JPS6344189B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6344189B2
JPS6344189B2 JP17302782A JP17302782A JPS6344189B2 JP S6344189 B2 JPS6344189 B2 JP S6344189B2 JP 17302782 A JP17302782 A JP 17302782A JP 17302782 A JP17302782 A JP 17302782A JP S6344189 B2 JPS6344189 B2 JP S6344189B2
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JP
Japan
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image
solid
light
face
detectors
Prior art date
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Expired
Application number
JP17302782A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5961753A (ja
Inventor
Shojiro Hashizume
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP17302782A priority Critical patent/JPS5961753A/ja
Publication of JPS5961753A publication Critical patent/JPS5961753A/ja
Publication of JPS6344189B2 publication Critical patent/JPS6344189B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/42Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
    • G01J3/427Dual wavelengths spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/314Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は濃度計、特に固体イメージセンサー
(検出器)と分光器とを組み合わせた濃度計に関
するものである。
固体イメージ検出器としては、例えばフオトダ
イオードアレイ等が開発されているが、これらは
受光素子が微小であること、これらの受光素子を
直線上、または面状に配列できること、応答が早
いこと等の特徴を有し、分光器と組み合わせて濃
度計の検出器として利用されている。
第1図は、この固体イメージ検出器を使用した
周知の二波長測定を行なうように構成した濃度計
の概略図で、図において1は白色光源、2は集光
レンズ、3は被測定試料、例えばTLCプレート
4上に展開された試料スポツトで、集光レンズ2
が光源1からの光をスポツト3上に集光照射す
る。なお、図では光源1は透過用として配置され
ているが、反射用光源(図示省略)を代替的に、
または択一的使用のために付加的に配備してもよ
い。
試料スポツト3からの透過光または反射光は、
結像レンズ5によつて分光器の入口スリツト6上
にスポツト3の像3′として結像される。そして
このスポツトの像3′の測定対象部分の光は入口
スリツト6から分光素子(例えば凹面回折格子)
7に入射し分光される。
この回折格子7によつて分光された各波長に対
応するスリツト像6′はスペクトル像面8上に連
続的に形成されるのでこの面8上の適当な位置に
検出器を配置することにより、任意の波長での測
光を行なうことができる。
この場合、二波長測光を行なうには例えば二つ
の検出器9λ1,9λ2をスペクトル像面8上の所望
の波長位置にそれぞれ配置し、また二波長の選択
を行なうには各検出器をスペクトル像面8上で波
長分散方向(横方向)に変位させればよい(なお
検出器の変位と回折格子の回動との組み合わせに
よつても可能である)。
なお、検出器での測定値の以後の処理について
は、二波長測定は周知であるので、説明は省略す
る。
上記のような構成においては、次のような問題
点が発生する。すなわち、固体イメージ検出器に
は、これを構成する多数の素子、例えばフオトダ
イオードアレイに接続される配線束が付いている
ので、波長選択のために検出器の位置を変えるご
とに配線束をひきずることになり、断線などの事
故が起り易い。
また、検出器の物理的な大きさによる制限のた
めに、一定間隔よりも接近した二波長位置に二つ
の検出器を並置することができず、波長の自由な
選択は不可能である。
本発明は以上の欠点を克服するために、スリツ
ト形の入射および出射端面ないしイメージガイド
面をそれぞれ有する少なくとも一対のオプチカル
フアイバーの入射端面を、上記スペクトル像面に
おいて波長分散方向に変位自在に配置するととも
に、上記の出射端面を固定配置された少なくとも
一対の固体イメージ検出器のそれぞれの受光面に
対向配置したものである。
以下、第2図にしたがつて本発明の実施例を説
明するが、第2図において第1図と同一の参照記
号は第1図と同一の対応する要素を示すので説明
は省略する。
本発明によれば、固体イメージ検出器9λ1,9
