JPS6335364Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6335364Y2 JPS6335364Y2 JP1983126713U JP12671383U JPS6335364Y2 JP S6335364 Y2 JPS6335364 Y2 JP S6335364Y2 JP 1983126713 U JP1983126713 U JP 1983126713U JP 12671383 U JP12671383 U JP 12671383U JP S6335364 Y2 JPS6335364 Y2 JP S6335364Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- medium
- probe
- contact
- test object
- sponge body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は超音波厚さ計を用いて被測定物（試験
体）の厚さ等を測定する際に試験体上に媒質を供
給する媒質供給構造に関する。
体）の厚さ等を測定する際に試験体上に媒質を供
給する媒質供給構造に関する。
高周波パルスを探触子から試験体に投入し、試
験体の底面からの反応を受信して試験体の厚さを
推定することのできる超音波厚さ計が知られてい
る。このような超音波厚さ計を用いる際に、探触
子と試験体表面との間に空気層が存在すると、探
触子および試験体の音響インピーダンスと空気の
音響インピーダンスとは互いに著しく異なるもの
であるから、前記空気層を超音波が全く伝わらな
いこととなつてしまう。そこで、探触子と試験体
表面との間に適当な媒質を介在させることにより
空気層の形成を排除する方法が通常行なわれてい
る。しかしながら、従来は油差し又は刷毛等で試
験体表面の測定個所毎に媒質を供給することが最
も一般的であつたため、作業性に極めて劣り、し
かも、媒質供給後直ちに測定作業に移行しないと
前記媒質が流れ落ちる等して測定値が安定せず、
測定精度上も望ましいものではなかつた。また、
探触子と試験体との間隙に媒質を供給することの
できる装置（特開昭54−76282）も既に提案され
ているが、このような既提案装置は探触子を試験
体表面に接触させる毎に適宜媒質を前記表面に供
給する構造としては必ずしも十分に開示されてい
るものではなかつた。
験体の底面からの反応を受信して試験体の厚さを
推定することのできる超音波厚さ計が知られてい
る。このような超音波厚さ計を用いる際に、探触
子と試験体表面との間に空気層が存在すると、探
触子および試験体の音響インピーダンスと空気の
音響インピーダンスとは互いに著しく異なるもの
であるから、前記空気層を超音波が全く伝わらな
いこととなつてしまう。そこで、探触子と試験体
表面との間に適当な媒質を介在させることにより
空気層の形成を排除する方法が通常行なわれてい
る。しかしながら、従来は油差し又は刷毛等で試
験体表面の測定個所毎に媒質を供給することが最
も一般的であつたため、作業性に極めて劣り、し
かも、媒質供給後直ちに測定作業に移行しないと
前記媒質が流れ落ちる等して測定値が安定せず、
測定精度上も望ましいものではなかつた。また、
探触子と試験体との間隙に媒質を供給することの
できる装置（特開昭54−76282）も既に提案され
ているが、このような既提案装置は探触子を試験
体表面に接触させる毎に適宜媒質を前記表面に供
給する構造としては必ずしも十分に開示されてい
るものではなかつた。
本考案の目的は、探触子を試験体表面に押し当
てながら探触子および試験体表面間に媒質層を迅
速に形成することができ、従つて、測定作業を極
めて効率よく行なうことができるとともに測定精
度を向上させることのできる超音波厚さ計の媒質
供給構造を提供することにある。
てながら探触子および試験体表面間に媒質層を迅
速に形成することができ、従つて、測定作業を極
めて効率よく行なうことができるとともに測定精
度を向上させることのできる超音波厚さ計の媒質
供給構造を提供することにある。
そのため本考案は探触子に媒質溜を形成すると
ともに、探触子の試験体当接面近傍に開口された
媒質吐出口を設け、かつ、媒質吐出手段を設ける
ことにより、前記探触子を操作する手で前記媒質
