor Technology, Inc. | Near chip size semiconductor package |
| KR100583494B1 (ko) * | 2000-03-25 | 2006-05-24 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 |
| US7042068B2 (en) | 2000-04-27 | 2006-05-09 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe and semiconductor package made using the leadframe |
| KR20020058209A (ko) * | 2000-12-29 | 2002-07-12 | 마이클 디. 오브라이언 | 반도체패키지 |
| KR100731007B1 (ko) * | 2001-01-15 | 2007-06-22 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 적층형 반도체 패키지 |
| US6967395B1 (en) | 2001-03-20 | 2005-11-22 | Amkor Technology, Inc. | Mounting for a package containing a chip |
| US6545345B1 (en) | 2001-03-20 | 2003-04-08 | Amkor Technology, Inc. | Mounting for a package containing a chip |
| KR100393448B1 (ko) | 2001-03-27 | 2003-08-02 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 패키지 및 그 제조 방법 |
| KR100369393B1 (ko) * | 2001-03-27 | 2003-02-05 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 리드프레임 및 이를 이용한 반도체패키지와 그 제조 방법 |
| US7064009B1 (en) | 2001-04-04 | 2006-06-20 | Amkor Technology, Inc. | Thermally enhanced chip scale lead on chip semiconductor package and method of making same |
| US7045883B1 (en) | 2001-04-04 | 2006-05-16 | Amkor Technology, Inc. | Thermally enhanced chip scale lead on chip semiconductor package and method of making same |
| US6597059B1 (en) | 2001-04-04 | 2003-07-22 | Amkor Technology, Inc. | Thermally enhanced chip scale lead on chip semiconductor package |
| US6900527B1 (en) | 2001-09-19 | 2005-05-31 | Amkor Technology, Inc. | Lead-frame method and assembly for interconnecting circuits within a circuit module |
| US7485952B1 (en) | 2001-09-19 | 2009-02-03 | Amkor Technology, Inc. | Drop resistant bumpers for fully molded memory cards |
| US6630726B1 (en) | 2001-11-07 | 2003-10-07 | Amkor Technology, Inc. | Power semiconductor package with strap |
| US6818973B1 (en) | 2002-09-09 | 2004-11-16 | Amkor Technology, Inc. | Exposed lead QFP package fabricated through the use of a partial saw process |
| US6919620B1 (en) | 2002-09-17 | 2005-07-19 | Amkor Technology, Inc. | Compact flash memory card with clamshell leadframe |
| US7361533B1 (en) | 2002-11-08 | 2008-04-22 | Amkor Technology, Inc. | Stacked embedded leadframe |
| US7190062B1 (en) | 2004-06-15 | 2007-03-13 | Amkor Technology, Inc. | Embedded leadframe semiconductor package |
| US6905914B1 (en) | 2002-11-08 | 2005-06-14 | Amkor Technology, Inc. | Wafer level package and fabrication method |
| US7723210B2 (en) | 2002-11-08 | 2010-05-25 | Amkor Technology, Inc. | Direct-write wafer level chip scale package |
| US6798047B1 (en) | 2002-12-26 | 2004-09-28 | Amkor Technology, Inc. | Pre-molded leadframe |
| US6847099B1 (en) | 2003-02-05 | 2005-01-25 | Amkor Technology Inc. | Offset etched corner leads for semiconductor package |
| US6750545B1 (en) | 2003-02-28 | 2004-06-15 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package capable of die stacking |
| US6794740B1 (en) | 2003-03-13 | 2004-09-21 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe package for semiconductor devices |
| US7001799B1 (en) | 2003-03-13 | 2006-02-21 | Amkor Technology, Inc. | Method of making a leadframe for semiconductor devices |
| US7095103B1 (en) | 2003-05-01 | 2006-08-22 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe based memory card |
| US7008825B1 (en) | 2003-05-27 | 2006-03-07 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe strip having enhanced testability |
| US6897550B1 (en) | 2003-06-11 | 2005-05-24 | Amkor Technology, Inc. | Fully-molded leadframe stand-off feature |
| US7245007B1 (en) | 2003-09-18 | 2007-07-17 | Amkor Technology, Inc. | Exposed lead interposer leadframe package |
| US6921967B2 (en) * | 2003-09-24 | 2005-07-26 | Amkor Technology, Inc. | Reinforced die pad support structure |
| US7138707B1 (en) | 2003-10-21 | 2006-11-21 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package including leads and conductive posts for providing increased functionality |
| US7144517B1 (en) | 2003-11-07 | 2006-12-05 | Amkor Technology, Inc. | Manufacturing method for leadframe and for semiconductor package using the leadframe |
| US7211879B1 (en) | 2003-11-12 | 2007-05-01 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with chamfered corners and method of manufacturing the same |
