JPS6339960Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6339960Y2
JPS6339960Y2 JP3293681U JP3293681U JPS6339960Y2 JP S6339960 Y2 JPS6339960 Y2 JP S6339960Y2 JP 3293681 U JP3293681 U JP 3293681U JP 3293681 U JP3293681 U JP 3293681U JP S6339960 Y2 JPS6339960 Y2 JP S6339960Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
curved
gas
filter
reaction chamber
pipe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP3293681U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57146329U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP3293681U priority Critical patent/JPS6339960Y2/ja
Publication of JPS57146329U publication Critical patent/JPS57146329U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPS6339960Y2 publication Critical patent/JPS6339960Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Weting (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は半導体気相生成装置(CVD装置)、プ
ラズマCVD装置、プラズマエツチヤ等主に、減
圧状態下の気相熱化学反応により、半導体基板
(ウエーハ)表面にコーテイング、エツチング等
の処理を行う半導体気相処理装置に使用するフイ
ルタに関する。
気相生成装置(以下CVD装置という)におい
ては、常圧式に比べ、量産性と膜厚等の均一性の
良い減圧式CVD装置が普及している。又近年、
生成温度を低く出来る利点からプラズマCVD装
置が普及しつつあり、エツチング工程の高精度化
を目指してプラズマエツチヤが普及しつつある。
これ等の装置はいずれも真空ポンプを使用して反
応室内を半導体基板の処理に適した圧力状態に保
ちつつ反応室内の半導体基板を、処理に適したガ
スを導入することにより熱化学反応を起させて気
相処理するという共通点を持つている。導入され
たガスは100%処理に使われる事はなく、一部の
ガスは生ガスのまま、あるいは反応室空間で化学
反応を起して微粉体となり、真空ポンプにより吸
引排気され、又一部のガスは反外管壁その他に吸
着し、粉体状あるいは結晶状の析出物となる。こ
の析出物は非常に不安定であり、ポンプによる吸
引のガスの流れやボートの出入時の摩擦や振動で
剥離し、やがてポンプに吸引される。
一方、上記の気相処理に適した圧力領域(0.01
〜10Torr程度)で使用し得る真空ポンプは油回
転真空ポンプ(ロータリーポンプ)、メカニカル
ブースターポンプ等の機械式ポンプが主であり、
従つて前記粉体等の析出物の吸引は潤滑油を劣化
させ、摺動部を損傷し、潤滑油の供給口をふさい
で潤滑不良を起す等、ポンプの寿命を致命的に短
くし、極端な場合、ポンプの保守のための停止時
間により量産性の利点が損なわれることがあつ
た。ポンプ寿命を長くし、保守を容易にするため
の試みは従来より行われている。その主なものは
ロータリーポンプにオイルタンクを配管を介して
連結して油を循環させる事によりオイル劣化の時
間を延長する装置や、更にこの装置の配管の途中
にフイルタおよび油循環ポンプを設けて、油を濾
過し、混入粉体を取除くようにした装置及び気相
処理に使用していない時間を利用し、ロータリー
ポンプのシリンダ内に油を比較的多量に導入し、
シリンダ内の異物をポンプ自身の回転を利用して
洗浄するようにした装置等である。これ等はポン
プ内に吸引してしまつた異物への対策であり、ポ
ンプに吸引する量を減らす対策とはならない。
異物吸入を事前に阻止するためにはポンプ前に
フイルタを設ければ良いが、減圧気相処理を良好
に行うための圧力条件は非常に微妙であり、前記
した微粉体状生成物の通過を阻止するための緻密
なフイルタを仮に設けたとすれば極端な場合、一
回の処理工程内で目詰りを起し圧力条件が変化し
て、安定な処理を行う事が出来ない。フイルタの
目を粗くし、何回かの処理工程に亘つて使用でき
るようにすると、比較的短時間の内にフイルタの
清掃又は交換とポンプの保守の両方を行わねばな
らず結局保守点検の内容が多くなる。従つてポン
プ前には結晶化した粗大な固形生成物を阻止する
程度の目の粗い網を使用したフイルタを設けてい
るのが現状であり、むしろその結果として前記し
たロータリーポンプへの種々の対策が行われてき
ているといえる。
しかしながらメカニカルブースターポンプの如
く、ポンプ作用に油を使わないポンプへの微粉体
状生成物の影響は前記対策では救えず、ロータリ
ーポンプでも多量の粉体を吸引してしまつてから
処理するより事前に吸引を阻止する方が合理的で
ある事はいうまでもない。
そこで本考案は、上記の点に鑑みてなされたも
のであつて、短時間内に目詰りを起さず、実用上
十分な回数の気相処理工程を安定に使用し得るフ
イルタを提供しようとするものである。以下図面
に従つて本考案の一実施例を説明する。
第1図は本考案の一実施例を示す縦断面図、第
2図はそのA−A線横断面図である。1は半導体
気相処理装置の反応室に入口側フランジ2aで連
結される入口側管端部2を有する第1曲管で、3
はその出口側管端部である。4は真空ポンプに出
口側フランジ5aで連結される出口側管端部5を
有する第2曲管で、6はその入口側管端部であ
る。第1曲管1の出口側管端部3と第2曲管4の
入口側管端部6はそれぞれこれらを直径の異なる
外、内管とする同心の二重管構造になつている。
この第1,第2曲管1,4の二重管端部には、所
望数のフイルタカートリツジ7が気密に交換可能
に連結して取付けられ、かつ第1曲管1よりフイ
ルタカートリツジ7を通して第2曲管4に連通す
るガス流路が構成されている。フイルタカートリ