吐出手段をも同時操作可能として前記目的を達成
しようとするものである。なお、本考案における
超音波厚さ計とは超音波探傷計をも含むものであ
る。
ともに、探触子の試験体当接面近傍に開口された
媒質吐出口を設け、かつ、媒質吐出手段を設ける
ことにより、前記探触子を操作する手で前記媒質
吐出手段をも同時操作可能として前記目的を達成
しようとするものである。なお、本考案における
超音波厚さ計とは超音波探傷計をも含むものであ
る。
以下、本考案の実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
第１図には本考案に係る媒質供給構造の一実施
例が適用される超音波厚さ計の全体構成が示さ
れ、図中測定器本体１１の正面には表示部１２お
よび操作部１３が設けられ、また、測定器本体１
１の内部には図示しないパルス発振器や受信器が
備えられている。この測定器本体１１にはケーブ
ル１４を介して探触子１５が取付けられている。
例が適用される超音波厚さ計の全体構成が示さ
れ、図中測定器本体１１の正面には表示部１２お
よび操作部１３が設けられ、また、測定器本体１
１の内部には図示しないパルス発振器や受信器が
備えられている。この測定器本体１１にはケーブ
ル１４を介して探触子１５が取付けられている。
探触子１５は段付円筒体状に構成され、先端部
には平面状の試験体当接面１６とされ、試験体当
接面１６から試験体１７に投入した高周波パルス
が再び試験体当接面１６に受信されるようになつ
ている。
には平面状の試験体当接面１６とされ、試験体当
接面１６から試験体１７に投入した高周波パルス
が再び試験体当接面１６に受信されるようになつ
ている。
探触子１５の外周部には、第２，３図に示され
るように、媒質溜としての外筒２１が固定されて
いる。この外筒２１は、第２，３図中右端面中央
部にて探触子１５に固定され、左端部には探触子
１５の先端側が遊挿通されている。この外筒２１
の内周面と探触子１５の外周面との間隙に形成さ
れた略厚肉円筒体形状の空所内には、この空所と
略同形のスポンジ体２２が充填され、更に、スポ
ンジ体２２の外周には圧縮コイルばね２３が配置
されている。また、外筒２１の適宜位置には空気
抜き栓２４および媒質導入口２５が設けられ、媒
質導入口２５は媒質供給パイプ２６を介して媒質
容器２７（第１図参照）に連通され、この媒質容
器２７は測定器本体１１の例えば左側面に取付け
られる等している。また、空気抜き栓２４を開い
てスポンジ体２２を圧縮してスポンジ体２２中か
ら空気を排除すれば、スポンジ体２２の媒質吸引
力が増大するようになつている。
るように、媒質溜としての外筒２１が固定されて
いる。この外筒２１は、第２，３図中右端面中央
部にて探触子１５に固定され、左端部には探触子
１５の先端側が遊挿通されている。この外筒２１
の内周面と探触子１５の外周面との間隙に形成さ
れた略厚肉円筒体形状の空所内には、この空所と
略同形のスポンジ体２２が充填され、更に、スポ
ンジ体２２の外周には圧縮コイルばね２３が配置
されている。また、外筒２１の適宜位置には空気
抜き栓２４および媒質導入口２５が設けられ、媒
質導入口２５は媒質供給パイプ２６を介して媒質
容器２７（第１図参照）に連通され、この媒質容
器２７は測定器本体１１の例えば左側面に取付け
られる等している。また、空気抜き栓２４を開い
てスポンジ体２２を圧縮してスポンジ体２２中か
ら空気を排除すれば、スポンジ体２２の媒質吸引
力が増大するようになつている。
外筒２１の先端開口部にはシールリング３１を
介して吐出手段としての内筒３２が進退動自在に
挿入保持されている。内筒３２は第４図にも示さ
れるように、略円筒状に形成され、円筒状の外周
面において前記シールリング３１にガイドされ、
かつ、図中右端内周面にその周方向に沿つた適宜
間隔毎に設けられた凸状スライドガイド３３を介
して内側からは前記探触子１５の外周部によりガ
イドされた状態となつている。また、内筒３２の
右端外周部にはフランジ状のばね受け３４が形成
され、このばね受け３４には前記圧縮コイルばね
２３の左端部が当接され、従つて、内筒３２はシ
ールリング３１から突出する方向に付勢されてい
る。
介して吐出手段としての内筒３２が進退動自在に
挿入保持されている。内筒３２は第４図にも示さ
