JPS6336450B2 - - Google Patents
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- JPS6336450B2 JPS6336450B2 JP7857179A JP7857179A JPS6336450B2 JP S6336450 B2 JPS6336450 B2 JP S6336450B2 JP 7857179 A JP7857179 A JP 7857179A JP 7857179 A JP7857179 A JP 7857179A JP S6336450 B2 JPS6336450 B2 JP S6336450B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0292—Testing optical properties of objectives by measuring the optical modulation transfer function
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は引伸レンズやマイクロレンズ等の光学
素子のMTF(Modulation Transfer Function:
伝達関数)を測定するMTF測定装置における信
号処理方法に関する。
素子のMTF(Modulation Transfer Function:
伝達関数)を測定するMTF測定装置における信
号処理方法に関する。
レンズ等の光伝達素子のMTFを測定する方法
としては格子チヤートを走査する光学的フーリエ
変換法、エツジ又はスリツトを走査してその電気
信号を電気的にフーリエ解析する電気的フーリエ
変換法、又干渉を利用する自己相関法等が知られ
ており、その測定器が市販されている。
としては格子チヤートを走査する光学的フーリエ
変換法、エツジ又はスリツトを走査してその電気
信号を電気的にフーリエ解析する電気的フーリエ
変換法、又干渉を利用する自己相関法等が知られ
ており、その測定器が市販されている。
しかし、この市販の測定器では格子チヤート、
エツジ、スリツト等の機械的走査を必要とし、そ
れが回転であるにしろ併進であるにしろ高精度な
メカニズムの走査機構が要求される。したがつて
この走査機構は高価で比較的大きなものになりや
すい為、各像高やチヤートの方向角(所謂
Azimuth)等に対応した個数を設置することが
難しい。この為、1組の走査機構や光源、受光部
等を必要な各位置、方向角に設定して測定を行わ
なければならないので、光軸と軸外2点について
MTFを測定するだけでも少くとも5回の設定変
更を行わなければならない。その上、レンズは一
般に偏心と呼ばれる製作誤差を持つている為、同
じ像高について少くとも対角4方向のMTF測定
を必要とするから、これだけでも17回の設定を行
うことになる。又Defocusと呼ばれるピントはず
れ状態の測定を加えれば前述の回数にDefocusの
回数を掛けただけの測定が必要になる。この様な
理由から、レンズの性能判定へのMTF測定の重
要性が叫ばれているにもかかわらず、検査レベル
でのMTF普及が遅れている。
エツジ、スリツト等の機械的走査を必要とし、そ
れが回転であるにしろ併進であるにしろ高精度な
メカニズムの走査機構が要求される。したがつて
この走査機構は高価で比較的大きなものになりや
すい為、各像高やチヤートの方向角(所謂
Azimuth)等に対応した個数を設置することが
難しい。この為、1組の走査機構や光源、受光部
等を必要な各位置、方向角に設定して測定を行わ
なければならないので、光軸と軸外2点について
MTFを測定するだけでも少くとも5回の設定変
更を行わなければならない。その上、レンズは一
般に偏心と呼ばれる製作誤差を持つている為、同
じ像高について少くとも対角4方向のMTF測定
を必要とするから、これだけでも17回の設定を行
うことになる。又Defocusと呼ばれるピントはず
れ状態の測定を加えれば前述の回数にDefocusの
回数を掛けただけの測定が必要になる。この様な
理由から、レンズの性能判定へのMTF測定の重
要性が叫ばれているにもかかわらず、検査レベル
でのMTF普及が遅れている。
次に従来のMTF測定装置の一例を挙げて説明
する。この装置は複写レンズ、マイクロレンズ、
引伸レンズ等の様に物体距離有限で使用されるレ
ンズやフアイバー等の光学素子のMTFを測定す
るものであり、第1図に示す。図中、1は光源部
であり、光源とスリツトが主な構成要素である
が、必要に応じて集光レンズ、拡散板、波長選択
フイルタ等を取り付けることができる。この光源
部のスリツトは測定したい方向角に回転できる様
に構成され、光源部1全体は副ベンチ2の上を摺
動し必要な物体高に設置できる様になつている。
3は被験レンズホルダーであり、被検レンズ4を
取り付ける装置とこれを任意の角度回転できる装
置とからなる。5は受光部であり、走査チヤート
と受光器が主な構成要素であるが、チヤートの走
査機構、空間周波数変換機構の他、必要に応じて
リレーレンズ、フアインダー等が付加される。こ
の受光部5は光源部1のスリツト方向に対応した
方向角に設置できる様に回転が可能であり、受光
部5全体はもう一つの副ベンチ6の上を摺動し、
設置した物体高に対応した像高が設置できる様に
なつている。副ベンチ2,6及びレンズホルダー
3は主ベンチ7の上を摺動し必要な物体距離と像
距離が設定できる様になつている。
する。この装置は複写レンズ、マイクロレンズ、
引伸レンズ等の様に物体距離有限で使用されるレ
ンズやフアイバー等の光学素子のMTFを測定す
るものであり、第1図に示す。図中、1は光源部
であり、光源とスリツトが主な構成要素である
が、必要に応じて集光レンズ、拡散板、波長選択
フイルタ等を取り付けることができる。この光源
部のスリツトは測定したい方向角に回転できる様
に構成され、光源部1全体は副ベンチ2の上を摺
