JPS6345526A - 洩れ検査装置 - Google Patents
洩れ検査装置Info
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- JPS6345526A JPS6345526A JP62037229A JP3722987A JPS6345526A JP S6345526 A JPS6345526 A JP S6345526A JP 62037229 A JP62037229 A JP 62037229A JP 3722987 A JP3722987 A JP 3722987A JP S6345526 A JPS6345526 A JP S6345526A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/02—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
- G01M3/26—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by measuring rate of loss or gain of fluid, e.g. by pressure-responsive devices, by flow detectors
- G01M3/32—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by measuring rate of loss or gain of fluid, e.g. by pressure-responsive devices, by flow detectors for containers, e.g. radiators
- G01M3/3236—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by measuring rate of loss or gain of fluid, e.g. by pressure-responsive devices, by flow detectors for containers, e.g. radiators by monitoring the interior space of the containers
- G01M3/3263—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by measuring rate of loss or gain of fluid, e.g. by pressure-responsive devices, by flow detectors for containers, e.g. radiators by monitoring the interior space of the containers using a differential pressure detector
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は各種の容器の洩れを測定し、測定洩れ量が許
容量以内か否かを判定する洩れ検査装置に関する。
容量以内か否かを判定する洩れ検査装置に関する。
「従来技術」
従来気体又は液体の洩れが一定規格以内であることが要
求される容器の製造ラインの検査工程において、容器の
洩れ検査を行うには例えばダイヤフラム形差圧検出器を
介して被検査容器(ワークと呼ぶ)と洩れの無い基準タ
ンク(マスタータンクと呼ぶ)を結合し、両方に等しい
テスト圧力の気体を充填して系を閉じた後所定時間経っ
た時の差圧を読んでワークの洩れ量に換算して、許容洩
れ量以内であるか否かによって容器成品の良、不可を判
定している。
求される容器の製造ラインの検査工程において、容器の
洩れ検査を行うには例えばダイヤフラム形差圧検出器を
介して被検査容器(ワークと呼ぶ)と洩れの無い基準タ
ンク(マスタータンクと呼ぶ)を結合し、両方に等しい
テスト圧力の気体を充填して系を閉じた後所定時間経っ
た時の差圧を読んでワークの洩れ量に換算して、許容洩
れ量以内であるか否かによって容器成品の良、不可を判
定している。
このような従来の洩れ検査装置の代表的な構成は第1図
に示され、その装置による各容器のリークテストの全1
サイクルは動作制御装置20内のマイクロコンピュータ
250制御のちとに第2図に示す動作工程によって行わ
れる。圧力系44の振れを見ながら圧縮空気源11から
の空気圧を減圧弁12によりテスト圧力に設定した後、
ステップS1の休止期間でテストすべきワーク(部ち容
器)16を測定側配管42に接続する。ステップS□の
加圧工程でCPt125Aの命令により出力ボート25
Eを介して駆動回路39を動作させ三方電磁弁13を測
定パイプ系23に導通させて常時開の三方′tvL弁を
介してワーク16とマスタータンク17に空気を供給す
ると同時にRAM25C内に設定した第1タイマ(図示
せず)を始動させる。
に示され、その装置による各容器のリークテストの全1
サイクルは動作制御装置20内のマイクロコンピュータ
250制御のちとに第2図に示す動作工程によって行わ
れる。圧力系44の振れを見ながら圧縮空気源11から
の空気圧を減圧弁12によりテスト圧力に設定した後、
ステップS1の休止期間でテストすべきワーク(部ち容
器)16を測定側配管42に接続する。ステップS□の
加圧工程でCPt125Aの命令により出力ボート25
Eを介して駆動回路39を動作させ三方電磁弁13を測
定パイプ系23に導通させて常時開の三方′tvL弁を
介してワーク16とマスタータンク17に空気を供給す
ると同時にRAM25C内に設定した第1タイマ(図示
せず)を始動させる。
所定時間T1経過後、ステップS、の平衡工程で同一の
テスト圧力となったワーク側空気系とマスター側空気系
を三方電磁弁14.15によりそれぞれ閉じると同時に
第2タイマ(図示せず)を始動させる。従ってもしワー
ク16に洩れがあれば、時間と共にダイヤフラム形差圧
検出器18の両側間の差圧が増加していくことになる。
テスト圧力となったワーク側空気系とマスター側空気系
を三方電磁弁14.15によりそれぞれ閉じると同時に
第2タイマ(図示せず)を始動させる。従ってもしワー
ク16に洩れがあれば、時間と共にダイヤフラム形差圧
検出器18の両側間の差圧が増加していくことになる。
この間に比較的大きな洩れが検出されればワークを不良
品と判定し直ちにステップSIに戻る。大リークがなく
、所定時間T2経過後にステップS、の検出工程に入り
RAM25C内に第3タイマ(図示せず)を設定し、ワ
ーク16とマスタータンク17内の差圧が差圧検出器1
8により電気信号として検出され、増幅器19により増
幅され、メータリレー形の指示器21の指示針AIに表
示される。従ってこの表示された差圧はステップS、に
おいて三方電磁弁14.15が閉じられた以後のワーク
16の洩れ量に対応しており、この差圧がメータリレー
21の設定針A2で設定した許容値を越えるとワーク1
6を不良と判定し、メータリレー21の出力によりアラ
ーム45を作動させ、直ちにステップSIでワーク16
を次のものと取替えて同様のテストを繰返す、このテス
トシークエンスはROM 25 B内に記憶されたプロ
グラムによってCP[I25Aが制御■実行する。この
ようなリークテスト装置の基本構成は例えば特願昭56
−148440(詔和56年9月18日出!l1l)に
示されている。
品と判定し直ちにステップSIに戻る。大リークがなく
、所定時間T2経過後にステップS、の検出工程に入り
RAM25C内に第3タイマ(図示せず)を設定し、ワ
ーク16とマスタータンク17内の差圧が差圧検出器1
8により電気信号として検出され、増幅器19により増
幅され、メータリレー形の指示器21の指示針AIに表
示される。従ってこの表示された差圧はステップS、に
おいて三方電磁弁14.15が閉じられた以後のワーク
16の洩れ量に対応しており、この差圧がメータリレー
21の設定針A2で設定した許容値を越えるとワーク1
6を不良と判定し、メータリレー21の出力によりアラ
ーム45を作動させ、直ちにステップSIでワーク16
を次のものと取替えて同様のテストを繰返す、このテス
トシークエンスはROM 25 B内に記憶されたプロ
グラムによってCP[I25Aが制御■実行する。この
ようなリークテスト装置の基本構成は例えば特願昭56
−148440(詔和56年9月18日出!l1l)に
示されている。
所で第1図において三方電磁弁14.15を閉じた後の
ワーク16の洩れ量Δ■、と差圧ΔPの関係は次のよう
にして求めることができる0式で使用される記号を以下
のように定義する二P:検出初期のワーク及びマスター
タンク内の圧力、即ちテスト圧(kg/ajG)P8
:検出終期、即ち時間T、経過後のワーク内圧力(k+
r/cdG) P、:検出終期のマスタータンク内圧力(kg/ajG
) ■、1:横出初期のワーク側空気系内容積(cc)vH
:検出初期のマスタータンク側空気系内容積(cc) K、:差圧センサダイヤフラムの圧力変化による容積変
化率、即ち差圧感度(cc/ kg / cd )Ko
:ワークの圧力変化による容積変化率(cc/kir
/CIり K1.I:マスタータンクの圧力変化による容積変化率
(cc / kg / aJ ) Δ■L:ワークよりの洩れ量(atm cc)T、:検
出時間(see) G : 1st+a −1,03kg/antボイルの
法則により (1,03+ P) VM − (1,03+P、1)CVw−Ks・ΔP−Kw(P−
PJ) +1.03ΔνL・・・(1) (1,03+P)Vx− (1,03+Ps) [V、Ks・AP−L+(P−
PM)) ・=(21が成立する。検出終期の差圧
ΔP−P、l−P、4においてPH≧PとすればΔp=
p−p、となり、これらを使って式fly、 (21は
次のように変形される。
ワーク16の洩れ量Δ■、と差圧ΔPの関係は次のよう
にして求めることができる0式で使用される記号を以下
のように定義する二P:検出初期のワーク及びマスター
タンク内の圧力、即ちテスト圧(kg/ajG)P8
:検出終期、即ち時間T、経過後のワーク内圧力(k+
r/cdG) P、:検出終期のマスタータンク内圧力(kg/ajG
) ■、1:横出初期のワーク側空気系内容積(cc)vH
:検出初期のマスタータンク側空気系内容積(cc) K、:差圧センサダイヤフラムの圧力変化による容積変
化率、即ち差圧感度(cc/ kg / cd )Ko
:ワークの圧力変化による容積変化率(cc/kir
/CIり K1.I:マスタータンクの圧力変化による容積変化率
(cc / kg / aJ ) Δ■L:ワークよりの洩れ量(atm cc)T、:検
出時間(see) G : 1st+a −1,03kg/antボイルの
法則により (1,03+ P) VM − (1,03+P、1)CVw−Ks・ΔP−Kw(P−
PJ) +1.03ΔνL・・・(1) (1,03+P)Vx− (1,03+Ps) [V、Ks・AP−L+(P−
PM)) ・=(21が成立する。検出終期の差圧
ΔP−P、l−P、4においてPH≧PとすればΔp=
p−p、となり、これらを使って式fly、 (21は
次のように変形される。
P4w’;iFPw・Vw (L + XJ (1,
03+Pw) ・AP + 1.03.ΔVE・・・(
3) p−vや;P)1・%−(1,03+P)り HKs
・AP −(41式[3)、 +41から洩れ量Δ
■、は次のように表わされる。
03+Pw) ・AP + 1.03.ΔVE・・・(
3) p−vや;P)1・%−(1,03+P)り HKs
・AP −(41式[3)、 +41から洩れ量Δ
■、は次のように表わされる。
ΔvL!