れるように、略円筒状に形成され、円筒状の外周
面において前記シールリング３１にガイドされ、
かつ、図中右端内周面にその周方向に沿つた適宜
間隔毎に設けられた凸状スライドガイド３３を介
して内側からは前記探触子１５の外周部によりガ
イドされた状態となつている。また、内筒３２の
右端外周部にはフランジ状のばね受け３４が形成
され、このばね受け３４には前記圧縮コイルばね
２３の左端部が当接され、従つて、内筒３２はシ
ールリング３１から突出する方向に付勢されてい
る。
また、内筒３２の図中左端寄りの内周面には略
リング状のシールド板３５が形成され、シールド
板３５の中央部に形成された丸穴３６からは探触
子１５の先端部が摺動可能に突出されている。こ
のシールド板３５により媒質の流れが遮られる
が、シールド板３５の図中上方側の所定位置に
は、例えば３個所等の適宜個所に吐出口３７が穿
設され、内筒３２が圧縮コイルばね２３の付勢力
に抗して外筒２１内に押し込まれた際には吐出口
３７からはスポンジ体２２に染み込まれた媒質が
吐出されるよう構成されている。
リング状のシールド板３５が形成され、シールド
板３５の中央部に形成された丸穴３６からは探触
子１５の先端部が摺動可能に突出されている。こ
のシールド板３５により媒質の流れが遮られる
が、シールド板３５の図中上方側の所定位置に
は、例えば３個所等の適宜個所に吐出口３７が穿
設され、内筒３２が圧縮コイルばね２３の付勢力
に抗して外筒２１内に押し込まれた際には吐出口
３７からはスポンジ体２２に染み込まれた媒質が
吐出されるよう構成されている。
次に、本実施例の使用法に付き説明する。
媒質容器２７より供給される媒質がスポンジ体
２２に浸透されていても、第２図に示されるよう
に、内筒３２が試験体１７の表面に押し当てられ
ていない状態にあつては、内筒３２は圧縮コイル
ばね２３の付勢力により突出方向に付勢され、か
つ、ばね受け３４が外筒２１の開口部側の内周面
に当接された状態にて内筒３２は停止している。
このとき、外筒２１内の媒質は、スポンジ体２２
に浸透されているため、外筒２１内より内筒３２
側へと流出されることはない。
２２に浸透されていても、第２図に示されるよう
に、内筒３２が試験体１７の表面に押し当てられ
ていない状態にあつては、内筒３２は圧縮コイル
ばね２３の付勢力により突出方向に付勢され、か
つ、ばね受け３４が外筒２１の開口部側の内周面
に当接された状態にて内筒３２は停止している。
このとき、外筒２１内の媒質は、スポンジ体２２
に浸透されているため、外筒２１内より内筒３２
側へと流出されることはない。
試験体１７の測定個所が幾つか定まつた後に、
試験体１７の表面に内筒３２を押し当てると、内
筒３２は圧縮コイルばね２３の付勢力に抗して外
筒２１の内部側へと後退させられる。これによ
り、スポンジ体２２が圧縮されてスポンジ体２２
内に浸透保持されていた染み込まれていた媒質は
スポンジ体２２より染み出して内筒３２内に流出
し、次いで、吐出口３７内を流通して試験体１７
の表面へと供給される。試験体１７の表面に供給
された媒質は、試験体１７の表面と試験体当接面
１６との間隙を満たして媒質層を形成することと
なる。この際、試験体当接面１６を試験体１７の
表面に擦りつけるように探触子１５を操作すれ
ば、前記媒質層の形成が一層確実である。このよ
うにして媒質層が形成された段階で測定器本体１
１の操作部１３を操作すれば、求める測定値が表
示部１２により表示されることとなる。
試験体１７の表面に内筒３２を押し当てると、内
筒３２は圧縮コイルばね２３の付勢力に抗して外
筒２１の内部側へと後退させられる。これによ
り、スポンジ体２２が圧縮されてスポンジ体２２
内に浸透保持されていた染み込まれていた媒質は
スポンジ体２２より染み出して内筒３２内に流出
し、次いで、吐出口３７内を流通して試験体１７
の表面へと供給される。試験体１７の表面に供給
された媒質は、試験体１７の表面と試験体当接面
１６との間隙を満たして媒質層を形成することと
なる。この際、試験体当接面１６を試験体１７の
表面に擦りつけるように探触子１５を操作すれ
ば、前記媒質層の形成が一層確実である。このよ
うにして媒質層が形成された段階で測定器本体１
１の操作部１３を操作すれば、求める測定値が表
示部１２により表示されることとなる。