動し必要な物体高に設置できる様になつている。
3は被験レンズホルダーであり、被検レンズ4を
取り付ける装置とこれを任意の角度回転できる装
置とからなる。5は受光部であり、走査チヤート
と受光器が主な構成要素であるが、チヤートの走
査機構、空間周波数変換機構の他、必要に応じて
リレーレンズ、フアインダー等が付加される。こ
の受光部5は光源部1のスリツト方向に対応した
方向角に設置できる様に回転が可能であり、受光
部5全体はもう一つの副ベンチ6の上を摺動し、
設置した物体高に対応した像高が設置できる様に
なつている。副ベンチ2,6及びレンズホルダー
3は主ベンチ7の上を摺動し必要な物体距離と像
距離が設定できる様になつている。
この様なMTF測定装置は多機種少量のレンズ
に対して種々の設定条件でMTFを測定したりレ
ンズ以外の光学素子のMTFを測定する等いわゆ
る万能性には優れているが、大量のレンズの良否
を能率良く判定する必要のあるいわゆる検査機と
してはほとんど使い物にならないのが現状であ
る。つまり、この装置では光源部1と受光部5が
比較的大きい上、特に受光部5は高精度のメカニ
ズムが要求され高価なものとなり易い為、必要な
物体高(像高)に対応する数だけ設置することが
難しい。従つて被検レンズが同機種であつても
個々のレンズのMTF測定を行う度に必要な物体
高に対応した光源部1と受光部5の移動が必要と
なる。そのうえ、軸上以外においては動径方向
(いわゆるRadial)と接線方向(いわゆる
Tangential)の二方向の方向角に従つて光源部
1と受光部5を各物体高(像高)毎に回転させて
設置しなければならない。
に対して種々の設定条件でMTFを測定したりレ
ンズ以外の光学素子のMTFを測定する等いわゆ
る万能性には優れているが、大量のレンズの良否
を能率良く判定する必要のあるいわゆる検査機と
してはほとんど使い物にならないのが現状であ
る。つまり、この装置では光源部1と受光部5が
比較的大きい上、特に受光部5は高精度のメカニ
ズムが要求され高価なものとなり易い為、必要な
物体高(像高)に対応する数だけ設置することが
難しい。従つて被検レンズが同機種であつても
個々のレンズのMTF測定を行う度に必要な物体
高に対応した光源部1と受光部5の移動が必要と
なる。そのうえ、軸上以外においては動径方向
(いわゆるRadial)と接線方向(いわゆる
Tangential)の二方向の方向角に従つて光源部
1と受光部5を各物体高(像高)毎に回転させて
設置しなければならない。
そこで、電荷結合素子いわゆるCCDまたはフ
オトダイオードアレイ等で代表される固体走査素
子を用いた、操作性と迅速正に優れているMTF
測定装置が考えられている。この装置では、被検
素子により投影されたチヤートの像が固体走査素
子で受光されてその出力信号より基準の(チヤー
トの零に近い空間周波数の透明部と不透明部に対
応した)最大値Aと最小値B、チヤートの必要空
間周波数の透明部と不透明部に対応した極大値a
と極小値bを検出し、これらから例えば(a−
b)/(A−B)×100なる演算で被検光学素子の
MTFを算出する。
オトダイオードアレイ等で代表される固体走査素
子を用いた、操作性と迅速正に優れているMTF
測定装置が考えられている。この装置では、被検
素子により投影されたチヤートの像が固体走査素
子で受光されてその出力信号より基準の(チヤー
トの零に近い空間周波数の透明部と不透明部に対
応した)最大値Aと最小値B、チヤートの必要空
間周波数の透明部と不透明部に対応した極大値a
と極小値bを検出し、これらから例えば(a−
b)/(A−B)×100なる演算で被検光学素子の
MTFを算出する。
しかしこのMTF測定装置ではチヤートの空間
周波数が或る程度高くなると、チヤートが透明部
と不透明部の矩形波状パターンであつても固体走
査素子からの時系列的信号が正弦波状になり、そ
の極大値aと極小値bの明確な区別がしにくくな
つてMTFの計算が困難になる。また固体走査素
子は非常に多数のフオトエレメントを有するの
で、局部的な半導体の欠陥によつて他のフオトエ
レメントより異常に高い感度を持つたり逆に低す
ぎる感度を持つたりするフオトエレメントが生ず
ること がある。このような異常感度のフオトエレメント
を皆無にしようとすると、製品の歩留まりが悪く
なるので、少数のフオトエレメントの欠陥は一般
に許容するようにしている。従つて異常感度のフ
オトエレメントによる異常出力の影響を受けて
MTFの計算が不正確になる。
周波数が或る程度高くなると、チヤートが透明部
と不透明部の矩形波状パターンであつても固体走
査素子からの時系列的信号が正弦波状になり、そ
の極大値aと極小値bの明確な区別がしにくくな
つてMTFの計算が困難になる。また固体走査素
子は非常に多数のフオトエレメントを有するの
で、局部的な半導体の欠陥によつて他のフオトエ
レメントより異常に高い感度を持つたり逆に低す
ぎる感度を持つたりするフオトエレメントが生ず
ること がある。このような異常感度のフオトエレメント
を皆無にしようとすると、製品の歩留まりが悪く
なるので、少数のフオトエレメントの欠陥は一般
に許容するようにしている。従つて異常感度のフ
オトエレメントによる異常出力の影響を受けて
MTFの計算が不正確になる。
そこで上記MTF測定装置において固体走査素
子の出力信号が特定のシユレツシユホールドレベ
ルVthより大きくてチヤートの必要空間周波数の
透明部に対応する白側の複数の連続したフオトエ
レメントの出力信号を含む範囲L3の中の極大値
を真の極大値aとし、固体走査素子の出力信号が
特定のシユレツシユホールドレベルVthより小さ
くてチヤートの必要空間周波数の不透明部に対応
する黒側の複数の連続したフオトエレメント出力
信号を含む範囲L4の中の極小値を極小値bとし
てMTFの計算を行う方法が考えられている。こ
の方法によればチヤートの空間周波数が高くなつ
ても極大値aと極小値bを区別することができ
る。しかし第9図のような固体走査素子から時系