λ2はスペクトル像面8上に配置されないで、装置
の適当な位置に固定配置される。10λ1,10λ2
はイメージガイド形オプチカルフアイバーで、そ
れぞれ幅の狭いスリツト形の入射端面(イメージ
ガイド面)Iλ1,Iλ2と出射端面Eλ1,Eλ2とを有
する。
入射端面Iλ1,Iλ2は、それぞれ上述のスリツト
像6′の高さ、幅にほぼ一致しており、スペクト
ル像面8上において各別に波長分散方向に変位可
能に並置されており、一方出射端面Eλ1,Eλ2
それぞれ検出器9λ1,9λ2の受光面に対向配置さ
れている。
従つて、入射端面Iλ1,Iλ2をそれぞれスペクト
ル像面8上の所望の波長λ1,λ2の位置に配置する
ことにより、その波長の光を検出器9λ1,9λ2
導びくことができる。
この場合、スペクトル像面8上の像を歪ませる
ことなく検出器9λ1,9λ2の受光面上に投影する
必要があり、このため上記のイメージガイド形オ
プチカルフアイバー10λ1,10λ2はそれぞれの
入射端面Iλ1,Iλ2と出射端面Eλ1,Eλ2において
このオプチカルフアイバーを構成する各フアイバ
ー(素線)が両端面において対応した幾何学的に
同一位置を占めるように配列されていることが必
要である。
ついで検出器9λ1,9λ2の出力は増幅され測定
目的に応じた適当な回路ないし装置によつて処理
される。
以上のように、本発明はイメージガイド形オプ
チカルフアイバーのスリツト形入射端面を試料の
透過光または反射光のスペクトル像面上に変位可
能に配備したものであるが、入射端面の幅は固体
イメージ検出器の幅に比べて狭くすることができ
るので、固体イメージ検出器の受光面を直接にス
ペクトル像面上に配置する場合よりもより接近し
た二波長の選択が可能となり分析対象としての試
料の選択性等が広くなる。
また、固体イメージ検出器自体を可動とした構
成にともなう断線の危険性等の不都合も排除する
ことができる。
なお、一般的に試料スポツトには濃度むらがあ
るため、スリツト像の全体を積分したのち吸光度
変換して試料濃度を算出すると測定誤差を生ずる
ことは周知のことである。しかしながら本発明で
は、試料スポツトに濃度むらがあつても、試料ス
ポツトの一部を入口スリツトを通してスペクトル
像に形成し、スペクトル像の相対的強度分布をそ
のままイメージガイド形オプチカルフアイバーで
小さな検出素子をスリツトの長さ方向に並べた例
えばフオトダイオードアレイのような固体イメー
ジ検出器に導びく方式をとつているので、試料ス
ポツトのスペクトル像は測定誤差が無視し得る程
度に細分され、よつて各検出器からの出力が吸光
度変換された後に積分すれば正確な測定ができる
こととなる。
また上記の実施例においては、二波長測光につ
いて説明したが、これに限らず検出器およびイメ
ージガイド形オプチカルフアイバーを多数設けて
おき、これらのうちの適当な検出器とイメージガ
イド形オプチカルフアイバーの組合わせを利用す
ることにより測光方式の幅広い選択も可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は固体イメージ検出器を可動とした濃度
計の概略構成図、第2図は本発明の一実施例の概
略構成図である。 2……集光レンズ、3……試料スポツト、4…
…TLCプレート、5……結像レンズ、6……入
口スリツト、6′……スリツト像、7……回折格
子、8……スペクトル像面、9λ1,9λ2……固体
イメージ検出器、10λ1,10λ2……イメージガ
イド形オプチカルフアイバー。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 照射された光に基づく試料の像が形成される
    入口スリツトと、この入口スリツトを通過した光
    を分光する分光素子と、分光された光をそれぞれ
    検出する少なくとも一対の上記のスリツト長さ方
    向に並べられた固体イメージ検出器とから成る濃
    度計において、前記入口スリツトのスペクトル像
    に対応する形状の入射端面および出射端面を有す
    る少なくとも一対のイメージガイド形オプチカル
    フアイバーを設け、各オプチカルフアイバーの入
    射端面を前記分光素子によるスペクトル像面上に
    おいて波長分散方向に変位自在に配置するととも
    に上記各固体イメージ検出器を固定配置し、この
    固体イメージ検出器の受光面に前記各イメージガ
    イド形オプチカルフアイバーの出射端面をそれぞ
    れ対向配置したことを特徴とする濃度計。
JP17302782A 1982-09-30 1982-09-30 濃度計 Granted JPS5961753A (ja)

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JP17302782A JPS5961753A (ja) 1982-09-30 1982-09-30 濃度計

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JP17302782A JPS5961753A (ja) 1982-09-30 1982-09-30 濃度計

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JPS5961753A JPS5961753A (ja) 1984-04-09
JPS6344189B2 true JPS6344189B2 (ja) 1988-09-02

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