このような本実施例によれば次のような効果が
ある。
ある。
探触子１５を試験体１７の表面に押し付けるだ
けで試験体１７の表面と試験体当接面１６との間
に媒質層を形成することができる。即ち、超音波
厚さ測定においては、必ず試験体当接面１６を試
験体１７に押し付ける（当接させる）操作を有す
るわけであるが、このような試験体当接面１６を
試験体１７の表面に当接させる操作以外の特別な
操作を何ら要することなく試験体当接面１６と試
験体１７の表面との間に媒質層を形成させること
ができるため、測定作業が極めて迅速に行なわれ
るという効果がある。しかも、測定の度毎に、吐
出口３７から媒質を試験体１７の表面上に供給
し、かつ、吐出口３７の位置は試験体当接面１６
の近傍であるから、熱媒質を試験体１７の表面に
供給した後試験体当接面１６を前記表面に当接さ
せる迄の時間は短時間で済み、この時間内に媒質
が流れ落たり或いは乾燥してしまつたりする恐れ
が全くなく、この点から、常に高精度な測定を確
保することができる。
けで試験体１７の表面と試験体当接面１６との間
に媒質層を形成することができる。即ち、超音波
厚さ測定においては、必ず試験体当接面１６を試
験体１７に押し付ける（当接させる）操作を有す
るわけであるが、このような試験体当接面１６を
試験体１７の表面に当接させる操作以外の特別な
操作を何ら要することなく試験体当接面１６と試
験体１７の表面との間に媒質層を形成させること
ができるため、測定作業が極めて迅速に行なわれ
るという効果がある。しかも、測定の度毎に、吐
出口３７から媒質を試験体１７の表面上に供給
し、かつ、吐出口３７の位置は試験体当接面１６
の近傍であるから、熱媒質を試験体１７の表面に
供給した後試験体当接面１６を前記表面に当接さ
せる迄の時間は短時間で済み、この時間内に媒質
が流れ落たり或いは乾燥してしまつたりする恐れ
が全くなく、この点から、常に高精度な測定を確
保することができる。
なお実施にあたり、スポンジ体２２に媒質を浸
透させておけば、媒質溜としての外筒２１内に媒
質を外部へ流出させることなく確実に保持させ、
従つて、内筒３２を試験体１７の表面に押し当て
たときには確実に（適当量の）媒質を試験体１７
の表面に供給させることができるという効果があ
る。また、吐出口３７は、探触子１５を試験体１
７の表面に押し当てる際に上部側に位置されるよ
う設けるものとしたが、必ずしも上部側でなくと
もよいし、形状も、単なるスリツト状等であつて
もよい。また、内筒３２を試験体１７の表面に押
し当てない状態にあつては、外筒２１内の媒質は
スポンジ体２２に浸透されることにより外筒２１
内に保持された状態となつていたが、このような
状態では吐出口３７より媒質が流出されることの
ないにする適宜な閉塞手段を設ける等してもよ
い。
透させておけば、媒質溜としての外筒２１内に媒
質を外部へ流出させることなく確実に保持させ、
従つて、内筒３２を試験体１７の表面に押し当て
たときには確実に（適当量の）媒質を試験体１７
の表面に供給させることができるという効果があ
る。また、吐出口３７は、探触子１５を試験体１
７の表面に押し当てる際に上部側に位置されるよ
う設けるものとしたが、必ずしも上部側でなくと
もよいし、形状も、単なるスリツト状等であつて
もよい。また、内筒３２を試験体１７の表面に押
し当てない状態にあつては、外筒２１内の媒質は
スポンジ体２２に浸透されることにより外筒２１
内に保持された状態となつていたが、このような
状態では吐出口３７より媒質が流出されることの
ないにする適宜な閉塞手段を設ける等してもよ
い。
上述のように本考案によれば、媒質層を探触子
および試験体表面間に適宜迅速に形成することが
でき、従つて、超音波厚さ計による測定作業の効
率を向上させることができ、また、測定精度をも
向上させることのできる超音波厚さ計の媒質供給
構造を提供できる。
および試験体表面間に適宜迅速に形成することが
でき、従つて、超音波厚さ計による測定作業の効
率を向上させることができ、また、測定精度をも
向上させることのできる超音波厚さ計の媒質供給
構造を提供できる。
第１図は本考案に係る超音波厚さ計の媒質供給
構造の一実施例が適用される超音波厚さ計の全体
構成を示す正面図、第２図および第３図は夫々互
いに異なる操作状態における前記実施例の要部の