・・・(5)
式(5)において次のようにV7とKを定義する。
Vg=Vw + (L(1+ ) +Kw) (
1,03+P) −(61Vに K”Ks(1+ ) +に、
・17+Vに 従って洩れ量Δ■1は次のように表わされる。
1,03+P) −(61Vに K”Ks(1+ ) +に、
・17+Vに 従って洩れ量Δ■1は次のように表わされる。
E
v2をワーク側空気系の等傷内容積と呼び、Kをワーク
側の圧力変化による容積変化率(cc/kg/d)と呼
ぶ、単位洩れ量(ate cc)当りの差圧、即ちΔP
/ΔvLはこのリーク検査装置の洩れ量検出感度であり
、1.03 / Vt(kir/aJ/atllcc)
で与えられる。
側の圧力変化による容積変化率(cc/kg/d)と呼
ぶ、単位洩れ量(ate cc)当りの差圧、即ちΔP
/ΔvLはこのリーク検査装置の洩れ量検出感度であり
、1.03 / Vt(kir/aJ/atllcc)
で与えられる。
式(6)においてKs 、Kw 、Knはそれぞれ一定
とみなせるので等傷内容積Vえは測定圧Pとワークの内
容積vwの関数とみなせる。Pとv8はテストすべきワ
ークの種類によって異るので、それぞれのワークの種類
に応じて等傷内容積V、は異 ′る0等価内容積V
アは次のようにして求めることができる。第1図におい
てワーク16は洩れのないものを接続し、更にワーク側
空気系42に容積変化付加器24を接続する。容積変化
付加器24はマイクロメータ形式のものであり、つまみ
33を回転することによってシリンダ内のピストンを移
動させ、内容積27を変化させることができる。
とみなせるので等傷内容積Vえは測定圧Pとワークの内
容積vwの関数とみなせる。Pとv8はテストすべきワ
ークの種類によって異るので、それぞれのワークの種類
に応じて等傷内容積V、は異 ′る0等価内容積V
アは次のようにして求めることができる。第1図におい
てワーク16は洩れのないものを接続し、更にワーク側
空気系42に容積変化付加器24を接続する。容積変化
付加器24はマイクロメータ形式のものであり、つまみ
33を回転することによってシリンダ内のピストンを移
動させ、内容積27を変化させることができる。
又、つまみ33の回転数に対応する容積変化量はあらか
じめ判っている。第2図の洩れ検査シークエンスを実行
し、ステップS、の工程に入るとつまみ33を所定回数
回してピストンを引き、容積変化Δ■(増加)を生じさ
せる。この増加容積はワーク側空気系からみて洩れ量と
等価であるので、容積変化Δ■をボイルの法則により次
式によって大気圧における体積、即ち等個性れ量ΔVL
に換算できる。
じめ判っている。第2図の洩れ検査シークエンスを実行
し、ステップS、の工程に入るとつまみ33を所定回数
回してピストンを引き、容積変化Δ■(増加)を生じさ
せる。この増加容積はワーク側空気系からみて洩れ量と
等価であるので、容積変化Δ■をボイルの法則により次
式によって大気圧における体積、即ち等個性れ量ΔVL
に換算できる。
ΔV(1,03+P)−ΔVLX1.03 ・・・
(9)式(9)を式(8)に代入すると次式が得られる
。
(9)式(9)を式(8)に代入すると次式が得られる
。
従って容積変化ΔVを与えた後に差圧ΔPを測定しかつ
テスト圧Pがわかっていれば、六員により接続したワー
クに対応する等傷内容積VEを計算することができる。
テスト圧Pがわかっていれば、六員により接続したワー
クに対応する等傷内容積VEを計算することができる。
「発明が解決しようとする問題点」
従来はそれぞれのワークに対する等傷内容積v2を弐a
1によりあらかじめ計算しておき、各種類のワークにつ
いての許容洩れ量ΔvL ′に対応する許容差圧ΔP′
を式(8)から計算し、ワークのリークテストにおいて
はテストされるワークの種類が変るごとに対応する前記
許容差圧ΔP′をメータリレー形の指示器21に設定し
直す必要があった。
1によりあらかじめ計算しておき、各種類のワークにつ
いての許容洩れ量ΔvL ′に対応する許容差圧ΔP′
を式(8)から計算し、ワークのリークテストにおいて
はテストされるワークの種類が変るごとに対応する前記
許容差圧ΔP′をメータリレー形の指示器21に設定し
直す必要があった。
必要に応じて洩れ検査装置の洩れ検査感度(1,03/
VE)のチェックは、上述の等傷内容積を測定する場合
と同様に容積変化付加器24により所定の容積変化を与
え、その時の差圧指示が所定値範囲内となるかどうかで
チェックした。もし所定値範囲内とならなかった場合は
誤差が大と判断し、そのワークについての等傷内容積■
、を式α碑により計算し、その値を式(8)に代入し、
許容洩れ量ΔvL ′に対応する許容差圧ΔP′を計算
する。他の種類のワークについても同様にチェックし、
必要なら許容差圧ΔP′を計算する。ワークのリークテ
スト時に各ワークの種類に対応して、エラーが大と判定
されたものは新しく計算した許容差圧を、そうでないも
のは前回計算してあった許容差圧をそれぞれのワークの
テスト時にメータリレー21に設定することにより較正
を行った。
VE)のチェックは、上述の等傷内容積を測定する場合
と同様に容積変化付加器24により所定の容積変化を与
え、その時の差圧指示が所定値範囲内となるかどうかで
チェックした。もし所定値範囲内とならなかった場合は
誤差が大と判断し、そのワークについての等傷内容積■
、を式α碑により計算し、その値を式(8)に代入し、
許容洩れ量ΔvL ′に対応する許容差圧ΔP′を計算
する。他の種類のワークについても同様にチェックし、
必要なら許容差圧ΔP′を計算する。ワークのリークテ
スト時に各ワークの種類に対応して、エラーが大と判定
されたものは新しく計算した許容差圧を、そうでないも
のは前回計算してあった許容差圧をそれぞれのワークの
テスト時にメータリレー21に設定することにより較正
を行った。
このように洩れ検出感度のチェックと較正を行うには各
ワークの種類について前記ステップS4の検出工程で容
積変1ヒ付加器24のマイクロメータを所定回数千で回
す必要があり非常に煩雑なものであった。
ワークの種類について前記ステップS4の検出工程で容
積変1ヒ付加器24のマイクロメータを所定回数千で回
す必要があり非常に煩雑なものであった。
前述のようにリークテストによるワークの良。
不可の判定は許容洩れ量を基準にしているが、洩れ量の
測定は差圧を検出して行っているため、式(8)により
許容洩れ量を対応する許容差圧に換算してメータリレー
21の設定針A!で設定していた。
測定は差圧を検出して行っているため、式(8)により
許容洩れ量を対応する許容差圧に換算してメータリレー
21の設定針A!で設定していた。
ところが式(8)から判るようにワークの種類が異ると
対応する等傷内容積■。が変るので各ワークの種類毎に
メータリレー21への許容差圧の設定を行わなければな
らず、従って異った種類のワークが異るチャンネルを通
ってリーク検査装置に供給されてくるような場合、チャ
ンネル選択を変更する毎に許容差圧の設定を手で行う必
要があり、非常に面倒であった。
対応する等傷内容積■。が変るので各ワークの種類毎に
メータリレー21への許容差圧の設定を行わなければな
らず、従って異った種類のワークが異るチャンネルを通
ってリーク検査装置に供給されてくるような場合、チャ
ンネル選択を変更する毎に許容差圧の設定を手で行う必
要があり、非常に面倒であった。
この発明の目的は洩れ量を直読できる表示をし、かつワ
ークの良、否の判定を直接許容洩れ量と比較して行い、
従って許容差圧に換算する必要のない洩れ検査装置を提
供することである。
ークの良、否の判定を直接許容洩れ量と比較して行い、
従って許容差圧に換算する必要のない洩れ検査装置を提
供することである。
この発明の他の目的は各種のワークに対し洩れ検出感度
のチェックと較正を簡単に行うことができる洩れ検査装
置を提供することである。
のチェックと較正を簡単に行うことができる洩れ検査装
置を提供することである。
r問題点を解決するための手段」
この発明による洩れ検査装置はテスト圧力発生手段と、
第1及び第2の電磁弁を介して測定圧力発生手段にそれ
ぞれ接続されたマスター側空気系及びワーク側空気系と
、ワーク側空気系とマスター側空気系の間に接続された
差圧検出手段と、第1及び第2の電磁弁及び駆動手段を
制御する制御手段と、各ワークの種類について対応する
等傷内容積を記憶した不揮発性RAMと、演算手段とを
含む、リークテストモードにおいては差圧検出手段で検
出した差圧と不揮発性RAMから読出した対応する等傷
内容積から演算手段により洩れ量を計算し、計算した洩
れ量と許容洩れ量を比較してワークの良、不良を判定す
る。必要に応じてワーク側空気系に接続された容積変化
付加器とその容積変化付加器を駆動するための駆動手段
が更に設けられ、チェック較正モードにおいては洩れ検
査シークエンスの検出工程において制御手段からの指令
により駆動手段が容積変化付加器を駆動して所定容積変
化を与え、検出した差圧と容積変化から演算手段により
等傷内容積を計算し、その新しい等傷内容積で不揮発性
RAM中の対応する等傷内容積を書き換える。
第1及び第2の電磁弁を介して測定圧力発生手段にそれ
ぞれ接続されたマスター側空気系及びワーク側空気系と
、ワーク側空気系とマスター側空気系の間に接続された
差圧検出手段と、第1及び第2の電磁弁及び駆動手段を
