JPS6348197B2 - - Google Patents

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JPS6348197B2
JPS6348197B2 JP54032993A JP3299379A JPS6348197B2 JP S6348197 B2 JPS6348197 B2 JP S6348197B2 JP 54032993 A JP54032993 A JP 54032993A JP 3299379 A JP3299379 A JP 3299379A JP S6348197 B2 JPS6348197 B2 JP S6348197B2
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JP
Japan
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photovoltaic device
layer
unit cell
amorphous silicon
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JP54032993A
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JPS55125680A (en
Inventor
Yoshihiro Hamakawa
Hiroaki Okamoto
Yoshiteru Nitsuta
Toshio Adachi
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SEISAN GIJUTSU SHINKO KYOKAI
Original Assignee
SEISAN GIJUTSU SHINKO KYOKAI
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Publication date
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Priority to US06/130,536 priority patent/US4271328A/en
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Publication of JPS6348197B2 publication Critical patent/JPS6348197B2/ja
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    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F10/00—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells
    • H10F10/10—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells having potential barriers
    • H10F10/17—Photovoltaic cells having only PIN junction potential barriers
    • H10F10/172—Photovoltaic cells having only PIN junction potential barriers comprising multiple PIN junctions, e.g. tandem cells
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F71/00—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
    • H10F71/10—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass the devices comprising amorphous semiconductor material
    • H10F71/103—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass the devices comprising amorphous semiconductor material including only Group IV materials
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/548—Amorphous silicon PV cells