列で出力されたフオトエレメント出力信号におけ
る異常感度のフオトエレメント出力信号による異
常値a0b0を真の極大値a、真の極小値bの代りに
MTFの計算に用いてしまう確率が高い。なぜな
ら感度の高すぎる異常感度のフオトエレメント出
力信号a0は範囲L3の中のどこにあつても極大値と
なつてMTFの計算を誤らせる結果となり、感度
の低すぎる異常感度のフオトエレメント出力信号
b0も範囲L4において同様の問題を引き起こす。
子の出力信号が特定のシユレツシユホールドレベ
ルVthより大きくてチヤートの必要空間周波数の
透明部に対応する白側の複数の連続したフオトエ
レメントの出力信号を含む範囲L3の中の極大値
を真の極大値aとし、固体走査素子の出力信号が
特定のシユレツシユホールドレベルVthより小さ
くてチヤートの必要空間周波数の不透明部に対応
する黒側の複数の連続したフオトエレメント出力
信号を含む範囲L4の中の極小値を極小値bとし
てMTFの計算を行う方法が考えられている。こ
の方法によればチヤートの空間周波数が高くなつ
ても極大値aと極小値bを区別することができ
る。しかし第9図のような固体走査素子から時系
列で出力されたフオトエレメント出力信号におけ
る異常感度のフオトエレメント出力信号による異
常値a0b0を真の極大値a、真の極小値bの代りに
MTFの計算に用いてしまう確率が高い。なぜな
ら感度の高すぎる異常感度のフオトエレメント出
力信号a0は範囲L3の中のどこにあつても極大値と
なつてMTFの計算を誤らせる結果となり、感度
の低すぎる異常感度のフオトエレメント出力信号
b0も範囲L4において同様の問題を引き起こす。
また上記方法と類似な方法であつてそれぞれの
範囲L3、L4における両端側の所定数の信号を捨
てて残りの信号の平均値をとつてa、bとする方
法も考えられている。しかしこの方法では各範囲
L3、L4の両端側の信号を捨てるために異常感度
のフオトエレメントによる異常信号を拾う確率は
少し下がるが、まだかなり高い。しかも残りの信
号の平均値をとるため、別の問題が生ずる。即ち
固体走査素子の出力信号は正弦波に近いにも拘ら
ず原理的に大小関係の有る筈の残りの信号を平均
化してしまうために真の極大値、極小値が得られ
ず、正しいMTFの計算が行われなくなつてしま
う。
範囲L3、L4における両端側の所定数の信号を捨
てて残りの信号の平均値をとつてa、bとする方
法も考えられている。しかしこの方法では各範囲
L3、L4の両端側の信号を捨てるために異常感度
のフオトエレメントによる異常信号を拾う確率は
少し下がるが、まだかなり高い。しかも残りの信
号の平均値をとるため、別の問題が生ずる。即ち
固体走査素子の出力信号は正弦波に近いにも拘ら
ず原理的に大小関係の有る筈の残りの信号を平均
化してしまうために真の極大値、極小値が得られ
ず、正しいMTFの計算が行われなくなつてしま
う。
本発明は異常信号を拾う確率を極力下げて正し
いMTFの計算を行うことができる上に任意のチ
ヤートの空間周波数に対して自動的に適応するこ
とができるMTF測定装置における信号処理方法
を提供することを目的とする。
いMTFの計算を行うことができる上に任意のチ
ヤートの空間周波数に対して自動的に適応するこ
とができるMTF測定装置における信号処理方法
を提供することを目的とする。
まず、従来の光学的フーリエ変換法による
MTF測定原理と固体走査素子を用いるMTF測定
原理について説明する。従来の光学的フーリエ変
換法では第2図aに示すように光源8の前にスリ
ツト9を置き、被検レンズ4によつて投影された
スリツト9の像9aを正弦波チヤート10で走査
しその時間的明暗を受光器11によつて捕えてオ
ツシロスコープ12で表示し、又は第2図bに示
すようにスリツト9と正弦波チヤート10を入れ
換えて物体側の正弦波チヤート10を走査して時
間的正弦波を発生させている。なお、MTFを得
るには受光器11で捕えた正弦波のピーク値と谷
部の値との差をその和で割るという演算を行う。
一方、第2図cに示すように固体走査素子を用い
るMTF測定方法は第2図bの方法と同様に光源
8の前に正弦波チヤート10を置くが、第2図b
の方法と異なり正弦波チヤート10は固定した
まゝであり、被検レンズ4による正弦波チヤート
10の投影像10aを固体走査素子13で受光す
る。固体走査素子13は自己走査機能を有してい
る為、静止した空間的正弦波を時間的正弦波に変
換し、オツシロスコープ12には第2図a,bの
方法と同様に波形が表示される。
MTF測定原理と固体走査素子を用いるMTF測定
原理について説明する。従来の光学的フーリエ変
換法では第2図aに示すように光源8の前にスリ
ツト9を置き、被検レンズ4によつて投影された
スリツト9の像9aを正弦波チヤート10で走査
しその時間的明暗を受光器11によつて捕えてオ
ツシロスコープ12で表示し、又は第2図bに示
すようにスリツト9と正弦波チヤート10を入れ
換えて物体側の正弦波チヤート10を走査して時
間的正弦波を発生させている。なお、MTFを得
るには受光器11で捕えた正弦波のピーク値と谷
部の値との差をその和で割るという演算を行う。
一方、第2図cに示すように固体走査素子を用い
るMTF測定方法は第2図bの方法と同様に光源
8の前に正弦波チヤート10を置くが、第2図b
の方法と異なり正弦波チヤート10は固定した
まゝであり、被検レンズ4による正弦波チヤート
10の投影像10aを固体走査素子13で受光す
る。固体走査素子13は自己走査機能を有してい
る為、静止した空間的正弦波を時間的正弦波に変
換し、オツシロスコープ12には第2図a,bの
方法と同様に波形が表示される。
第3図は固体走査素子を用いたMTF測定装置
の一例を示すもので、引伸レンズやマイクロレン
ズの検査、調整を目的としたものである。図中、
8は光源であり、ここでは螢光灯を示してある
が、ハロゲンランプに集光照明系を組合せたもの
でもよい。14は拡散板であり全画面における照
