JPS6338742B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はパターン比較装置およびその使用方法
に関する。本発明による装置は例えば指紋のパタ
ーンの比較用に用いられる。

個人から直線的に採取した指紋を、例えば証明
関係書類やクレジツトカードその他の書類上に記
された記録指紋と比較照合することは、米国特許
第3947128号によつて周知である。

このような照合を行うためには、当該個人の指
のプリズムの上に置き、その指紋を採取したの
ち、その指紋を、照合器のカードスリツトの中で
指紋記録保持体に保持された記録指紋と重ね、光
学的方法により比較する方法が用いられている。
指紋の合致を生じさせるためには、第一の梯型形
のプリズムの助けと、軸を中心として回転する２
箇の三角プリズムの助けを借りて、当該指紋像を
担つた光束を、探索的に動かす方法がとられる。
また、当該指紋を記録指紋と同定するに際して
は、比較に使われた光束を光電的にとらえて、こ
れを光検知器の交流的出力特性として評価する方
法が述べられているが、その特性は、比較すべき
指紋相互の同定結果がマイナスであるかプラスで
あるかによつて、最大もしくは最小の出力値を示
すものであつて、得られた検知器の出力信号の、
より効果的な評価のためのデータやその正確な中
間過程についてのデータを示すものではない。

本発明の課題は、指紋や主シンボルの比較照合
によつて光学的に得られる類似性の大小を、電気
的大小に転換して、誤りなく、精密、正確に把握
し、それにより、記録された指紋や主シンボルと
当該照合指紋や主シンボルにつき、信頼でき得る
同定を可能ならしめるための方法と装置を提供す
ることにある。同時に、記録カード自体の真偽の
鑑定を、その特定のマークや図案などによつて行
い、カードシステムと指紋、その携行者の同定環
の完結を目指すことも目的の一であり、さらに、
これらの同定業務すべてを簡単迅速に行つて、し
かもその判定の安全性をできる限り高めようとす
ることも、本発明の狙いとするところである。

本発明においては基本形態として、一つのパタ
ーンと、カード、識別カード、クレジツトカー
ド、キイ同様のカード、または識別文書等上に位
置するパターンの記録された第１のパターンとの
比較を行うパターン比較装置であつて、光源、基
台上に対象物を適用することにより直接に得られ
る対象物パターンまたは該対象物パターンの記録
された第２の画像と該対象物パターンの記録され
た第１の画像を比較するための光学系、探索用運
動を行うスキヤナ、光電変換式検出装置、およ
び、該光電変換式検出装置に接続された電気的評
価手段であつて該検出装置の信号に包含されパタ
ーンの各個についての識別により得られた識別パ
ルスが試験基準にもとづく試験を受け、該試験の
結果が調整可能なしきい値と比較され、しきい値
が超えられていると「良好」表示を発生させるも
の、を有するパターン比較装置において、 該スキヤナ９が、回転運動を行うよう電動機に
より相異なる速度で駆動される離隔した第１およ
び第２のくさび形プリズム１６ａ，１６ｂを包含
し、 基本振動信号に対する識別パルスの振幅の百分
率相関比を決定するための第１の試験基準回路ブ
ロツク２３に加えて、少なくとも２個の追加の回
路ブロツク２４，２５，２６，２７，２８が設け
られ、該追加の回路ブロツクは識別パルス１４，
１５ａ，１５ｂの比較試験を行うためのものであ
り、該識別パルスは検出装置信号に包含されるさ
らなる電気的可変値またはさらなるデータ、すな
わち高周波高周波振動信号、直流電圧信号、また
は識別パルスの個別の出現に関係する時間間隔Ｔ
の基準測定値等、についての識別の場合に発生す
るものであり、 比較を行うブロツク２３，２４，２５，２６，
２７，２８の各個の出力信号は共通の加算増幅器
４３′に供給され、該加算増幅器には全出力信号
を所定のしきい値と比較するために比較器４５′
が接続されている、 ことを特徴とするパターン比較装置が提供され
る。

本発明の利点を述べると、本発明は、その方法
に関する特許請求の範囲の最初の項、および、装
置に関する特許請求の範囲の最初の項記載の特徴
によつてすでに、上述の課題を解決するものであ
ると共に、相互に類似した指紋の照合において、
錯誤を本質的に生じない、高度に信頼性のある同
定を可能ならしめる利点を有するものである。

本発明は、照合評価判定に際し、一つまたは多
数の調査検定基準を用い、総合出力信号が、調整
可能のあらかじめ設定した基準線を超えたときに
初めて、被験指紋が記録収蔵指紋と一致、同定で
きたと判定する利点を有する。さらに、従属的特
許請求の範囲の項に記載の方策により、本発明の
有利な別途構成、改良が可能である。

さらに有利な点としては、記録収蔵指紋が存在
するＸ、Ｙ軸平面内の、光学的探査運動につけ加
えて、記録指紋自体をさらに機械的に動かし、好
ましくは、重なり合いを達成するため、光学的探
査運動と同時平行的に動かすことができる点にあ
る。その結果、被験指紋を帯した指を、指ガイド
に若干傾斜して挿入しても、同定について最高の
判定を下すことができる。そのほか、ランプ照明
光度やシステムの増幅を規定値に保持するための
諸調整も可能となつている。

とくに有利であるのは、比較すべき型の像形に
光学的歪変形を与え得ることで、しかも、この型
の作成時に同時に、同一の変形を形成せしめるこ
とができることである。これにより、型はその像
と比較されるのではなく、始めから同様に歪変形
した直接採取像と比較同定されることになるの
で、偽造を確実に排除することができる。

指紋のみならず、カード上に記された主シンボ
ルも同じく、共通の検定量で行うことができるの
も利点である。この場合、一つのシステムの少く
とも一部の構成部分とロジカル判定部分について
は共用できる。

さらに、主シンボルをまず同定して一致が確定
されないときには、その後の検定過程を中止する
ことにより、検査過程が促進できる利点がある。
主シンボル検定の際に「よし（GUT）」の判定が
得られたときは、即時、例えば1/2秒以内に、指
紋の検定と同定が始まり２つの光電検知器に接続
した切換器が、電子判定回路の入力を、当該信号
出力につなぐのである。運動探査器よる各１回の
完結した走査サイクル中に、電気的出力信号曲線
の上で同定インパルスを生じる範囲が２回あるの
で、カードホルダーに増分的な、すなわちステツ
プ状の回転・探査運動を、1/2走査サイクル経過
毎に与えて、運動探査を追加することにより、試
料の比較検定速度を倍加することができる。

運動探査器の回速変度で支配される時間間隔
で、同定インパルスが生じるが、この時間間隔を
追加検定基準とすることができる。さらに、走査
面の中心部範囲での不鮮鋭な検定を避ける手段、
すなわち、走査を再び周縁部に戻し、高速の走査
を行わせる方策もとり得る。

最後に、本発明は、走査速度の変化を避けた運
動探査器（走査器）をも提供するものである。

また、選択は自由であるが、代案として特に有
利な方策として、一つの検査器で、携行者の指紋
とカード上の指紋を比較する一方、カードの主シ
ンボルを収蔵主シンボルと比較同定することを、
一つの光学系と電子式判定回路を共用の機器とし
て使用して実施できることがある。

カードもしくは資格同定用紙上の同一場所に、
指紋と主シンボルを重ね合せて作る方法により、
如何に費用をかけても、この両方のからみからで
きた線から、個々に再分離して判読することは不
可能なものができるので、偽造防止が万全とな
る。その他有利な方法として、本検査器の発展的
形態を次の如くすることができる。即ち、判定結
果の正邪の表示に先立つて、指紋と主シンボルの
双方の同定、全検査サイクルを実施せしめ、偽ま
んを意図する利用者をして、如何なる検査基準
（指紋が主シンボルか、またはその双方か）で検
査器が拒絶却下したのか悟らせないようにするの
である。

別な偽まん手段として、同定インパルスの大き
さを充分に大きくしようとして指を測定プリズム
の上で急速に動かす、例えば持ち上げて再び置く
ようなことをしても、本器のランプ光度定常化調
整の帰還線上の信号で、検出される。

本発明の、さらなる発展的形態は特許請求の範
囲の対象であり、ここでは挙げない。

以下に、本発明の実施例が記述される。本発明
の基本的発想は以下の如くである。すなわち、或
る時点で直接得られた型を、記録された型と比較
するのに、この比較によつて得られる交流的な電
気信号の変化を、少くとも一つの基準、好ましく
は多数の検査基準によつて検定し、それらの結果
から、確率的には全く安定な判定結果として、直
接得られた型と記録された型の同定を行おうとす
ることにある。

記録された型、すなわち、たとえば記録された
指紋は、この場合、電磁波、たとえば可視光線や
赤外線その他を透過しその上の指紋線を識別でき
るような基板の上に記録されたものであり、好ま
しくはこの基板は透明で指紋の線が黒く見えるも
のが良いが指紋線が黒色のバツクグラウンドに明
色に浮き出るものでも良い。このような基板はま
たそのまま、クレジツトカードやコードカード、
免許証、パスポート、パーソナルチエツクカー
ド、各種資格証明書類、あるいは特定個人のみの
通門を許す入門、入館許可証など証書類の一部と
して使用することができる。

これらの証書類を携行し、この基板を所有して
いる者は、本発明による精査を受けることによ
り、その者が正当な携行者、資格者であること
を、基板上の指紋と当人の指紋を照合して直ちに
証することができ、多方面にわたる社会活動、商
業行為、入門、入館行為などに際し、その利便は
はかり知れないものとなる。

以下、本発明によるシステムの機械的構成、電
子的判定回路、さらに好ましい発展的形態につい
て述べる。

(1) 機械的構成 本発明の機械的構成は次の如くである。

例えば指４をプリズム５の上に置くことによ
り得られた指紋像を、指紋の記録１と重ねて照
合比較する。指紋記録１は証書またはカード２
に存在し、透明性のある黒い輪廓線で構成され
ており、カード２はカードホルダー３に差し込
まれている。

比較のための光源ランプ６からの光は適当に
構成されたレンズ系６ａを通つて鏡７に達しそ
こからプリズム５に入り、プリズムの内面５ａ
で、指紋の盛り上つた線と直接接しない部分で
のみ全反射する。すなわち、プリズム５から発
する光束は、このような形態の指紋像を担持伝
送するわけである。この像は別なレンズ系８を
通つて運動探査器または走査器と呼ぶにふさわ
しい構造体９に入る。この中では指紋像がＸと
Ｙ軸に移動して探査が行われる。より正確に言
うならば、指紋記録１の存在する平面で、Ｘ、
Ｙ軸に螺旋形に像が動くよう、運動探査器９は
構成されている。運動探査器９と画像１の間に
は、さらにレンズ系１０があり、カード２の透
明部分を通過し、指紋記録１を通つた光束は別
のレンズ系１１で収束され、好ましくは光ダイ
オードなどの検知器からなる光感応素子１２に
入る。これらの説明から自明のように、本発明
の範囲内で別な機械的構成も考え得る。例えば
指紋記録１のみを単に照射して、その反射光を
判定したり、可視光以外の周辺光線である赤外
線や紫外線などや電磁波の照射などが考えられ
る。

光検知器１２からの出力は、入力する変化光
線エネルギーに比例して変化する電流、もしく
は、相応する電圧変化として得られるが、この
交流的性質の電流、電圧は、電子式判定装置１
３に接続され、直接採取された指紋とカード２
上の指紋記録が正確に同定、判定される。

上記の運動探査器９の構造と作動は以下の如
くである。

運動探査器もしくは走査器は、指紋像を指紋
記録１のＸ、Ｙ軸平面内で連続的に動かすの
で、直接採取した指紋と指紋記録がもし同じも
のなら、絶対的に、しかし、きわめて短時間な
がら、全く重なる時間がある。

すでに述べたように、プリズム上で直接指紋
像を採取するときに指紋の盛り上つた線部は反
射を起さないから、プリズムの後で、この盛り
上つた指紋の部位の測定時には、Ｘ、Ｙ軸平面
内で、光エネルギーに乏しい範囲となり、ネガ
チブの映像を生じる。

当該指紋像と指紋記録が同一に重なり合わな
い限り、したがつて、或る中間的光量となる。
このような平均光線は、第３図に示したよう
な、低周波のサイン波上に、それよりも振巾が
小さい高周波数の振動を重畳したような電気的
出力に変換させる。

同一の指紋の重なり合つた瞬間は、指紋線の
経過と共に、プリズム５の弱い反射があるため
に、若干の光量を残すのみで、その場所におい
ては光は消えてしまうか、あるいは、プリズム
で全反射した部位で消えるかのいずれかであ
る。後者が起きるのは、指紋線の谷間部位が指
紋記録上ですでに黒くなつている、いわゆる記
録像がネガの場合である。

このような重なり合いの同一が得られたと
き、光長は短時間であるが低下し第３図のグラ
フの負のインパルス１４となつて現われる。こ
の場合、この負のインパルス１４の両端にはそ
れぞれ１つの、他の波高とは明らかに違つて大
きな正のインパルス１５ａ，１５ｂが現われ
る。