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

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  • Photovoltaic Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明はアモルフアスシリコン(a−Si)を用
いた太陽電池等の光起電力素子に関する。 従来より、各種半導体材料を用いた太陽電池は
存在する。すなわち、Si、GaAs、Cds、CdTe等
の単結晶あるいは多結晶半導体材料を使用し、そ
れらのp−n接合、ヘテロ接合あるいはシヨツト
キ隔壁を利用した太陽電池である。また、シラン
(SiH4)をグロー放電分解したa−Siは置換形不
純物のドーピングにより価電子制御が可能である
ことが最近確かめられ、以来この方法は代替エネ
ルギ源開発の要請に応える低コストの太陽電池製
造方法として着目されるようになつた。グロー放
電によるa−Si太陽電池はその後いくつかの公開
がなされたが米国特許第4064521号明細書に開示
されたごとく、それまでの太陽電池と同様な接合
を利用したものである。 しかし、上記のような太陽電池は、例えば一つ
のp−n接合よりなる太陽電池ユニツトセルから
取り出せる開放電圧Voは接合を作る米導体材料
のエネルギギヤツプによつて決定される。例えば
Si太陽電池においては約0.6V、GaAs太陽電池に
おいては約0.8Vであり、開放電圧Vocは高々1V
である。ところが実際に電池等として使用される
場合、より高い開放電圧の出力を要求されること
が多い。高電圧出力を得る手段として従来より採
用されていた方法は、太陽電池ユニツトセルを複
数個作り、それらを外部で直列に接続する方法で
あつた。太陽電池ユニツトセルを直列に接続する
方法として種々考案されているが、設備面、工数
面などにおいて実装コストが高く、また形状も大
きくなるなどの欠点を有していた。 本発明はn型、i型およびp型のa−Si層より
成るa−Si単位セルを複数個積層することによ
り、単一素子で高電圧の出力を取り出し得る太陽
電池等の光起電力素子を提供するものである。多
層構造を特徴とする太陽電池は、特開昭61−
46888号明細書等に開示されているが、これれら
は原理的に本発明と全く異なり、1V以上の高電
圧出力を得ることは出来ない。 従つて、本発明の一つの目的は、単一素子で高
電圧の出力を得ることのできる光起電力素子を提
供することにある。本発明の他の目的は、単一素
子で高電圧の出力を得、しかもエネルギ変換効率
の高い光起電力素子を提供することにある。本発
明の他の目的は容易に製作可能でコストの高電圧
出力の光起電力素を提供するることにある。本発
明の一つの目的は、任意の光源のスペクトルに合
つた、つまりその光源に対して効率のよい高電圧
出力の光起電力素子を提供することにある。以下
実施例について詳細に説明する。 第1図は、本発明のa−Si光起電力素子の製造
に使用する装置の概要を示すブロツク図であり、
1は反応容器、2は放電用陰電極、3は放電用陽
電極、4は加熱回転台、5は基板、6は真空計へ
継がれる管、7は排気ガス口、8は原料ガス供給
管、9は真空引きに継がれる管、10,11,1
2はガスタンク、13,14,15は流量計、1
6はコールド・トラツプ、20,21,22は開
閉弁である。 次にこの製造装置の動作の一例を示す。まず、
排気ガス口7に接続された排気ポンプを起動して
反応容器1の内部を10-6Torr程度に減圧したの
ち、加熱回転台4を動作させて、これに載置され
た基板5を加熱しつつ回転させる。加熱操作と前
後して開閉弁20と21を開放し、ガスタンク1
0と11からそれぞれSiH4/H2混合ガスと、
PH3/H2混合ガスを反応容器1に供給する。次
に放電用発電機Gを動作させて上記のガスに高周
波電界を印加し、放電用陽電極3と陰電極2との
間でグロー放電を生じさせる。このようにして、
基板5の上にn型a−Si層を堆積したのち放電を
停止し、これと相対後して開閉弁20と21を閉
鎖してガスの供給を停止し、反応容器内に残留す
る原料ガスを排気する。 次に開閉弁20を開放してガスタンク10から
SiH4/H2混合ガスを反応容器1に供給し、グロ
ー放電を再開する。このようにして、n型層上に
i型a−Si層を堆積したのちグロー放電を停止
し、これと相前後して開閉弁20を閉鎖して原料
ガスの供給を停止し、残留する原料ガスを排気す
る。 更に、開閉弁20と22を開放して、ガスタン
ク10と12からそれぞれSiH4/H2混合ガスと
B2H6/H2混合ガスを反応容器1に供給し、グロ
ー放電を再開する。このようにしてi型層上にp
型a−Siを堆積したのち、グロー放電を停止し、
これと相前後して開閉弁20と22を閉鎖して原
料ガスの供給を停止し、残留する原料ガスを排気
