JPS6344134A - イメ−ジガイド方式放射温度計 - Google Patents
イメ−ジガイド方式放射温度計Info
- Publication number
- JPS6344134A JPS6344134A JP18806086A JP18806086A JPS6344134A JP S6344134 A JPS6344134 A JP S6344134A JP 18806086 A JP18806086 A JP 18806086A JP 18806086 A JP18806086 A JP 18806086A JP S6344134 A JPS6344134 A JP S6344134A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- infrared rays
- area
- image
- radiation thermometer
- image guide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分５ｆ）
未発ＩＮ＋は光学系にイメージガイドを使用した放射温
度計に関し、被柑定領域の面積が放射温１隻計の視野に
比して狭い場合でも精度の高い温度測定ができるように
したものである。
度計に関し、被柑定領域の面積が放射温１隻計の視野に
比して狭い場合でも精度の高い温度測定ができるように
したものである。
（従来技術）
従来用いられている放射温度計には大きく分けて次の二
つのタイプがある。
つのタイプがある。
一つはレンズ方式であり、これは第２図のように被測定
領域１から放射される赤外線をレンズ２によって集光し
、それを光電変換７ｋＹ−３によって一、＋？気信号に
変換した後、リニアライザ４や表示回路５によって温度
を表示するようにしたものである。
領域１から放射される赤外線をレンズ２によって集光し
、それを光電変換７ｋＹ−３によって一、＋？気信号に
変換した後、リニアライザ４や表示回路５によって温度
を表示するようにしたものである。
他の一つは光ファイバカ式であり、第３ｂ４のように被
測定領域１から放射される赤外線を文４物レンズ６で集
光し、それを光ファイバ７により伝送し、それを光電変
換素子３によって電気信−）に変換した後、リニアライ
ザ４や表示回路５によって温度を表示するようにしたも
のである。
測定領域１から放射される赤外線を文４物レンズ６で集
光し、それを光ファイバ７により伝送し、それを光電変
換素子３によって電気信−）に変換した後、リニアライ
ザ４や表示回路５によって温度を表示するようにしたも
のである。
光ファイ／へ方式はレンズ方式に比へて赤外線を集光す
るヘットを被Δ一定領域１に近ずけることができるため
、周囲からの放射赤外光やダストなどにより涜乱を受け
にくいという特徴がある。
るヘットを被Δ一定領域１に近ずけることができるため
、周囲からの放射赤外光やダストなどにより涜乱を受け
にくいという特徴がある。
（従来技術のＩＦ、１題点）
第２図や第３図のように被測定領域ｌの面積が放射温度
計の視テ？Ａに比べて充分に大きい場合は問題ないが、
第４図のように視５１Ａより小さい場合は被０定領域ｌ
の周囲からの放射赤外光を受けたり、検出距離が変動し
たりすると検出温度にｌ；差が生じるという問題がある
。
計の視テ？Ａに比べて充分に大きい場合は問題ないが、
第４図のように視５１Ａより小さい場合は被０定領域ｌ
の周囲からの放射赤外光を受けたり、検出距離が変動し
たりすると検出温度にｌ；差が生じるという問題がある
。
又このような場合は被測定領域１と放射温度計との光軸
合せがむすかしいという問題もある。
合せがむすかしいという問題もある。
（発明の［］的）
未発Ｉ５１の目的は光フアイバ方式の放射温度計を改良
して、その視！ｆＡより狭い被測定領域ｌの温度を測定
する場合でも、被測定領域ｌ外から放射される赤外光Ｕ
Ｓ音）を除去して測定精度を高め、しかも被測定領域１
と放射温度計との光軸合せを容易にすることにある。
して、その視！ｆＡより狭い被測定領域ｌの温度を測定
する場合でも、被測定領域ｌ外から放射される赤外光Ｕ
Ｓ音）を除去して測定精度を高め、しかも被測定領域１
と放射温度計との光軸合せを容易にすることにある。
（問題点を解決するためのｆ段）
未発用のイメージガ・ｆド方式放射温度計は、赤外線を
検出することによって温度を計測する放射温度計におい
て、第１図のように赤外線の伝送にイメージガイド１０
を用い、同ガイド１０の出射端面１１側又は入射端面１
２側に被側定領域ｌ外からの赤外線を遮蔽するマスクフ
ィルタ１３を挿入してなるものである。
検出することによって温度を計測する放射温度計におい
て、第１図のように赤外線の伝送にイメージガイド１０
を用い、同ガイド１０の出射端面１１側又は入射端面１