このような重なり合いの一致性を運動探査器
９で達成させるため、２個の三角プリズム１６
ａ，１６ｂがある。これらは、それぞれ矢印の
方向に、比較的高速でその軸の廻りを回転して
いるのみならずその回転速度に若干の差を有し
ている。その意味は第２図ａに示す通りであ
る。プリズム１６ａ，１６ｂが、この図の実線
で画いた位置にあるとき、透過光線１７は下方
に曲げられ、最大の曲りを示し、Ｘ、Ｙ軸平面
に存在する思考スクリーン上に１８ａとして射
光する。２つのプリズムが破線の位置にあると
きは、同様に１８ｂとして射光する。

プリズム１６ａ，１６ｂは、しかしながら、
若干の回転速度差がつけられているため、位置
関係がずれを起し、特定の時点では、プリズム
１６ａの実線位はプリズム１６ｂの破線位と相
応することになり、その場合、光は１８ｃとな
る。したがつて、光の偏向は線体としては第２
図ｂに示した螺旋１９軌道をとり、その結果、
指紋像はＸ、Ｙ軸面の一定の断面２０の中で一
定の時期には一定の場所をとることになるが、
プリズムの回転と共に、２箇のプリズムが同一
位相から再び同一位相に戻るまでの１周期の間
に、あらゆる位置に少くとも１回はあることに
なる。このような１周期の間に、指紋記録１と
完全に重なる時が１回あるべきであることがわ
かる。この時、第３図の鋭い負のインパルス１
４が生じる。第２図ｂには、Ｘ、Ｙ軸面におけ
る指紋像の２，３の可能性ある位置を、２１
ａ，２１ｂ，２１ｃとして示した。

(2) 指紋の同定と電子回路 当該指紋像と指紋記録が同一で重なり得るよ
うな場合には、同定のための探索操作の経過中
に、前記の実施例では負のインパルスと称した
ところの、指紋線の丘と谷の存在に基づく顕著
なインパルスが常に現われてくる筈であること
を述べた。このような顕著なインパルスは、こ
のあと同定インパルス１４と称することにする
が、第３図に示す如く、得られる電気的データ
の経過の中で、少くとも２箇の別な現象、すな
わち、いわゆる検知シグナルを随伴している。
これらの検知シグナルは、光検知器か適当な光
ダイオード１２によつて光から電気に変換した
のち、増幅器１３により増幅されてから現われ
る（第４図参照）。同定インパルスに随伴する
この現象は、僅かではあるが、予じめ決定でき
ない周波数および基本振動とは隔つた周波数で
基本振動と同定インパルス１４をマスキングす
る妨害振動であり、附随した正のインパルスピ
ーク１５ａ，１５ｂには一番先に、少くともそ
のピークの一部をマスキングする妨害振動であ
る。同定のための評価判定操作は次のようにし
て行はれる。すなわち、同定インパルス１４の
時間的生成状況と、その他の振動現象形態に対
する同定インパルスの大きさを調べるもので、
その際、本発明の記載に従つて、少くとも１箇
の、好ましくは多数の調査基準を採用するもの
である。第４図に、増幅器２２の出力側に結線
したそれぞれの調査基準を備えたブロツクを２
３〜２８で示し、それらブロツクの結果を総合
して判定する回路を３０で示した。次に、本発
明において好ましいとして選んだ同定インパル
スに関する評価判定基準を述べる。なお、この
記述順は別にその重要性などの順位で配したも
のではない。

(a) 最初の評価判定基準は、いわゆるパーセン
ト関連のものである。すなわち、同定インパ
ルス１４の振幅の、それが乗つているゆるや
かな振幅の基本振動に対する、パーセント的
な振幅の測定である。換言すれば、負の同定
インパルス１４のその場所における基本振動
面との距離である。第３図に於ては、検知シ
グナルの推移が示されているが、すべてのシ
グナルが、負の同定インパルスよりも更に負
の範囲で示されているので、その識別には特
別な手段を必要とする。これについては後に
詳述する。同定インパルス１４の振幅の、同
じ位置での基本振動シグナルの振幅に対する
比がパーセント関連の量であるが、この数字
は実験的に基準値として定められ、如何なる
場合にも指紋像と指紋記録の同定のヒントと
なるものである。

(b) 指紋像と指紋記録の同一性の存在に対する
次のヒントは、負の同定インパルスに必ず附
随する正のインパルス１５ａ，１５ｂと、高
周波の、基本振動妨害振動に対する比であ
る。この高周波振動の平均振幅から、正のイ
ンパルスが大きく突出するほど、負の同定イ
ンパルス１４に附随する正のインパルスは確
実と扱えるわけである。この基準は第４図中
では＋Ｐ／Ａ（＋ピーク／平均信号）として
示した。

(c) 負の同定インパルス１４の、（緩慢な）基
本振動の振動に対するパーセント的関係の評
定に加えて、この、負の同定インパルスと高
周波の妨害振動の平均値との比も関係あるも
のとできる。この場合もまた、同定シグナル
の方が大きいほど、指紋像と指紋記録間の同
一性の存在を示唆するものである。この基準
は第４図中でブロツク２５に−Ｐ／Ａ（−ピ
ーク／平均信号）として示した。

(d) 最終的同定検査の別な判定基準としては第
４図中でブロツク２６として示した、増幅に
一般的に伴う直流信号に対する同定インパル
スの比、すなわち、−Ｐ／DC（−ピーク／DC
信号）がある。このような比をとることは、
常に必要である。任意な増幅率をとると負の
同定インパルスが飽和限界以上に達して、真
の同定インパルスの振幅比が出ないことがあ
るからである。ブロツク２６の−Ｐ／DC基
準により、増幅率が高過ぎて測定に誤差を生
じることを防ぐことができる。

(e) 上述の関連で最後に述べるべきと思われる
基準事項がある。第３図のグラフにおける２
箇の同定インパルス１４間の時間的間隔であ
る。時間Ｔは検査器、とくに走査器の駆動速
度などによつて、決つてくる数字である。し
たがつて、指紋像と指紋記録の比較中に負の
同定インパルスが一定の間隔で生じ、近似的
に同一時間Ｔで生じれば真の同定インパルス
であり、続いての検定の意味があると決定さ
れるのである。探査動作のところで既述した
ように、指紋像は指紋記録と短時間の重なり
合いを繰り返すものであり、これは、断面２
０が像の螺旋的運動によつて一回の同定作業
中に何回も繰り返して走査されることに基ず
いている。

最終判別を行うため、さらに別な基準を採
用することについて、本発明はなんらこれを
排除するものではない。また、同定インパル
ス１４の代りに、他の残りの信号スペクトル
を置き換えても良い。このような別基準につ
いて詳論することは省略するがそれらの代表
として、第４図中ではブロツク２８が示され
ている。

(3) 電子的な詳細な回路 増幅器２２の出力側で第３図に示した検知信
号が生じており、これを同定に使用することに
ついては、第４図の説明の所で既述した。

まず、第５図に示された回路の助けにより、
低域フイルタ３２の入力側３１から入る検知信
号DSは、正弦波状の基本振動信号SG（搬送波）
となる。これは、まだ第３図に示した所の、高
周波の妨害信号分やピーク１４，１５ａ，１５
ｂを含まない検知信号DSの基本振動部分だけ
である。しかしながら、この正弦波状の基本振
動信号SGは、検知信号と正しい位相関係にあ
らねばならないので、低域フイルタ３２は次の
段階として位相補償回路３３に結線されてい
る。ここでは、低域フイルタで失われた、検知
信号DS中の基本振動部分に対する正弦波状基
本振動信号SGの正しい位相関係の再付与操作
が、行われる。

基本振動信号SGは、パーセント的な関係の
表示信号の作成に使用される。第６図ａに示し
た通り、次に−Ｐ／SGとして示した関係表示
信号である。基本振動信号SGを減算増幅器３
４の入力部に導き、検知信号DSを他の入力部、
すなわち、同じ増幅器のマイナス側入力部に導
入することにより、その出力側には基本振動が
消失して単に主インパルスと高周波の妨害信号
のみからなる負の重畳信号を得ることができ
る。増幅器３４の出力側のこの重畳信号と基本
振動信号SGとの比を出すため、基本振動信号
SGをもう一度、後置したアナログ割算回路３
５に導入し、その一端の入力側を、増幅器３４
に結線する。このようにすることにより、割算
回路３５の出力側、または、必要に応じて設置
した中間増幅器３６、ピーク値検知器３７の出
力側には、求める重畳信号−Ｐ／SGが得られ
る。

同様に増幅器３４の出力として得られた重畳
信号は、第６図ｂの実施例に示す通り、別なア
ナログ割算回路３８の入力側に導かれる。この
図の増幅器３４の出力側に示した信号の、小さ
な図で示すように、この信号には、まず、以後
上部振動部分と呼ぶことにする高周波の振動部
分が含まれているので、この信号から、負のピ
ーク値／上部振動比を定義した−Ｐ／Ａ基準を
作ることができる。重畳信号を上記と平行して
低域フイルタ３９に入れると、その出力側には
負の上部振動の平均信号が現われるから、これ
ら両方の信号を割算器に入力し、さらに必要に
応じて増幅器４０を通してピーク値検知器４１
にかければ、出力信号として−Ｐ／Ａが得られ
る。

同様に、第７図に示した回路で、正のピーク
値信号の上部振動平均値に対する比（＋Ｐ／
Ａ）が出るが、この場合には、減算増幅器４２
のプラス側入力としては検知信号DSを入れ、
マイナス側入力としてはマイナスの基本振動信
号を入力させる。その結果、減算増幅器４２の
出力側に正の重畳信号が得られ、また、低域フ
イルタ３９′の出力には上部振動部分の正の平
均値出力が得られるので、アナログ割算回路３
８′でその比を作つたのち増幅器４０′、ピーク
値検知器４１′を通せば＋Ｐ／Ａの信号ができ
る。これらの信号の判定については、また、以
下に詳記する。類似の回路によつて、第８図に
示したように−Ｐ／DC信号ができる。この場
合には、検知信号DSを平行して高周波の高域
フイルタ４３と低周波の低域フイルタ４４に導
入し、低域フイルタ４４の出力側に直流信号
DCを取り出し、これまた適当に増幅しても良
いが、アナログ割算回路４５で比した後、増幅
器４６、ピーク値検知器４７で、負の同定イン
パルスの直流電圧レベルに対する比として定め
た出力信号−Ｐ／DCが得られる。

最後に、ブロツク２７によつて得られた時間
間隔信号TAは、例えばモノフロツプのような
タイムラグ回路によつて作ることができる。こ
の場合、モノフロツプをピーク値検知器３７，
４１または４１′の入力側のピークインパルス
と共にトリガーし、タイムラグを正常の場合の
帰還端までとり、次のピーク値としての同定イ
ンパルスがモノフロツプをそれが帰還する以前
に再びトリガーするようにせしめる。モノフロ
ツプが準安定状態に留まれば、時間間隔は正常
で、これは良信号と解してよい。換言すれば、
ピークインパルスは、そのシステムでの定常的
な時間であるＴの範囲で、繰返し生じていると
見られる。もちろん、この検定のためには、他
のタイムラグ回路を使うことも可能である。

ピーク値検知器３７，４１，４１′は、入力
ピークインパルスの最大振幅に応じた、より長
い継続時間の信号を出力側にもたらすものであ
るから、その出力信号の高さは、相互に比較す
る入力値の比について、それぞれの回路別の特
性を示す一つの要因となるものである。

さて、以上の結果により、第９図に示すよう
に、ピーク値検知器３７，４１，４１′，４７
のそれぞれの出力信号をまとめ、場合によつて
は、これらにさらに、それぞれの重要性順位を
与えるためのフアクターk_iをつけて判定を行う
ことができる。第９図に示した増幅器４３０
は、種々の異なつた入力信号を同時に、しかも
ウエイトづけをしながら加算する作業を行うも
のであるが、これには上から下に順番に、ピー
ク値と直流電圧比信号−Ｐ／DC、負のピーク
値と上部振動の平均値の比の信号−Ｐ／Ａ、正
のピーク値に対する同じく比の信号＋Ｐ／Ａ、
パーセント関連信号−Ｐ／SG、および、簡単
のため図示は省略してあるがその他の信号など
が導入される。

この加算増幅器４３０は、前駆同定信号と呼
ぶ出力信号を出すが、これは比較器４５０にお
いてブロツク４４０からのあらかじめ設定され
た基準レベルの信号と比較された後、同定シグ
ナス出力ISを生成せしめる。加算増幅器４３０
と比較器４５の間には、さらに「サンプル及び
ホールド回路」が入るがその役割については後
記する。

同定シグナルISはロジカルな判定回路４６０
に導かれるがこの回路にはさらに、主として機
械的基礎条件から構成される他の信号も導入さ
れ、かくしてその出力は最終的判定信号になる
のである。