制御する制御手段と、各ワークの種類について対応する
等傷内容積を記憶した不揮発性RAMと、演算手段とを
含む、リークテストモードにおいては差圧検出手段で検
出した差圧と不揮発性RAMから読出した対応する等傷
内容積から演算手段により洩れ量を計算し、計算した洩
れ量と許容洩れ量を比較してワークの良、不良を判定す
る。必要に応じてワーク側空気系に接続された容積変化
付加器とその容積変化付加器を駆動するための駆動手段
が更に設けられ、チェック較正モードにおいては洩れ検
査シークエンスの検出工程において制御手段からの指令
により駆動手段が容積変化付加器を駆動して所定容積変
化を与え、検出した差圧と容積変化から演算手段により
等傷内容積を計算し、その新しい等傷内容積で不揮発性
RAM中の対応する等傷内容積を書き換える。
「実施例」
第3図はこの発明による洩れ検査装置の一実施例を示す
、この実施例においては圧縮空気源11からの圧縮空気
は減圧弁12を通り、更に三方電磁弁13を経てから二
つに分岐され、それぞれ常時開の三方電磁弁14.15
を介してワーク側空気系42とマスター側空気系43に
供給される。
、この実施例においては圧縮空気源11からの圧縮空気
は減圧弁12を通り、更に三方電磁弁13を経てから二
つに分岐され、それぞれ常時開の三方電磁弁14.15
を介してワーク側空気系42とマスター側空気系43に
供給される。
ワーク側空気系42にはワーク(リークテストをすべき
容器)16が接続され、マスター側空気系43にはマス
タータンク(基準タンク)17が接続されている。更に
ワーク側空気系42には半導体圧力センサのような圧力
検出器46と容積変化付加器24が接続されており、又
ワーク側空気系42とマスター側空気系43との間にダ
イヤフラム形差圧検出器18が接続されている。
容器)16が接続され、マスター側空気系43にはマス
タータンク(基準タンク)17が接続されている。更に
ワーク側空気系42には半導体圧力センサのような圧力
検出器46と容積変化付加器24が接続されており、又
ワーク側空気系42とマスター側空気系43との間にダ
イヤフラム形差圧検出器18が接続されている。
この実施例においては容積変化付加器24を駆動する駆
動手段として圧縮空気を使った場合であり、容積変化付
加器24は円筒シリンダ32A内にピストン31が中心
軸が一致して摺動可能に入れられた構造となっている。
動手段として圧縮空気を使った場合であり、容積変化付
加器24は円筒シリンダ32A内にピストン31が中心
軸が一致して摺動可能に入れられた構造となっている。
シリンダ32Aの開口を閉じるように円筒状ベース32
Bがシリンダ32Aにネジで止められている。シリンダ
32Aの底には容積変化を作る円筒室27が中心軸08
に沿って形成され、ベース32Bにも中心軸Oxに沿っ
て円筒室30が形成されている。ピストン31の両側の
ロフト部3)A、31Bはそれぞれシリンダ32A及び
ベース32Bの円筒室27゜30にほぼぴったりと摺動
可能に挿入されている。
Bがシリンダ32Aにネジで止められている。シリンダ
32Aの底には容積変化を作る円筒室27が中心軸08
に沿って形成され、ベース32Bにも中心軸Oxに沿っ
て円筒室30が形成されている。ピストン31の両側の
ロフト部3)A、31Bはそれぞれシリンダ32A及び
ベース32Bの円筒室27゜30にほぼぴったりと摺動
可能に挿入されている。
ピストン31はフランジ31Cを有し、シリンダ32A
内を二つの空間28.29に分割している。
内を二つの空間28.29に分割している。
空間28内にはコイルバネ37が設けられ、円筒室27
を小さくする方間にピストン31に偏倚力を与えている
0円筒室27は配管によりワーク側空気系42に接続さ
れており、シリンダ32A内の空間29は三方電磁パル
プ26を介して圧縮空気allに接続されている。更に
必要に応じて円筒室30は管23に接続されており、そ
れによってテスト圧の空気をワーク16及びマスタ17
に導入する時に円筒室27に与えられる圧力とバランス
をとり、ピストンがマイクロメータ33側に移動してし
まうことを防いでいる。このバランスをとるため円筒室
27と30内のロフト端部31A。
を小さくする方間にピストン31に偏倚力を与えている
0円筒室27は配管によりワーク側空気系42に接続さ
れており、シリンダ32A内の空間29は三方電磁パル
プ26を介して圧縮空気allに接続されている。更に
必要に応じて円筒室30は管23に接続されており、そ
れによってテスト圧の空気をワーク16及びマスタ17
に導入する時に円筒室27に与えられる圧力とバランス
をとり、ピストンがマイクロメータ33側に移動してし
まうことを防いでいる。このバランスをとるため円筒室
27と30内のロフト端部31A。
31Bの受圧面積(即ちロフトの断面積)がほぼ等しく
選ばれている。
選ばれている。
ピストン31がコイルバネ37によりシリンダ32A内
の最も奥まで偏位されている状態でマイクロメータ33
を回転し、その軸38の端面がピストンロフト31Bの
端面にぶつかる所でマイクロメータ33の零位置を合せ
、その後ピストン31をコイルバネ37でその位置に保
持したままマイクロメータ33を所定数だけ逆回転して
軸38を後退させることによりピストン31の移動可能
距離、即ち容積変化付加器24の所定容積変化Δ■がセ
ットされる。この状態で第2図に示すステップS4の検
出工程において三方電磁弁26を導通させると、空間2
9に与えられる圧力によりピストン31は軸38の端面
にぶつかるまで移動し、円筒室27の所定の容積増加Δ
Vをワーク側空気系42に与えることができる。
の最も奥まで偏位されている状態でマイクロメータ33
を回転し、その軸38の端面がピストンロフト31Bの
端面にぶつかる所でマイクロメータ33の零位置を合せ
、その後ピストン31をコイルバネ37でその位置に保
持したままマイクロメータ33を所定数だけ逆回転して
軸38を後退させることによりピストン31の移動可能
距離、即ち容積変化付加器24の所定容積変化Δ■がセ
ットされる。この状態で第2図に示すステップS4の検
出工程において三方電磁弁26を導通させると、空間2
9に与えられる圧力によりピストン31は軸38の端面
にぶつかるまで移動し、円筒室27の所定の容積増加Δ
Vをワーク側空気系42に与えることができる。
この発明の洩れ検査装置は第3B図に示すように更に動
作制御装置20を有し、リークテスト及び較正の工程シ
ークエンスを制御し、電磁弁13゜14.15.26の
制御を行い、差圧検出器18と圧力検出器46からの信
号を受け、洩れ量あるいは等傷内容積を計算し、洩れ量
を表示し、あるいはアラームを作動させる等の動作を行
う、動作制御装置20は互いに共通バス49で接続され
たCPU 25A、ROM 25BSRAM 25C,
入力ポート25D、出力ポート25Eからなる演算制御
部25と、マルチプレクサ22を介して差圧検出器18
及び圧力検出器46の出力に選択的に接続され、それぞ
れからの信号を増幅する増幅器19と、この増幅器の出
力である増幅された差圧信号又は圧力信号をディジタル
信号に変換するAD変換器34と、各電磁弁13,14
,15.26を駆動するための駆動回路39と、洩れ量
やデータ入力フォーマットを表示する表示器36と、操
作者に各種の判断をリクエストする指示器47とそのリ
クエストに応じて指示を与えるブツシュボタンのセット
41と、各種データを入力するためのテン+−35Aと
、表示器36上の所望の位置にカーソルを移動させるた
めのカーソルシフトキー35Bと、メモリ内の表示すべ
き領域(頁)をシフトするページシフトキー35C等を
備えている。AD変換器34、テンキー35A5カーソ
ルシフトキー35B、ページシフトキー35C等の出力
は、入力ポート25Dを介してバス49に供給され、又
バス49から出力ボート25Eを介して表示器36、ド
ライバ39等に信号が供給される。これらに加えてこの
発明では共通バス49に接続された不1発性RAM48
が設けられていることが特に重要である。この不運発性
RAM48には各ワークの種類に対して種々のデータが
記憶されている。
作制御装置20を有し、リークテスト及び較正の工程シ
ークエンスを制御し、電磁弁13゜14.15.26の
制御を行い、差圧検出器18と圧力検出器46からの信
号を受け、洩れ量あるいは等傷内容積を計算し、洩れ量
を表示し、あるいはアラームを作動させる等の動作を行
う、動作制御装置20は互いに共通バス49で接続され
たCPU 25A、ROM 25BSRAM 25C,
入力ポート25D、出力ポート25Eからなる演算制御
部25と、マルチプレクサ22を介して差圧検出器18
及び圧力検出器46の出力に選択的に接続され、それぞ
れからの信号を増幅する増幅器19と、この増幅器の出
力である増幅された差圧信号又は圧力信号をディジタル
信号に変換するAD変換器34と、各電磁弁13,14
,15.26を駆動するための駆動回路39と、洩れ量
やデータ入力フォーマットを表示する表示器36と、操
作者に各種の判断をリクエストする指示器47とそのリ
クエストに応じて指示を与えるブツシュボタンのセット
41と、各種データを入力するためのテン+−35Aと
、表示器36上の所望の位置にカーソルを移動させるた
めのカーソルシフトキー35Bと、メモリ内の表示すべ
き領域(頁)をシフトするページシフトキー35C等を