ツジ7の使用数とその取付け構造及びガス流路の
構成は特に限定しないが例えば図例の如くとす
る。即ち、第1曲管1の出口側管端部3に設けた
フランジ3aに、フイルタカートリツジ7の使用
数に応じて定まる長さの複数個のクランプロツド
8の基部を枢着し、第1,第2曲管1,4の二重
管端部に、所要数のフイルタカートリツジ7及び
端板9を順次真空シール用Oリング10を介して
連結してこれらを端板9のクランプ嵌挿溝9a内
に嵌挿したクランプロツド8の先端ネジ部11に
クランプナツト12を螺合せしめて取付けた構成
とする。
またフイルタカートリツジ7は第1,第2曲管
1,4の二重管端部に連結する第1,第2管体1
3,14と、この第1,第2管体13,14の一
端部間及び他端部間にそれぞれ嵌着した環状網板
15a,15bと、この環状網板15a,15b
に挾まれた第1,第2管体13,14間の環状空
間を軸方向に仕切る仕切用網板16a〜16c
と、この仕切用網板16a〜16cによつて仕切
られた空間内に充填されガスとの接触面積が極め
て大きく、かつ無数のガス通路を有せしめた濾過
材17とより構成する。
第1曲管1の出口側管端部3に設けたフランジ
3aには冷却水通路18を備えており、第1,第
2曲管1,4及びフイルタカートリツジ7の全体
を冷却してガスの凝縮及び生成物の結晶化を促進
するようにしている。又、端板9には濾過材17
の目詰り状態を監視するための覗き窓19を設け
てフイルタカートリツジ7の交換、洗浄時期を知
ることができるようになつている。覗き窓19の
代りにダストメータを設けてもよい。
なお、20は第1曲管1の出口側管端部3に設
けたフランジ3aの内周に嵌着したフイルタカー
トリツジ7の取付用ガイドリングであり、Oリン
グ10への真空引き込み力を内側より支える役目
も成すが出口側管端部3と一体構造でもよい。ま
た濾過材17としては、例えば金網、多孔板等を
彎曲させたもの又はパイプ状の小片等を用いるこ
とができ、これらはいずれも充填時に互いに密着
してガス通路を塞ぐことなく、無数の不規則なガ
ス通路を形成し、かつガスとの接触面積も極めて
大きく、ガス中に含まれる粉体状、結晶状の異物
除去に最適である。
本考案は上記のような構成であるから、第1,
第2曲管1,4の入口側管端部2及び出口側管端
部5をそれぞれ入口側フランジ2a及び出口側フ
ランジ5aで反応室及び真空ポンプに連結すれ
ば、反応室を出たガスは第1曲管1よりフイルタ
カートリツジ7の第1,第2管体13,14間に
嵌着した入口側の環状網板15aを通過して濾過
材17の多数の通路を通り、多くの表面積と接触
してガス中に含まれている微粉状、結晶状の異物
が除去される。この際、図例のように冷却水通路
18を設けてこれに冷却水を流通させれば、第
1,第2曲管1,4及びフイルタカートリツジ7
が冷却されてガスの凝縮及び生成物の結晶化が促
進され、異物の除去作用が向上する。異物の除去
されたガスは出口側の環状網板15bを通過し端
板9との間の空間部を経て中心部の第2管体14
内を通り、第2曲管4を経て真空ポンプにより吸
引排気される。フイルタカートリツジ7が目詰り
したら、クランプナツト12を緩めクランプロツ
ド8の先端ネジ部11を端板9のクランプ嵌挿溝
9aより離脱すれば、フイルタカートリツジ7を
取外し新品と交換するか、洗浄再生して再度取付
けることができる。なお、網板15a,15bを
目の粗いものとしておけば、ガスの流れを阻害さ
れず、かつ洗浄再生の際も容易にできる。また、
仕切用網板16a〜16cは濾過材17を環状空
間に均一に分配し、かつ第1,第2管体13,1
4を一体に固定するのに役立つが設けなくても差
し支えない。
上述の説明より明らかなように本考案によれ
ば、第1,第2曲管部を反応室と真空ポンプに連
結したまま、即ち、真空排気系の連結構造を維持
したままフイルタカートリツジの交換、洗浄再生
が容易にできるばかりでなく、目詰りもガスとの
接触面積が極めて大きく、かつ無数のガス通路を
有せしめた濾過材の使用により長期間に亘つて起
らず、半導体基板の気相処理の量産化を損うこと
がない等の効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す縦断面図、第
2図はそのA−A線横断面図である。 1……第1曲管、2……入口側管端部、2a…
…入口側フランジ、3……出口側管端部、3a…
…フランジ、4……第2曲管、5……出口側管端
部、5a……出口側フランジ、6……入口側管端
部、7……フイルタカートリツジ、8……クラン
プロツド、9……端板、9a……クランプ嵌挿
溝、10……真空シール用Oリング、11……先
端ネジ部、12……クランプナツト、13……第
1管体、14……第2管体、15a,15b……
環状網板、16a〜16c……仕切用網板、17
……濾過材。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 反応室内を真空ポンプにより適正減圧下に保持
    しながら反応室内の半導体基板をガスの導入によ
    り熱化学反応を起させて気相処理する装置の反応
    室と真空ポンプとの間に使用されるフイルタにお
    いて、反応室に連結される入口側管端部を有する
    第1曲管の出口側管端部と、真空ポンプに連結さ
    れる出口側管端部を有する第2曲管の入口側管端
    部をそれぞれ直径の異なる外、内管とする同心の
    二重管構造とし、この第1,第2曲管の二重管端
    部に、所望数のフイルタカートリツジを気密に交
    換可能に連結して取付け、かつ第1曲管よりフイ
    ルタカートリツジを通して第2曲管に連通するガ
    ス流路を構成すると共に、フイルタカートリツジ
    は第1,第2曲管の二重管端部に連結する第1,
    第2管体と、この第1,第2管体の一端部間及び
    他端部間にそれぞれ嵌着した環状網板と、この2
    つの環状網板に挾まれた第1,第2管体間の環状
    空間内に充填されガスとの接触面積が極めて大き
    く、かつ無数のガス通路を有せしめた濾過材とよ
    り構成したことを特徴とする半導体気相処理装置
    用フイルタ。
JP3293681U 1981-03-09 1981-03-09 Expired JPS6339960Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3293681U JPS6339960Y2 (ja) 1981-03-09 1981-03-09