このように、この判定回路４６０には、カー
ドホルダー３（第１図参照）から２つの信号が
導入される。その一つは、KI−シグナルと称
して、指紋記録をのせたカード２が完全にカー
ドホルダーに入つていることを示すか、あるい
はKT−シグナルといつて、カードが部分的に
しか入つておらず、ついては固定または差し戻
しを知らせるためのものである。他の一つは、
第１図には示していないが、指４を指差込ガイ
ド４７０に入れることによつて生ずる信号で、
判定回路４６０に導入されており、タツチが正
常な圧力で行われており、プリズム５に指４が
或る範囲内で置かれていることを示すものであ
る。

最後に、光源レベル検知装置４８０がある。
これは、光源レベルの高さが充分であることを
示す第１の信号LL、ならびに指がプリズム５
に接触していることを示す第２の信号FPを発
生するものである。これらの付加的な入力信号
がすべて出揃つたことにより、ロジカルな判定
回路４６０は３つの表示装置４９，５０，５１
に情報をもたらすようになつている。表示装置
４９は、押しつけられた脂の位置に関するもの
で、指を引くべきとか、再度指をプリズムに乗
せよとかの表示である。表示装置５０は同定表
示に関するもので、「よし」表示とか、または
同定結果がネガチブであるから、拒絶却下とい
う表示をするものである。表示装置５１は、こ
の全システムに誤操作があるか否かを確認する
ものである。判定回路４６０は、主として３，
４７，４８の素子からの入力信号によつて、表
示装置４９〜５１に情報を伝達する状態にある
ことを判別するものである。

(4) 本発明の発展的形態 ロジカル判定回路は、さらに、この同定シス
テムの個々の操作の同期化に資するためのシン
クロ回路４６ａを内装している。その出力イン
パルスは既述の「サンプルアンドホードル回
路」４９０のシステルの時間的調整にも使用さ
れている。この回路のシステムは、比較器５０
０、サンプルアンドホールド回路４９０の入
力、出力に接続する比較器６０の入力端子６０
ａ，６０ｂ、比較器６０に後置した駆動回路６
１、ならびにステツプモーター６２からなつて
いる。このシステムの役割は、機械的な修正法
によつてプリズム５の上に置かれた指から得た
指紋像を、記録指紋１に対して幾何学的に最適
の位置に修正することにある。既述の通り、指
４を指差込みガイド４７０に差込んだとして
も、次第によつては指がやや傾斜していたり、
廻転して差込まれる場合も避けられず、その場
合、可動探査器や走査器の助けによつて同一重
ね合せ性を探査するにしても、指紋記録に対し
て指紋像の方がほんの僅かに傾いているだけで
完全な一致は得られない結果となる。ついて
は、第１図のカードホルダー３は、ステツプモ
ーター６２の出力軸６２ａと機械的に接続さ
れ、このステツプモーターにより指紋記録１に
対する指紋像の幾何学的関係位置を微調整でき
るようにしてある。なお、このような微調整に
より、像と指紋記録との相対位置を、もつと自
在に、最適にすることは、場合によつてもつと
ステツプモーターを増やしてでも行うことがで
きることは自明である。以下、この回路の機能
につき説明する。

測定操作の開始の際は、加算増幅器４３０の
出力には、一定の振幅を有する組合せ前駆同定
インパルスが存在し、これは、比較器４５０に
おいて、特定の安全基準レベルと比較して有効
な同定インパルスとしてロジカル判定回路に入
れるか否かが比較される。加算増幅器４３０の
出力に、この最初の前駆同定インパルスが現わ
れ、及び／又は、指４の指差込みガイド４７０
の助けによつてプリズム５の上に置くと同時
に、ステツプモーターのメカニズムが働き、ス
テツプモーター５２の勝手な方向への僅かな回
路が始まる。その結果加算増幅器４３０の出力
の前駆同定インパルスの大きさが、この回転に
よつて重なりから遠ざかる場合には小さくな
り、理想的な重なりに近づく場合には大きくな
る。後者の場合、比較器６０は、６０ｂのイン
プツトで前の測定結果によるインパルスを受
け、６０ａのインプツトで新しい前駆同定イン
パルスを受けて、これを判別し、ステツプモー
タ６２によつてカードホルダ３を最初に動かし
た方向にさらに動かして、重ね合せの最適点を
探すような動作を行わしめる。前者の、動かし
たためにインパルスの高さが低くなつた場合
は、逆方向の回転を行わしめる。このようにし
て像と指紋記録の光学的位置関係の最適点を非
常に迅速かつ適確に求めることができるので、
指４のプリズム５への接触があまり慎重でなく
ても、比較器４５０の出力としての同定インパ
ルスの大きさは充分高くとれ、回路４４０の基
準レベルを超すものとなり得るものである。自
明のことながら、回転４４０の安全基準レベル
は、同定できない指紋同志の比較の場合には、
大きなインパルスピークでも基準レベルを超さ
ないように設定しておく必要がある。この場合
は、重なり合う指紋では本来的にないもの同志
であるのでカードホルダー３を如何に微調整し
ても、結果の顕著な改善は得られないことは当
然である。しかし、同定できる場合には、微調
整による一致と同一性が最適化をもたらすもの
である。

本発明のさらに好ましい発展的形態としては
次のものがある。すなわち、指紋記録の濃度な
どの黒色度の差異や指の色の差による指紋像の
明るさの差によつてもたらされる光度の明暗差
を調整するコントロール回路である。すなわ
ち、ランプ６の明るさを接続線５３でランプ６
と判定回路１３を結ぶことによつてコントロー
ルするものである。例えば、光検知器１２の出
力が全体として弱すぎるシグナル高を示した
ら、それは大体において判定と比較に供した光
束が弱過ぎるためであるのでランプ６の明るさ
を調整するのである。また、増幅器２２の出力
側に、さらに１箇の比較基準レベル回路を設け
ることもできる。これにより、判定すべきシグ
ナル全般が小さ過ぎるときには、相応して増幅
率を上げるのである。しかしながらこのような
増幅器２２の増幅率を調整したりランプ光度を
調整したり、それらを併用したりすることは、
信号基準−Ｐ／DCにも影響を与えるので、好
ましいのは、これらの調整操作を−Ｐ／DCの
比作成の中に含めて行わせることである。

本発明の別な発展的構成は、次のような思考
から生じてくる。

本発明になる確実な同定検査によつて、カー
ド携行者の指紋がカード２の指紋記録と正しく
一致することが判明すれば、この所持者こそ唯
一のカードの正当な所持者であることが確認さ
れる。しかしながら、たとえば、この携行者
が、このような指紋検査システムを採用してい
る会社に入門しようとした場合、携行者自身が
その会社のそのシステムに入つてない限りは区
別がつかぬことになる。またタレジツトカード
類の偽造や他の関係への利用なども防げない。
このような問題に対しては、カードの上に付加
的判別基準として、例えば磁気コードづけ、赤
外線コードづけなどを行うのが普通である。し
かし、本発明は、絶対に偽造のできない光学的
コードづけを追加的に行う方法で、この問題に
対し特にすぐれた解決法を提供するものであ
る。

ともかく、指紋記録を最初作るときには、い
ずれにせよそのカードののちのちの利用者はそ
こに存在し、例えば次の様な方法で指紋記録を
とらねばならない。すなわち、第１図と同じ配
置で、ただ、走査器９の探査運動はなしにし、
カード２の代替に写真機を置く。この場合、光
線の通路に、例えば光学的コード化器５４ある
いは５４′を置き、それによつて光を拡大した
り、部分的に遮断したり、歪みを与えれば、構
造物そのものがコード化器となり、得られた指
紋記録は、最初から相応して歪みを持つコード
入りのものとなる。このような光学的コード化
器５４は、一つの会社や顧客、クレジツト会社
などで使用する装置については、すべて一会社
全機が統一して同じものでなければならないの
は自明である。このような光学的コード付けの
変化としては、ほとんど無限に考えられるの
で、本発明になるシステムを採用する会社、協
会、信用会社、銀行等は、そのすべてが同じく
光学的コード付けを行うことができ、この偽造
の心配が絶対にない「キーワード」としての光
学的歪みにより、他の通常の指紋同定システム
によるカード保持者とは、決定的な差を作るこ
とができる。光学的コード付与器５４として
は、例えば、任意の、しかし、あらかじめ決め
た妨害効果をもつた付加的レンズでも良いが、
好ましくは、変形やコード付けが多様にできる
望遠鏡的な、いわゆるシリンダーレンズ付きの
ものが良い。しかし、この様な光学的コード付
けは指紋記録の作成のときに行はれるものであ
るし、その後の指紋同定では全く同じ光学的歪
みの有無が問題とされるものであるので、同定
方法自体にとつては重要なものではない。

その他の好ましい方法として、第１図に示し
た光学的システム、あるいは、その光導を次の
様に調整する方法がある。すなわち、ランプ６
のコイルを光学的軸に正しく置くことである。
可動探査器９のプリズム１６ａ，１６ｂによ
り、種々の回転探査運動が行われても、コイル
の位置変動は全然正じないようにするべきであ
るからである。プリズムの屈折性が光学的にも
幾何学的回転軸に対しても常に不変であるから
である。

さらに、本発明の特に有利な発展的形態は、
システムの同定化の品位に関するものである。
本発明により、指紋記録とその場で採取する指
紋の同定を行うとき、同定ミス率は、試験検
査、判定を、数多く繰り返すほど減小すること
は疑いない。次の方法は多数回の繰り返しテス
トの煩雑さを不要なものにし、１回で同定、非
同定の正しい判定を、安全な確率限界内で定め
られる方法である。

この方法は、一度プリズムの上で得た指紋像
を、同時平行的に多数のカード上にある指紋記
録と比較照合する方法で、一種の多次元的像−
記録像照法である。

第２図ｂの説明として詳述したように、Ｘ、
Ｙ平面内にある指紋記録と完全に一致する同一
性を達成するために、像の方を走査器９の探査
運動によつて同じくＸ、Ｙ平面内で移動させる
ことが行われるが、その場合の移動は螺旋状で
あつた。しかし、この改良方法においては、単
に円周の端だけで探査をさせる点が異なつてい
る。第２ｂ図において多数の指紋記録を破線で
画き、これを５４０としたが、これらが多次元
像照合に役立つのである。すなわち、像の探査
運動の１回のサイクルで、像は指紋記録の存在
する平面内で６〜８の指紋記録と出遭うわけ
で、像と、少くとも一つの指紋記録の一致によ
る即時同定確認の確率が幾何級数的に高くなる
のである。

このような多次元探査法は、一つの指紋像と
６〜８またはそれ以上の指紋記録の照合にしか
使えないというものではなく、極端な場合は、
例えば、６〜８の指紋像と６〜10の指紋記録の
照合にも使え、カード携行者が次から次に異な
る指をプリズムの上に乗せて行える。これによ
り、同定の確度は飛躍的に高まる。何となれ
ば、１人の人間が２本の指紋を同時に同定され
れば、同定誤差は事実上皆無であるからであ
る。これはまた、負傷とか汚れによつて指紋記
録と照合できない場合でも、他の指の指紋が記
録されていれば同定は他の指で可能であるとす
る使い方もできる。また、別な極端な例として
一つの指紋について６〜８の同一の指紋記録が
ある場合には、それらを平行的に同時に照合す
ることが環状の（螺旋状）の運動で可能とな
る。電子的判定回路関係はあまり変える必要は
ない。同定インパルスの出現がひんぱんになる
とは言え、探査速度によつて短くはなるが、一
定の時間間隔となるからである。場合によつて
は電子回路に充分な時間を与えるために速度を
遅くしたり、または、電子回路を並列に配置
し、タイムマルチプレツクスで処理して分流さ
せても良い。

いずれにせよ、主要電子回路は並列設置して
信頼度を充分に高くとる方が好ましい。このよ
うな場合は、多次元走査に相応した時間の転換
監視体制をとるべきである。ピークまたは同定
インパルスが短かい間隔で来るからである。本
発明においては、指紋像と指紋記録の比較照合
に、いずれが陽画であろうと、いずれが陰画で
あろうと原理的に問題はないこと、換言すれ
ば、指紋記録が指紋の谷が暗部になつていよう
と山が暗部になつていようと、また、指紋の採
取で、その谷部や全反射しているものであるか
否かは関係ないことを既述した。

この事実は、本発明のさらに別の実施例の利
点である。指紋記録とその時採取した指とプリ
ズムの物理的接触による指紋像の比較照合のみ
ならず、本発明によるシステムは、記録指紋と
他の記録、場合によつては電算機で出てくる早
いデータの流れなどとも比較できるものであ
る。例えば、任意に得られた指紋と、多数集録
した指紋データとを、高速で高信頼度の下に照
合できる。この点は犯罪捜査の面できわめて有
用である。犯罪行為においては犯人の指紋採取
はきわめて普通で、それをあらかじめインプツ
トしてある指紋と照合するのに、本発明のシス
テムは威力を発揮する。この場合、照合の促進
のため、蓄積してある指紋データを、迅速、順
次に同定検査に供するための、何等か区切りを
つけた流れとしてであろうが、指紋記録平面内
に持ち込むための輸送装置をつけることが必要
と思われる。

