JPS635270A - パルス測定回路 - Google Patents
パルス測定回路Info
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- JPS635270A JPS635270A JP62153216A JP15321687A JPS635270A JP S635270 A JPS635270 A JP S635270A JP 62153216 A JP62153216 A JP 62153216A JP 15321687 A JP15321687 A JP 15321687A JP S635270 A JPS635270 A JP S635270A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04F—TIME-INTERVAL MEASURING
- G04F13/00—Apparatus for measuring unknown time intervals by means not provided for in groups G04F5/00 - G04F10/00
- G04F13/02—Apparatus for measuring unknown time intervals by means not provided for in groups G04F5/00 - G04F10/00 using optical means
- G04F13/023—Apparatus for measuring unknown time intervals by means not provided for in groups G04F5/00 - G04F10/00 using optical means using cathode-ray oscilloscopes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はパルス測定回路、特に入力信号（パルス）のパ
ルス幅、周期、立上り時間等の時間パラメータを測定す
る２時間軸オシロスコープ等に通用して好適なパルス測
定回路に関する。
ルス幅、周期、立上り時間等の時間パラメータを測定す
る２時間軸オシロスコープ等に通用して好適なパルス測
定回路に関する。
〔従来の技術及び発明が解決しようとする問題点〕従来
の２時間軸オシロスコープは、メンツによる米国特許第
４．５５１．６５６号明細書及びダルトンによる米国特
許第４．１０９．１８２号明細書に開示されているよう
に、主掃引及び遅延掃引を発生する為、２つの掃引信号
（即ち、ランプ信号）発生器を有する。遅延掃引の開始
時点として主掃引期間中の任意の時点を選択することか
できる。この遅延掃引の開始時点から主掃引の一部分を
選択して拡大表示することにより、ＣＲＴ画面上の計測
用目盛を用いて所望のパルス等を視覚測定できる。例え
ば、周期のようなパルスの時間パラメータを測定する為
には、目盛上でパルスを拡大表示して測定分解能をより
高めるように遅延掃引を設定することができる。この測
定技法の明らかな欠点は目盛を用いて視覚的に計測値を
読み取る場合に特有の測定誤差を住じることである。特
に、電子ビームや目盛の線の太さが所望の分解能に比べ
て大きい場合には、この誤差は顕著になる。
の２時間軸オシロスコープは、メンツによる米国特許第
４．５５１．６５６号明細書及びダルトンによる米国特
許第４．１０９．１８２号明細書に開示されているよう
に、主掃引及び遅延掃引を発生する為、２つの掃引信号
（即ち、ランプ信号）発生器を有する。遅延掃引の開始
時点として主掃引期間中の任意の時点を選択することか
できる。この遅延掃引の開始時点から主掃引の一部分を
選択して拡大表示することにより、ＣＲＴ画面上の計測
用目盛を用いて所望のパルス等を視覚測定できる。例え
ば、周期のようなパルスの時間パラメータを測定する為
