JPS5961753A - 濃度計 - Google Patents
濃度計Info
- Publication number
- JPS5961753A JPS5961753A JP17302782A JP17302782A JPS5961753A JP S5961753 A JPS5961753 A JP S5961753A JP 17302782 A JP17302782 A JP 17302782A JP 17302782 A JP17302782 A JP 17302782A JP S5961753 A JPS5961753 A JP S5961753A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- light
- selectivity
- end surfaces
- detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
- G01J3/427—Dual wavelengths spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は濃度計、特に固体イメージセンサ−（検出器）
と分光器とを組み合わせた濃度計に関するものである。
と分光器とを組み合わせた濃度計に関するものである。
固体イメージ検出器としては、例えばフォトダイ副−ド
アレイ等が開発されているが、これらは受光末子が微小
であること、これらの受光案子を直線上、または面状に
配列できること、応答が早いこと等の特徴を有し、分光
器と組み合わせて濃度計の検出器として利用されている
。
アレイ等が開発されているが、これらは受光末子が微小
であること、これらの受光案子を直線上、または面状に
配列できること、応答が早いこと等の特徴を有し、分光
器と組み合わせて濃度計の検出器として利用されている
。
第１図は、この固体イメージ検出器を使用した周知の三
波長測定を行なうように構成した濃度ｇ１の概略図で、
図においてｌは白色光源、２は集光レンズ、３は被測定
試料、例えばＴＬＯプレート４上に展開された試料スポ
ットで、集光レンズ２が光源１からの光をスポット３上
に集光照射する。
波長測定を行なうように構成した濃度ｇ１の概略図で、
図においてｌは白色光源、２は集光レンズ、３は被測定
試料、例えばＴＬＯプレート４上に展開された試料スポ
ットで、集光レンズ２が光源１からの光をスポット３上
に集光照射する。
なお、図では光源１は透過用として配Ｗｔされているが
、反射用光源（図示省略）を代替的に、または択一的使
用のために付加的に配備してもよい。
、反射用光源（図示省略）を代替的に、または択一的使
用のために付加的に配備してもよい。
試料スポット３からの透過光または反射光は、結像レン
ズ５によって分光器の入口スリット６上にスポット３の
イψ３１ として結像される。そしてこのスポットの
イΦ３１ の測定対象部分の光は入口スリット６から分
光米子（例えば凹面回折格子）７に入射し分光される。
ズ５によって分光器の入口スリット６上にスポット３の
イψ３１ として結像される。そしてこのスポットの
イΦ３１ の測定対象部分の光は入口スリット６から分
光米子（例えば凹面回折格子）７に入射し分光される。
この回折格子７によって分光された各波長に対応するス
リット像６′ はスペクトル像面８上に連続的に形成さ
れるのでこの面８上の適当な位置に検出器を配置するこ
とにより、任意の波長での測光を行なうことができる。
リット像６′ はスペクトル像面８上に連続的に形成さ
れるのでこの面８上の適当な位置に検出器を配置するこ
とにより、任意の波長での測光を行なうことができる。
この場合、二波長測光を行なうには例えば二つの検出器
９λ１．９λ２をスペクトル像面８上の所望の波長位曾
にそれぞれ配置し、・また二波長の選択を行なうには各
検出器をスペクトル像面８上で波長分散方向（横方向）
に変位させればよい（なお検出器の変位と回折格子の回
動との組み合２わせによっても可能である）。
９λ１．９λ２をスペクトル像面８上の所望の波長位曾
にそれぞれ配置し、・また二波長の選択を行なうには各
検出器をスペクトル像面８上で波長分散方向（横方向）
に変位させればよい（なお検出器の変位と回折格子の回
動との組み合２わせによっても可能である）。
なお、検出器での測定値の以後の処理については、二波
長測定は周知であるので、説明は省略する。
長測定は周知であるので、説明は省略する。
上記のような構成においては、次のような間鎮点が発生
する。すなわち、固体イメージ検出器には、これを構成
する多数の素子、例えばフォトダイオードアレイに接続