| US7057268B1 (en) | 2004-01-27 | 2006-06-06 | Amkor Technology, Inc. | Cavity case with clip/plug for use on multi-media card |
| US7091594B1 (en) | 2004-01-28 | 2006-08-15 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe type semiconductor package having reduced inductance and its manufacturing method |
| KR100582497B1 (ko) * | 2004-02-24 | 2006-05-23 | 삼성전자주식회사 | 정전기 방전 보호 패턴을 포함하는 인쇄회로기판을 갖는 메모리 카드 |
| US20080003722A1 (en) * | 2004-04-15 | 2008-01-03 | Chun David D | Transfer mold solution for molded multi-media card |
| US7202554B1 (en) | 2004-08-19 | 2007-04-10 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package and its manufacturing method |
| US7217991B1 (en) | 2004-10-22 | 2007-05-15 | Amkor Technology, Inc. | Fan-in leadframe semiconductor package |
| US7507603B1 (en) | 2005-12-02 | 2009-03-24 | Amkor Technology, Inc. | Etch singulated semiconductor package |
| US7572681B1 (en) | 2005-12-08 | 2009-08-11 | Amkor Technology, Inc. | Embedded electronic component package |
| US7902660B1 (en) | 2006-05-24 | 2011-03-08 | Amkor Technology, Inc. | Substrate for semiconductor device and manufacturing method thereof |
| US7968998B1 (en) | 2006-06-21 | 2011-06-28 | Amkor Technology, Inc. | Side leaded, bottom exposed pad and bottom exposed lead fusion quad flat semiconductor package |
| US7687893B2 (en) | 2006-12-27 | 2010-03-30 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package having leadframe with exposed anchor pads |
| US7829990B1 (en) | 2007-01-18 | 2010-11-09 | Amkor Technology, Inc. | Stackable semiconductor package including laminate interposer |
| US7982297B1 (en) | 2007-03-06 | 2011-07-19 | Amkor Technology, Inc. | Stackable semiconductor package having partially exposed semiconductor die and method of fabricating the same |
| US7977774B2 (en) * | 2007-07-10 | 2011-07-12 | Amkor Technology, Inc. | Fusion quad flat semiconductor package |
| US7687899B1 (en) | 2007-08-07 | 2010-03-30 | Amkor Technology, Inc. | Dual laminate package structure with embedded elements |
| US7777351B1 (en) | 2007-10-01 | 2010-08-17 | Amkor Technology, Inc. | Thin stacked interposer package |
| US8089159B1 (en) | 2007-10-03 | 2012-01-03 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with increased I/O density and method of making the same |
| US7847386B1 (en) | 2007-11-05 | 2010-12-07 | Amkor Technology, Inc. | Reduced size stacked semiconductor package and method of making the same |
| US7956453B1 (en) | 2008-01-16 | 2011-06-07 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with patterning layer and method of making same |
| US7723852B1 (en) | 2008-01-21 | 2010-05-25 | Amkor Technology, Inc. | Stacked semiconductor package and method of making same |
| US8067821B1 (en) | 2008-04-10 | 2011-11-29 | Amkor Technology, Inc. | Flat semiconductor package with half package molding |
| US7768135B1 (en) | 2008-04-17 | 2010-08-03 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with fast power-up cycle and method of making same |
| US7808084B1 (en) | 2008-05-06 | 2010-10-05 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with half-etched locking features |
| US8125064B1 (en) | 2008-07-28 | 2012-02-28 | Amkor Technology, Inc. | Increased I/O semiconductor package and method of making same |
| US8184453B1 (en) | 2008-07-31 | 2012-05-22 | Amkor Technology, Inc. | Increased capacity semiconductor package |
| US7847392B1 (en) | 2008-09-30 | 2010-12-07 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including leadframe with increased I/O |
| US7989933B1 (en) | 2008-10-06 | 2011-08-02 | Amkor Technology, Inc. | Increased I/O leadframe and semiconductor device including same |
| US8008758B1 (en) | 2008-10-27 | 2011-08-30 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with increased I/O leadframe |
| US8089145B1 (en) | 2008-11-17 | 2012-01-03 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including increased capacity leadframe |
| US8072050B1 (en) | 2008-11-18 | 2011-12-06 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with increased I/O leadframe including passive device |
| US7875963B1 (en) | 2008-11-21 | 2011-01-25 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including leadframe having power bars and increased I/O |
| US7982298B1 (en) | 2008-12-03 | 2011-07-19 | Amkor Technology, Inc. | Package in package semiconductor device |