本発明によれば、照合のために直接指から物
理的に採取した指紋のみならず、ポジテイブま
たはネガテイブな指紋同志を、すなわち、実際
的には指紋記録と指紋記録の照合もできる。

(5) さらに別の有利な発展的形態 以下に記す方策と可能性は、本質的には既述
した基本システムの発展的形態に関するもので
ある。

本発明の有利な発展的形態の一つは次の如く
である。すなわち、比較照合を実施中の主機器
が、同時または実際上同時に、カードや証明
書、クレジツトカードその他の身分証明書類の
携行者が正当な権利者であるかどうか、以下単
にこれらの書類をカードと称するが、カードの
正当な所有資格を有するのかをも検定できる点
である。既述のシステムは、資格証者類の検定
に使用して、その携行者の指紋とカード上の指
紋が一致するか否かを検することを目的として
本質的に作られたものである。しかしながら、
カードが同時に、または単に例えば特定の建物
えの入館の許認可だけのための証明書や資格証
であるようなときには、そのカードがその携行
者のものであるか否かの検査（指紋比較）のみ
でなく、そのカードが入館などの特定行為を許
認可する正当な権限を与え得るものであるか否
かの検査もする必要が生ずる。この目的のため
にはそのカードに、カード所有者は有資格者で
あることを証する特定のマークとかコード、標
章があるか否かの比較もしなければならない。
このような場合、カードを検査機械の相応する
差込口に入れ、同時に、携行者が機械の所定位
置に指を置いて、(1)携行者の指紋がカードの指
紋と一致するか、(2)カードに、その携行者が有
資格者であることを示すマーク等があるか否か
の２点を確認することになる。検査結果がいず
れもプラスと出れば、例えば、ドアが自動的に
開き、入館できる次第となる。このような動作
を行はせる機器の態様が第１０図に示した本発
明の発展的形態で、７０なる記号を付したもの
である。本図は一例であり、その構造や外部構
造などは種々変化せしめ得ることは自明であ
る。したがつて本質的には単に個々の構成要素
の構成配列と存在のみが重要である。第１０図
で示した実施例では、頭書以来既述してきたと
ころの（指紋）型同定のための部分構造で、ラ
ンプホルダー７１ａのついたランプ７１、それ
から出る光をプリズム７３にあてるためのコン
デンサーレンズ７２、プリズム７３と密接した
譜面台様の前板７４、これは、この実施例では
携行者のいろいろな指をそのまま直接置く台に
なつており、そこから得た指紋型を、器体下部
の差込口７５からあらかじめ携行者が差込んだ
カード上の指紋型と比較するようになつてい
る。この開口部からカードホルダー７６のスリ
ツトにカードは入るが、カードホルダー７６は
入つて来たカードの正しい位置をきめるのに役
立つようになつている。ランプ７１の光を曲げ
るプリズム７３とカードホルダー７６の間に
は、２箇のレンズ７７と７８以外に、主クレー
ムの中で既述した運動探査器もしくは走査器７
９がある。以下でもこの呼称で称することにす
る。本発明のこの実施例では、走査器７９は、
第一のステツプモーター８０と通常の高速モー
ター８１を蔵している。その役割について下記
に詳述する。

光線はその中心光８３しか図示していない
が、プリズム７３を通過し、走査器７９で曲げ
られて、カード上の指紋型範囲を透過したの
ち、検知レンズ８４に到り、そこから本来の検
知器８５に入り、そこで光量を電気的な、イン
パルス重量交流的な出力信号に変換される。こ
れについては第１２ａ図に再掲してある。この
部分システムは、カードが携行者のものである
か否かを調べ、検定するもので、カードが一般
の団体システムに属するものか否かについて
は、第１０図に示す例では別の平行した光線系
システムを補完した形で、同じ機器内に組込ん
だ部分システムが確認するのである。この場
合、特に有利なのは、走査器もしくは運動探査
器の駆動装置としては前記の既存のものが共用
できることである。カード上のマークとかコー
ド、またはその他の型を同定し、それらの型が
機器自体に内蔵されている型、以後これを主シ
ンボル（Meistersymbol）と称するが、それと
一致するか否かの精査に任ずるためのこの第２
の部分システムには、まずコンデンサーレンズ
８６があり、これによつてランプ７１から垂直
に来る光を捕え、透視基板８７に導く。これに
はカード上に正しく存在しなければならない筈
の精査対象となる型と同じ主シンボルが入つて
いる。光線はそこを通つてさらにレンズ８８を
通り、第一の走査器７９と構造が同じ第２の走
査器８９に入る。これらの駆動モーターは８
０，８１が第一のものと共用になつているがこ
の場合、例えば光線を光学的に曲けて、第一の
走査器７９を通すことにし、走査器ごとに共用
にすることも本発明の範囲内にある。第２の走
査器８９から出た光は、この場合も中心光９０
しか図示していないが、曲げ鏡９１で曲げられ
再びレンズ９２を通つて、同じカードホルダー
７６に達すると。こで主シンボル検知用の光線
９０も、同じようにカードを透過するが、カー
ド上の相当する型の存在する位置を走査器８９
の精査によつて正確に透過し、第２の出力検知
器９３に達し主シンボルに応じた出力信号を生
じせしめる。検知器９３には検知レンズ９４が
前置されている。

時間的経過としては次の如くである。まず、
始めに、例えば半秒で、そのカードが団体シス
テムに属したものであるか否か、例えば携行者
に入館を許可すべき本物であるか否かが検定さ
れる。この検定には、カードホルダー７６を調
整したり回転探査運動を余分に行う必要は全く
なくカード上の所定位置に所定の主シンボルが
あるか否かを確かめるためのものであるが、そ
れが確かめられ次第、次に指紋の同定が行われ
る。余分な調整や探査回転が必要でない理由
は、カードホルダーは、主シンボルの付いてい
るカードを正しい位置に配し、また、主シンボ
ルの入つている透明基板８７も、これまた正し
く装置内で設置されている筈のものであるから
である。しかしながら当然、主シンボルもその
製作過程で、多くのエラーを生じる可能性を否
めない。大量製作中には、僅かの誤差がないの
が不思議な位であるから、若干狂いのある異差
が生じており、排除されるべきものもある筈で
ある。走査器の駆動モーターの共用、カードホ
ルダーの共用、光学系、少くとも、ランプの共
用、評価判定システム用電子回路の共用は、コ
ストの上で大いなる有利性を示すと同時に、２
種の査定基準（カードが携行者のものか、カー
ドが団体システムのものか）を殆んど同時に検
定できるという、検定速度の上からも大きな有
利性を示すものである。

本発明の発展的形態の別なものとして次のもの
がある。すなわち、運動探査器または走査器と、
それによつて得られる出力信号の判定のしやすさ
を、走査しているＸ、Ｙ平面内の位置に関する情
報を入手する手段によつて、改善しようとする方
法である。まず、一般的に次の事実を考察する必
要が、これに関してはある。即ち、ここでは負で
生成する同定インパルスに関する、「よし」判定
をもたらす明白性と一義性は、走査探知が、走査
面の中心で行はれたか、周縁で行われたかによつ
ている。インパルスの大きさ、即ち、その振幅と
ピーク、負の同定インパルスの鋭い生成具合は、
走査器の走査速度の関数である。ところが、この
走査速度は変化するものであり、半径の関数であ
る。何となれば、主請求範囲中で述べた通り、２
箇の相対的にずれたプリズムから構成される走査
器は、常に一定の角速度での回転であるから、半
径の違つた部位での走査速度は異なつてくる。相
対して回転するプリズムによる走査は、走査面
（Ｘ、Ｙ平面）内で中心点（円心範囲）を有して
動いている螺旋形である。走査が周縁部で行われ
るときには、検知器の出力信号図として一連の変
化をまとめて示した第１２ａ図の１４の如きピー
クとなるが、走査が中心部もしくは中心に近づく
と同定インパルス１４′は歪んでしまい、殆んど、
一般的正弦波曲線の形の搬送基本振動波の周波
数、形と、同じになつて、実際上識別同定できな
くなつてしまう（第１２図ｂ参照） したがつて、それに相応した評価対策がとれる
ためには、走査器によつて行われる走査が今どの
点において行われているか、および、どこに走査
器が位置するかを正確に知ることが必要である。
そのため、走査器のプリズム１６ａ，１６ｂと同
期して、円板９５，９６またはその他の適当なも
のを回転せしめ、それぞれに、プリズム１６ａ，
１６ｂの相対的位置を確めるための走査補助具９
７，９８を付すものである。このようなプリズム
から構成された走査器によると、それぞれの走査
プリズムがお互いが相補い合つて矩形の形を造る
位置に来ると、光は実際上屈折しないので、その
場合は常に中心部位の走査になる。最大屈折は、
第１１図にスケツチした様に、プリズムが並ぶ位
置をとつた場合に起る。

本発明の好適な実施例によれば、共に回転する
円板９５，９６はそれぞれが半分は透明、半分は
不透明にしてあることで、その結果、回転に伴
い、光の光過度が変化するので、それを光学的セ
ンサー（検出器）９７，９８で感知させることが
できる。これらの光学的センサー９７，９８は、
例えばそれぞれ１箇の光トランジスタと１箇の光
放射ダイオードから構成でき、それらは第１１図
に９９，１００と記した矩形インパルス波を出力
として出すものである。プリズムの回転ずれによ
り起り、それらと共に回転している円板９５，９
６のマークで伝えられるところによる、この２つ
の矩形波９９，１００の位相差は、走査過程にあ
るプリズム１６ａ，１６ｂの動力学的相対位置に
相応するものであるから、一般の位相差検知器１
０１によつても、双つの矩形インパルス波が如何
なる時点にあり、そしてそれによつてプリズムの
位相、または、継続的に生じている位相差の状況
を確認できる。

位相差検知器１０１の相応する最初の出力信号
を１０２で示し、プリズム１６ａと１６ｂの間の
相対的な位相差が０度と180度、または、180度と
360度にあるか否かを示した。プリズムが相互に
180度ずれているとき、即ち、それらが相互に補
完的な位置であるときは、中心部の走査時点であ
り、ずれが180度の前後の±20度の範囲では、第
１１図の波形１０３で明らかな様に中間部分の走
査であり、完全な同定を保証するためには、これ
らを全く排除するか、または、他の適切な手段を
講じなければならない。

このように、走査プリズム１６ａと１６ｂの回
転の相対的な位相関係が把握されれば、走査器の
位相差に評価判定システムを電子工学的に同期さ
せることができる。光学的センサー９７，９８か
ら２つの矩形波インパルス出力９９，１００を入
力する位相検知器１０１を２つの入力（マイナス
とプラスの入力）を備えた演算増幅器・比較器と
して扱えればよいわけで、例えば、この演算増幅
器の出力側は、位相差が０から完全に反対位相に
なる（位相差180度）になる点まで信号論理０で
あり、なつた瞬間から位相差が360度すなわち０
になるまで、演算増幅器の出力が論理１であるよ
うにする。その結果、例えばインパルス波１０２
が、180度毎に正の矩形波を発生することにより、
相応して同期する時間回路を設けることで、波形
１０２から波形１０３が得られる。相応する論理
０の信号で知ることを得る、波形１０３中の中心
部走査範囲の利用の仕方の第一は、この範囲、即
ち180度位相差とその前後±20度の時間帯におけ
る、中心部分の遅い走査を避けるために、走査範
囲内に例えばソレノイドで働く第３の三角プリズ
ムのようなものを入れ（図には示していない）、
この時間帯はソレノイドによつてそれを光の通る
道に置くようにすれば、光は即座に周縁部に偏向
され、負の同定インパルスにとつての明瞭かつ精
密な同定の可能性を与える結果となる。負の同定
インパルスはたとえ２箇の走査プリズム１６ａ，
１６ｂが互いにその位置が180度ずれたときでも、
第１２図ａに示したようになることが容易に考察
できよう。このように、走査器の動力学的運動経
過を、評価過程に同期せしめることにより、走査
面の中心部を走査過程中に繰返し走査しても、切
れ目なしに連続的な評価が行い得る。

走査関係についての実施例としては、例えば三
角プリズム１６ａの回転速度を秒速125回転にと
り、三角プリズム１６ｂはその約1/2％早い回転
数にとる。この場合プリズム１６ａ，１６ｂが同
じ位置状態に相互に戻るのは合計200回転した後
であることが判る。この場合ゆつくり廻る方のプ
リズム１６ａを時間基準にしている。自動速度制
御器１０４を走査器７９に付ける。

２個の動力学的回転をしている三角プリズム１
６ａ，１６ｂが相互に同じ位置形態になる時間間
隔を走査サイクルと呼ぶが、これは前述の通り、
時間基準にとつた方のプリズム１６ａの200回転
であり、やや速く廻る方のプリズム１６ｂの201
回転になる。第１３図ａ，第１４図ａ、第１５図
ａは、それぞれ第１３図ｂ、第１４図ｂ、第１５
図ｂと関連しているが、これらは走査螺旋の外周
部で走査しているとき（第１３図ａ，ｂ）や、だ
んだんに中心部に近づいている状態などを第１５
図ａ，ｂで示しているものである。