２側に被側定領域ｌ外からの赤外線を遮蔽するマスクフ
ィルタ１３を挿入してなるものである。
（発明の作用）
未発用では第１図の被測定領域１から放射された赤外線
が対物レンズ６によってイメージガイド１０の入射端面
１２に結像する。この像はイメージガイド１０によって
その出射端面１１まで画像として伝送され、それからマ
スクフィルタ１３に入り、被測定領域ｌ外から放射され
る赤外線は同マスクフィルタ１３の赤外線透過率の著し
く低い非透過部１４により遮断され、被測定領域ｌから
放射される赤外線だけが赤外線透過率の高い′ｒｌＬｊ
！１部１５を通って光電変換素子３に入り、そこで゛心
気信号に変換されてリニアライザや表示回路などに表示
される。
が対物レンズ６によってイメージガイド１０の入射端面
１２に結像する。この像はイメージガイド１０によって
その出射端面１１まで画像として伝送され、それからマ
スクフィルタ１３に入り、被測定領域ｌ外から放射され
る赤外線は同マスクフィルタ１３の赤外線透過率の著し
く低い非透過部１４により遮断され、被測定領域ｌから
放射される赤外線だけが赤外線透過率の高い′ｒｌＬｊ
！１部１５を通って光電変換素子３に入り、そこで゛心
気信号に変換されてリニアライザや表示回路などに表示
される。
（実施例）
未発１！１では赤外線の伝送に画像伝送を目的として規
則正しく配Ａされた光フアイババンドル、すなわちイメ
ージガイド１０を用いる。
則正しく配Ａされた光フアイババンドル、すなわちイメ
ージガイド１０を用いる。
マスクフィルタ１３は赤外線透過率の７ｉ１．＜低い非
透過部１４と赤外線透過率の高い透′ｊｊ１部１５とか
ら構成され、透過部１５の形状は被測定領域１の形状と
相似形にしである。これにより対物レンズ６の向きや方
向を調節すると被側定領域ｌが透過部１５内にＴ度入る
ようにしである。
透過部１４と赤外線透過率の高い透′ｊｊ１部１５とか
ら構成され、透過部１５の形状は被測定領域１の形状と
相似形にしである。これにより対物レンズ６の向きや方
向を調節すると被側定領域ｌが透過部１５内にＴ度入る
ようにしである。
又本発明ではマスクフィルタ１３と光電変換素子３の間
にミラーあるいはハーフミラ−を挿入して光軸合せと湿
度計測をほぼ同時に行なうようにしてもよい。
にミラーあるいはハーフミラ−を挿入して光軸合せと湿
度計測をほぼ同時に行なうようにしてもよい。
（発明の効果）
未発ＩＩは次のような効果がある。
（１）イメージガイド１０を使用し、しかもマスクフィ
ルタ１３を使用して被測定領域ｌ外の赤外光を除外でき
るようにしたので、微小領域の温度を精度良く計７１１
することができる。
ルタ１３を使用して被測定領域ｌ外の赤外光を除外でき
るようにしたので、微小領域の温度を精度良く計７１１
することができる。
（２）イメージガイドｌＯを使用したので被測定領域１
と放射温度計との光軸合せを［ｉ視で行なうことができ
、光軸合せが非常に容易になる。
と放射温度計との光軸合せを［ｉ視で行なうことができ
、光軸合せが非常に容易になる。
（３）赤外光の伝送にイメージガイド１０を用いるため
（ファイバは耐熱性があるため）開光ファ１バを被測定
領域ｌに近づけることができる。従って被測定領域ｌ外
からの赤外光（雑音）が入りに〈〈なり、高拮度の測定
が可使になる。
（ファイバは耐熱性があるため）開光ファ１バを被測定
領域ｌに近づけることができる。従って被測定領域ｌ外
からの赤外光（雑音）が入りに〈〈なり、高拮度の測定
が可使になる。
（４）赤外光の伝送にイメージガイドｌＯを用いるため
（ファイ／゛・はＩＩｒ ｉＡ性があるため）同光ファ
イバの光路を自由に選ぶことができ、従って狭いＪ↓を
所や屈曲した場所への配置も容易になる。
（ファイ／゛・はＩＩｒ ｉＡ性があるため）同光ファ
イバの光路を自由に選ぶことができ、従って狭いＪ↓を
所や屈曲した場所への配置も容易になる。
第１図は本発明の放射温度計の一例を示す説ＩＩ図、第
２図は従来のレンズ方式の放射温度計の説ＩＩ １４
、第３図は従来の光ファ・イパ方式の放射温度計の説明
図、第４図は従来の光フアイバ方式の放射温度計であっ
て被測定領域が放射温度計の視野に比べて小さい場合の
説明図である。 １は被測定領域 １０はイメージガイド １１は出射端面 １２は入射端面 １３はマスクフィルタ
２図は従来のレンズ方式の放射温度計の説ＩＩ １４
、第３図は従来の光ファ・イパ方式の放射温度計の説明
図、第４図は従来の光フアイバ方式の放射温度計であっ
て被測定領域が放射温度計の視野に比べて小さい場合の
説明図である。 １は被測定領域 １０はイメージガイド １１は出射端面 １２は入射端面 １３はマスクフィルタ
Claims (1)
- 赤外線を検出することによって温度を計測する放射温度
計において、赤外線の伝送にイメージガイドを用い、同
ガイドの出射端側又は入射端側に被測定領域外からの赤