度分布のムラを取り除く為と照明光のコヒーレン
シイを減少させる目的で挿入される。10はチヤ
ート板で第4図に示す様に必要な物体高又は像高
に対応する位置全てに同様なチヤート素子101,
102……が配置されている。このチヤート素子
101,102……は全て動径方向のチヤートを示
しているが、第5図に示すように同一チヤート板
10に接線方向も同時に配置できることはもちろ
んである。又各チヤート素子101,102……は
必要な単一周波数のチヤートであれ、選定された
複数の周波数のチヤートであれ任意であるが、必
ず規格化用の比較的幅の広い透明部と不透明部を
有しており、各物体高又は像高において近似的に
零空間周波数のMTFを1に規格化できるように
構成されている。被検レンズ4はレンズホルダー
3に取り付けられ、被検レンズ4自体のピント合
わせ機構もしくはレンズホルダー3のピント合わ
せ機構により上下に移動されピント合わせが行わ
れる。15は固体走査素子13を一平面上に設置
する板であり、この例では9個の固体走査素子1
31〜139がチヤート板10のチヤート素子10
1,102……の配列に対応して設置されている。
の一例を示すもので、引伸レンズやマイクロレン
ズの検査、調整を目的としたものである。図中、
8は光源であり、ここでは螢光灯を示してある
が、ハロゲンランプに集光照明系を組合せたもの
でもよい。14は拡散板であり全画面における照
度分布のムラを取り除く為と照明光のコヒーレン
シイを減少させる目的で挿入される。10はチヤ
ート板で第4図に示す様に必要な物体高又は像高
に対応する位置全てに同様なチヤート素子101,
102……が配置されている。このチヤート素子
101,102……は全て動径方向のチヤートを示
しているが、第5図に示すように同一チヤート板
10に接線方向も同時に配置できることはもちろ
んである。又各チヤート素子101,102……は
必要な単一周波数のチヤートであれ、選定された
複数の周波数のチヤートであれ任意であるが、必
ず規格化用の比較的幅の広い透明部と不透明部を
有しており、各物体高又は像高において近似的に
零空間周波数のMTFを1に規格化できるように
構成されている。被検レンズ4はレンズホルダー
3に取り付けられ、被検レンズ4自体のピント合
わせ機構もしくはレンズホルダー3のピント合わ
せ機構により上下に移動されピント合わせが行わ
れる。15は固体走査素子13を一平面上に設置
する板であり、この例では9個の固体走査素子1
31〜139がチヤート板10のチヤート素子10
1,102……の配列に対応して設置されている。
この様な装置では各像高や方向角につき一度に
全ての情報が得られる為、後はその電気的演算処
理により短時間に被検レンズの良否の判定が可能
になる。
全ての情報が得られる為、後はその電気的演算処
理により短時間に被検レンズの良否の判定が可能
になる。
第6図は固体走査素子13として用いられる光
電変換素子CCDの内部構成を示し、第7図はそ
のタイミングチヤートである。ここでは1728個の
フオトエレメントからなる光電変換部16が13μ
mのピツチで並んでいて入射した結像光を光電変
換し、その光電変換信号が転送クロツクにより転
送ゲート17,18を通つてアナログシフトレジ
スタ19,20に入りシフトクロツクφ1,φ2に
より出力ゲート21を通して時系列に出力され
る。第3図の装置においては光源8から出た拡散
板14で拡散されて均一光となりチヤート板10
を照明する。チヤート板10のチヤート素子10
1,102……を透過した光は被検レンズ4を介し
てCCD131〜139上に白黒のパターンとして結
像されCCD131〜139から出力信号が時系列に
出力される。この時、CCD13の出力信号から
基準の最大値A、基準の最小値B、チヤートの必
要空間周波数の透明部と不透明部に対応した極大
値a、極小値bを求めてこれらより(a−b)/
(A−B)×100なる演算で被検レンズ4のMTFを
算出する。
電変換素子CCDの内部構成を示し、第7図はそ
のタイミングチヤートである。ここでは1728個の
フオトエレメントからなる光電変換部16が13μ
mのピツチで並んでいて入射した結像光を光電変
換し、その光電変換信号が転送クロツクにより転
送ゲート17,18を通つてアナログシフトレジ
スタ19,20に入りシフトクロツクφ1,φ2に
より出力ゲート21を通して時系列に出力され
る。第3図の装置においては光源8から出た拡散
板14で拡散されて均一光となりチヤート板10
を照明する。チヤート板10のチヤート素子10
1,102……を透過した光は被検レンズ4を介し
てCCD131〜139上に白黒のパターンとして結
像されCCD131〜139から出力信号が時系列に
出力される。この時、CCD13の出力信号から
基準の最大値A、基準の最小値B、チヤートの必
要空間周波数の透明部と不透明部に対応した極大
値a、極小値bを求めてこれらより(a−b)/
(A−B)×100なる演算で被検レンズ4のMTFを
算出する。
第8図はこのMTF測定装置の電気部を示す。
CCD131〜139は各チヤート素子101,102
……からの結像光をそれぞれ光電変換して時系列
に出力するが、アナログマルチプレクサ22で
CCD131〜139が1つずつ順に選択される。そ
の選択されたCCDの出力信号はA/D変換回路
23でデイジタルに変換され演算回路24で上記
A、B、a、bを求めて(a−b)/(A−B)
×100なる演算によりMTFの計算が行われる。制
御回路25はアナログマルチプレクサ22、A/
D変換回路23、演算回路24、デイジタルマル
チプレクサ26を制御し、表示器271〜279を
CCD131〜139の選択に対応して選択しその表
示器に演算回路24の演算結果を表示させる。こ
のような動作がCCD131〜139の出力信号に対
して全て終了した時に測定終了となる。又第8図
には示してないが、上記演算結果と設定数値より
合否を判定する判定回路を設けて被検レンズの合
否を判定することが可能である。