第１３図ａ，ｂに相当する螺旋の外周部で同定
ができる場合には、位相差が０で始まり、２個の
三角プリズムが再び位相差０度（360度にて）に
なるまでの完全な一回の走査サイクル中で、同定
インパルス１４が生じてくる範囲は２つある。こ
れらの両範囲は１０５ａと１０５ｂとして示した
が、相互に比較的遠く、また、中心部走査範囲１
０６からも離れている。その理由は、次のように
考えられる。両プリズムの相対的ずれにより、高
速の動力学的動きの各完全走査サイクル中、180
度位相差の補完関係位置によつて分けられた、同
一相対位置関係が２度来ることに起因しているこ
とは自明である。両プリズムの高速回転の各回ご
とに、当初は微弱であるが、段々に大きくなり、
２つの画像が最高に重なる場合、最大の幾何学的
相対位置に近づくと、最大になる負の同定インパ
ルスが生じる。このような理由から、同定インパ
ルスは徐々に増大し、そしてプリズムの相対位置
が、この範囲から遠ざかるにつれて徐々に低下す
るのであり、このような場合は、両画像の一致的
重なり合い、もしくは同定ができる。時間基準と
されたプリズム１６ａの回転速度が秒速125回で
ある既述の場合には、同定インパルスの時間間隔
は８ミリセカンドである。

同定可能の場合で、その範囲が螺旋の外周と中
心部の中間にある、第１４図ａ，ｂのような場合
には、二つの同定インパルス範囲１０５a′，１０
５b′は近づき、走査速度が螺旋の内部では低下す
るために、同定インパルスの絶対振幅自体も小さ
くなる。既述の通り、三角プリズムの回転速度は
一定であるので、半径の小さい方では、走査面を
円形的−螺旋形的に掃く光束の絶対速度が小さく
なり、それに相応して、同定インパルスと随伴す
る基礎振動信号やその他の妨害信号の差も、また
無くされるのである。

第１５図ａ，ｂに相当する中心部の走査の場合
は、二つの同定インパルスは一つに合わさつた同
定範囲１０５″になり、180度位相差点のまわり±
20度の区域に現われる。第１３図ａ，ｂ並びに第
１４図ａ，ｂに示した走査状態にあるときには、
双方とも、文句なく同定が可能である。即ち、既
述の基準に応じた同定インパルスの検定が行え、
同定基準の計算値が、あらかじめ定めた数値を超
せば、「よし」表示を示すこととなる。なお、こ
の場合についての付加的同定基準に関しては、さ
らに後述する。

第１５図ａ，ｂに相当する中心部範囲の場合に
は、根本的には最初は全然同定が生じないのであ
るが、前述のソレノイドによる第３の三角プリズ
ムの働きを及ぼせば、この中心部範囲を逃げるこ
とができる。既述の検定基準の基礎振動に対する
同定インパルスの比（Ｐ／SG）が、同定基準の
直流レベルに対する同定インパルスの比（Ｐ／
DC）よりも小さい場合には、第３の三角プリズ
ムをこの目的で光道に設置することが好ましい。

主請求範囲の中で既述したところであるが、二
つの相互に比過較すべき型（一般的な表現とし
て）がずれていてもなお、最大の同定インパルス
振幅を得るためには、カードホルダーの回転探査
運動を付加すると良いと述べた。第１３図ａと第
１４図ａで示されているように、位相差０度から
360度（０度）の１回の完全な走査サイクルの間
で、同定インパルス範囲１０５ａ，１０５ｂが２
回生じている。そこで、三角プリズムの相対的位
相差の方向や程度も知られているので、カードホ
ルダーの回転探査運動をもまた、走査器の走査過
程と同期させることができる。即ち、各半走査サ
イクル後にカードホルダーの新しいずれ探査段階
が起るようにすれば、全同定経過を２倍に加速せ
しめることができる。

同定の計算結果が文句なく正しいことを確認す
るために、少くともさらに一つの検定基準を持ち
込むことができる。しかもそれは、走査器の三角
プリズムの一定の走査回転速度で、個々の同定イ
ンパルスの順次発生頻度に同調した形である。既
述の走査器三角プリズムの回転速度の例の場合で
は、各同定インパルスは８ミリセカンドの間隔で
生じるが、上記の新しいさらに一つの検定基準と
して定めるのは、非中心部走査範囲内で８ミリセ
カンドの時間間隔で、最小限３つの同定インパル
スが順次起つていなければ、「よし」表示を許さ
ないとするのである。この同定基準設定の意味
は、次の事実にある。即ち、時として意識的偽ま
んで指をプリズム７３の範囲中で速やかに動かす
ことにより、特定のインパルスを生ぜしめ、その
振幅が基準値に達したために、評価判定電子回路
が合格と認知する可能性を、完全には防げないか
らである。このような時のインパルスは、しか
し、正常な走査で生じるインパルスの有する正確
な時間間隔を、絶対に有さないから、これによつ
て、偽まん行為を排除できる。

さらに別な同定基準として次の事項が存在す
る。即ち、螺旋走査によつて同定範囲に接近する
場合には、順次配列する同定インパルスの振幅は
漸次に増大するものであるから、順次現われる同
定インパルスが、単調に増大もしくは低下すると
きにのみ、「よし」表示を許すわけである。

最後に、走査器の特に優れた発展的形態につい
て述べる。

これもまた、中心部範囲の走査のときに生ずる
問題を解決するものである。この発展的形態にお
いては、２箇の走査プリズムを高速で若干の回転
速度差をつけて廻転せしめるのではなく、一個の
三角プリズムは、第１６図で１６a′で示したが、
動力学的走査状況からすると、まるで止つている
かのような静かな動き、いわゆる準静過程という
べき動きを、換言すれば、プリズム１６ａはステ
ツプモーターによる増分的にゆつくりと軸の廻り
を廻り、第２の三角プリズム１６b′は、直流モー
ターまたは交流モーターにより、高速回転を行
い、前記準静プリズムによる円形の走査範囲が、
認められらる極度の動きを示す前に、高速回転プ
リズムの方の走査範囲内では、少くとも１回は偏
向、走査が完結しているように回転速度を定めて
おく。このような構成により、Ｘ、Ｙ面（走査
面）の走査には、第１の三角プリズム１６a′がそ
の円形的走査運動の集点を一定の位置に据えて準
静的に帯留する一方で、三角プリズム１６b′の方
は、この位置の廻りを、一定の、高速で円形走査
運動を行うような効果を生ぜしめる。第１６図で
は、見やすいように、走査面は平面図で示し、三
角プリズムは側面図でスケツチしてあるが、個々
の位置Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３の円形軌道をＭと示す一
方、第２の三角プリズム１６b′による高速走査運
動をＳ１，Ｓ２…として示した。この構成におい
ては、１回の完結した走査サイクルの経過中での
動力学的走査過程の間、もはや速度差は生じない
ことがわかる。何となれば、第一のプリズム１６
a′による円形走査運動での各位置点Ｍ１，Ｍ２…
の位置変化は、第２のプリズム１６b′の高速回転
運動から見ると静止状態であるので、この場合は
速度はもはや積層しない。したがつて、第２のプ
リズム１６b′による光線の移動速度は、軌道Ｓ
１，Ｓ２…の各点において、走査面の中心範囲の
掃引の場合でも、常に不変である。その理由は、
高速の円形探査走査運動を行つている、その半径
は一定不変で円Ｍに位置Ｍ１，Ｍ２…として示し
たところである。代案として示したこの新しい走
査器の構成により、中心部位における走査の問題
を解決でき、場合によつては、前述した種々の処
置方法のいくつかは余分になる。

本発明における評価判定に追加した検定基準で
あるところの、少くとも３つの順次配列した同定
インパルスの精密な間隔測定と評価用に、計数器
を用いることができる。この様な計数器として
は、上記のような形態の出力信号だけを出力とし
て出すタイプのもの、もしくは、いわゆるジヨン
ソン計数器の形態のもので、順次配列した同定イ
ンパルスの３番目が入力したときにのみ「よし」
の出力信号を発するものが使える。この場合は計
数器に開閉回路が前置されていて、回転速度によ
つて定まつた時間間隔（８ミリセカンド）は開
き、その他は閉となる。開閉回路のコントロール
はプリズムの回転速度によつて定められる時間間
隔の間、準静状態に留まるような単安定の側回路
によつて行うことができる。以下に述べる方策
は、既述の基本システムのさらなる発展的形態に
本質的に関係するものである。

第１７図に示した検定器の光学系は次のもので
構成されている。すなわち、入力した光学的信号
を電気的信号に変換する出力側検知器１２０、前
置プリズム１２１、主シンボルと指紋をのせた同
定カードを差込むカードホルダー１２２、それに
前置したレンズ１２３、光学的走査システムすな
わち走査器１２４（この構成は例えば第１６図に
示した走査器と同様にすることが可能）、レンズ
１２５、および２つの検査基準のための光線の光
道の中に置かれた光学的素子１２６。

指紋照合のためにプリズム１２７があり、被験
者は指をその上に置き、個有の照明装置１２８に
よつてレンズ１２９を通して照射を受ける。第１
７図でも光線は中心光線だけしか図示していな
い。この場合も他の場合同様、光学系と検定器の
構成は、記述した形態や位置を必ずしも必要とし
ているものではなく、本発明の比較照合の実施に
必要な機器類の機能として述べているのは当然で
ある。

照明システムが個別に分離されている以外は、
他の素子、すなわち参照番号の１２０から１２６
までの検定機器がすべて共用であるということ、
即ち、カード上の主シンボルと指紋記録を同じ場
所で、即ち重なり合つた光学的位置で照合できる
という、第１８図に示した態様は、本発明のきわ
めて大きな発展的形態であり、決定的に有利な点
である。第１８図においては、例として主シンボ
ルを四角１３０で、指紋像を円１３１で示した。
カード上の指紋記録と主シンボルは、この範囲内
では重なり合い、多くの線の入り混じりで完全に
識別不能であるが、本構成による特別な機能によ
り、本検定器は、意図的に検定条件に時間的配列
をつけることにより、それぞれ相応した同定イン
パルスを生じせしめ判定するものである。以下そ
れについてさらに述べる。主シンボルの照明シス
テムは第１７図で１３２として示し、常時検定器
内に内蔵されている主シンボルの透明基板には１
３３が付してある。

本器による検定の実施はまず、貯器または透明
基板１３３上の主シンボルとカードホルダー１２
２に挿入されたカード１３４上の主シンボル１３
０の照合から始まる。まず、主シンボル検定用の
ランプ１３６がドライバー回路または増幅回路１
３５を通じて作動する。ランプ１３６は好ましく
は光放散ダイオード、いわゆるLEDで、赤外線
を放散するものが好ましい。LED１３６の光は
透明基板１３３を通つて光学的素子１２６に到
る。この素子１２６は好ましい実施例としては、
いわゆる「ビームプリツター」で、このときには
実線で示した位置に静止して到達光速を直角に曲
げて後続の素子１２０から１２５迄へ導く。走査
器１２４の走査運動により、定置主シンボル１３
３とカード１３４上の主シンボル１３０の重なり
具合（一致）、同定が行われる。検知器１２０の
出力には最初の電気的信号が現われ、接続した電
子式判定回路１３７に導かれる。この回路１３７
は、最終的に「よし」表示を出すためには、主シ
ンボルの検定と指紋検定の両方のインパルスに基
づく２種類の時間的連続中での正しく認知された
同定インパルスを把握評定しなければならない。

主シンボル検定と呼ぶこの作業に続き、前段の
検査、この場合は主シンボル検定であるが、その
結果が正であつても誤であつても、さしあたりは
それにかかわりなく、指紋の一致検査が行われる
のが好ましい。そこで、電子式判定回路１３７に
より、導線１３８を径由してランプ１３９の付加
した照明装置１２８が作動せしめられ、生じた光
束はプリズム１２７で屈折したのち、置かれた指
１４０の指紋像を潜在しつつ光学的素子１２６に
到る。そしてそれでは何等の作用も受けずに通過
し、１２０から１２５の素子で同様の処理を受け
る。すなわち、プリズム１２７で収録した指紋と
カード上の指紋記録１３１が照合され、一致した
とき、再び相応する同定インパルスを検知器１２
０の出力として生じる。

検定器１２０の出力シグナルの検定は、ずつと
前に詳記した通りに行われる。すなわち、同定の
とき生じる同定インパルスは、そのとき説明した
一つ以上の異なつた検定基準で検定される。

電子式判定回路１３７は、詳細は記述しないが
マイクロプロセツサーを内蔵し、それには前記し
た手順が、主シンボル比較−指紋比較とか、その
逆の順序で、個々の調査についての問題の形がプ
ログラム化されて入つている。

光学的素子１２６は、好ましくは半分透明な鏡
が良く、その一部は到達光をそのまま通過させ、
一部は光学的法則にのつとつて反射するものでよ
い。したがつて、この様な光学的素子１２６は、
照明装置１２８と１３２による検定の実施に際
し、その遂行上何等位置の変化なしに使用でき
る。しかしながら、素子１２６を真正の鏡で構成
することもできる。この場合には、照明装置１３
２による主シンボルの同定のときには、実線で示
した位置をとらせ、指紋の比較検定のときには、
矢印に沿つて破線位置１２６′に光通路からはず
しておく。