する。このようにして得られたn型、i型および
p型のa−Si層を総じてa−Si単位セルと呼ぶ。
引続き、前記と同様にしてn型、i型およびp型
のa−Si層を順次堆積することにより、2単位セ
ル以上のa−Si単位セルを形成する。 更に、公知の電子ビーム蒸着法、RFスパツタ
リング法などにより、最終のa−Si単セルのp型
a−Si層上に錫インヂウム酸化物等の透明導電層
を形成する。ただし、第1図にはこの装置を図示
していない。上述の工程によつて基板5上に順次
2単位セル以上のa−Si単位セルおよび透明導電
層が堆積されて成る多重セル構造のa−Si光起電
力素子が製作される。この場合、光は透明導電層
側より入射することになる。 次に本発明による具体的一実施例について説明
する。基板5として厚み0.5mm、寸法20×20mmの
表面を鏡面研磨したステンレス鋼を使用した。原
料ガスの体積比はSiH4/H2=0.1、PH3/H2=5
×10-4、B2H6/H2=5×10-4であり、更にこれ
らの混合ガスの体積混合比はSiH4/H2混合ガス
に対してPH3/H2混合ガス、およびB2H6/H2混
合ガスの比がいずれも0.1〜1%のオーダーであ
る。反応容器内の原料ガスの圧力を2〜5Torr、
放電用発電機Gの高周波出力を50〜500W(4M
Hz)、ステンレス基板の温度を250〜350℃とした
とき、p型およびn型a−Si層の成長速度は0.4
〜1Å/sec、i型a−Si層の成長速度は0.8〜3
Å/secであつた。a−Si層の層厚さは推積時間
の調整などによつて任意の厚さに容易に調整でき
る。 第2図は本発明のa−Si単位セルの数が3の場
合の光起電力素子の構造の一例を示す断面図であ
り、23はステンレス鋼の基板、28,29,3
0は同順に第1a−Si単位セル24のn型、i型、
p型のa−Si層、31,32,33は同順に第2a
−Si単位セル25のn型、i型、p型のa−Si
層、34,35,36は同順に第3a−Si単位セル
26のn型、i型、p型のa−Si層、27は透明
導電膜、37は太陽光線を示す。 第3図Aは、第2図に示したようなa−Si単位
セルの数が3の場合の光を照射しない暗状態のバ
ンド構造を模式的に示したもので、Ecは伝導帯
の下端、Evは充満帯の上端、EFはフエルミレベ
ルを示し、38,39,40は同順に第2図の第
1、第2、第3のa−Si単位セル24,25,2
6の武分に相当する。ただし、第3図Aにはステ
ンレス鋼の基板23および透明導電膜27は図示
してない。この光起電力素子に太陽光等の光が第
3のa−Si単位セル側から照射されるとバンド構
造は第3図Bに示すようになり、それぞれのa−
Si単位セル内では電子・正孔対が生成され、内部
電界によつて分離され、正孔は光入射側へ電子は
その反対側へそれぞれ移動する。しかし、a−Si
のドープ層を用いたp−n接合では殆んど整流性
はなく、接合を通して流れる電流は拡散過程では
なく、生成・再結合過程にもとづくものが支配的
である。従つてとなり合うa−Si単位セル間の電
流はp−n接合における再結合電流によつてのみ
構成されると考えられる。従つて、第2図に示し
たような光起電力素子の等価回路は第4図に示す
ようなものになる。第4図に於いて、41,4
2,43は電流源、44,45,46は整流器、
47,48は抵抗をそれぞれ示す。そしてa−Si
単位セルを直列に接続した効果が得られる。すな
わち、本発明の多重セル構造のa−Si光起電力素
子の開放電圧Vocはそれぞれのa−Si単位セルに
於ける開放電圧の和となり、単一のa−Si単位セ
ル構造の光起電力素子の開放電圧のほぼ単位セル
数倍の開放電圧が得られる。ただし、短絡光電流
Iscはそれぞれのa−Si単位セルに於ける短絡光
電流の内最も小さな値にほぼ一致する。ところ
が、特開昭51−46888号明細書等で開示されたこ
れまでの多層構造太陽電池では開放電圧は単一層
構造の太陽電池ユニツトセルのそれと殆んど変ら
ず、本発明とは本質的に異る。 第2図に示したようなa−Si単位セル数が3の
場合のほか、a−Si単位セル数が2、4、5およ
び10である試料、および比較のためのa−Si単位
セル数が1である試料を前述の方法で製作した。
全ての試料のn型のa−Si層の厚さは100〜200Å
で、P型のa−Si層の厚みは20〜50Åであり、そ
れぞれの試料に於けるi型のa−Si層の厚さはほ
ぼ同じで表1に示す通りである。
【表】 表1に示した多重セル構造の光起電力素子に80
mW/cm2の太陽光を照射したときの特性を第5図
に示す。横軸はa−Si単位セルの数m、縦軸はそ
れぞれの試料の開放電圧Vocである。第5図より
明らかなように、開放電圧Vocはa−Si単位セル
の数にほぼ比例して増加することがわかる。 以上のように、簡単なバルブ操作により連続し
て容易に製作価能な単一の素子で高開放電圧の光