CCD131〜139は各チヤート素子101,102
……からの結像光をそれぞれ光電変換して時系列
に出力するが、アナログマルチプレクサ22で
CCD131〜139が1つずつ順に選択される。そ
の選択されたCCDの出力信号はA/D変換回路
23でデイジタルに変換され演算回路24で上記
A、B、a、bを求めて(a−b)/(A−B)
×100なる演算によりMTFの計算が行われる。制
御回路25はアナログマルチプレクサ22、A/
D変換回路23、演算回路24、デイジタルマル
チプレクサ26を制御し、表示器271〜279を
CCD131〜139の選択に対応して選択しその表
示器に演算回路24の演算結果を表示させる。こ
のような動作がCCD131〜139の出力信号に対
して全て終了した時に測定終了となる。又第8図
には示してないが、上記演算結果と設定数値より
合否を判定する判定回路を設けて被検レンズの合
否を判定することが可能である。
第10図は或る空間周波数のチヤートに対応す
るCCD13の出力信号の例を示している。この
ように空間周波数が或る程度高くなると元のチヤ
ートが白黒の矩形波状パターンであつても出力信
号の包絡線は正弦波状になる。従つてチヤートの
白部に対する信号と黒部に対する信号は明確な区
別がしにくくなる。そこで通常の方法でシユレツ
シユホールドレベルVthを定めてCCD13の出力
信号のシユレツシユホールドレベルVthに対する
大小関係でチヤートの必要空間周波数の透明部に
対応した白側の複数の連続したフオトエレメント
出力信号を含む白レベル領域L3と、チヤートの
必要空間周波数の不透明部に対応した黒側の複数
の連続したフオトエレメント出力信号を含む黒レ
ベル領域L4を区分する。本発明においてはMTF
演算用の出力値a、bとして夫々の領域L3、L4
の中央に位置するフオトエレメントの出力信号を
用いる点に特微がある。領域中に奇数個の信号が
ある場合中央にある信号は必然的に1個定まる
が、領域中に偶数個の信号が含まれる場合は領域
の中央に最も近い2個の信号のうち1個の信号を
あらかじめ指定しておいた条件によつて一方的に
採用するか或いは次のような方法を採る。即ち、
領域L3においては中央に最も近い2個の信号の
うち大きい方の信号を採用し、領域L4において
は逆に小さい方の信号を採用する。或いは信号の
大小を判断する煩わしさを避けるため領域の中央
に最も近くて原理的にレベル差があまりない2個
の信号の平均値を採用してもよい。このようにす
れば採用した信号がCCDの異常感度フオトエレ
メントからの信号である確率は前記従来方法より
はるかに小さくなる。又前記従来方法のように領
域の両端側を捨てて残りの連続した3個以上の信
号を平均してa、bを得ると、aは真の極大値よ
りも小さくbは真の極小値よりも大きくなるので
MTFの計算値が真のMTFより小さい値になる
が、本発明では上記方法によりその危検性が殆ん
どない。
るCCD13の出力信号の例を示している。この
ように空間周波数が或る程度高くなると元のチヤ
ートが白黒の矩形波状パターンであつても出力信
号の包絡線は正弦波状になる。従つてチヤートの
白部に対する信号と黒部に対する信号は明確な区
別がしにくくなる。そこで通常の方法でシユレツ
シユホールドレベルVthを定めてCCD13の出力
信号のシユレツシユホールドレベルVthに対する
大小関係でチヤートの必要空間周波数の透明部に
対応した白側の複数の連続したフオトエレメント
出力信号を含む白レベル領域L3と、チヤートの
必要空間周波数の不透明部に対応した黒側の複数
の連続したフオトエレメント出力信号を含む黒レ
ベル領域L4を区分する。本発明においてはMTF
演算用の出力値a、bとして夫々の領域L3、L4
の中央に位置するフオトエレメントの出力信号を
用いる点に特微がある。領域中に奇数個の信号が
ある場合中央にある信号は必然的に1個定まる
が、領域中に偶数個の信号が含まれる場合は領域
の中央に最も近い2個の信号のうち1個の信号を
あらかじめ指定しておいた条件によつて一方的に
採用するか或いは次のような方法を採る。即ち、
領域L3においては中央に最も近い2個の信号の
うち大きい方の信号を採用し、領域L4において
は逆に小さい方の信号を採用する。或いは信号の
大小を判断する煩わしさを避けるため領域の中央
に最も近くて原理的にレベル差があまりない2個
の信号の平均値を採用してもよい。このようにす
れば採用した信号がCCDの異常感度フオトエレ
メントからの信号である確率は前記従来方法より
はるかに小さくなる。又前記従来方法のように領
域の両端側を捨てて残りの連続した3個以上の信
号を平均してa、bを得ると、aは真の極大値よ
りも小さくbは真の極小値よりも大きくなるので
MTFの計算値が真のMTFより小さい値になる
が、本発明では上記方法によりその危検性が殆ん
どない。
第10図においてスレツシユホールドレベル
Vthより信号の方が大きい領域L3には10個のフオ
トエレメント出力信号が含まれている。この領域
L3の信号を右からS1……S10とすれば領域L3の丁
度中央に位置する信号は存在しないので、中央を
はさんで両側の信号S5,S6に着目する。信号の包
絡線は正弦波状であるので、領域L3内の信号の
包絡線は中央位置で最大になる山形の対称曲線に
近くなる。従つて信号S5とS9はほぼ同レベルであ
る。そこでS5=a1、S6=a2とし、MTF計算に用
いる最大値aとして次に示すいくつかの方法〜
のいずれかを回路で定める。
Vthより信号の方が大きい領域L3には10個のフオ
トエレメント出力信号が含まれている。この領域
L3の信号を右からS1……S10とすれば領域L3の丁
度中央に位置する信号は存在しないので、中央を
はさんで両側の信号S5,S6に着目する。信号の包
絡線は正弦波状であるので、領域L3内の信号の
包絡線は中央位置で最大になる山形の対称曲線に
近くなる。従つて信号S5とS9はほぼ同レベルであ
る。そこでS5=a1、S6=a2とし、MTF計算に用