本発明のさらに有利な発展的形態を次に示す。
即ち、主シンボルの標示を、カード１３４上に光
学的に重ねた画１３０，１３１において、特に透
明で、根本的に不明瞭なものにすることである。
比較照合の際に生ずる型の縁辺の変型がなく、時
間がたつても不変に近い型同志の同定で、常に一
義的に一致した同定が、得られる高品質の同定イ
ンパルスによつてもたらされる。これらの理由と
重ね合せ積層化のために、はるか前に前述した模
造防止のための歪付与の方法を放棄し、絵だけの
主シンボルなども排除して、主シンボルと指紋を
重ねて作つた本物のカードを所有することになろ
う。単にヒントとして、また、よりよき理解のた
めに注記するならば、例えば主シンボルとして、
そのカードの所属先である企業の社長などの指紋
をあてることが考えられる。そうすればカード上
の重ね合せ図は錯綜し、ゆがんだ線となり、その
識別が不可能で、識別が絶対的に前提となる偽造
は不可能であるが、既述の通り、本器は時間的に
分離して検定するので一方では主シンボルの存在
を、他方では指紋の同定を、一義的に分離でき
る。

本発明のさらに別の有利な発展的形態において
は、その他のなお考えられる偽まんの可能性を、
センサー回路１４１を追加することにより排除す
るものである。このセンサー回路は、ランプの明
るさ調節のための帰還線に接続される。この帰還
線は、第１図に５３として示してあるが、これは
光検知器１２０の出力の信号の高さが総体的に弱
過ぎる時、それは評価判定と比較のための光束が
暗過ぎるためであるので、ランプの明るさを調節
する役を果すものである。指をプリズム１２７に
置くときに、非常に急激に指を持ち上げて再び置
くことによつて、相応する強い、従つて「よし」
表示をもたらすような同定インパルスを生じさせ
ようとする不正行為が行われると、検知器１２０
にインパルスの形の出力信号が生成すると共に、
ランプの明るさ調節回路にも、自動的に相応する
呼びかけをする。指はそう自由自在に早く動かせ
るものではなく、指の動きによつて生ずる周波数
は、ランプ光度調節装置の調節、呼びかけ範囲内
に止まるものである。また、この調節回路は、測
定時に生じた周波やインパルスに補償平均化的に
作用するものではないことは自明である。従つ
て、ランプ光度用の帰還調節信号周波数を、回路
１４１でとられ、明るさの強弱のフレ周波数が、
リズミカルな指の動きによつて同定インパルスを
不正に生じるような範囲であるときには、警報、
または誤りの表示を出すようにすることが可能で
ある。このとき、全システムを誤動作の状態にさ
せることもできる。指の動きの把握のための周波
数は、０から最高100ヘルツの間であるから、通
常の評価判定のときに、検知器の出力側に出る交
流重畳電圧の周波数領域外である。センサー回路
１４１は、このような周波数で起るランプ光度の
振動の調整があると呼応するような、フイルター
とシステムである。

会社等の団体システムに対する偽まん防止法に
関する別の好ましい発展的形態として、照合用に
装置内に蔵した主シンボルを、時々異なつた回転
位置にする方法がある。角度差は３乃至4゜で充分
である。主シンボルの角回転は、手で、または、
モーターで行う。主シンボルの図案を調べようと
して非合法的に装置を開けると、主シンボルが自
動的に原位置に跳ね戻るようにしておけば、実際
に判定している時のずらし角度を知ることができ
ない。偽まん防止のこの方法をとるときには、基
準的角度変移位置を記録しておくこともできる。
さらにまた主シンボルを、好ましくは部分型を積
層して作ることもできる。これらの部分型自体も
また、暴力的開器時には原位置に戻るようにした
上で、それぞれ原位置からずらしておく方法があ
る。

カードについては、その重なり合い図案の中に
１人または多数の人間の２つ以上の指紋を入れる
方法がある。本器は、そのような重なつた指紋か
らでも、最高の信頼性で当該指紋像を検出できる
が、時折比較試験を行うべきである。このような
方法によつて、カード携行者が、その本人である
ことの立証を、多くの指を測定プリズムの上に置
くことで立証できたり、一つのカードを２人以上
が利用したりもできる。

本器の判別力、偽まん防止能、使用法の向上に
資するための選択性、代案となる方法のさらに別
な方策として、他の波長の光源を使用する方法が
ある。例えばポリクロ（多重色相、多波長光）で
照明してモノクロ（単光）で検知する方法があ
る。特定波長光のみに応ずる検知器や、種々の波
長帯に感ずる検知器は周知となつている。比較的
モノクロ的の検知器、および、もしくは、光源を
使用すると、判別と評定がさらに改善される可能
性がある。

最後に本発明のさらに別の有利な実施例とし
て、本検査器の中に、相当する多数の人間の指紋
をすべて蓄積する方法がある。例えば入館検問な
どで、本発明によるシステムで身元を調べ、判定
せねばならぬ人間の指紋すべてを蓄積するのであ
る。

そのためには、本器を、例えば次の如く構成す
ることができる。即ち、検査すべき者に対して、
特定の、当人専用のコード、例えば数字コードで
も本人の氏名でもよいが、コードをつけ、検査器
に組込んでおき、蓄積された多数の指紋の中から
当該コード付きの指紋を取出して、以前に記述し
たカードホルダーまで運ばせるようにする。指紋
の同定方法は既述の慣行的方法により、検定結果
を同定できれば本器が開門するようにする。

このような多数の指紋の蓄積法としては、種々
の方法がとれる。例えば離れた場所にフイルムロ
ールの形で保管し、当該指紋を探し出して、検定
のための照射位置に、機械的に輸送するとか、保
管場所で指紋記録の像を潜在せしめた光束とし、
その光束だけを運ぶ方法がある。

しかしまた、指紋の蓄積を、デジタル手法で行
うこともできる。例えば、周知のROMとか
RAMを使用する。これらのときはデジタルに蓄
積された指紋を、好ましくはそこで再び光学的比
較にかける前にまずアナログ基準値に変換するこ
とになる。したがつて、概して言えば、蓄積はア
ナログでもデジタルでも良く、比較検定のための
図案は、アナログ形態で行われる。