される配線束が付いているので、波長選択のために検出
器の位置を変えるごとに配線束をひきすることになり、
断線などの事故が起り易い。
する。すなわち、固体イメージ検出器には、これを構成
する多数の素子、例えばフォトダイオードアレイに接続
される配線束が付いているので、波長選択のために検出
器の位置を変えるごとに配線束をひきすることになり、
断線などの事故が起り易い。
また、検出器の物理的な大きさによる制限のために、一
定間隔よりも接近した二波長位置に二つの検出器を並置
することができず、波長の１由な選択は不可能である。
定間隔よりも接近した二波長位置に二つの検出器を並置
することができず、波長の１由な選択は不可能である。
本発明は以上の欠点を克服するために、スリット形の入
射および出射端面ないしイメージガイド面をそれぞれ有
する少なくとも一対のオプチカルファイバーの入射端面
を、上記スペクトル像面において波長分散方向に変位自
在に配置するとともに、上記の出射端面を固定配置され
た少なくとも一対の固体イメージ検出器のそれぞれの受
光面に対向配置したものである。
射および出射端面ないしイメージガイド面をそれぞれ有
する少なくとも一対のオプチカルファイバーの入射端面
を、上記スペクトル像面において波長分散方向に変位自
在に配置するとともに、上記の出射端面を固定配置され
た少なくとも一対の固体イメージ検出器のそれぞれの受
光面に対向配置したものである。
以下、第２図にしたがって本発明の詳細な説明するが、
第２図において第１図と同一の参照記号は第１図と同一
の対応する要素を示すので説明は省略する。
第２図において第１図と同一の参照記号は第１図と同一
の対応する要素を示すので説明は省略する。
本発明によれば、固体イメージ検出器９λ１．９λ２は
スペクトル像面８上に配置されないで、装置の適当な位
ｆａに固定配置される。１ｏλ１．１ｏλ２はイメージ
ガイド形オプチカルファイバーで、それぞれ幅の狭いス
リット形の入射端面（イメージガイド面）工λ１、工λ
２と出射端面ＥλＩＳＸλ２とを有する０ 入射端商工λ１、工λ２は、それぞれ上述のスリット像
６′ の高さ、幅にほぼ一致しており、スペクト像面８
上において各別に波長分散方向に変位可能に並置されて
おり、一方出射端面Ｅλ１、Ｅλ２はそれぞれ検出器９
λ１．９λ２の受光面に対向配置されている。
スペクトル像面８上に配置されないで、装置の適当な位
ｆａに固定配置される。１ｏλ１．１ｏλ２はイメージ
ガイド形オプチカルファイバーで、それぞれ幅の狭いス
リット形の入射端面（イメージガイド面）工λ１、工λ
２と出射端面ＥλＩＳＸλ２とを有する０ 入射端商工λ１、工λ２は、それぞれ上述のスリット像
６′ の高さ、幅にほぼ一致しており、スペクト像面８
上において各別に波長分散方向に変位可能に並置されて
おり、一方出射端面Ｅλ１、Ｅλ２はそれぞれ検出器９
λ１．９λ２の受光面に対向配置されている。
従って、入射端商工λ１、工λ２をそれぞれスペクトル
像面８上の所望の波長λ市、λ２の位置に配置すること
により、その波長の光を検出器９λい９λ２に導びくこ
とができる。
像面８上の所望の波長λ市、λ２の位置に配置すること
により、その波長の光を検出器９λい９λ２に導びくこ
とができる。
この場合、スペクトル像面８上の像を歪ませることなく
検出器９λ１．９λ２の受光面上に投影する必要があり
、このため上記のイメージガイド形オプチカル７アイパ
ー１０λ１．１０λ２はそれぞれの入射端商工λ１、工
λ２と出射端面Ｅλｔ、Ｋλ２においてこのオプチカル
ファイバーを構成する各ファイバー（素線）が両端面に
おいて対応した幾何学的に同−位置を占めるように配列
されていることが必要である。
検出器９λ１．９λ２の受光面上に投影する必要があり
、このため上記のイメージガイド形オプチカル７アイパ
ー１０λ１．１０λ２はそれぞれの入射端商工λ１、工
λ２と出射端面Ｅλｔ、Ｋλ２においてこのオプチカル
ファイバーを構成する各ファイバー（素線）が両端面に
おいて対応した幾何学的に同−位置を占めるように配列
されていることが必要である。
ついで検出器９λ１．９λ２の出力は増幅され測定目的
に応じた適当な回路ないし装置によって処理される。
に応じた適当な回路ないし装置によって処理される。
以上のように、本発明はイメージガイド形オプチカルフ
ァイバーのスリット形人剤端面を試料の透過光または反
射光のスペクトル像面上に変位可能に配備したものであ
るが、入射端面の幅は固体イメージ検出器の幅に比べて
狭くすることができるので、固体イメージ検出器の受光
面を直接にスペクトル像面上に配Ｕする場合よりもより
