JPS6343100B2 - - Google Patents

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JPS6343100B2
JPS6343100B2 JP55149894A JP14989480A JPS6343100B2 JP S6343100 B2 JPS6343100 B2 JP S6343100B2 JP 55149894 A JP55149894 A JP 55149894A JP 14989480 A JP14989480 A JP 14989480A JP S6343100 B2 JPS6343100 B2 JP S6343100B2
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JP
Japan
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ray
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radiation
distance
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Expired
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JP55149894A
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English (en)
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JPS5772630A (en
Inventor
Kaoru Machida
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Priority to US06/311,965 priority patent/US4464777A/en
Priority to DE8181304875T priority patent/DE3163232D1/de
Priority to EP81304875A priority patent/EP0050510B1/en
Priority to KR1019810004058A priority patent/KR850001490B1/ko
Publication of JPS5772630A publication Critical patent/JPS5772630A/ja
Publication of JPS6343100B2 publication Critical patent/JPS6343100B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、コントラスト解像力の優れた(すな
わち、その階調度のダイナミツクレンジの広い)
被検体透過像を得る放射線診断装置に係り、特に
被検体細部の拡大表示を可能とする放射線診断装
置に関するものである。
通常のX線診断装置によるX線フイルム上の被
検体透過像とCTスキヤナ(コンピユータ断層装
置)による断層像とを画質評価の観点で比較した
場合、空間解像力では前者の方が優れているがコ
ントラスト解像力(つまり階調識別能力)では後
者が少なくとも15〜20倍優れている。従つて、例
えば肺の内部組織の診断、肝、胆、膵、脾の診断
など、高いコントラスト解像力が要求される診断
分野に対しては前者のみでは不充分である。この
ため、X線ビームを1つの平面上に扇形状に放射
するX線源を用いたCTスキヤナ(いわゆるフア
ンビーム型CTスキヤナ)において、X線源およ
びX線検出器(検出器セルの配列方向を直線とみ
なしそれをY方向と定義する。)を被検体に対し
て、前記扇形を含む平面に垂直の方向(これをX
方向と定義する。)に相対的に移動させることに
より、そのコントラスト解像力が、CT断層像と
ほぼ等しい、デジタル的なX線透過像を作ること
が、行なわれている。然るに、このようにCTス
キヤナを用いてX線透過像を得ることの目的は、
本来、所望のCT断層像を得るためのスライス位
置を決めるに当つての参考とすることにあり、前
述の診断分野の診断にはコントラスト解像力と同
様に高い空間解像力も必要となるので、前述の
CTスキヤナによるX線透過像は適当ではない。
すなわち既存のCTスキヤナの場合X線検出器は、
検出器セル数、つまりチヤネル数が500〜1000程
度であり、CT断層像を得るためにはX線検出器
セル列のY方向の長さが被検体当該部位の体幅長
をカバーしなければならないので、分解能(特に
Y方向)が制限され前記診断分野に要求されるよ
うな高い空間解像力は望めない。またCTスキヤ
ナでは、X線源−被検体間距離(この対向方向を
Z方向と定義する。)を大幅に変化させることは
機構的に難しく、この距離を変えて拡大透過像を
得ることは容易ではない。仮に前記距離を変え得
ても、前述のX線透過像を得るためのX方向への
相対的な移動速度、該移動に伴なう前記X線源に
よるX線曝射時間および曝射時間間隔並びにデー
タ収集手段のサンプリング、タイミングを適切に
選択制御することはできないために、拡大率が、
X、Y方向でそれぞれ異なつて(画素の幅が方向
により異なつて)しまい、正確な拡大表示像は得
られなかつた。このことはCTスキヤナのみなら
ず、その基本構成をCTスキヤナと同じくするデ
イジタル的なX線透過像を得る為に構成された専
用装置についても該当する。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたもの
で、1つの平面上に扇形を形成する放射線ビーム
を発生する放射線源と、該放射線ビームをそれぞ
れ予定角度間隔で検出するように多数配列された
検出器セルからなる放射線検出器の両者を被検体
に対し相対的にX方向に移動させることにより被
検体透過像を得る放射線診断装置において、さら
に放射線源−被検体間距離を変化し得るようにす