【図面の簡単な説明】

第１図は指紋照合のための本発明の一実施例と
しての装置の光学的、機械的構成の基本的構成を
示す図、第２図ａ，ｂは回転プリズムシステムの
作動形態およびこのような探査動作によつて生じ
る指紋像の螺旋状の移動形態をそれぞれ示す図、
第３図は記録指紋と像の同定に際し、検知器出力
信号のとる曲線的経過の一例を示す図、第４図は
多数の精査基準を設けた場合の電子式判定回路の
ブロツク回路図、第５図は検知信号中に含まれる
基本正弦波の取出しのための電気回路の実施形態
を示すブロツク回路図、第６図ａ，ｂは指紋像と
記録指紋の同定に際し生じる負のピークインパル
ス並びに同時に検知信号に含まれるバツクシグナ
ルと、その検出回路をそれぞれ示す図、第７図は
別の検査基準のための実施態様のブロツク回路
図、第８図は追加の検査基準のための実施態様の
ブロツク回路図、第９図は検査ブロツクの出力信
号を総括する判定回路の実施態様のブロツク回路
図、第１０図は本検査器および個々の構成素子の
構成の一態様を示す側面図、第１１図は走査範囲
と走査器の三角プリズムの回転運動で連続的に起
きる位相ずれによつて生ずる効果を示す図、第１
２図ａ，ｂは螺旋形走査の周縁部位の走査の際に
生じる出力信号の形態と同じく中心部位の走査の
際に生じる出力信号の形態をそれぞれ示す図、第
１３図ａ，ｂ、第１４図ａ，ｂ、および、第１５
図ａ，ｂは、螺旋形走査の外周部位、中間部位、
中心部位の走査を行つている時に生じる同定イン
パルス範囲およびそれを走査平面から眺めた状況
をそれぞれ示す図、第１６図は運動探査器あるい
は走査器の他の好ましい実施態様を示す図、第１
７図は実際上一つの光学系を形成する本検査器お
よびその個々の構成素子の構成を示した別の態様
を示す図、第１８図は、同定用基板を構成するカ
ードで親標章および指紋を光学的に積層したもの
を示す図である。 １……記録指紋、２……カード、３……カード
ホルダー、４……指、５……プリズム、６……ラ
ンプ、７……反射鏡、８……レンズ系、９……運
動探査器、１０……レンズ系、１１……レンズ
系、１２……光ダイオード、１３……電子式判定
装置、１４……負のパルス、１５……正のパル
ス、１６……三角プリズム、１７……透過光線、
１８……透過光線、１９……らせん状軌道、２０
……断面、２１……指紋像、２２……増幅器、２
３……ブロツク、２４……ブロツク、２５……ブ
ロツク、２６……ブロツク、２７……ブロツク、
２８……ブロツク、３０……総計評価回路、３１
……低域フイルタ入力、３２……低域フイルタ、
３３……位相補償回路、３４……減算増幅器、３
５……アナログ割算回路、３６……中間増幅器、
３７……ピーク値検知器、３８……アナログ割算
回路、３９……低域フイルタ、４０……増幅器、
４１……尖頭値検出器、４２……減算増幅器、４
３……高域フイルタ、４４……低域フイルタ、４
５……アナログ割算回路、４６……増幅器、４７
……尖頭値検出器、４８……光源レベル検出装
置、４９……表示装置、５０……表示装置、５１
……表示装置、５３……接続線、５４……光学的
コード化器、６０……比較器、６１……駆動回
路、６２……ステツプモータ、７０……発展的形
態、７１……ランプ、７２……コンデンサレン
ズ、７３……プリズム、７４……前板、７５……
差込口、７６……カードホルダー、７７……レン
ズ、７８……レンズ、７９……走査器、８０……
ステツプモータ、８１……高速モータ、８３……
中心光、８４……レンズ、８５……検出器、８６
……レンズ、８７……基板、８８……レンズ、８
９……走査器、９０……中心光、９１……反射
鏡、９２……レンズ、９３……検出器、９４……
レンズ、９５……円板、９６……円板、９７……
走査補助具、９８……走査補助具、９９……矩形
パルス、１００……矩形パルス、１０１……位相
検出器、１０２……出力パルス波、１０３……波
形、１０４……自動速度制御装置、１０５……同
定パルス範囲、１０６……中心範囲、１１０……
光束、１２０……検出器、１２１……プリズム、
１２２……カードホルダー、１２３……レンズ、
１２４……走査器、１２５……レンズ、１２６…
…光学的素子、１２７……プリズム、１２８……
照明装置、１２９……レンズ、１３０……主シン
ボル、１３１……指紋記録像、１３２……照明シ
ステム、１３３……透明基板親標章、１３４……
カード、１３５……増幅回路、１３６……光源、
１３７……電子式判定回路、１３８……導線、１
３９……光源、１４０……指、１４１……検出回
路、４３０……加算増幅器、４４０……基準レベ
ル信号、４５０……比較器、４６０……判定回
路、４７０……指差込ガイド、４８０……光源レ
ベル検出装置、４９０……サンプルアンドホール
ド回路、５４０……記録像。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 一つのパターンと、カード、識別カード、ク
   レジツトカード、キイ同様のカード、または識別
   文書等上に位置するパターンの記録された第１の
   パターンとの比較を行うパターン比較装置であつ
   て、 光源、 基台上に対象物を適用することにより直接に得
   られる対象物パターンまたは該対象物パターンの
   記録された第２の画像と該対象物パターンの記録
   された第１の画像を比較するための光学系、 探索用運動を行うスキヤナ、 光電変換式検出装置、および、 該光電変換式検出装置に接続された電気的評価
   手段であつて該検出装置の信号に包含されパター
   ンの各個についての識別により得られた識別パル
   スが試験基準にもとづく試験を受け、該試験の結
   果が調整可能なしきい値と比較され、しきい値が
   超えられていると「良好」表示を発生させるも
   の、 を有するパターン比較装置において、 該スキヤナ９が、回転運動を行うよう電動機に
   より相異なる速度で駆動される離隔した第１およ
   び第２のくさび形プリズム１６ａ，１６ｂを包含
   し、 基本振動信号に対する識別パルスの振幅の百分
   率相関比を決定するための第１の試験基準回路ブ
   ロツク２３に加えて、少なくとも２個の追加の回
   路ブロツク２４，２５，２６，２７，２８が設け
   られ、該追加の回路ブロツクは識別パルス１４，
   １５ａ，１５ｂの比較試験を行うためのものであ
   り、該識別パルスは検出装置信号に包含されるさ
   らなる電気的可変値またはさらなるデータ、すな
   わち高周波高調波振動信号、直流電圧信号、また
   は識別パルスの個別の出現に関係する時間間隔Ｔ
   の基準測定値等、についての識別の場合に発生す
   るものであり、 比較を行うブロツク２３，２４，２５，２６，
   ２７，２８の各個の出力信号は共通の加算増幅器
   ４３′に供給され、該加算増幅器には全出力信号
   を所定のしきい値と比較するために比較器４５′
   が接続されている、 ことを特徴とするパターン比較装置。 ２ 記録１の座標面において画像の探査運動を行
   う２個の前後に配置された楔形プリズム１６ａ，
   １６ｂからなる運動探査器（スキヤナ９）を設
   け、該楔形プリズムがこれらの軸の回りを比較的
   少しだけ異なる速度で回転することを特徴とする
   特許請求の範囲第１項に記載の装置。 ３ 相関割合の百分率を決定する回路が第１の差
   動増幅器３４を包含し、該第１の差動増幅器の一
   入力（負）には不変化の検出器出力信号DSが供
   給され他の入力には位相補正された低域フイルタ
   ３２，３３の出力（基準発振信号SG）が接続さ
   れ、該低域フイルタの入力には同じように前記検
   出器信号が供給されていること、 差動増幅器３４の出力がアナログ分割回路３５
   の人力に接続され、該アナログ分割回路の他の入
   力には基準発振信号SGが供給されていること、
   および 前記アナログ分割回路の出力が、場合により増
   幅された後に、波高値検出器３７に接続され、該
   波高値検出器が発生した最大振幅値を記憶装置の
   種類に応じて所定時間保持すること、 を特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の装
   置。 ４ 他の試験基準として、負の波高値インパルス
   の振幅とアナログ分割回路３８から発生する高周
   波の妨害量（−Ｐ／Ａ）の平均値との比を決定す
   るための回路２４を設け、該アナログ分割回路の
   １入力には百分率の補正比の決定によつて差動増
   幅器３４の出力信号が直接供給され他の入力には
   該出力信号が低域フイルタ３９を介して供給さ
   れ、前記アナログ分割回路の後段に他の波高値検
   出器４１が接続されたことを特徴とする特許請求
   の範囲第１項に記載の装置。 ５ 他の試験基準として、負の一致インパルスの
   隣接に発生する正の付加的インパルスの振幅と他
   の差動増幅器４２から発生する高周波の妨害信号
   （＋Ｐ／Ａ）の平均値との比を決定するための回
   路２４を設け、該差動増幅器の正の入力には検出
   器信号が供給され他の入力には基準発振信号SG
   が供給され、該差動増幅器４２の後段にアナログ
   分割回路３８′が接続され、該分割回路の一入力
   には差動増幅器４２の出力信号が直接供給され、
   他の入力には該出力信号が低域フイルタ３９′を
   介して供給され、前記アナログ分割回路３８′の
   後段に波高値検出器４１′が接続されたことを特
   徴とする特許請求の範囲第１項に記載の装置。 ６ 他の試験基準として、比較電流レベル（−
   Ｐ／DC）と負の一致インパルスとの振幅比を決
   定するための回路２６を設け、該回路がアナログ
   分割回路４５を包含し、該アナログ分割回路の−
   入力には検出器信号DSが高域フイルタ４３を介
   して供給され他の入力には同じ検出器信号DSが
   低域フイルタ４４を介して供給され、前記アナロ
   グ分割回路４５の後段に波高値検出器４７が接続
   されたことを特徴とする特許請求の範囲第１項に
   記載の装置。 ７ 他の試験基準として、所定持続時間内の負の
   一致インパルスの発生時間Ｔを決定するための回
   路２７を設け、該回路２７が各負の一致インパル
   スによつてトリガされる単安定時限素子を包含
   し、該単安定時限素子の後段に評価回路を接続
   し、該評価回路は所定時間を超えた場合にもしく
   は該所定時間内に多数のインパルスが発生した場
   合にエラー指示をすることを特徴とする特許請求
   の範囲第１項に記載の装置。 ８ 波高値検出器３７，４１，４１′，４７の出
   力信号（−Ｐ／DS、−Ｐ／Ａ、＋Ｐ／Ａ、−Ｐ／
   SG）が、場合により適切のものだけ、後段に接
   続された加算増幅器４３０の入力に接続され、該
   加算増幅器の加算出力信号が比較回路４５０に供
   給され、該比較回路の他の入力にはしきい値回路
   ４４０の安全しきい値信号が供給されること、お
   よび 該比較回路４５０の後段には論理決定回路４６
   ０が接続され、該論理決定回路には、最後の一致
   信号ISに加えトータルシステムの明確な機能を示
   す信号が供給されること、 を特徴とする特許請求の範囲第１項ないし第７
   項のいずれかに記載の装置。 ９ 加算増幅器４３０の出力に中間記憶回路（サ
   ンプルアンドホールド４９０）が接続されている
   こと、および、 ステツプモータ６２を包含し且つ画像と記録と
   の二画像の合致を最適化するためにカードホール
   ダ３をXY座標面に付加移動させる別の機械的補
   正装置を設け、該装置において、ステツプモータ
   ６２が比較回路６０によつて動作させられ、該比
   較回路のサンプルアンドホールド回路４９０の２
   入力に、ステツプモータ６２によつて機械的調整
   を行つた後に発生する加算増幅器４３０の第１お
   よび第２の出力信号が供給されること、 を特徴とする特許請求の範囲第１項ないし第８項
   に記載の装置。 １０ 光検出器の出力に発生する電気信号レベル
   に応じてランプ光量を決定するランプ光量調整回
   路を設けたことを特徴とする特許請求の範囲第１
   項ないし第９項のいずれかに記載の装置。 １１ 映像と記録との間の光路上に光学的ゆらぎ
   手段を配置し、該光学的ゆらぎ手段が記録１の１
   回の作成の場合にも映像と記録との多数回の比較
   の場合にも為造を防止するために光束を所定光学
   的コードに応じてゆらすことを特徴とする特許請
   求の範囲第１項ないし第１０項のいずれかに記載
   の装置。 １２ 光学的ゆらぎ手段が円筒レンズを有する望
   遠鏡形装置である特許請求の範囲第１１項に記載
   の装置。 １３ 記録担体上の一致の正確性を高めるために
   多数の同一もしくは多種類のパターン記録を配置
   して１つもしくはそれ以上の直接得られた映像と
   同時に比較を行えるようにしたことを特徴とする
   特許請求の範囲第１項ないし第１２項のいずれか
   に記載の装置。 １４ 共通容器７０内に、カード上のマスク記号
   と装置に記憶された主シンボル（透明部８７）と
   の光学的な比較のための評価装置を設け、該評価
   装置が模様比較システムの光学的および／もしく
   は電気的装置の少なくとも一部を用いることを特
   徴とする特許請求の範囲第１項ないし第１３項の
   いずれかに記載の装置。 １５ 共通ランプ７１から送出された単独の光束
   が分裂して主シンボルを担つた透明部８７を通過
   すること、 該透明部８７の後段には運動探査器（スキヤナ
   ８９）が接続されていること、および 前記透明部８７を通過した光束を、主シンボル
   の評価のための独立した検出器系９３，９４上に
   発生したカード領域に通過させる偏光装置９１，
   ９２を設けたこと、 を特徴とする特許請求の範囲第１４項に記載の装
   置。 １６ 主シンボルを一致させるためのスキヤナ８
   ９が模様比較のためスキヤナ７９を動作させる駆
   動手段によつて動作されることを特徴とする特許
   請求の範囲第１５項に記載の装置。 １７ 主シンボル比較のための光束を現存のスキ
   ヤナ７９を単に通過させる付加的な偏光装置を設
   け、前記スキヤナが後に型比較をすることを特徴
   とする特許請求の範囲第１５項に記載の装置。 １８ スイツチング装置Ｕ１を設け、該スイツチ
   ング装置の２入力の各々が型比較に属する検出器
   システム８５の出力と主シンボル比較のための検
   出器システム９３とに接続され、前記スイツチン
   グ装置の出力信号が連続に共通の評価論理装置に
   供給されることを特徴とする特許請求の範囲第１
   ４項ないし第１７項のいずれかに記載の装置。 １９ 楔形プリズムもしくは該楔形プリズム自身
   のマーキングの駆動手段を設けたこと、 マーキングサーチ光電装置（発光ダイオード、
   オートトランジスタ）を設け、該装置が前記プリ
   ズムの回転運動が発生する出力インパルス列を発
   生すること、および サーチ面を中心領域のサーチに関係させる出力
   信号を発生する位相比較装置を設けたこと、 を特徴とする特許請求の範囲第１項ないし第１８
   項のいずれかに記載の装置。 ２０ マーキングが、楔形プリズムに同期して回
   転し部分的に透明且つ部分的に不透明な円板によ
   つて形成された特許請求の範囲第１９項に記載の
   装置。 ２１ 自動速度調整装置を設け、楔形プリズムの
   １つを定速回転させ、他の１つを少し速く回転さ
   せるようにしたことを特徴とする特許請求の範囲
   第１項ないし第２０項のいずれかに記載の装置。 ２２ 位相比較装置１０１の出力信号をソレノイ
   ド制御装置に供給し、該ソレノイド制御装置が中
   央のサーチを回避するために第３の楔形プリズム
   を光路中に挿入することを特徴とする特許請求の
   範囲第１９項に記載の装置。 ２３ 駆動手段（低速の直流または交流モータ、
   またはステツプモータ）のスキヤナの第１の楔形
   プリズム１６a′が早い回転運動を行う第２の楔形
   プリズム１６b′と準安定的に関係して駆動され、
   サーチ面のサーチ光束の誘導が一定速度で中央領
   域を円形状に通過するように行い、徐々に且つ安
   定的なシフトもしくは増分ステツプ移動によるシ
   フトで第１の楔形プリズム１６a′の動きによつて
   決定される一定半径の曲線に沿つて行うようにし
   たことを特徴とする特許請求の範囲第１項ないし
   第２２項のいずれかに記載の装置。 ２４ パターンの記録１３１と主シンボルの表現
   １３０とがカード１３４上の共通の場所且つ反対