接近した二波長の選択が可能となり分析対象としての試
料の選択性等が広くなる。
ァイバーのスリット形人剤端面を試料の透過光または反
射光のスペクトル像面上に変位可能に配備したものであ
るが、入射端面の幅は固体イメージ検出器の幅に比べて
狭くすることができるので、固体イメージ検出器の受光
面を直接にスペクトル像面上に配Ｕする場合よりもより
接近した二波長の選択が可能となり分析対象としての試
料の選択性等が広くなる。
また、固体イメージ検出器自体を可動とした構成にとも
なう断線の危険性等の不都合も排除することができる。
なう断線の危険性等の不都合も排除することができる。
なお、一般的に試料スポットには濃度むらがあるため、
スリット像の全体を積分したのち吸光度変換して試料濃
度を算出すると測定誤差を生ずることは周知のことであ
る。しかしながら本発明では、試料スポットに濃度むら
があっても、試料スポットの一部を入口スリットを通し
てスペクトル像に形成し、スペクトル像の相対的強度分
布をそのままイメージガイド形オプチカルファイバーで
小さな検出素子をスリットの長さ方向に並べた例えばフ
メトダイオードアレイのような固体イメージ検出器に導
びく方式をとっているので、試料スポットのスペクトル
像は測定誤差が無視し得る程度に細分され、よって各検
出器からの出力が吸光度変換された後に積分すれば正確
な測定ができることとなる。
スリット像の全体を積分したのち吸光度変換して試料濃
度を算出すると測定誤差を生ずることは周知のことであ
る。しかしながら本発明では、試料スポットに濃度むら
があっても、試料スポットの一部を入口スリットを通し
てスペクトル像に形成し、スペクトル像の相対的強度分
布をそのままイメージガイド形オプチカルファイバーで
小さな検出素子をスリットの長さ方向に並べた例えばフ
メトダイオードアレイのような固体イメージ検出器に導
びく方式をとっているので、試料スポットのスペクトル
像は測定誤差が無視し得る程度に細分され、よって各検
出器からの出力が吸光度変換された後に積分すれば正確
な測定ができることとなる。
また上記の実施例においては、二波長測光について説明
したが、これに限らず検出器およびイメージガイド形オ
プチカルファイバーを多ｖ！１．設けておき、これらの
うちの適当な検出器とイメージガイド形オプチカルファ
イバーの組合わせを利用することにより測光方式の幅広
い選択も可能となる。
したが、これに限らず検出器およびイメージガイド形オ
プチカルファイバーを多ｖ！１．設けておき、これらの
うちの適当な検出器とイメージガイド形オプチカルファ
イバーの組合わせを利用することにより測光方式の幅広
い選択も可能となる。
第１図は固体イメージ検出器を可動とした濃度Ｎｌの概
略構成図、第２図は本発明の一夾施例の概略構成図であ
る。 ２・・・集光レンズ、 ３・・・試料スポット、４
・ −＠ＴＬＯプレート、 ５・・・結像レンズ、 ６・・・入口スリット、６１
・・・スリット像、 ７・・・回折格子、８・・ｅス
ペクトル像面、 ９λ重、９λ２ ・・・固体イメージ検出器、１０λ、
、 １０λ２ ・ ・ ・イメージガイド形オプヂカル
ファイバー。
略構成図、第２図は本発明の一夾施例の概略構成図であ
る。 ２・・・集光レンズ、 ３・・・試料スポット、４
・ −＠ＴＬＯプレート、 ５・・・結像レンズ、 ６・・・入口スリット、６１
・・・スリット像、 ７・・・回折格子、８・・ｅス
ペクトル像面、 ９λ重、９λ２ ・・・固体イメージ検出器、１０λ、
、 １０λ２ ・ ・ ・イメージガイド形オプヂカル
ファイバー。
Claims (1)
- 照射された光に基づく試料の像が形成される入口スリッ
トと、この入口スリットを通過した光を分光する分光；
に子と、分光された光をそれぞれ検出する少なくとも一
対の上記のスリット長さ方向に並べられた固体イメージ
検出器とから成る濃度計において、前記入口スリットの
スペクトル像面上に対応する形状の入射端面および出射
端面を有する少なくとも一対のイメージガイド形オプヂ
カルファイバーヲ設け、各オプチカルファイバーの入射
端面を前記分光素子によるスペクトル像面上において波
長分散方向に変位自在に配置するとともに上記各固体イ
メージ検出器を固定配置し、この固体イメージ検出器の
受光面に前記各イメージガイド形オプチカルファイバー
の出射端面なそれぞれ対向配置したことを特徴とする濃