るとともに、該変化に対応して、前記放射線源か
らの放射線の曝射時間および曝射時間間隔、さら
に放射線検出器の出力情報をサンプリング収集す
るデータ収集手段のサンプリング・タイミングを
制御することにより、所望の拡大率の高精度の被
検体透過像を低被曝線量で得ることを可能とする
放射線診断装置を提供することを目的とする。
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明す
る。
第1図は本発明による放射線診断装置の一実施
例の構成を示すシステム・ブロツク図である。
図において、1はその主回路にスイツチング素
子1aを持つX線制御装置、2は変圧器などから
なる高電圧発生装置、3はX線管を用いたX線
源、4はX線源3から発せられるX線ビームを1
平面上に扇形に放射させるためのコリメータ、5
は被検体、6は被検体5を支持し且つX方向のみ
ならずZ方向についても手動または電動により移
動可能な寝台、7はSi(シリコン)単結晶または
Xe(キセノン)ガスのセルからなる多数の検出器
セルで構成されX線源3からコリメータ4を介し
て放射されたX線ビームXBを予定角度間隔で検
出するX線検出器、8は後述する制御信号S1に
よりX線検出器7の出力をサンプリング入力する
データ収集回路、9は寝台6のZ方向の位置を検
出するために一端を電源+Vに接続し、他端を接
地し且つ可動端を寝台6のZ方向動作に連動させ
た可変抵抗、10は可変抵抗9の出力アナログ信
号S2に基づいて、その繰り返しパルス周期およ
びパルス幅が決定される制御信号S1を発生する
PFM(パルス周波数変調)回路、11はデータ収
集回路8から得られる被検体5の各点のX線透過
データを順次蓄積し、さらに所望の画像処理を施
す記憶演算制御部、12は該記憶演算制御部11
の出力により被検体5のX線透過像を表示する表
示装置である。なおこの第1図において5A,6
Aは寝台6をZ方向に移動した場合の一状態を示
している。
第2図は、上記PFM回路10の一実施例の詳
細図であり、タイマ用IC(集積回路)である
「NE555V」I1、抵抗R1,R2、コンデンサ
C1,C2により構成される。
次に上述の構成における動作を説明する。
今、X線源3、コリメータ4およびX線検出器
7を被検体5に対し、X方向について相対的に一
定速度で移動させた時、上記扇形を含む平面と被
検体5の関心領域が交わる区間のみ、X線源3か
らX線ビームXBがX線制御装置1内のスイツチ
ング素子1aの開閉に従つて間歇的に照射される
ものとする。そして、被検体5、寝台6をX方向
に関して、以後関心領域を診断すべく関心領域の
X方向についての一端部位置にセツトし、X線源
3からコリメータ4を介して、被検体5にX線ビ
ームXBを照射し始める。このときX線検出器7
の各セルのY方向の間隔に対応する被検体5上の
間隔つまり被検体5上での投影X線パスの間隔d
1により、被検体5の透過像のY方向の空間解像
力は決定されるが、該透過像上でX方向、Y方向
で等しい拡大率を得るためには、前記相対的なX
方向の移動に際してd1の距離の移動毎に、X線
源3はパルス状にX線ビームXBを発生し、且つ
データ収集回路8はX線検出器7の出力信号をサ
ンプリング入力して、記憶・演算制御部11に予
定の変換データを転送しなければならない。これ
は前記X線源−被検体間距離を、その可動端が寝
台6と連動する可変抵抗9で検出し、その検出出
力であるアナログ信号S2をPFM回路10に入
力しさらに該PFM回路10で生成される制御信
号S1で、X線制御装置1内の主回路のスイツチ
ング素子1aの開閉およびデータ収集回路8のサ
ンプリング・タイミングを制御することで実現さ
れる。例えば、前記X線源−被検体間距離が小さ
い場合には制御信号S1の繰り返しパルス周期を
短かくすることにより、前記スイツチング素子1
aの開閉周期、および前記データ収集回路8のサ
ンプリング間隔を短かくすれば良い。こうして、
記憶・演算制御部9に順次格納された、被検体5
の各点のX線透過情報に基づいて、表示装置10
上には第3図に示すごとく、各画素がX、Y両方
向で等しい長さに、すなわち同じ拡大率で表示さ
れるため、正確なX線透過像が得られる。
次に、寝台6を移動して図示5A,6Aの状態
(これをA状態と定義する。)、つまり前記X線源
−被検体間距離が、当初の状態(O状態と定義す
る。)に比べて約半分になつた時について説明す
る。A状態ではX線透過像のY方向空間解像力は
O状態の約2倍である。然るに、このときPFM
回路10の出力制御信号S1がO状態と同一であ
つてはX方向の空間解像力はO、A両状態で変化
しないので表示装置10上のX線透過像は第4図
のごとく、X、Y方向で拡大率が異なつてしま
い、精密な診断には適さない。従つて前記X線源
−被検体間距離を可変抵抗9で検出し、O状態の
約2倍の値のアナログ電圧信号S2を作り、前記
PFM回路10から、その繰り返し周期がO状態
約半分の制御信号S1を出力させて前記スイツチ
ング素子1aおよび前記データ収集回路8を制御
する。こうして、O状態の他A状態あるいはそれ
以外の任意の拡大率であつても正確な拡大X線透
過像を得ることができる。
以上のようにすれば、従来のX線フイルム上に
被検体透過像を結ぶX線診断装置に比べ、コント
ラスト解像力が格段に優れたX線透過像が得られ
ることはもとより、パルス状の間歇曝射による必
要最少限のX線曝射により被検体の被曝線量の大
幅な低減も図れる。そして、幅広い拡大率レンジ
と間歇曝射によるサンプリング精度の向上によ
り、空間解像力の点でも、従来のX線フイルム上
への透過像に決して劣らない体内細部の拡大X線
透過像を得ることができる。また体内細部各点で
のX線透過情報が、デイジタル的に記憶されるの
で、診断に適した画像処理を随時施すことも可能
である。
なお、本発明は決して上記実施例にのみ限定さ
れることなく、その主旨を変更しない範囲で様々
に変形して実施し得るものである。
例えば上記実施例では放射線源および放射線検