外線を遮蔽するマスクフィルタを挿入することを特徴と
するイメージガイド方式放射温度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18806086A JPS6344134A (ja) | 1986-08-11 | 1986-08-11 | イメ−ジガイド方式放射温度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18806086A JPS6344134A (ja) | 1986-08-11 | 1986-08-11 | イメ−ジガイド方式放射温度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6344134A true JPS6344134A (ja) | 1988-02-25 |
Family
ID=16216992
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18806086A Pending JPS6344134A (ja) | 1986-08-11 | 1986-08-11 | イメ−ジガイド方式放射温度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6344134A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03264829A (ja) * | 1990-03-14 | 1991-11-26 | Jisedai Koukuuki Kiban Gijutsu Kenkyusho:Kk | ファイバー放射温度計受光部の構造 |
| US6234669B1 (en) * | 1996-12-24 | 2001-05-22 | Raytek Gmbh | Device for measuring temperature without contact |
| JP2018001157A (ja) * | 2016-07-04 | 2018-01-11 | ノードソン コーポレーションＮｏｒｄｓｏｎ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ | 基板上の接着剤パターンを検査するための検査装置及び方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61283839A (ja) * | 1985-06-10 | 1986-12-13 | Hitachi Ltd | 放射温度計測装置 |
-
1986
- 1986-08-11 JP JP18806086A patent/JPS6344134A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61283839A (ja) * | 1985-06-10 | 1986-12-13 | Hitachi Ltd | 放射温度計測装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03264829A (ja) * | 1990-03-14 | 1991-11-26 | Jisedai Koukuuki Kiban Gijutsu Kenkyusho:Kk | ファイバー放射温度計受光部の構造 |
| US6234669B1 (en) * | 1996-12-24 | 2001-05-22 | Raytek Gmbh | Device for measuring temperature without contact |
| JP2018001157A (ja) * | 2016-07-04 | 2018-01-11 | ノードソン コーポレーションＮｏｒｄｓｏｎ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ | 基板上の接着剤パターンを検査するための検査装置及び方法 |
| US11511531B2 (en) | 2016-07-04 | 2022-11-29 | Nordson Corporation | Inspection device and method for inspecting an adhesive pattern on a substrate |
| US11801672B2 (en) | 2016-07-04 | 2023-10-31 | Nordson Corporation | Inspection device and method for inspecting an adhesive pattern on a substrate |
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