起電力素子が得られる。ところが、前述のように
それぞれのa−Si単位セルの厚みがほぼ同じであ
る場合、a−Si単位セルの数を増加するにつれ短
絡光電流Iscが減少し、エネルギ変換効率も減少
するため、光検出素子等の信号源としては充分使
用可能だが、電池等のエネルギ源としては余り適
さない。そこで短絡光電流が余り減少せず、エネ
ルギ変換効率も減少しなくする本発明の方法を詳
述する。 前述のように多重セル構造のa−Si光起電力素
子に於いては、回路的に外部に取り出せる電流
は、それぞれのa−Si単位セルの光電流の内、最
も小さな値に限定されるため、できるだけ大きな
光電流を得るためには、それぞれのa−Si単位セ
ル内で吸収される光子数が等しくなるようにそれ
ぞれのa−Si単位セルの厚さを決定すればよい。 多重a−Siセル構造の光起電力素子に於いて
は、基板、a−Si層、表面透明導電層および空気
の4層構造であるので、これらの光学パラメータ
を用いてマツクスウエルの電磁方程式により、あ
る波長入の入射光束に対するa−Si層内での任意
の位置における相対的光子束を求めることができ
る。さらに、仮想する光源(例えば太陽光)のス
ペクトルのうちa−Siの禁止帯(〜1.7eV)に対
応する波長(〜7000Å)より短波長側の光子数分
布を用いて積分によつてこの光源に対する場合の
a−Si層内での、光子束を求めることができる。
これを模式的に示したのが第6図である。第6図
には、光入射側からのa−Si層内の位置xに対す
る光子束Φの関係(曲線A)とそれに対するa−
Si単位セルの数が3の場合のa−Si層の断面図を
示す。a−Si層内の位置xに於ける光子束Φはa
−Si層に入射する光子束Φinに対し、反射損Φが
あり、そしてa−Si層内に入るにつれて曲線Aに
従い光子束は減少する。従つてそれぞれのa−Si
単位セル49,50,51内で吸収される光子数
△Φ1、△Φ2、△Φ3が等しくなるようにそれぞれ
のa−Si単位セルの厚さを同順にd1、d2、d3とす
ればよい。 ここで、それぞれのa−Si単位セルが一つのp
−i−n a−Si光起電力セルとして働くために
は、その厚さは約100Å以上必要であり、またそ
の厚さを1μm以上にすることは単に直列抵抗損
失を増加させ、a−Si単位セルの性能を低下させ
るのみであるから、それぞれのa−Si単位セルの
厚さは約100Åから約1μmまでに設定することが
好ましい。 従つてm個のa−Si単位セルからなるa−Si多
重セル光起電力素子を設計する場合、最も光入射
側から遠いa−Si単位セルの厚さを前述の5000〜
7000Åとし、ここで吸収される光子数を△Φmと
して、光入射側からa−Si単位セルを1、2、…
k、…mと名付けると、それぞれのa−Si単位セ
ルで吸収される光子数△Φk(k=1、2、…、m
−1)の間に △Φ1=△Φ2=…=△Φm が成立するように、それぞれのa−Si単位セルの
厚さと全体のa−Si層の厚さをセルフコンシステ
ントに定めればよい。 このようにして、任意の光源(例えば太陽光や
螢光灯)のスペクトルにあつた、つまりその光源
に対して効率のよい多重セル構造のa−Si光起電
力素子を容易に設計することができる。 第7図はこのようにして設計した本発明のa−
Si単位セル数が3である場合の光起電力素子の構
造の一例を示す断面図であり、52はステンレス
鋼の基板、57,58,59は同順に第1のa−
Si単位セル53のn型、i型、p型のa−Si層、
60,61,62は同順に第2のa−Si単位セル
54のn型、i型、p型のa−Si層、63,6
4,65は同順に第3のa−Si単位セル55のn
型、i型、p型のa−Si層、56は透明導電層、
66は太陽光線を示す。 第7図に示したような、a−Si単位セル数が3
の場合のほか、a−Si単位セル数が2、4および
5である試料、および比較のためのa−Si単位セ
ル数が1である試料を前述の方法で製作した。全
ての試料のn型のa−Si層の厚さは100〜200Åで
p型のa−Si層の厚さは20〜50Åであり、それぞ
れの試料に於けるi型のa−Si層の厚さは表2に
示すとうりである。
【表】 表2に示した構造の光起電力素子に80mW/cm2
の太陽光を照射したときの特性を第8図に示す。
横軸はa−Si単位セル数m、縦軸はそれぞれの試
料の開放電圧Vocとエネルギ変換効率ηである。
第8図より明らかなように、それぞれのa−Si単
位セルで吸収される光子数を等しくし、それぞれ
のa−Si単位セルの光電流を等しくすべく、それ
ぞれのa−Si単位セルの厚さを光入射側より次第
に大きくするように分布させることにより開放電
圧Vocはa−Si単位セル数にほぼ比例して増加
し、しかもエネルギ変換効率は殆んど減少しな
い。 以上のように、簡単なバルブ操作により、連続
して容易に製作可能な単一素子で高間放電圧のし
かも高エネルギ変換効率の光起電力素子が得られ
