JPS6350071U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6350071U JPS6350071U JP14460286U JP14460286U JPS6350071U JP S6350071 U JPS6350071 U JP S6350071U JP 14460286 U JP14460286 U JP 14460286U JP 14460286 U JP14460286 U JP 14460286U JP S6350071 U JPS6350071 U JP S6350071U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic components
- section
- sorting
- characteristic measurement
- conveyor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 3
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
第１図乃至第３図は本考案に係る選別装置の一
実施例を示す各動作時での一部断面部分を含む要
部側面図である。第４図は電子部品の斜視図、第
５図は従来の選別装置の一部断面部分を含む要部
側面図、第６図は第５図のＡ―Ａ線に沿う拡大断
面図である。 １…電子部品、１６…選別装置、１７…搬送体
、２２…測定部、２３…振分け部、２４…部品ス
トツク部、２５…システム自己診断部。
実施例を示す各動作時での一部断面部分を含む要
部側面図である。第４図は電子部品の斜視図、第
５図は従来の選別装置の一部断面部分を含む要部
側面図、第６図は第５図のＡ―Ａ線に沿う拡大断
面図である。 １…電子部品、１６…選別装置、１７…搬送体
、２２…測定部、２３…振分け部、２４…部品ス
トツク部、２５…システム自己診断部。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 電子部品が一列に整送される搬送体と、搬送体
の定位置で電子部品の特性測定を順次に行う測定
部と、測定部の特性測定結果に基づいて電子部品
を振り分けて搬送体より外部に搬出する振分け部
を有する装置であつて、 前記搬送体に、特性測定された電子部品を一時
的にストツクすると共に、ストツクした電子部品
を特性測定の定位置に送り出す機能を持つ部品ス
トツク部を連結し、前記測定部に、前記部品スト
ツク部でストツクされた電子部品の再度の特性測
定の結果に基づいて電子部品を含む選別システム
の良否を判断するシステム自己診断部を設けたこ
とを特徴とする選別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14460286U JPS6350071U (ja) | 1986-09-20 | 1986-09-20 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14460286U JPS6350071U (ja) | 1986-09-20 | 1986-09-20 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6350071U true JPS6350071U (ja) | 1988-04-05 |
Family
ID=31055356
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14460286U Pending JPS6350071U (ja) | 1986-09-20 | 1986-09-20 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6350071U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0391146U (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-17 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6015568A (ja) * | 1983-07-06 | 1985-01-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体試験装置 |
| JPS62280662A (ja) * | 1986-05-29 | 1987-12-05 | Toshiba Corp | 半導体装置の測定装置の測定精度管理方法 |
-
1986
- 1986-09-20 JP JP14460286U patent/JPS6350071U/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6015568A (ja) * | 1983-07-06 | 1985-01-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体試験装置 |
| JPS62280662A (ja) * | 1986-05-29 | 1987-12-05 | Toshiba Corp | 半導体装置の測定装置の測定精度管理方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0391146U (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-17 |
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