には、目盛上でパルスを拡大表示して測定分解能をより
高めるように遅延掃引を設定することができる。この測
定技法の明らかな欠点は目盛を用いて視覚的に計測値を
読み取る場合に特有の測定誤差を住じることである。特
に、電子ビームや目盛の線の太さが所望の分解能に比べ
て大きい場合には、この誤差は顕著になる。
従って、本発明の目的は信号パルスの時間パラメータを
正確に測定する改良パルス測定回路を提供することであ
る。
正確に測定する改良パルス測定回路を提供することであ
る。
本発明の別の目的はパルスの時間パラメータを電気的に
算出し、その結果を機器の操作者に表示する装置を提供
することである。
算出し、その結果を機器の操作者に表示する装置を提供
することである。
本発明の他の目的は２時間軸オシロスコープに適用して
好適な信号測定回路を提供することである。
好適な信号測定回路を提供することである。
本発明の更に他の目的はオシロスコープの主及び遅延ト
リガ発生器が同一のイベントに対してトリガを発生し得
る回路を提供することである。
リガ発生器が同一のイベントに対してトリガを発生し得
る回路を提供することである。
本発明のパルス測定回路は主トリガ発生手段及び遅延ト
リガ発生手段を含んでいる。可変遅延手段は主トリガ信
号が発生してから選択した遅延時間後に遅延トリガ発生
手段をイネーブルして遅延トリガ信号を発生可能にする
。入力信号（パルス）は遅延トリガ発生手段に送られる
前に、固定遅延手段によって予め設定した時間遅延され
る０次に、測定手段により主及び遅延トリガ信号間の時
間差を測定する。可変遅延手段の遅延時間を調整するこ
とにより、遅延トリガ発生手段は主トリガ手段と同じパ
ルスに対しトリガを発生したり、或いは後続のパルスに
対しトリガを発生することが出来る。
リガ発生手段を含んでいる。可変遅延手段は主トリガ信
号が発生してから選択した遅延時間後に遅延トリガ発生
手段をイネーブルして遅延トリガ信号を発生可能にする
。入力信号（パルス）は遅延トリガ発生手段に送られる
前に、固定遅延手段によって予め設定した時間遅延され
る０次に、測定手段により主及び遅延トリガ信号間の時
間差を測定する。可変遅延手段の遅延時間を調整するこ
とにより、遅延トリガ発生手段は主トリガ手段と同じパ
ルスに対しトリガを発生したり、或いは後続のパルスに
対しトリガを発生することが出来る。
入力信号の時間パラメータを測定する為には、主及び遅
延トリガ発生器は、例えば−子め定めた電圧レベル及び
スロープの如き第１パラメータ条件で同一のパルスに対
しトリガを発生する。それから、２個のトリガ信号の発
生時点の第１時間差が測定される。次に、両トリガ発生
器の一方が別の電圧レベル及びスロープの如き第２パラ
メータ条件でトリガを発生する。これら２個のトリガ信
号の発生時点間の第２時間差が測定される。そして第１
時間差を第２時間差から差し引いて、入力信号の時間パ
ラメータを求める。
延トリガ発生器は、例えば−子め定めた電圧レベル及び
スロープの如き第１パラメータ条件で同一のパルスに対
しトリガを発生する。それから、２個のトリガ信号の発
生時点の第１時間差が測定される。次に、両トリガ発生
器の一方が別の電圧レベル及びスロープの如き第２パラ
メータ条件でトリガを発生する。これら２個のトリガ信
号の発生時点間の第２時間差が測定される。そして第１
時間差を第２時間差から差し引いて、入力信号の時間パ
ラメータを求める。
第１図は本発明によるパルス測定回路の実施例を含む２
時間軸オシロスコープのブロック図である。ここに説明
するパルス測定回路は様々な計測器に応用し得るが、１
例としてオシロスコープに応用した場合を示している。
時間軸オシロスコープのブロック図である。ここに説明
するパルス測定回路は様々な計測器に応用し得るが、１
例としてオシロスコープに応用した場合を示している。
この第１図は、周知の複数垂直軸チャンネル内の１チヤ