いる最大値aとして次に示すいくつかの方法〜
のいずれかを回路で定める。
時系列的に先に出てくる信号を用いる。
a=a1
時系列的に後で出てくる信号を用いる。
a=a2
a1とa2を比較して大きい方を用いる。
a=max(a1、a2)
a1とa2がほぼ同レベルであるから両者の平均
をとる。
をとる。
a=1/2(a1+a2)
第10図においてシユレツシユホールドレベル
Vthより信号の方が小さい領域L4には9個の信号
が含まれているので、中央に位置する信号は1個
だけ確定しこれをbとする。CCD13の各フオ
トエレメント(光電変換部)には微小な感度の差
異があるので、このbが領域L4の中の極小値で
あるという保証はないが、極小値である確率が最
も高く、もし極小値でない場合でも極小値に非常
に近いことは保証できる。領域L4に含まれる信
号数が偶数であれば前述のaの定め方と類似の方
法でbを定めればよい。但し、上記の代りに 3a b1とb2を比較して小さい方を用いる。
Vthより信号の方が小さい領域L4には9個の信号
が含まれているので、中央に位置する信号は1個
だけ確定しこれをbとする。CCD13の各フオ
トエレメント(光電変換部)には微小な感度の差
異があるので、このbが領域L4の中の極小値で
あるという保証はないが、極小値である確率が最
も高く、もし極小値でない場合でも極小値に非常
に近いことは保証できる。領域L4に含まれる信
号数が偶数であれば前述のaの定め方と類似の方
法でbを定めればよい。但し、上記の代りに 3a b1とb2を比較して小さい方を用いる。
b=mio(b1、b2)
とする。
次に具体的回路構成例とともに本発明の実施例
を説明する。尚この例は信号をすべてアナログ処
理する例であるが、固体走査素子の出力信号を増
幅した後A/D変換し、以後デジタル処理してよ
もい。
を説明する。尚この例は信号をすべてアナログ処
理する例であるが、固体走査素子の出力信号を増
幅した後A/D変換し、以後デジタル処理してよ
もい。
本実施例は前記CCD13を用いたMTF測定装
置において白レベル領域L3及び黒レベル領域L4
の各中央の信号(時間でL3/2、L4/2)をサ
ンプリングしてa、bとしてMTF計算を行なう
が、その際の単一空間周波数のチヤートを使用し
て一組目の白レベル領域及び黒レベル領域の中央
をカウント数で検出して記憶し2組目以降の白レ
ベル領域及び黒レベル領域の中央をサンプリング
する。
置において白レベル領域L3及び黒レベル領域L4
の各中央の信号(時間でL3/2、L4/2)をサ
ンプリングしてa、bとしてMTF計算を行なう
が、その際の単一空間周波数のチヤートを使用し
て一組目の白レベル領域及び黒レベル領域の中央
をカウント数で検出して記憶し2組目以降の白レ
ベル領域及び黒レベル領域の中央をサンプリング
する。
第11図は本実施例の回路構成を示し、第12
図はそのタイミングチヤートである。CCD13
の出力信号は増幅器28で増幅され、コンパレー
ター29によりシユレツシユホールドレベルVth
で二値化されて白レベル領域L3と黒レベル領域
L4が区別される。フリツプフロツプ30,31
及びゲート32よりなる回路33はコンパレータ
ー29の出力信号より最初の一組の白レベル領域
L3及び黒レベル領域L4を検出し、その出力信号
をゲート34,35に送る。ゲート34はコンパ
レーター29の出力信号が入力されてチヤートの
必要空間周波数の透明部と不透明部における最初
の透明部に対応した最初の白レベル領域L3で有
効となり、CCDクロツクが1/2分周回路36で1/
2に分周されてゲート34を通りバイナリーカウ
ンター37でカウントされて記憶される。この
時、バイナリーカウンター37はCCDクロツク
の進み量の1/2でカウントすることになり白レベ
ル領域L3の中央を検出して記憶することになる。
又ゲート35はコンパレータ29の出力信号がイ
ンバーター38で反転されて入力され、チヤート
の必要空間周波数の透明部と不透明部における最
初の不透明部に対応した最初の黒レベル領域L4
で有効となる。従つてCCDクロツクが1/2分周回
路36で1/2に分周されてゲート35を通りバイ
ナリーカウンター39でカウントされて記憶され
ることにより黒レベル領域L4の中央が検出され
て記憶される。次に上記回路33からゲート4
0,41に信号が送られ、セツト回路42はコン
パレーター29の出力信号が切換る点を検出す
る。そしてダウンカウンター43はセツト回路4
2の出力によりバイナリーカウンター37の記憶
データーがセツトされ、CCDクロツクによりカ
ウントダウンして行く。ゲート40はダウンカウ
ンタ43及びコンパレーター29の出力が入力さ
れ、ダウンカウンタ43の内容が0になつた時に
出力信号を出力してアナログスイツチ44を開き
増幅器28からの信号を出力させる。このアナロ
グスイツチ44からの出力信号はチヤートの必要
空間周波数の透明部と不透明部における2番目の
透明部に対応した2番目の白レベル領域L3にお
ける中央の信号であり、チヤートの必要空間周波
数の透明部と不透明部における3番目以降の透明
部に対応した3番目以降の白レベル領域について
も同様に出力される。又ダウンカウンタ45はセ
ツト回路42の出力によりバイナリーカウンター
39の記憶データーがセツトされ、CCDクロツ
クによりカウントダウンして行く。ゲート41は
ダウンカウンタ45の出力が入力されると共にコ
ンパレーター29の出力がインバーター38を介
して入力され、黒レベル領域L4の中央でダウン
カウンタ45の内容が0になつた時に出力信号を
出してアナログスイツチ46を開き増幅器28か
らの信号を出力させる。このアナログスイツチ4
6からの信号は2番目以降の黒レベル領域におけ
る中央の信号となる。MTF計算はアナログスイ
ツチ44,46からの信号を用いて図示しない回
路で行なわれる。バイナリーカウンター37,3
9、フリツプフロツプ30,31は第12図にお
けるチヤートの零に近い空間周波数の不透明部に