備えている。AD変換器34、テンキー35A5カーソ
ルシフトキー35B、ページシフトキー35C等の出力
は、入力ポート25Dを介してバス49に供給され、又
バス49から出力ボート25Eを介して表示器36、ド
ライバ39等に信号が供給される。これらに加えてこの
発明では共通バス49に接続された不1発性RAM48
が設けられていることが特に重要である。この不運発性
RAM48には各ワークの種類に対して種々のデータが
記憶されている。
第4図は不揮発性RAM48に記憶されるデータの例を
示す、各ワークの種類はチャンネルナンバーCHI、C
)+2.・・・で表わし、例えばアドレス000〜00
9にはチャンネル1(CHI)のデータ、アドレス00
10〜0019にはチャンネル2 (CH2)のデー
タ、のように記憶されている。例えばチャンネルCHI
の時間に関するデータとしては第2図におけるステップ
S2の加圧期間(COG) T+ 、ステップS、の平
衡時間(BAL) Tt−ステップS4の検出時間(D
ET) Tsがそれぞれアドレス0000.0001゜
0002に記憶されている。洩れ量に関するデータとし
てはステップS、において検出する大リークの判定基準
LMT L+と、ステップS4において検出する小リー
クの許容洩れIILMT Lxがそれぞれアドレス00
03.0004に記憶されている。圧力に関するデ−タ
としてはアドレス0005と0006にそれぞれ設定す
るテスト圧力の下限P、と上限P、が記憶されている。
示す、各ワークの種類はチャンネルナンバーCHI、C
)+2.・・・で表わし、例えばアドレス000〜00
9にはチャンネル1(CHI)のデータ、アドレス00
10〜0019にはチャンネル2 (CH2)のデー
タ、のように記憶されている。例えばチャンネルCHI
の時間に関するデータとしては第2図におけるステップ
S2の加圧期間(COG) T+ 、ステップS、の平
衡時間(BAL) Tt−ステップS4の検出時間(D
ET) Tsがそれぞれアドレス0000.0001゜
0002に記憶されている。洩れ量に関するデータとし
てはステップS、において検出する大リークの判定基準
LMT L+と、ステップS4において検出する小リー
クの許容洩れIILMT Lxがそれぞれアドレス00
03.0004に記憶されている。圧力に関するデ−タ
としてはアドレス0005と0006にそれぞれ設定す
るテスト圧力の下限P、と上限P、が記憶されている。
更にアドレス0007には洩れ量の平均をとる場合のサ
ンプル数Sl’lP Xが、アドレス000Bには等価
内容積V、がそれぞれ記憶されている。以下チャンネル
CH2,CH3等も同様である。リークテスト時又は較
正時にワークの種類に応じて対応するチャンネル領域内
の必要なデータを読出して使用する。
ンプル数Sl’lP Xが、アドレス000Bには等価
内容積V、がそれぞれ記憶されている。以下チャンネル
CH2,CH3等も同様である。リークテスト時又は較
正時にワークの種類に応じて対応するチャンネル領域内
の必要なデータを読出して使用する。
第5図は第3図における動作制御装置20の正面外観を
示し、この実施例では容積変化付加器24はそのマイク
ロメータヘッド33が外側に出るように装置20の正面
パネル20Aに取付けられている。正面パネル20Aに
は更にテンキ−35A1カーソルシフトキー35B1頁
シフトキー35c、表示器36、ブツシュボタン4H4
1A〜41E)、指示器41 (47A〜47D)が取
付けられている。
示し、この実施例では容積変化付加器24はそのマイク
ロメータヘッド33が外側に出るように装置20の正面
パネル20Aに取付けられている。正面パネル20Aに
は更にテンキ−35A1カーソルシフトキー35B1頁
シフトキー35c、表示器36、ブツシュボタン4H4
1A〜41E)、指示器41 (47A〜47D)が取
付けられている。
第3A、3B図に示すこの発明の洩れ検査装置のリーク
テストモードにおけるシークエンスは基本的に第2図に
示す従来のものとほぼ同じであるが、この発明では第6
図にフローチャートで示すようにROM25Bに書込ま
れている動作プログラムの命令を順次読出してCPU2
5Aがその命令を実行するようにされている。即ちステ
ップS、−1でまず操作者は押ボタン41Aを押すこと
によりテストモードであることを入力し、テストすべき
ワーク16をワーク側空気系42に接続し、圧力計44
を見ながら減圧弁12を調節してほぼ測定圧力に設定す
る0通常一連のリークテストにおいて異ワたワークの種
類に対しても同じ測定圧力を使う場合が多いので、一旦
測定圧の設定を行えば以後の各リークテストでは行う必
要がない、ワークがセットされるとセットされたワーク
の種類に対応するチャンネル番号データCH#が入力ポ
ート25Dを介してCPU25Aに取込まれる。チャン
ネル番号データCH#は普通ワークの製造ラインにおけ
る自動リーク検査工程を制御するシステム(図示せず)
から与えられるが、操作者がテンキー35Aにより入力
してもよい。
テストモードにおけるシークエンスは基本的に第2図に
示す従来のものとほぼ同じであるが、この発明では第6
図にフローチャートで示すようにROM25Bに書込ま
れている動作プログラムの命令を順次読出してCPU2
5Aがその命令を実行するようにされている。即ちステ
ップS、−1でまず操作者は押ボタン41Aを押すこと
によりテストモードであることを入力し、テストすべき
ワーク16をワーク側空気系42に接続し、圧力計44
を見ながら減圧弁12を調節してほぼ測定圧力に設定す
る0通常一連のリークテストにおいて異ワたワークの種
類に対しても同じ測定圧力を使う場合が多いので、一旦
測定圧の設定を行えば以後の各リークテストでは行う必
要がない、ワークがセットされるとセットされたワーク
の種類に対応するチャンネル番号データCH#が入力ポ
ート25Dを介してCPU25Aに取込まれる。チャン
ネル番号データCH#は普通ワークの製造ラインにおけ
る自動リーク検査工程を制御するシステム(図示せず)
から与えられるが、操作者がテンキー35Aにより入力
してもよい。
次に加圧工程に入りステップSZ−+でそのチャンネル
の加圧時間データC)IG T、を不揮発性RAM 4
8から読出しRAM25Cの所定のアドレス位1に設定
し、一定時間毎に設定値から減算していくタイマを形成
する。ステップS、−2でCPU25Aは三方電磁弁1
3を導通させるようコマンドデータをバス49、出力ボ
ート25Eを介してドライバ39に与える。この時常時
開の三方電磁弁14.15は導通しているので圧縮空気
のワーク側及びマスター側空気系に対する加圧が開始さ
れる。ステップ5t−Sで設定時間T、が経過したか判
定される。
の加圧時間データC)IG T、を不揮発性RAM 4
8から読出しRAM25Cの所定のアドレス位1に設定
し、一定時間毎に設定値から減算していくタイマを形成
する。ステップS、−2でCPU25Aは三方電磁弁1
3を導通させるようコマンドデータをバス49、出力ボ
ート25Eを介してドライバ39に与える。この時常時
開の三方電磁弁14.15は導通しているので圧縮空気
のワーク側及びマスター側空気系に対する加圧が開始さ
れる。ステップ5t−Sで設定時間T、が経過したか判
定される。
T、が経過すると平衡工程に入りステップ5ff−1で
対応チャンネルの平衡時間データBAL Ttを不揮発
性RAM4Bから読出し、RAM25Cの所定のアドレ
ス位置に設定してT2タイマを形成する。ステップ5S
−tで三方電磁弁14.15を閉じるようCPt125
Aからドライバ39にコマンドデータを与える。ステッ
プS、−1でCPLI25Aはマルチプレクサ22に選
択命令を与え差圧検出器18からの検出差圧ΔPをAD
変換器34からディジタル値として取込む、ステップ5
S−aでCPLI25Aは不揮発性RAM48の対応チ
ャンネルから等価内容積Vtを読出し、洩れ量Δ■1を
式(8)により計算する。ステップ53−3で計算した
洩れ量ΔvLを不揮発性RAM48の対応チャンネルか
ら読出した許容大リークし、と比較し、許容大リーク値
L+を越えていればステップ54−3に移り、リーク有
を示す警告ランプ47Aを点灯するよう指示器47に信
号を与える。許容大リーク値以下であればステップS、
−6でTtタイマの設定時間T2が経過したか判定され
る。T、が経過してなければステップ53−1に戻り再
び差圧ΔPを読み、同様の大リーク検出を繰返す。
対応チャンネルの平衡時間データBAL Ttを不揮発
性RAM4Bから読出し、RAM25Cの所定のアドレ
ス位置に設定してT2タイマを形成する。ステップ5S
−tで三方電磁弁14.15を閉じるようCPt125
Aからドライバ39にコマンドデータを与える。ステッ
プS、−1でCPLI25Aはマルチプレクサ22に選
択命令を与え差圧検出器18からの検出差圧ΔPをAD
変換器34からディジタル値として取込む、ステップ5
S−aでCPLI25Aは不揮発性RAM48の対応チ
ャンネルから等価内容積Vtを読出し、洩れ量Δ■1を
式(8)により計算する。ステップ53−3で計算した
洩れ量ΔvLを不揮発性RAM48の対応チャンネルか
ら読出した許容大リークし、と比較し、許容大リーク値
L+を越えていればステップ54−3に移り、リーク有
を示す警告ランプ47Aを点灯するよう指示器47に信