拡大断面図、第４図は前記実施例の内筒の形状を
一部を切欠いて示す拡大斜視図である。 １１……測定器本体、１５……探触子、１６…
…試験体当接面、１７……試験体、２１……媒質
溜としての外筒、媒質タンク、２２……スポンジ
体、２３……圧縮コイルばね、３２……吐出手段
としての内筒、スポイトパイプ、３７……吐出
口、４５……媒質。
構造の一実施例が適用される超音波厚さ計の全体
構成を示す正面図、第２図および第３図は夫々互
いに異なる操作状態における前記実施例の要部の
拡大断面図、第４図は前記実施例の内筒の形状を
一部を切欠いて示す拡大斜視図である。 １１……測定器本体、１５……探触子、１６…
…試験体当接面、１７……試験体、２１……媒質
溜としての外筒、媒質タンク、２２……スポンジ
体、２３……圧縮コイルばね、３２……吐出手段
としての内筒、スポイトパイプ、３７……吐出
口、４５……媒質。
Claims (1)
- 接触子に媒質溜としての外筒を形成するととも
に、接触子の試験体当接面近傍に開口された媒質
吐出口を設け、かつ外筒の内周面と接触子の外周
面との間隙に形成された空所内にスポンジ体を充
填し、このスポンジ体の外周には圧縮コイルばね
を配置することにより構成した媒質吐出手段を設
けたことを特徴とする超音波厚さ計の媒質供給構
造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12671383U JPS6033604U (ja) | 1983-08-16 | 1983-08-16 | 超音波厚さ計の媒質供給構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12671383U JPS6033604U (ja) | 1983-08-16 | 1983-08-16 | 超音波厚さ計の媒質供給構造 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6033604U JPS6033604U (ja) | 1985-03-07 |
| JPS6335364Y2 true JPS6335364Y2 (ja) | 1988-09-20 |
Family
ID=30288027
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12671383U Granted JPS6033604U (ja) | 1983-08-16 | 1983-08-16 | 超音波厚さ計の媒質供給構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6033604U (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63127601A (ja) * | 1986-11-18 | 1988-05-31 | Murata Mfg Co Ltd | ストリツプラインフイルタ |
| GB0518153D0 (en) * | 2005-09-07 | 2005-10-12 | Rolls Royce Plc | Apparatus for measuring wall thicknesses of objects |
| JP6211883B2 (ja) * | 2013-10-09 | 2017-10-11 | 株式会社東芝 | 超音波探傷装置及びその探傷ヘッド |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5728084Y2 (ja) * | 1975-10-30 | 1982-06-18 | ||
| JPS52141357U (ja) * | 1976-04-20 | 1977-10-26 | ||
| JPS52141356U (ja) * | 1976-04-20 | 1977-10-26 |
-
1983
- 1983-08-16 JP JP12671383U patent/JPS6033604U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6033604U (ja) | 1985-03-07 |
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