対応した最小値Bのみを有する基準黒レベル領域
L2の所でリセツトされるので、CCDが複数個使
用されていても各々のCCDごとに各領域L3、L4
の中央値をサンプリングできる。
図はそのタイミングチヤートである。CCD13
の出力信号は増幅器28で増幅され、コンパレー
ター29によりシユレツシユホールドレベルVth
で二値化されて白レベル領域L3と黒レベル領域
L4が区別される。フリツプフロツプ30,31
及びゲート32よりなる回路33はコンパレータ
ー29の出力信号より最初の一組の白レベル領域
L3及び黒レベル領域L4を検出し、その出力信号
をゲート34,35に送る。ゲート34はコンパ
レーター29の出力信号が入力されてチヤートの
必要空間周波数の透明部と不透明部における最初
の透明部に対応した最初の白レベル領域L3で有
効となり、CCDクロツクが1/2分周回路36で1/
2に分周されてゲート34を通りバイナリーカウ
ンター37でカウントされて記憶される。この
時、バイナリーカウンター37はCCDクロツク
の進み量の1/2でカウントすることになり白レベ
ル領域L3の中央を検出して記憶することになる。
又ゲート35はコンパレータ29の出力信号がイ
ンバーター38で反転されて入力され、チヤート
の必要空間周波数の透明部と不透明部における最
初の不透明部に対応した最初の黒レベル領域L4
で有効となる。従つてCCDクロツクが1/2分周回
路36で1/2に分周されてゲート35を通りバイ
ナリーカウンター39でカウントされて記憶され
ることにより黒レベル領域L4の中央が検出され
て記憶される。次に上記回路33からゲート4
0,41に信号が送られ、セツト回路42はコン
パレーター29の出力信号が切換る点を検出す
る。そしてダウンカウンター43はセツト回路4
2の出力によりバイナリーカウンター37の記憶
データーがセツトされ、CCDクロツクによりカ
ウントダウンして行く。ゲート40はダウンカウ
ンタ43及びコンパレーター29の出力が入力さ
れ、ダウンカウンタ43の内容が0になつた時に
出力信号を出力してアナログスイツチ44を開き
増幅器28からの信号を出力させる。このアナロ
グスイツチ44からの出力信号はチヤートの必要
空間周波数の透明部と不透明部における2番目の
透明部に対応した2番目の白レベル領域L3にお
ける中央の信号であり、チヤートの必要空間周波
数の透明部と不透明部における3番目以降の透明
部に対応した3番目以降の白レベル領域について
も同様に出力される。又ダウンカウンタ45はセ
ツト回路42の出力によりバイナリーカウンター
39の記憶データーがセツトされ、CCDクロツ
クによりカウントダウンして行く。ゲート41は
ダウンカウンタ45の出力が入力されると共にコ
ンパレーター29の出力がインバーター38を介
して入力され、黒レベル領域L4の中央でダウン
カウンタ45の内容が0になつた時に出力信号を
出してアナログスイツチ46を開き増幅器28か
らの信号を出力させる。このアナログスイツチ4
6からの信号は2番目以降の黒レベル領域におけ
る中央の信号となる。MTF計算はアナログスイ
ツチ44,46からの信号を用いて図示しない回
路で行なわれる。バイナリーカウンター37,3
9、フリツプフロツプ30,31は第12図にお
けるチヤートの零に近い空間周波数の不透明部に
対応した最小値Bのみを有する基準黒レベル領域
L2の所でリセツトされるので、CCDが複数個使
用されていても各々のCCDごとに各領域L3、L4
の中央値をサンプリングできる。
尚、上記実施例ではCCDの出力をアナログ信
号のまま処理しているが、A/D変換器でデジタ
ル化して処理することも容易である。
号のまま処理しているが、A/D変換器でデジタ
ル化して処理することも容易である。
以上のように本発明によれば投影用チヤート
と、このチヤートを照明する照明手段と、被検素
子により投影された上記チヤートの像を光電変換
する多数のフオトエレメントを有しこれらのフオ
トエレメントの出力信号を時系列で出力する固体
走査素子とを備え、この固体走査素子の出力信号
の極小値と極大値を求めて被検素子のMTFを算
出するMTF測定装置において、上記固体走査素
子の出力信号を所定のレベルと比較して白側の複
数の連続したフオトエレメントの出力信号を含む
白レベル領域と、黒側の複数の連続したフオトエ
レメントの出力信号を含む黒レベル領域に区分
し、最初の白レベル領域と黒レベル領域における
各フオトエレメント出力信号数を計数して白レベ
ル領域と黒レベル領域における各中央のフオトエ
レメント出力信号もしくは各中央に最も近いフオ
トエレメント出力信号の位置を検出し、これらの
位置より2番目以降の白レベル領域と黒レベル領
域における各中央のフオトエレメント出力信号も
しくは各中央に最も近いフオトエレメント出力信
号を真の極大値と極小値として検出し、この白部
と黒部によりMTFの計算を行うので、異常信号
を拾う確率を大幅に下げることができ正しい
MTF計算を行なうことができるばかりでなく、
任意の空間周波数に対して自動的に適応すること
ができる。
と、このチヤートを照明する照明手段と、被検素
子により投影された上記チヤートの像を光電変換
する多数のフオトエレメントを有しこれらのフオ
トエレメントの出力信号を時系列で出力する固体
走査素子とを備え、この固体走査素子の出力信号
の極小値と極大値を求めて被検素子のMTFを算
出するMTF測定装置において、上記固体走査素
子の出力信号を所定のレベルと比較して白側の複
数の連続したフオトエレメントの出力信号を含む
白レベル領域と、黒側の複数の連続したフオトエ
レメントの出力信号を含む黒レベル領域に区分
し、最初の白レベル領域と黒レベル領域における
各フオトエレメント出力信号数を計数して白レベ
ル領域と黒レベル領域における各中央のフオトエ
レメント出力信号もしくは各中央に最も近いフオ
トエレメント出力信号の位置を検出し、これらの
位置より2番目以降の白レベル領域と黒レベル領