号を与える。許容大リーク値以下であればステップS、
−6でTtタイマの設定時間T2が経過したか判定され
る。T、が経過してなければステップ53−1に戻り再
び差圧ΔPを読み、同様の大リーク検出を繰返す。
ΔVLが許容大リーク以下で時間T2が経過すると検出
工程に入り、ステップ5a−tで対応チャンネルの検出
時間データDET T3を不揮発性RAM 48から読
出し、)lAM25Gの所定アドレス位置に設定してT
、タイマを形成する。ステップ54−1でCPu25A
の指令により増幅器19の利得を大に切換えるとともに
増幅器の出力を零にリセットする、ステップ54−3で
差圧検出器18がらの差圧ΔPをAD変換器34を介し
て取込む。ステップS、−4で不揮発性RAM48の対
応チャンネルから等偏向容積V、を読出し、洩れ量Δv
Lを式(8)により計算する。ステップ54−Sで計算
した洩れ量ΔvLを不揮発性RAM48の対応チャンネ
ルから読出した許容巾リークL、と比較し、L2を越え
ていればステップ54−1に移り、リーク有りの警告ラ
ンプ47Aを点灯するeLt以下であればステップ54
−6でT、タイマの設定時間T、が経過したか判定する
。T、が経過していなければステップ54−1に戻り、
再び差圧ΔPを読み同様の小リーク検出を繰返す、計算
した洩れ量ΔvLが許容巾リーク以下でかつ時間T、が
経過するとステップ54−1でテストしたワークの洩れ
は許容洩れ量Lx以下であり、良品と判定しその表示ラ
ンプ47Bを点灯する。その後ステップ54−9で三方
電磁弁14.15を閉じていた駆動信号を解除し、かつ
三方電磁弁13を排気(ベント)するようドライバ39
にコマンドを与える。ステップ34−1゜ですべてのワ
ークについてリークテストを完了したか判定し、完了し
てない場合はステップ31−1に戻り次のワークを設定
し、同様のテストを繰返す。
工程に入り、ステップ5a−tで対応チャンネルの検出
時間データDET T3を不揮発性RAM 48から読
出し、)lAM25Gの所定アドレス位置に設定してT
、タイマを形成する。ステップ54−1でCPu25A
の指令により増幅器19の利得を大に切換えるとともに
増幅器の出力を零にリセットする、ステップ54−3で
差圧検出器18がらの差圧ΔPをAD変換器34を介し
て取込む。ステップS、−4で不揮発性RAM48の対
応チャンネルから等偏向容積V、を読出し、洩れ量Δv
Lを式(8)により計算する。ステップ54−Sで計算
した洩れ量ΔvLを不揮発性RAM48の対応チャンネ
ルから読出した許容巾リークL、と比較し、L2を越え
ていればステップ54−1に移り、リーク有りの警告ラ
ンプ47Aを点灯するeLt以下であればステップ54
−6でT、タイマの設定時間T、が経過したか判定する
。T、が経過していなければステップ54−1に戻り、
再び差圧ΔPを読み同様の小リーク検出を繰返す、計算
した洩れ量ΔvLが許容巾リーク以下でかつ時間T、が
経過するとステップ54−1でテストしたワークの洩れ
は許容洩れ量Lx以下であり、良品と判定しその表示ラ
ンプ47Bを点灯する。その後ステップ54−9で三方
電磁弁14.15を閉じていた駆動信号を解除し、かつ
三方電磁弁13を排気(ベント)するようドライバ39
にコマンドを与える。ステップ34−1゜ですべてのワ
ークについてリークテストを完了したか判定し、完了し
てない場合はステップ31−1に戻り次のワークを設定
し、同様のテストを繰返す。
次にチェック較正モードについて第7A、7B図を参照
して説明する。前述のように較正とは等偏向容積V、を
新たに測定し、古いV、のデータと書換えることである
。チェック又は較正を行うためのシークエンスは第2図
のリークテストシークエンスと同様に加圧工程、平衡工
程、検出工程を基本的に含む、まずステップS+−+で
チェック又は較正すべきワークの種類の洩れのないもの
をワーク側空気系42に接続する。又押ボタン41Bか
41Cを押し、較正かチェックかを指定する。
して説明する。前述のように較正とは等偏向容積V、を
新たに測定し、古いV、のデータと書換えることである
。チェック又は較正を行うためのシークエンスは第2図
のリークテストシークエンスと同様に加圧工程、平衡工
程、検出工程を基本的に含む、まずステップS+−+で
チェック又は較正すべきワークの種類の洩れのないもの
をワーク側空気系42に接続する。又押ボタン41Bか
41Cを押し、較正かチェックかを指定する。
ステップS I−!で与えるべき容積変化(増加)ΔV
をマイクロメータへ7ド33を回転することにより設定
し、そのΔVの値をテンキー35Aにより入力し、RA
M25Cの所定のアドレス位置に記憶する。
をマイクロメータへ7ド33を回転することにより設定
し、そのΔVの値をテンキー35Aにより入力し、RA
M25Cの所定のアドレス位置に記憶する。
次に加圧工程に入りステップ58−1でワークの種類に
対応するチャンネルの加圧時間データCHG T+を不
揮発性RAM48から読出し、I?AM25Gの所定ア
ドレス位置に設定してT+ タイマを形成する。
対応するチャンネルの加圧時間データCHG T+を不
揮発性RAM48から読出し、I?AM25Gの所定ア
ドレス位置に設定してT+ タイマを形成する。
ステップS!−8で三方電磁弁13を導通させるようド
ライバ39に命令を与え、圧力Pに設定された圧縮空気
をワーク側及びマスター側空気系42゜43に導入する
。ステップSト、で時間T1が経過したと判定されると
次の平衡工程に入る。
ライバ39に命令を与え、圧力Pに設定された圧縮空気
をワーク側及びマスター側空気系42゜43に導入する
。ステップSト、で時間T1が経過したと判定されると
次の平衡工程に入る。
平衡工程のステップS、−1で対応するチャンネルの平
衡時間データBAL Txを不揮発性RAl’148か
ら読出し、RAM25Cの所定のアドレス位置に設定し
てTtタイマを形成する。ステップS、−2で三方電磁
弁14.15を閉じるようドライバ39に命令を与える
。ステップ53−3で時間T2が経過したと判定される
とステップ53−4でCPU25Aはマルチプレクサ2
2に選択命令を与え圧力検出器46が示すテスト圧力P
を増幅器19、AD変換器34、入力ボート25Dを介
して取込む。
衡時間データBAL Txを不揮発性RAl’148か
ら読出し、RAM25Cの所定のアドレス位置に設定し
てTtタイマを形成する。ステップS、−2で三方電磁
弁14.15を閉じるようドライバ39に命令を与える
。ステップ53−3で時間T2が経過したと判定される
とステップ53−4でCPU25Aはマルチプレクサ2
2に選択命令を与え圧力検出器46が示すテスト圧力P
を増幅器19、AD変換器34、入力ボート25Dを介
して取込む。
検出工程のステップ84−1で対応するチャンネルの検
出時間データDET↑、を不揮発性RAM48から読出
し、RAM25Cの所定アドレス位置に設定してT、タ
イマを形成する。ステップ84−2で三方電磁弁26を
導通させるようドライバ39に命令を与える。その結果
容積変化付加器24のピストンがマイクロメータヘッド
33の方向に移動し、円筒室27に設定した容積ΔVの
増加を与え、即ちワーク側空気系42に容積変化+ΔV
を与える。ステップ54−1で時間T、が経過したと判
定されるとステップ34−4で差圧検出器18から差圧
ΔPを取込む、ステップ54−3で先に得たテスト圧力
P1容積変化ΔVE差圧ΔPから式頭を使って等偏向容
積V、を計算する。ステップ54−1で操作者が指定し
たのが較正であるか否か判定し、その結果YESであれ
ばステップ54−1で計算結果V、はテスト圧力P、差
圧ΔP、容積変化Δ■とともに表示器36に表示される
。それと同時に計算結果vtで不揮発性RAM48の対
応チャンネルに記憶されていた等偏向容積データ■、を
書換える。ステップS4−、で三方電磁弁14.15
(Vz+V3)を導通し、三方電磁弁13. 26
(Vl、VJ)をベント(大気開放)する、ステップS
4−?で必要なワークの種類について較正が終了したか
判定し、NOであればステップS I−1に戻り、洩れ
のない次の種類のワークをセントする。 YESであれ
ばリークテストモードに入る。ステップS44でNOと
判定されると操作者はチェックを指定したと判断し、ス
テップSa−+*で計算したVz(NEI4 Vi)と
不揮発性RAM48の対応チャンネルから読出したVt
(OLD Vt)との間のエラーE(%)を計算し、
NE賀Vt 、 OLD Viとともに表示器36に表
示する。ステップ54−1でエラーEが所定値E。
出時間データDET↑、を不揮発性RAM48から読出
し、RAM25Cの所定アドレス位置に設定してT、タ
イマを形成する。ステップ84−2で三方電磁弁26を
導通させるようドライバ39に命令を与える。その結果
容積変化付加器24のピストンがマイクロメータヘッド
33の方向に移動し、円筒室27に設定した容積ΔVの
増加を与え、即ちワーク側空気系42に容積変化+ΔV
を与える。ステップ54−1で時間T、が経過したと判
定されるとステップ34−4で差圧検出器18から差圧
ΔPを取込む、ステップ54−3で先に得たテスト圧力
P1容積変化ΔVE差圧ΔPから式頭を使って等偏向容
積V、を計算する。ステップ54−1で操作者が指定し
たのが較正であるか否か判定し、その結果YESであれ
ばステップ54−1で計算結果V、はテスト圧力P、差