| US8487420B1 (en) | 2008-12-08 | 2013-07-16 | Amkor Technology, Inc. | Package in package semiconductor device with film over wire |
| US20170117214A1 (en) | 2009-01-05 | 2017-04-27 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with through-mold via |
| US8680656B1 (en) | 2009-01-05 | 2014-03-25 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe structure for concentrated photovoltaic receiver package |
| US8058715B1 (en) | 2009-01-09 | 2011-11-15 | Amkor Technology, Inc. | Package in package device for RF transceiver module |
| US8026589B1 (en) | 2009-02-23 | 2011-09-27 | Amkor Technology, Inc. | Reduced profile stackable semiconductor package |
| US7960818B1 (en) | 2009-03-04 | 2011-06-14 | Amkor Technology, Inc. | Conformal shield on punch QFN semiconductor package |
| US8575742B1 (en) | 2009-04-06 | 2013-11-05 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with increased I/O leadframe including power bars |
| US8796561B1 (en) | 2009-10-05 | 2014-08-05 | Amkor Technology, Inc. | Fan out build up substrate stackable package and method |
| US8937381B1 (en) | 2009-12-03 | 2015-01-20 | Amkor Technology, Inc. | Thin stackable package and method |
| US9691734B1 (en) | 2009-12-07 | 2017-06-27 | Amkor Technology, Inc. | Method of forming a plurality of electronic component packages |
| US8324511B1 (en) | 2010-04-06 | 2012-12-04 | Amkor Technology, Inc. | Through via nub reveal method and structure |
| US8294276B1 (en) | 2010-05-27 | 2012-10-23 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device and fabricating method thereof |
| US8440554B1 (en) | 2010-08-02 | 2013-05-14 | Amkor Technology, Inc. | Through via connected backside embedded circuit features structure and method |
| US8487445B1 (en) | 2010-10-05 | 2013-07-16 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device having through electrodes protruding from dielectric layer |
| US8791501B1 (en) | 2010-12-03 | 2014-07-29 | Amkor Technology, Inc. | Integrated passive device structure and method |
| US8674485B1 (en) | 2010-12-08 | 2014-03-18 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including leadframe with downsets |
| US8390130B1 (en) | 2011-01-06 | 2013-03-05 | Amkor Technology, Inc. | Through via recessed reveal structure and method |
| US8648450B1 (en) | 2011-01-27 | 2014-02-11 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including leadframe with a combination of leads and lands |
| TWI557183B (zh) | 2015-12-16 | 2016-11-11 | 財團法人工業技術研究院 | 矽氧烷組成物、以及包含其之光電裝置 |
| US8552548B1 (en) | 2011-11-29 | 2013-10-08 | Amkor Technology, Inc. | Conductive pad on protruding through electrode semiconductor device |
| US9704725B1 (en) | 2012-03-06 | 2017-07-11 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with leadframe configured to facilitate reduced burr formation |
| US9048298B1 (en) | 2012-03-29 | 2015-06-02 | Amkor Technology, Inc. | Backside warpage control structure and fabrication method |
| US9129943B1 (en) | 2012-03-29 | 2015-09-08 | Amkor Technology, Inc. | Embedded component package and fabrication method |
| KR101486790B1 (ko) | 2013-05-02 | 2015-01-28 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 강성보강부를 갖는 마이크로 리드프레임 |
| KR101563911B1 (ko) | 2013-10-24 | 2015-10-28 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 패키지 |
| US9209120B2 (en) | 2014-03-11 | 2015-12-08 | Freescale Semiconductor, Inc. | Semiconductor package with lead mounted power bar |
| US9673122B2 (en) | 2014-05-02 | 2017-06-06 | Amkor Technology, Inc. | Micro lead frame structure having reinforcing portions and method |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3648122A (en) * | 1970-06-19 | 1972-03-07 | Bell Telephone Labor Inc | Metal-insulator-metal solid-state rectifier |
| US4366342A (en) * | 1978-06-21 | 1982-12-28 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Conductively coated embossed articles |
| JPS57107059A (en) * | 1980-12-25 | 1982-07-03 | Fujitsu Ltd | Semiconductor package |
-
1981
- 1981-08-14 US US06/293,052 patent/US4417266A/en not_active Expired - Fee Related
-
1982
- 1982-08-13 JP JP57139981A patent/JPS5839038A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0233572A (ja) * | 1988-07-25 | 1990-02-02 | Sanyo Electric Co Ltd | 冷凍機の制御方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4417266A (en) | 1983-11-22 |
| JPS5839038A (ja) | 1983-03-07 |
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