出器として、それぞれX線源3(具体的にはX線
管装置)、X線検出器7を用いたが、ガンマ線源
およびガンマ線検出器としても良い。
また、放射線源−被検体間距離の検出手段とし
て例えば、寝台6の一端(被検体に接触しない場
所)に、超音波発生源を取りつけ、超音波を放射
線源に向けて送出し、その反射波を寝台6上で受
波検出し送受に要する時間により距離を検出する
ようにしても良い。
さらに、スイツチング素子としても、電磁開閉
器、サイリスタなどの半導体スイツチのいずれで
も構成でき、また、X線制御装置1内、すなわち
高電圧発生装置2の一次側のみならず、高電圧発
生装置2の2次側においてもテトロード(4極
管)スイツチなどにより実施することができる。
また、距離検出手段および制御信号発生手段
(つまり上記実施例では可変抵抗8およびPFM回
路10)を既存のCTスキヤナに付加し、且つ被
検体5を保持する寝台6をZ方向に駆動する手段
を設け他の部分を共通構成とすることにより、所
望の断層像を求めるためのスライス位置を極めて
正確に決定し得るようにすることができる。
以上、詳述したように本発明によれば、1つの
平面上に扇形を形成する放射線ビームを発生する
放射線源と、該放射線ビームをそれぞれ予定角度
間隔で検出するように多数配列された検出器セル
からなる放射線検出器の両者を被検体に対し相対
的にX方向に移動させることにより被検体透過像
を得る放射線診断装置において、さらに放射線源
−被検体間距離を変化し得るようにするととも
に、該変化に対応して前記放射線源からの放射線
の曝射時間および曝射時間間隔、さらに放射線検
出器の出力情報をサンプリング収集するデータ収
集手段のサンプリング・タイミングを制御するこ
とにより、所望の拡大率の高精度の被検体透過像
を低被曝線量で得ることを可能とする放射線診断
装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示すシステ
ム・ブロツク図、第2図は、同実施例における要
部の詳細図、第3図および第4図はそれぞれ同実
施例を説明するための図である。 1……X線制御装置、2……高電圧発生装置、
3……X線源、4……コリメータ、5……被検
体、6……寝台、7……X線検出器、8……デー
タ収集回路、9……可変抵抗、10……PFM回
路、11……記憶・演算制御部、12……表示装
置、1a……スイツチング素子。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 所定の平面内でフアンビームを放射する放射
    線源と、上記平面内の複数の分割された点で上記
    放射線を検出し該検出された放射線に応じて出力
    信号を出力する検出器と、上記放射線源と上記検
    出器との間に載置された被検体を支持する支持部
    と、上記放射線源と上記被検体との距離を調整す
    るように上記支持部を駆動設定しその距離に応じ
    た距離信号を発生する距離設定部と、上記支持部
    を上記フアンビームの平面に垂直な方向へ駆動す
    る駆動部と、この駆動部により上記フアンビーム
    の平面上を被検体が駆動される間上記検出器の出
    力信号をサンプリングし収集するデータ集収部
    と、上記距離信号により上記フアンビームの平面
    方向の拡大率とこの平面方向と垂直な方向との拡
    大率とが調和するように上記データ集収部の出力
    信号のサンプリング間隔を設定するサンプリング
    設定部と、上記データ集収部によつて収集された
    データにより上記被検体の透過像を表示する表示
    部とを設けたことを特徴とする放射線診断装置。 2 放射線源として、X線管装置を用いたことを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の放射線診
    断装置。 3 放射線源として、ガンマ線源を用いたことを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の放射線診
    断装置。
JP55149894A 1980-10-22 1980-10-25 Radioactive ray diagnostic apparatus Granted JPS5772630A (en)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55149894A JPS5772630A (en) 1980-10-25 1980-10-25 Radioactive ray diagnostic apparatus
US06/311,965 US4464777A (en) 1980-10-22 1981-10-16 Radiography apparatus
DE8181304875T DE3163232D1 (en) 1980-10-22 1981-10-19 Radiography apparatus
EP81304875A EP0050510B1 (en) 1980-10-22 1981-10-19 Radiography apparatus
KR1019810004058A KR850001490B1 (ko) 1980-10-25 1981-10-26 방사선 진단장치

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0619337B2 (ja) * 1984-10-19 1994-03-16 株式会社東芝 断層撮影装置
JPS61155758U (ja) * 1985-03-19 1986-09-27

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KR830007053A (ko) 1983-10-14
JPS5772630A (en) 1982-05-07
KR850001490B1 (ko) 1985-10-11

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