る。 なお、p−i−n構造の光起電力素子に於いて
は、内部電界は殆んどi型層のp型層に近い領域
に生じるので、この部分で多くの電子・正孔が生
成されることが大きな光電流を得るためには必要
であり、また、n型層近傍で生成された電子・正
孔は、この内部電界のある領域まで拡散せねばな
らないので、損失が多い。従つて光はp型層側か
ら入射することが望ましい。 以上の説明は基板上に順次n型、i型、p型の
a−Si層を形成した場合について述べたが、逆に
基板上に順次p型、i型、n型のa−Si層を形成
しても同様の効果が得られる。また、上記説明は
基板がステンレス鋼の場合につき述べたが、a−
Si層上に形成する導電層が金属の方が製造が容易
な場合など、基板が透明導電性膜を付したガラス
板あるいはフイルムのごとき透明導電性物質であ
つてもよい。また、透明導電膜上にa−Si層を形
成する場合、透明導電膜が劣化したり良質なa−
Si層が得られ難い場合があり、この様な場合には
導電性基板としてはステンレス鋼や他の金属など
の導電性基板を使用することができる。 以上詳細に説明したように、本発明の多重セル
構造のa−Si光起電力素子は簡単な構造の単一素
子で高電圧を出し得る。また、本発明の多重セル
構造のa−Si光起電力素子は単一素子で高電圧を
得、しかもエネルギ変換効率が高い。また本発明
の光起電力素子は任意の光源に対してエネルギ変
換効率が高くなるように容易に設計され得る。ま
た、本発明の光起電力素子はバルブ操作等の非常
に簡単な操作で連続的に製作し得るため非常に低
コストである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の光起電力素子の製造に使用
する装置の概要を示すブロツク図、第2図、第7
図は本発明の光起電力素子の一例を示す断面図、
第3図は本発明の光起電力素子のバンド構造を示
す図であり、Aは暗状態、Bは光照射状態の場合
のバンド構造を示す。第4図は本発明の光起電力
素子の等価回路を示す図、第5図、第8図は、本
発明の光起電力素子の特性の一例を示す図、第6
図は、本発明の光起電力素子の設計原理を示す図
である。 1は反応容器、2は放電用陰電極、3は放電用
陽電極、4は加熱回転台、5は基板、41,4
2,43は電流源、44,45,46は整流器、
47,48は抵抗を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 導電性基板上にn型、i型およびp型のアモ
    ルフアスシリコン層よりなるアモルフアスシリコ
    ン単位セルが複数個積層され、最上部のアモルフ
    アスシリコン単位セル上に導電層が設けられ、隣
    り合う単位セル間に形成されるpn接合は電子・
    正孔の再結合の過程によつて殆んど整流性を有し
    ないことを特徴とする光起電力素子。 2 アモルフアスシリコン単位セルの厚さは光入
    射側が薄いことを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載の光起電力素子。 3 アモルフアスシリコン単位セルが光入射側よ
    り順次n型、i型およびp型のアモルフアスシリ
    コン層であることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項または第2項記載の光起電力素子。 4 アモルフアスシリコン単位セルが光入射側よ
    り順次p型、i型およびn型のアモルフアスシリ
    コン層であることを特徴する特許請求の範囲第1
    項または第2項記載の光起電力素子。 5 導電層が透明導電膜であることを特徴とする
    特許請求の範囲第3項または第4項記載の光起電
    力素子。 6 導電性基板が透明導電膜を有する基板である
    ことを特徴とする特許請求の範囲第3項ないし第
    5項いずれか記載の光起電力素子。
JP3299379A 1979-03-20 1979-03-20 Photovoltaic element Granted JPS55125680A (en)

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JP3299379A JPS55125680A (en) 1979-03-20 1979-03-20 Photovoltaic element
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JPS55125680A JPS55125680A (en) 1980-09-27
JPS6348197B2 true JPS6348197B2 (ja) 1988-09-28

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