圧ΔP、容積変化Δ■とともに表示器36に表示される
。それと同時に計算結果vtで不揮発性RAM48の対
応チャンネルに記憶されていた等偏向容積データ■、を
書換える。ステップS4−、で三方電磁弁14.15
(Vz+V3)を導通し、三方電磁弁13. 26
(Vl、VJ)をベント(大気開放)する、ステップS
4−?で必要なワークの種類について較正が終了したか
判定し、NOであればステップS I−1に戻り、洩れ
のない次の種類のワークをセントする。 YESであれ
ばリークテストモードに入る。ステップS44でNOと
判定されると操作者はチェックを指定したと判断し、ス
テップSa−+*で計算したVz(NEI4 Vi)と
不揮発性RAM48の対応チャンネルから読出したVt
(OLD Vt)との間のエラーE(%)を計算し、
NE賀Vt 、 OLD Viとともに表示器36に表
示する。ステップ54−1でエラーEが所定値E。
より小さいと判定されるとステップS4−1−でGOク
ランプ7Cを点灯し、第6図に示したリークテストモー
ドに入ってよいことを示す、又エラーEが所定値Eイよ
り大と判定された場合はステップSa−+ZでERRO
Rランプ47Dを点灯する。この場合は操作者はflR
RORランプ47Dの点灯が1回目であればまずリーク
検査装置の異常があるかを点検すべきであると判断し、
CHIICKの押しボタン41Cを押す、従つてステッ
プS4−72での較正モードか?の判定はNoであると
CPU25Aによって判定され、ステップ34−14に
進み、三方電磁弁13.26(Vl、Vi)をベントし
、三方電磁弁14゜t 5 (vz、vs)を開にする
。操作者は差圧検出器1Bやその他の装置に異常がない
か、又空気系42゜43のそれぞれの接続部に異常がな
いかを点検し、異常を発見したら適切な処置をして異常
を除き、再びチェックモードを行う用意ができるとチェ
ックの押しボタン41Cを押す、ステップS4−+5で
チェックボタンが押されたことを検出するとステップS
!−6に戻り、再びチェックモードを同様に実行し、ス
テップ34−11で再びエラーEが所定値E、より大と
判定され、ステップS4−+1でエラーランプ47Dが
点灯されると、このERRORランプの点灯は2回目で
あるのですでに装置の点検は行っており、装置には異常
がないと判断し、従って較正を行うべきだと判断し、操
作者はCALBボタン41Bを押す、ステップ5a−1
sで較正ボタンが押されたことを検出しステップ31−
1に戻り較正モードに入る。各ワークの種類について較
正が終了するまで較正モードを繰返し実行する。
ランプ7Cを点灯し、第6図に示したリークテストモー
ドに入ってよいことを示す、又エラーEが所定値Eイよ
り大と判定された場合はステップSa−+ZでERRO
Rランプ47Dを点灯する。この場合は操作者はflR
RORランプ47Dの点灯が1回目であればまずリーク
検査装置の異常があるかを点検すべきであると判断し、
CHIICKの押しボタン41Cを押す、従つてステッ
プS4−72での較正モードか?の判定はNoであると
CPU25Aによって判定され、ステップ34−14に
進み、三方電磁弁13.26(Vl、Vi)をベントし
、三方電磁弁14゜t 5 (vz、vs)を開にする
。操作者は差圧検出器1Bやその他の装置に異常がない
か、又空気系42゜43のそれぞれの接続部に異常がな
いかを点検し、異常を発見したら適切な処置をして異常
を除き、再びチェックモードを行う用意ができるとチェ
ックの押しボタン41Cを押す、ステップS4−+5で
チェックボタンが押されたことを検出するとステップS
!−6に戻り、再びチェックモードを同様に実行し、ス
テップ34−11で再びエラーEが所定値E、より大と
判定され、ステップS4−+1でエラーランプ47Dが
点灯されると、このERRORランプの点灯は2回目で
あるのですでに装置の点検は行っており、装置には異常
がないと判断し、従って較正を行うべきだと判断し、操
作者はCALBボタン41Bを押す、ステップ5a−1
sで較正ボタンが押されたことを検出しステップ31−
1に戻り較正モードに入る。各ワークの種類について較
正が終了するまで較正モードを繰返し実行する。
上述のようにして洩れ検査装置のワークの種類に対する
感度チェック又は較正を行うが、通常はこれら感度チェ
ック又は較正の前、詳しくは第7A図のステップSト、
に入る前に破線で示すように洩れ検査装置のドリフト量
を差圧ドリフトP aとして測定し、ステップ54−4
の次に破線で示すように検出差圧ΔPに対しドリフト補
正を行う。
感度チェック又は較正を行うが、通常はこれら感度チェ
ック又は較正の前、詳しくは第7A図のステップSト、
に入る前に破線で示すように洩れ検査装置のドリフト量
を差圧ドリフトP aとして測定し、ステップ54−4
の次に破線で示すように検出差圧ΔPに対しドリフト補
正を行う。
このドリフト補正については例えば特願昭56−148
440 (昭和56年9月18日出IJ)及び実願昭5
8−171441 (昭和58年11月4日出Itl)
に詳しく述べられているので説明を省略する。
440 (昭和56年9月18日出IJ)及び実願昭5
8−171441 (昭和58年11月4日出Itl)
に詳しく述べられているので説明を省略する。
更に前述の説明から明らかなようにこの発明の洩れ検査
装置ではリークテストモードとチェック・較正モードの
いずれかにおいても不揮発性RAM 4B内の接続する
ワークの種類に対応したチャンネルに属する各種データ
を読み出して使用することが特徴となっている。従って
これらのデータはあらかじめ不揮発性RAM48内に書
込んでおかなければならない。この発明の装置の実施例
では画面上設定方式(スクリーンエデイツト)で次のよ
うにしてデータ入力を行う、第5図に示す動作制御装置
20の正面パネルの押ボタンスイッチ41D(SET)
を押してCPt125Aにデータ入力を行うことを示す
信号を与える。この信号に応答してcpυ25Aは12
0M25B内のデータ設定プログラムの実行を開始する
。まず表示器36に例えば入力するデータの種類を表わ
すTIME、 14M1丁、 GOIJDITION等
の文字が表示される。操作者はカーソルシフトキー35
Bを操作して画面上のカーソル36Aを移動し、入力し
ようとするデータの種類を指定する文字の例えばTIM
Eの上に設定するとそのTIMEの表示が点滅する0次
にテンキー35Aの人カキ−ENを押し、ワークの種類
に対応するチャンネル番号例えばlをテンキー35Aで
入力した後入カキ−ENを押すと表示器36に指定した
チャンネル1の各種データのうち指定したTIMEデー
タが入るべき第1頁のデータ表を例えば図示のように表
示する。このデータ表は第4図に示す不揮発性RAM内
の時間データCHG、 BAL、 DETを人力するた
めのものである、再びカーソルシフトキー35Bにより
カーソルを移動させて例えばCHGを指定して表示を点
滅させ、加圧時間T、をテンキー35Aにより入力し、
人カキ−ENを押すと人力したTIの値がCHGの行に
表示される。以下同様に平衡時間Tt、検出時間T、を
入力する。
装置ではリークテストモードとチェック・較正モードの
いずれかにおいても不揮発性RAM 4B内の接続する
ワークの種類に対応したチャンネルに属する各種データ
を読み出して使用することが特徴となっている。従って
これらのデータはあらかじめ不揮発性RAM48内に書
込んでおかなければならない。この発明の装置の実施例
では画面上設定方式(スクリーンエデイツト)で次のよ
うにしてデータ入力を行う、第5図に示す動作制御装置
20の正面パネルの押ボタンスイッチ41D(SET)
を押してCPt125Aにデータ入力を行うことを示す
信号を与える。この信号に応答してcpυ25Aは12
0M25B内のデータ設定プログラムの実行を開始する
。まず表示器36に例えば入力するデータの種類を表わ
すTIME、 14M1丁、 GOIJDITION等
の文字が表示される。操作者はカーソルシフトキー35
Bを操作して画面上のカーソル36Aを移動し、入力し
ようとするデータの種類を指定する文字の例えばTIM
Eの上に設定するとそのTIMEの表示が点滅する0次
にテンキー35Aの人カキ−ENを押し、ワークの種類
に対応するチャンネル番号例えばlをテンキー35Aで
入力した後入カキ−ENを押すと表示器36に指定した
チャンネル1の各種データのうち指定したTIMEデー
タが入るべき第1頁のデータ表を例えば図示のように表
示する。このデータ表は第4図に示す不揮発性RAM内
の時間データCHG、 BAL、 DETを人力するた
めのものである、再びカーソルシフトキー35Bにより
カーソルを移動させて例えばCHGを指定して表示を点
滅させ、加圧時間T、をテンキー35Aにより入力し、
人カキ−ENを押すと人力したTIの値がCHGの行に
表示される。以下同様に平衡時間Tt、検出時間T、を
入力する。
TIMEデータの入力が終り、次に許容洩れ量や測定圧
力等の限界範囲に関するLIMITデータを入力する場
合は頁シフトキー35Cにより頁を歩進するとチャンネ
ル1の第2頁のデータ表が表示され前述と同様の操作に
よりデータを入力することができる。更にすでに書込ん
であるデータの更新あるいは訂正も同じ手法によって行
うことができる。
力等の限界範囲に関するLIMITデータを入力する場