度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17302782A JPS5961753A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 濃度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17302782A JPS5961753A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 濃度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5961753A true JPS5961753A (ja) | 1984-04-09 |
| JPS6344189B2 JPS6344189B2 (ja) | 1988-09-02 |
Family
ID=15952849
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17302782A Granted JPS5961753A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 濃度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5961753A (ja) |
-
1982
- 1982-09-30 JP JP17302782A patent/JPS5961753A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6344189B2 (ja) | 1988-09-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7433552B2 (en) | Obtaining analyte information | |
| US6496260B1 (en) | Vertical-beam photometer for determination of light absorption pathlength | |
| US6643016B2 (en) | Multiple pathlength spectrophotometer | |
| US6188476B1 (en) | Determination of light absorption pathlength in a vertical-beam photometer | |
| US7315667B2 (en) | Propagating light to be sensed | |
| US8437582B2 (en) | Transmitting light with lateral variation | |
| KR20110127122A (ko) | 시료분석장치 | |
| US5923039A (en) | Ultraviolet transmittance analyzing method and instrument | |
| JP2002005823A (ja) | 薄膜測定装置 | |
| US5973780A (en) | Echelle spectroscope | |
| JPS61292043A (ja) | 分光測色計の光検出プロ−ブ | |
| US20190017871A1 (en) | Method of calibrating spectrum sensors in a manufacturing environment and an apparatus for effecting the same | |
| JP2006234549A (ja) | 吸光光度分析装置および吸光光度分析方法 | |
| JPS5961753A (ja) | 濃度計 | |
| US7692790B2 (en) | Grating spectrometer system and method for the acquisition of measured values | |
| JPH11101692A (ja) | 分光測色装置 | |
| JPS6219945Y2 (ja) | ||
| KR101756364B1 (ko) | 광섬유 브래그 격자를 이용한 분광기 | |
| JPS6183922A (ja) | 分光測色装置 | |
| JP2935287B2 (ja) | 示差屈折率分光スペクトル測定装置 | |
| JP5480055B2 (ja) | 拡散反射測定装置 | |
| JPS6344188B2 (ja) | ||
| JPS63120230A (ja) | 分光測光器 | |
| JPH0120367B2 (ja) | ||
| JPS6333658B2 (ja) |