   側に重複して配置されていること、および 試験器が、光学的検出および比較の実行のため
   の共通の光路上に、パターン比較および主シンボ
   ル比較のための光束を結合する素子１２６から共
   通出力検出器１２０までの共通の光学的ベンチを
   有すると共に、始め分離した光束を発生しある時
   間的シーケンスにおいてトリガされるパターン比
   較用および主シンボル比較用のそれぞれの発光装
   置１２８，１３２を有すること、 を特徴とする特許請求の範囲第１項ないし第２３
   項のいずれかに記載の装置。 ２５ パターン比較用および主シンボル比較用の
   それぞれの発光装置の光束を結合する光学的素子
   １２６が可動な傾倒鏡もしくは半透明素子（ビー
   ムスプリツタ）である特許請求の範囲第２４項に
   記載の装置。 ２６ 発光装置１２８，１３２の発光手段が発光
   ダイオードLED１３６，１３７である特許請求
   の範囲第２４項または第２５項に記載の装置。 ２７ 電気的評価回路１３７から照明調整用の発
   光手段の駆動回路１３５への帰還線においてセン
   サ回路１４１を接続し、該センサ回路は、帰還線
   において、急激に且つ照明のゆらぎを補償する電
   圧を検出して、エラー認識のために該電圧を評価
   することを特徴とする特許請求の範囲第１項ない
   し第２６項のいずれかに記載の装置。 ２８ 装置に記憶された主シンボルはゼロ位置に
   対して外部から知ることができない所定の角度
   （絶対回転角）に配置され、主シンボルは、不法
   に装置が開かれた場合に、前記ゼロ位置に復帰す
   ることを特徴とする特許請求の範囲第１項ないし
   第２７項のいずれかに記載の装置。 ２９ 主シンボルが互いに重複した部分主シンボ
   ル領域を有し、該部分主シンボル領域が絶対回転
   角に加えて相互に関係する所定の調整可能な相対
   角−ゼロ位置に対して−を取入れ、該相対角は、
   不法に装置が開かれた場合に、前記ゼロ位置に復
   帰することを特徴とする特許請求の範囲第１項な
   いし第２８項のいずれかに記載の装置。 ３０ カードが、２以上のパターンの重複された
   表現を有する特許請求の範囲第１項ないし第２９
   項のいずれかに記載の装置。 ３１ 識別特性を向上させるために、単色光もし
   くは多色光による照明を行い、相対的な単色光の
   周波数帯域に応答する検出器を設けたことを特徴
   とする特許請求の範囲第１項ないし第３０項のい
   ずれかに記載の装置。 ３２ パターンの画像もしくは主シンボルの画像
   を、カード上に置く代りに、アナログもしくはデ
   イジタル的に記憶装置に記憶させておき、所有者
   コードが与えられた場合、比較場所へ運ぶように
   したことを特徴とする特許請求の範囲第１項ない
   し第３１項のいずれかに記載の装置。 ３３ パターンは、記憶装置にはアナログもしく
   はデイジタル的に記憶され、比較のためにはアナ
   ログ的に提供される、ことを特徴とする特許請求
   の範囲第３２項に記載の装置。 ３４ 光学軸に位置づけられた光源（ランプスパ
   イラル）の光発生領域が、くさび形プリズム１６
   ａ，１６ｂの走査運動に際して光検出器１２に対
   する光学的位置の変化を回避するように集束させ
   られるようになつている、特許請求の範囲第１項
   記載の装置。 ３５ 照射装置の光ビームを結合する光学要素１
   ２６の後方に配置された光学ベンチの共通の要素
   がスキヤナ１２４に先行する第１のレンズ１２５
   を包含し、該スキヤナがくさび形回転プリズムを
   包含し、該スキヤナの後方にさらなるレンズ１２
   ３が設けられている、特許請求の範囲第２４項記
   載の装置。 ３６ スキヤナの後方にあるさらなるレンズ１２
   ３にひきつづいて光学ベンチを完成させるため
   に、主シンボルおよびパターンを有する識別カー
   ドを担持するカード保持器１２２が設けられ、さ
   らなるレンズ１２１が出力検出装置１２０の直前
   に設けられている特許請求の範囲第３５項記載の
   装置。 ３７ 一つのパターンと、カード、識別カード、
   クレジツトカード、キイ同様のカード、または識
   別文書等上に位置するパターンの記録された第１
   のパターンとの比較を行うパターン比較装置であ
   つて、 光源、 基台上に対象物を適用することにより直接に得
   られる対象物パターンまたは該対象物パターンの
   記録された第２の画像と該対象物パターンの記録
   された第１の画像を比較するための光学系、 探索用運動を行うスキヤナ、 光電変換式検出装置、および、 該光電変換式検出装置に接続された電気的評価
   手段であつて該検出装置の信号に包含されパター
   ンの各個についての識別により得られた識別パル
   スが試験基準にもとづく試験を受け、該試験の結
   果が調整可能なしきい値と比較され、しきい値が
   超えられていると「良好」表示を発生させるも
   の、 を有するパターン比較装置において、 該スキヤナ９が、回転運動を行うよう電動機に
   より相異なる速度で駆動される離隔した第１およ
   び第２のくさび形プリズム１６ａ，１６ｂを包含
   し、 基本振動信号に対する識別パルスの振幅の百分
   率相関比を決定するための第１の試験基準回路ブ
   ロツク２３に加えて、少なくとも２個の追加の回
   路ブロツク２４，２５，２６，２７，２８が設け
   られ、該追加の回路ブロツクは識別パルス１４，
   １５ａ，１５ｂの比較試験を行うためのものであ
   り、該識別パルスは検出装置信号に包含されるさ
   らなる電気的可変値またはさらなるデータ、すな
   わち高周波高調波振動信号、直流電圧信号、また
   は識別パルスの個別の出現に関係する時間間隔Ｔ
   の基準測定値等、についての識別の場合に発生す
   るものであり、 比較を行うブロツク２３，２４，２５，２６，
   ２７，２８の各個の出力信号は共通の加算増幅器
   ４３′に供給され、該加算増幅器には全出力信号
   を所定のしきい値と比較するために比較器４５′
   が接続されている、 ことを特徴とするパターン比較装置を使用する方
   法であつて、 電気的可変値（検出装置信号）の時間的経過に
   おいてその都度のパターンの同一性により発生す
   る同定パルスが種々の試験基準の支配下におか
   れ、 その結果が調整可能のしきい値と比較され、 その場合に、しきい値を超過したときに「良
   好」表示を発生させる、 ことを特徴とするパターン比較装置を使用する方
   法。 ３８ １つより多くの試験基準について、結果
   が、対しきい値比較の前又は後において、合計さ
   れることを特徴とする、特許請求の範囲第３７項
   記載の方法。 ３９ 試験的比較が、比較を行う時点における光
   学的、光屈折性装置上への入力対象物パターンの
   直接載置によつて得られる画像と、カード、証拠
   文書、クレジツトカード、鍵類似のカード部分、
   身分証明書等に表示されているパターンの記録と
   の間で行われることを特徴とする、特許請求の範
   囲第３７項または第３８項に記載の方法。 ４０ パターンの比較が１つの担体上に配列され
   た２個のパターン記録の間で行われ、そのとき
   に、該記録の１つがパターン画像を直接に得る位
   置へ進み、光学的光線束によつて、照射または透
   射されることを特徴とする、特許請求の範囲第３
   ７項に記載の方法。 ４１ １つのパターン記録又は１つの直接得られ
   たパターン画像が、同定の確実性を高めるため
   に、同一の記録の少くとも２個、特に多数個と比
   較されることを特徴とする、特許請求の範囲第３
   ７項ないし第４０項のいずれかに記載の方法。 ４２ １つの画像又は１つの記録の繰返しの比較
   が、並列的にかつ事実上等しい時間（記録領域に
   おける１つの走査サイクルにおいて）に、行われ
   ることを特徴とする、特許請求の範囲第４１項に
   記載の方法。 ４３ 記録領域における多数の相異なるパターン
   記録が、種々の、しかし比較時点においてその都
   度直接に得られるパターン画像と時々継続的に比
   較されることを特徴とする、特許請求の範囲第３
   ７項ないし第４２項に記載の方法。 ４４ プリズム５による反射により得られたパタ
   ーンの画像が、相互に並列に置かれた２個の楔状
   プリズムの回転により記録の平面内におけるらせ
   ん状探索運動の支配下におかれ、その態様は、画
   像と記録との被覆一致状態の開始のたびごとに、
   明瞭にきわ立つた相異なる１つの光学的なエネル
   ギ状態が達成されるものである、ことを特徴とす
   る、特許請求の範囲第３７項記載の方法。 ４５ パターンが比較されるべき入力対象物をプ
   リズム５に載置することにより該プリズムの内部
   の反射特性が変化させられ、該変化の態様は、パ
   ターンの反射画像と記録とが被覆一致状態となつ
   たとき、最大光学的減衰状態に到達し、 該最大光学的減衰状態は光学的光線束の電気的
   値への光電的変換により、負の同定パルスとして
   認められ得るようにするものである、ことを特徴
   とする特許請求の範囲第３７項または第３８項に
   記載の方法。 ４６ 主シンボルの画像がカード上のパターンと
   並列させられ、該主シンボルの画像はパターンの
   比較のための時間状態において試験装置内に配置
   された主シンボル画像と比較されるものである、
   ことを特徴とする特許請求の範囲第３７項ないし
   第４５項のいずれかに記載の方法。 ４７ パターンの画像と主シンボルの画像とが、
   カード上において、同じ場所に、重なり合つて配
   列されることを特徴とする特許請求の範囲第４６
   項に記載の方法。 ４８ 光学的エネルギを変換する光学的検出装置
   の出力信号が、並列的に、試験基準の多数の支配
   下におかれ、該試験基準は、負の同定パルスの振
   幅を負の同定パルスの発生の時点において存在す
   る基礎振動の振幅に対して比較試験すること（百
   分率相関度）、 負の同定パルスの振幅をより高い周波数の妨害
   信号の振幅に対して比較試験すること（−Ｐ／Ａ
   試験基準）、 負の同定パルスに付随する正のパルスの振幅を
   高周波の妨害信号の平均値と比較試験すること、 負の同定パルスの振幅を検出信号内に存在する
   直流レベルの高さと比較すること（増幅）、およ
   び場合によつては、 負の同定パルスの反復的発生の時間間隔Ｔの測
   定、 を含むものであることを特徴とする特許請求の範
   囲第３７項ないし第４７項のいずれかに記載の方
   法。 ４９ 比較測定の開始とともに、記録担持体（カ
   ード２）を載置するカード支持体３が付加的な機
   械的転位運動、特に回転運動の支配下におかれ、
   それにより、時々、達成される被覆一致の幾何学
   的補正により比較結果の最適化を行うことを特徴
   とする、特許請求の範囲第３７項ないし第４８項
   のいずれかに記載の方法。 ５０ 比較を行う測定結果の第１の値が中間的に
   記憶され、第２の機械的な修正したカード支持体
   の転位運動によつて発生する値と比較されること
   を特徴とする、特許請求の範囲第４９項に記載の
   方法。 ５１ 光源光度を変化させることにより、比較に
   必要な電磁的放射エネルギ（光）の一定のレベル
   保持されることを特徴とする、特許請求の範囲第
   ３７項ないし第５０項のいずれかに記載の方法。 ５２ 光学的歪み装置（レンズ、円筒状レンズを
   有する望遠鏡）の１つを光学的比較装置のビーム
   通路内へ導入することにより、ビーム通路が、記
   録される型の作成の過程においても測定の過程に
   おいても、虚偽のものから保護されるように、特
   別の光学的コードの態様において、歪ませられる
   ことを特徴とする、特許請求の範囲第３７項ない
   し第５１項のいずれかに記載の方法。 ５３ 同定用担持体上において一方のパターンと
   他方の主シンボルとの重複表示が同時に光学的に
   照射されかつ、点検されるが、所定のパターンと
   の比較または記憶装置に記憶された主シンボルと
   の比較は時間的に連続的に行われることを特徴と
   する、特許請求の範囲第４６項または第４７項に
   記載の方法。 ５４ まず、主シンボル比較を行うための照射装
   置１３２がトリガされ、主シンボルの画像を担持
   するビームが、与えられた位置から共通の光線ビ
   ーム通路を通り出力検出装置まで送られ、そして
   最後に、主シンボル比較の結果生ずる同定パルス
   の評価が行われた後、パターン用の照射装置１２
   ８がトリガされ、パターンの画像を潜在的に担持
   するビームが共通通路に沿う同じ位置において出
   力検出装置まで送られることを特徴とする、特許
   請求の範囲第５３項に記載の方法。 ５５ 探索運動の間相互に僅かに相異なる速度に
   おいて回転する、走査装置の楔状プリズムの位相
   差が光学的検出装置により検出され、関連する矩
   形パルスの列へ変換されそれにより、１つの完全
   な走査周期において、走査面の実質的に中心領域
   において、走査が低い直線速度において行われ
   る、与えられた時間長を測定する、ことを特徴と
   する特許請求の範囲第３７項ないし第５４項のい
   ずれかに記載の方法。 ５６ 走査面の中心領域がパターンを走査する光
   学ビームの所定の部分に到達したとき、同定操作
   が中断させられる、ことを特徴とする特許請求の
   範囲第５５項に記載の方法。 ５７ 走査周期における中央領域に到達したと
   き、更に他の光学要素（第３の楔状プリズム）が
   導入され、該他の光学要素はビーム通路を走査領
   域の縁部へ偏向させる、ことを特徴とする特許請
   求の範囲第５５項に記載の方法。 ５８ 第３の楔状プリズムを移動させるソレノイ
   ドが位相比較装置１０１の出力により作動させら
   れる、ことを特徴とする特許請求の範囲第５７項
   に記載の方法。 ５９ 第３の楔状プリズムが、基本的振動におけ
   る試験基準同定パルスの結果（Ｐ／SG）が直流
   レベルにおける試験基準同定パルスの結果（Ｐ／
   DC）より小であるときにのみ、ビーム通路内へ
   導入される、ことを特徴とする特許請求の範囲第
   ５７項または第５８項に記載の方法。 ６０ 探索運動の１つの完全な走査周期が、走査
   装置の楔状プリズム１６ａ，１６ｂが新たに幾何
   学的平衡に達した時点において終了し、そのとき
   に、基本回転速度により決定される、１つの完全
   な走査周期に２度出現する同定領域１０５ａ，１
   ０５ｂの各個の同定パルス１４の時間間隔が、
   「良好」表示の正確度に対する更に他の試験基準
   として利用される、ことを特徴とする特許請求の
   範囲第３７項ないし第５４項のいずれかに記載の
   方法。 ６１ 非中央の走査領域における少くとも３個の
   引続く同定パルスが、与えられた時間間隔におけ
   る更に他の試験基準に対する要求として評価され
   る、ことを特徴とする特許請求の範囲第６０項に
   記載の方法。 ６２ カード支持装置７６の回転的探索運動は、
   新しい増分回転運動が、１つの同定領域１０５
   ａ，１０５ｂが１つの全走査周期内に完了するご
   とに発生する、すなわち新しい増分回転運動が１
   つの走査周期において２回発生する、ように適合
   させられる、ことを特徴とする特許請求の範囲第
   ３７項ないし第６１項のいずれかに記載の方法。 ６３ 走査装置により偏向させられる光線ビーム
   の探索運動は、走査装置を形成する光学的部分要
   素の１つ（第１の楔状プリズム１６a′）の回転運
   動が第２の光学的部分要素（第２の楔状プリズム
   １６b′）の高速の定常回転運動に対して準静止的
   に保持されるように、行われ、該探索運動は、走
   査の結果に関して認知可能である偏向角度の変化
   が第１の光学的部分要素１６a′の段階的な定常的
   または増分的な緩慢な回転運動により行われる態
   様で、行われ、該回転運動は第２の光学的部分要
   素１６b′が少くとも１つの完全な円形偏向動作を
   行つたときに生起し、また、中央走査領域を協働
   する部分走査領域において一定の直線速度を有す
   る光ビームに重複させる、ことを特徴とする特許
   請求の範囲第３７項ないし第５４項のいずれかに
   記載の方法。