合は頁シフトキー35Cにより頁を歩進するとチャンネ
ル1の第2頁のデータ表が表示され前述と同様の操作に
よりデータを入力することができる。更にすでに書込ん
であるデータの更新あるいは訂正も同じ手法によって行
うことができる。
第3図の実施例において測定圧力Pが比較的に小さく、
容積変化付加器24の円筒室30にバランスをとるため
の圧力をワーク側空気系42から与えないでも、コイル
バネ37によるバネ力で円筒室27に与えられる測定圧
力に抗してピストン31をマイクロメータ軸38から最
も遠い最小容積位置に保持できる場合は、空気配管23
から円筒室30への接続配管を無くしてもよい、その場
合、圧縮空気源11から電磁弁26を介して空間29に
与えることができる圧力はコイルバネ37に十分打ち勝
つ大きさであればよい。
容積変化付加器24の円筒室30にバランスをとるため
の圧力をワーク側空気系42から与えないでも、コイル
バネ37によるバネ力で円筒室27に与えられる測定圧
力に抗してピストン31をマイクロメータ軸38から最
も遠い最小容積位置に保持できる場合は、空気配管23
から円筒室30への接続配管を無くしてもよい、その場
合、圧縮空気源11から電磁弁26を介して空間29に
与えることができる圧力はコイルバネ37に十分打ち勝
つ大きさであればよい。
第3図の実施例においては容積変化付加器24の駆動力
手段として圧縮空気を用いたが、次に駆動力としてステ
ッピングモータ(パルスモータ)を使った例を第8図に
示す、容積変化付加器24は動作制御装置20(第5図
)の筐体内の垂直板50に取付けられ、円筒シリンダ3
2と、シリンダ32内に挿入されたピストン31を含む
。ピストン31にはその中心軸と平行に延びる鍵57が
ピストン外周面から突出するように設けられ、ピストン
31の移動とともにシリンダ内面に軸方向に切られた溝
58に案内され、それによってピストン31が回転しな
いようにされている。垂直板50に取付けられたステッ
ピングモータ51の回転軸に取付けられたギヤ52は駆
動ギヤ53と噛み合い、駆動ギヤ53の軸穴内面に切ら
れたネジにピストン31に一体のネジ棒54Aが係合挿
通されている。駆動ギヤ53はシリンダ32に対し軸方
向位置が固定されている。ネジ棒54Aから更に一体に
軸方向に棒54Bが延長され、この棒54Bにリミット
マグネット55A、55Bが取付けられている。リミッ
トマグネット55A、 55Bの移動通路と対向して固
定された位置にリードスイッチ56A、56Bが設けら
れ、それぞれ与えることができる最大容積位置と最小容
積位置を検出することができる。
手段として圧縮空気を用いたが、次に駆動力としてステ
ッピングモータ(パルスモータ)を使った例を第8図に
示す、容積変化付加器24は動作制御装置20(第5図
)の筐体内の垂直板50に取付けられ、円筒シリンダ3
2と、シリンダ32内に挿入されたピストン31を含む
。ピストン31にはその中心軸と平行に延びる鍵57が
ピストン外周面から突出するように設けられ、ピストン
31の移動とともにシリンダ内面に軸方向に切られた溝
58に案内され、それによってピストン31が回転しな
いようにされている。垂直板50に取付けられたステッ
ピングモータ51の回転軸に取付けられたギヤ52は駆
動ギヤ53と噛み合い、駆動ギヤ53の軸穴内面に切ら
れたネジにピストン31に一体のネジ棒54Aが係合挿
通されている。駆動ギヤ53はシリンダ32に対し軸方
向位置が固定されている。ネジ棒54Aから更に一体に
軸方向に棒54Bが延長され、この棒54Bにリミット
マグネット55A、55Bが取付けられている。リミッ
トマグネット55A、 55Bの移動通路と対向して固
定された位置にリードスイッチ56A、56Bが設けら
れ、それぞれ与えることができる最大容積位置と最小容
積位置を検出することができる。
第8図の実施例でチェック・較正を行う場合、第7A図
に示すフローチャートのステップS I−!においてテ
ンキー35Aにより入力した付加すべき容積変化Δ■か
らCPU25Aは対応するパルス数Nを計算する。ステ
ップS44においてCPU25Aはモータ駆動回路(図
示せず)に計算した数Nのパルスを発生させ、そのパル
スをステ7ピングモータ51に与えNステップ歩進回転
させる。
に示すフローチャートのステップS I−!においてテ
ンキー35Aにより入力した付加すべき容積変化Δ■か
らCPU25Aは対応するパルス数Nを計算する。ステ
ップS44においてCPU25Aはモータ駆動回路(図
示せず)に計算した数Nのパルスを発生させ、そのパル
スをステ7ピングモータ51に与えNステップ歩進回転
させる。
これによってピストン31は抜ける方向に移動し、設定
した容積変化Δ■を円筒室27に与えることができる。
した容積変化Δ■を円筒室27に与えることができる。
その他のステップにおける動作は第3図の実施例の場合
(即ち第7A、7B図に示す動作)と同じである。
(即ち第7A、7B図に示す動作)と同じである。
第7A、7B図に示すフローチャートにおいてチェック
モードは等傷内容積vtを測定し、既に不揮発性RAM
に記憶してある古い■1と比較することによって行った
が、等価容積変化ΔvEを測定し、与えた既知の容積変
化ΔVと比較して行ってもよい、これは次の原理による
。容積変化付加器24によりワーク側空気系に与える容
積変化ΔV(圧力P)は洩れと等価であり、従って逆に
式(8)に示される大気圧への洩れ量Δ■、を式(9)
によりテスト圧力Pにおける体積ΔVE即ち等価容積変
化ΔVtに換算することができる0式(9)のΔ■をΔ
VEとおき、式(8)のΔ■Lを式(9)に代入すると
次式が得られる。
モードは等傷内容積vtを測定し、既に不揮発性RAM
に記憶してある古い■1と比較することによって行った
が、等価容積変化ΔvEを測定し、与えた既知の容積変
化ΔVと比較して行ってもよい、これは次の原理による
。容積変化付加器24によりワーク側空気系に与える容
積変化ΔV(圧力P)は洩れと等価であり、従って逆に
式(8)に示される大気圧への洩れ量Δ■、を式(9)
によりテスト圧力Pにおける体積ΔVE即ち等価容積変
化ΔVtに換算することができる0式(9)のΔ■をΔ
VEとおき、式(8)のΔ■Lを式(9)に代入すると
次式が得られる。
1.03+P
従ってリーク検査装置のリーク検出感度(1,03/V
t)が正しければ、即ちVtが正しければ弐〇〇により
計算した等価容積変化ΔV!は与えた容積変化ΔVとほ
ぼ等しくなる筈である。以上にもとづいてΔ■とΔVE
を比較することによりリーク検査装置の感度チェックを
行うことができる。この原理による感度チェックの工程
と第9図に示すが、ステップS I−1から34−1ま
では第7A、7B図におけるチェック工程のステップ5
1−8からS4−ffまでと同じなので説明を省略し、
ステップ54−4以下を説明する。
t)が正しければ、即ちVtが正しければ弐〇〇により
計算した等価容積変化ΔV!は与えた容積変化ΔVとほ
ぼ等しくなる筈である。以上にもとづいてΔ■とΔVE
を比較することによりリーク検査装置の感度チェックを
行うことができる。この原理による感度チェックの工程
と第9図に示すが、ステップS I−1から34−1ま
では第7A、7B図におけるチェック工程のステップ5
1−8からS4−ffまでと同じなので説明を省略し、
ステップ54−4以下を説明する。
ステップ84〜4で容積変化によって生じた差圧ΔPを
差圧検出器18から入力ボート25Dを介してCPU2
5Aに取込み、ステップS 4−5で不揮発性RA)1
4a内の対応するチャンネルの等傷内容積Vピを読出す
、ステップS 4−6でCPU25Aは等価容積変化Δ
VZを計算し、ステップ54−1で設定された容積変化
ΔVと等価容積変化ΔVEとの誤差E(%)を計算する
。ステップ34−1で誤差Eが許容誤差Eにの範囲内か
を判定し、以下は第7B図におけるステップ34−I+
以後と同様である。
差圧検出器18から入力ボート25Dを介してCPU2
5Aに取込み、ステップS 4−5で不揮発性RA)1
4a内の対応するチャンネルの等傷内容積Vピを読出す
、ステップS 4−6でCPU25Aは等価容積変化Δ
VZを計算し、ステップ54−1で設定された容積変化
ΔVと等価容積変化ΔVEとの誤差E(%)を計算する
。ステップ34−1で誤差Eが許容誤差Eにの範囲内か
を判定し、以下は第7B図におけるステップ34−I+
以後と同様である。
上述のこの発明の詳細な説明において各種指示器47A
〜47Dはランプの場合を示したが、それらのいずれも
指示又は警告を表わす音を発生する手段であってもよい
し、又ランプと音発声手段を併用してもよいことは明ら
かである。
〜47Dはランプの場合を示したが、それらのいずれも
指示又は警告を表わす音を発生する手段であってもよい
し、又ランプと音発声手段を併用してもよいことは明ら
かである。
第7A、7B図に示すフローチャートにおいてチェック
モードは較正モードとは独立した動作プログラムに従っ
て実行するようにしてもよい。
モードは較正モードとは独立した動作プログラムに従っ
て実行するようにしてもよい。
尚第6図に示すリークテストモードのフローチャートに
おけるステップ53−4及び54−4において洩れ量Δ
VLの代りに洩れ速度QL−ΔV L / T 。
おけるステップ53−4及び54−4において洩れ量Δ
VLの代りに洩れ速度QL−ΔV L / T 。