域における各中央のフオトエレメント出力信号も
しくは各中央に最も近いフオトエレメント出力信
号を真の極大値と極小値として検出し、この白部
と黒部によりMTFの計算を行うので、異常信号
を拾う確率を大幅に下げることができ正しい
MTF計算を行なうことができるばかりでなく、
任意の空間周波数に対して自動的に適応すること
ができる。
第1図は従来のMTF測定装置の一例を示す斜
視図、第2図はMTF測定原理を説明するための
図、第3図は固体走査素子を用いたMTF測定装
置の一例を示す斜視図、第4図及び第5図はチヤ
ート板の各例を示す平面図、第6図はCCDの内
部構成を示すブロツク図、第7図はCCDの動作
を示すタイミングチヤート、第8図は第3図の装
置に用いられる電気回路を示すブロツク図、第9
図は従来方法を説明するための波形図、第10図
は第3図装置のCCD出力信号を示す波形図、第
11図は本発明の実施回路例を示すブロツク図、
第12図は同実施回路の動作を示すタイミングチ
ヤートである。 29……コンパレーター、33……1組目検出
用回路、34,35,40,41……ゲート、3
6……1/2分周回路、37,39……バイナリー
カウンタ、38……インバーター、42……セツ
ト回路、43,45……ダウンカウンター、4
4,46……アナログスイツチ。
視図、第2図はMTF測定原理を説明するための
図、第3図は固体走査素子を用いたMTF測定装
置の一例を示す斜視図、第4図及び第5図はチヤ
ート板の各例を示す平面図、第6図はCCDの内
部構成を示すブロツク図、第7図はCCDの動作
を示すタイミングチヤート、第8図は第3図の装
置に用いられる電気回路を示すブロツク図、第9
図は従来方法を説明するための波形図、第10図
は第3図装置のCCD出力信号を示す波形図、第
11図は本発明の実施回路例を示すブロツク図、
第12図は同実施回路の動作を示すタイミングチ
ヤートである。 29……コンパレーター、33……1組目検出
用回路、34,35,40,41……ゲート、3
6……1/2分周回路、37,39……バイナリー
カウンタ、38……インバーター、42……セツ
ト回路、43,45……ダウンカウンター、4
4,46……アナログスイツチ。
Claims (1)
- 1 投影用チヤートと、このチヤートを照明する
照明手段と、被検素子により投影された上記チヤ
ートの像を光電変換する多数のフオトエレメント
を有しこれらのフオトエレメントの出力信号を時
系列で出力する固体走査素子とを備え、この固体
走査素子の出力信号の極大値と極小値を求めて被
検素子のMTFを算出するMTF測定装置におい
て、上記固体走査素子の出力信号を所定のレベル
と比較して白側の複数の連続したフオトエレメン
トの出力信号を含む白レベル領域と、黒側の複数
の連続したフオトエレメントの出力信号を含む黒
レベル領域に区分し、最初の白レベル領域と黒レ
ベル領域における各フオトエレメント出力信号数
を計数して白レベル領域と黒レベル領域における
各中央のフオトエレメント出力信号もしくは各中
央に最も近いフオトエレメント出力信号の位置を
検出し、これらの位置より2番目以降の白レベル
領域と黒レベル領域における各中央のフオトエレ
メント出力信号もしくは各中央に最も近いフオト
エレメント出力信号を極大値と極小値として検出
し、この極大値と極小値をMTFの計算に用いる
ことを特徴とするMTF測定装置における信号処
理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7857179A JPS562517A (en) | 1979-06-21 | 1979-06-21 | Signal processing method of mtf measuring instrument |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7857179A JPS562517A (en) | 1979-06-21 | 1979-06-21 | Signal processing method of mtf measuring instrument |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS562517A JPS562517A (en) | 1981-01-12 |
| JPS6336450B2 true JPS6336450B2 (ja) | 1988-07-20 |
Family
ID=13665579
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7857179A Granted JPS562517A (en) | 1979-06-21 | 1979-06-21 | Signal processing method of mtf measuring instrument |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS562517A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3203984C2 (de) * | 1982-02-05 | 1984-10-31 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren und Anordnung zur Darstellung der Abbildungsgüte von optischen Systemen |
-
1979
- 1979-06-21 JP JP7857179A patent/JPS562517A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS562517A (en) | 1981-01-12 |
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