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3293681U JPS6339960Y2 (ja) 1981-03-09 1981-03-09

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS57146329U JPS57146329U (ja) 1982-09-14
JPS6339960Y2 true JPS6339960Y2 (ja) 1988-10-19

Family

ID=29830315

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3293681U Expired JPS6339960Y2 (ja) 1981-03-09 1981-03-09

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6339960Y2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6197119B1 (en) * 1999-02-18 2001-03-06 Mks Instruments, Inc. Method and apparatus for controlling polymerized teos build-up in vacuum pump lines

Also Published As

Publication number Publication date
JPS57146329U (ja) 1982-09-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6361607B2 (en) Apparatus for controlling polymerized teos build-up in vacuum pump lines
JP2008098283A (ja) 排気系、捕集ユニット及びこれを用いた処理装置
TW201535567A (zh) 用於減少落下粒子缺陷之底部泵與淨化及底部臭氧清潔硬體
US20070266944A1 (en) Film Forming Apparatus and Vaporizer
KR20090102183A (ko) 입자 관성을 이용한 반도체 공정에서의 잔류 케미칼 및부산물 포집장치
US5931349A (en) Viscous fluid discharging apparatus for manufacturing semiconductors having a removable bubble capturing portion
CN1257999C (zh) 基片处理过程中用于消除废白粉的装置
KR20030081592A (ko) 반도체 제조설비의 배기라인 부산물 제거장치
KR200211274Y1 (ko) 반도체웨이퍼증착장비의잔류부산물포집장치
KR102695925B1 (ko) 반도체 제조 장치
JP2845422B2 (ja) プラズマcvd装置
KR101323214B1 (ko) 파티클 제거장치 및 이를 이용한 기판처리장치
EP1914423A2 (en) Trap apparatus and trap system
CN221452112U (zh) 一种含粉末尾气的处理装置
CN213885246U (zh) 一种真空转鼓过滤机
US6176901B1 (en) Dust precipitator
KR20100093338A (ko) 파티클 제거장치
JP3433998B2 (ja) 濾過装置及びそれによる真空ポンプ系保護方法
US6458212B1 (en) Mesh filter design for LPCVD TEOS exhaust system
JPH0250761B2 (ja)
KR20240123593A (ko) 기체, 입자 및 분진의 물리적 물성 및 화학 특성을 이용한 반도체 및 fpd 공정의 기체 및 부산물 제거 장치
JP7836416B2 (ja) 化学気相成長装置
CN215799877U (zh) 一种反应腔的排气装置及薄膜沉积设备
KR100741579B1 (ko) 화학기상증착 장비의 웨이퍼 히팅 장치
JPH09243419A (ja) 液体試料の吸引装置