(atlIcc/5ec)を計算してもよい、この場合
は許容洩れ速度Qイ及びQ、を第4図に示す不揮発性R
AM48内の各チャンネルのLl及びL2の位置にそれ
らの替りに記憶しておき、ステップ53−3及びS 4
−5において対応チャンネルのQl及びQ。
は許容洩れ速度Qイ及びQ、を第4図に示す不揮発性R
AM48内の各チャンネルのLl及びL2の位置にそれ
らの替りに記憶しておき、ステップ53−3及びS 4
−5において対応チャンネルのQl及びQ。
を読出して判定基準として使えばよい。もちろん洩れ速
度を毎分で表わしてもよい。
度を毎分で表わしてもよい。
更に差圧検出器の差圧ΔPをmAqで表わせば1 k+
r/cjG−10’ tlAQなので例えば式(8)は
となる、同様に第6.7A、7B、9図の各フローチャ
ートにおいてもΔPをΔP/10’と置換えればよい。
r/cjG−10’ tlAQなので例えば式(8)は
となる、同様に第6.7A、7B、9図の各フローチャ
ートにおいてもΔPをΔP/10’と置換えればよい。
第1図は従来のリーク検査装置を示す図。
第2図は従来のリーク検査装置における動作を示す流れ
図。 第3A図はこの発明のリーク検査装置の実施例における
空気系を示す図。 第3B図はこの発明のリーク検査装置の実施例における
動作制御装置20の電気系ブロック図。 第4図はこの発明における不揮発性RAM48に書込ま
れているデータの内容例を示す図。 第5図は第3B図に示す動作制御装置20の正面外観を
示す図。 第6図はこの発明のリーク検査装置によるリークテスト
モードの動作流れ図。 第7A、7B図はこの発明のリーク検査装置のチェック
/較正モードのための動作流れ図。 第8図はこの発明のリーク検査装置における容積変化付
加器の他の実施例を示す図、及び第9図はこの発明のリ
ーク検査装置のチェックモードの他の例を示す動作流れ
図。 ll;圧縮空気源、13:三方電磁弁、14゜15−三
方電磁弁、16:ワーク、17:マスタータンク、18
;差圧検出器、19:増幅器、20;動作制御装置、2
4:容積変化付加器、25zマイクロコンピユータ、2
7:円筒室、31;ピストン、32Aニジリンダ、32
B:ベース、36;表示器、39:駆動回路、46:圧
力検出器、47:指示器、48:不揮発性RAM、51
;ステッピングモータ、55A、55B:リミットマグ
ネット、56A、56B:リードスイッチ。
図。 第3A図はこの発明のリーク検査装置の実施例における
空気系を示す図。 第3B図はこの発明のリーク検査装置の実施例における
動作制御装置20の電気系ブロック図。 第4図はこの発明における不揮発性RAM48に書込ま
れているデータの内容例を示す図。 第5図は第3B図に示す動作制御装置20の正面外観を
示す図。 第6図はこの発明のリーク検査装置によるリークテスト
モードの動作流れ図。 第7A、7B図はこの発明のリーク検査装置のチェック
/較正モードのための動作流れ図。 第8図はこの発明のリーク検査装置における容積変化付
加器の他の実施例を示す図、及び第9図はこの発明のリ
ーク検査装置のチェックモードの他の例を示す動作流れ
図。 ll;圧縮空気源、13:三方電磁弁、14゜15−三
方電磁弁、16:ワーク、17:マスタータンク、18
;差圧検出器、19:増幅器、20;動作制御装置、2
4:容積変化付加器、25zマイクロコンピユータ、2
7:円筒室、31;ピストン、32Aニジリンダ、32
B:ベース、36;表示器、39:駆動回路、46:圧
力検出器、47:指示器、48:不揮発性RAM、51
;ステッピングモータ、55A、55B:リミットマグ
ネット、56A、56B:リードスイッチ。
Claims (4)
- (1)A、基準タンクとワークとのそれぞれに同一の空
気圧を与える手段と、 B、基準タンクとワーク内の圧力差を計測する差圧検出
器と、 C、ワーク側の内容積を既知の量だけ変化させる容積変
化付加器と、 D、容積変化付加器によって与えられた容積変化により
発生する基準タンク及びワーク内の圧力差から上記ワー
ク側の等価内容積を算出する等価内容積算出手段と、 E、この等価内容積算出手段で算出した等価内容積を記
憶する記憶手段と、 F、この記憶手段で記憶した等価内容積と、上記容積変
化付加器によって付加した容積変化によって発生する圧
力差から等価洩れ量を求め差圧検出器を含む測定系の洩
れ検出感度を較正及びチェックする較正手段と、 G、検査時にこの記憶手段に記憶した等価内容積の値と
基準タンク及びワーク内の圧力差からワークの洩れ量を
算出する演算手段と、 H、この演算手段で算出した洩れ量を表示する表示器と
から成る洩れ検査装置。 - (2)A、基準タンクが接続されたマスター側空気系と
、 B、ワークが取換え可能に接続されたワーク側空気系と
、 C、前記マスター側空気系と前記ワーク側空気系に等し
いテスト圧力の空気を充填するための圧縮空気供給手段
と、 D、前記マスター側空気系と前記ワーク側空気系との間
に接続され、それら間の圧力差ΔPを検出するための差
圧検出手段と、 E、各ワークの種類に対応した前記ワーク側空気系の等
価内容積V_Eを記憶するための不揮発性書込み消去メ
モリ手段と、 F、前記不揮発性書込み消去メモリ手段に接続され、前
記マスター側及びワーク側空気系に対する加圧工程、平
衡工程、検出工程を含むシークエンスを制御し、リーク
テストモード時には前記不揮発性書込み消去メモリ手段
から読出した対応する等価内容積V_Eと前記検出工程
において前記差圧検出手段から供給されたワークの洩れ
により生じた圧力差ΔPとからテストされているワーク
の洩れ量ΔV_Lを計算し、その洩れ量が許容洩れ量を
越えるか否かを判定し、その判定結果を出力する制御演
算手段と、及び G、前記制御演算手段から出力された前記判定結果によ
りワークの検査結果を示す指示手段とを含む洩れ検査装
置。 - (3)A、基準タンクが接続されたマスター側空気系と
ワークが接続されたワーク側空気系に同一テスト圧力の
圧縮空気を充填する手段と、 B、前記マスター側空気系とワーク側空気系の圧力差を
測定する差圧検出手段と、 C、前記ワーク側空気系に接続されその内容積を既知の
量だけ変化させる容積変化付加手段と、 D、前記容積変化付加手段によって与えられた容積変化
により生じ前記差圧検出手段によって測定された前記ワ
ーク側空気系と前記マスター側空気系の圧力差と、前記
容積変化と前記テスト圧力とから前記ワーク側空気系の
等価内容積を算出する等価内容積算出手段と、E、ワー
クの種類ごとに算出した各前記等価内容積を記憶する不
揮発性RAMと、 F、チェック時に前記等価内容積手段により算出した新
しい等価内容積と前記不揮発性RAMに記憶してある対
応する古い等価内容積とを比較し誤差が所定値以内かど
うかを判定するチェック手段と、 G、リークテスト時に前記不揮発性RAMから読出した
対応する等価内容積と前記差圧検出手段で測定した圧力
差とからワークの洩れ量を算出する洩れ量算出手段と、 H、前記洩れ量算出手段により算出した洩れ量が許容洩
れ量以内か否かを判定する判定手段と、 I、前記判定手段により判定した結果を知らせる指示手
段、 とを含む洩れ検査装置。 - (4)A、基準タンクが接続されたマスター側空気系と
ワークが接続されたワーク側空気系に同一テスト圧力の
圧縮空気を充填する手段と、 B、前記マスター側空気系とワーク側空気系の圧力差を
測定する差圧検出手段と、 C、前記ワーク側空気系に接続されその内容積を既知の
量だけ変化させる容積変化付加手段と、 D、前記容積変化付加手段によって与えられた容積変化
により生じ前記差圧検出手段によって測定された前記ワ
ーク側空気系と前記マスター側空気系の圧力差と、前記
容積変化と前記テスト圧力とから前記ワーク側空気系の
等価内容積を算出する等価内容積算出手段と、E、ワー
クの種類ごとに算出した各前記等価内容積を記憶する不
揮発性RAMと、 F、チェック時に前記不揮発性RAMから読出した対応
する等価内容積と前記差圧検出手段により測定した前記
容積変化により生じた圧力差から等価容積変化ΔV_E
を算出し、その値と与えた前記容積変化とを比較し誤差
が所定値以内かどうかを判定するチェック手段と、G、
リークテスト時に前記不揮発性RAMから読出した対応
する等価内容積と前記差圧検出手段で測定した圧力差と
からワークの洩れ量を算出する洩れ量算出手段と、 H、前記洩れ量算出手段により算出した洩れ量が許容洩
れ量以内か否かを判定する判定手段と、 I、前記判定手段により判定した結果を知らせる指示手
段、 とを含む洩れ検査装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61-77765 | 1986-04-04 | ||
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| JPH0466307B2 JPH0466307B2 (ja) | 1992-10-22 |
Family
ID=13643033
Family Applications (1)
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| JP (1) | JPS6345526A (ja) |
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