ンネルを示している。このチャンネルは、電気的入力信
号を受ける入力端子（１０）と、入力信号を減衰する減
衰回路（１２）と、この信号を水平掃引信号と一致させ
る為に遅延させる遅延線（１４）と、垂直増幅器（１６
）と、ＣＲＴ（１８）とを含んでいる。ＣＲＴ（１８）
に含まれる１対の垂直偏向板（２０）は、入力信号に応
じて、ＣＲＴスクリーン上に内部電子ビーム（図示せず
）を偏向させて、周知の方法で波形を可成する。
ンネルを示している。このチャンネルは、電気的入力信
号を受ける入力端子（１０）と、入力信号を減衰する減
衰回路（１２）と、この信号を水平掃引信号と一致させ
る為に遅延させる遅延線（１４）と、垂直増幅器（１６
）と、ＣＲＴ（１８）とを含んでいる。ＣＲＴ（１８）
に含まれる１対の垂直偏向板（２０）は、入力信号に応
じて、ＣＲＴスクリーン上に内部電子ビーム（図示せず
）を偏向させて、周知の方法で波形を可成する。
このオシロスコープの掃引（ランプ）発生回路は内部電
源（ＬＩＮＥ）或いは外部の信号源からトリガされる。
源（ＬＩＮＥ）或いは外部の信号源からトリガされる。
本発明を説明する為、主及び遅延トリガ発生器のトリガ
動作問の時間関係が確定する人力信号の内部トリガ動作
をしているものとする。
動作問の時間関係が確定する人力信号の内部トリガ動作
をしているものとする。
ｍ１図の接続点Ａに於て、この垂直軸チャンネルの入力
信号の一部が内部トリガ信号として取り出され主トリガ
発生器（２２）へ入力される。この周知の主トリガ発生
器（２２）は電圧レベル比較器及び信号スロープ・セレ
クタを内蔵している。入力パルスに応じて主トリガ発生
器（２２）は特定のパルス・スロープ及び電圧レベルの
如き選択可能なトリガ点でトリガ信号を発生する。この
トリガ信号は主掃引（ランプ）発生器（２４）へ入力す
る。
信号の一部が内部トリガ信号として取り出され主トリガ
発生器（２２）へ入力される。この周知の主トリガ発生
器（２２）は電圧レベル比較器及び信号スロープ・セレ
クタを内蔵している。入力パルスに応じて主トリガ発生
器（２２）は特定のパルス・スロープ及び電圧レベルの
如き選択可能なトリガ点でトリガ信号を発生する。この
トリガ信号は主掃引（ランプ）発生器（２４）へ入力す
る。
この主掃引発生器（２４）はミラー積分回路、即ちラン
プ電圧を発生するようにコンデンサに定電流源を直列接
続したものである。このランプ電圧はランプ・チャンネ
ル・スイッチ（２６）及び水平増幅器（２８）を介して
ＣＲＴ（１８）の水平偏向板（３０）に印加される。−
旦トリガ信号を発生すると、主トリガ発生器（２２）は
マイクロプロセッサ（Ｍ Ｐ Ｕ）制御回路（３２）か
らの主トリガ制御信号により、周知の通りリセットし、
イネーブル状態となる。
プ電圧を発生するようにコンデンサに定電流源を直列接
続したものである。このランプ電圧はランプ・チャンネ
ル・スイッチ（２６）及び水平増幅器（２８）を介して
ＣＲＴ（１８）の水平偏向板（３０）に印加される。−
旦トリガ信号を発生すると、主トリガ発生器（２２）は
マイクロプロセッサ（Ｍ Ｐ Ｕ）制御回路（３２）か
らの主トリガ制御信号により、周知の通りリセットし、
イネーブル状態となる。
入力信号はまた接続点Ａから同軸ケーブルの如き遅延線
（３４）を介して遅延トリガ発生器（３６）の入力端Ｂ
にも内部トリガ信号として入力される。
（３４）を介して遅延トリガ発生器（３６）の入力端Ｂ
にも内部トリガ信号として入力される。
主トリガ発生器（２２）と同様に、遅延トリガ発生器（
３６）は入力信号のスロープ及び電圧を選択してトリガ
を発生するように調整できる。遅延トリガ発生器の端子
Ｃには可変遅延回路（３８）からＲＥＳＥＴ ／ＥＮＡ
ＢＬＥ信号が人力する。このＲＥＳＥＴ ／ＥＮＡＢＬ
Ｅ信号は、接続点りに於ける主トリガ信号に応じて可変
遅延回路（３８）から発生し、選択した遅延時間後に遅
延トリガ発生器（３６）をイネーブルする。遅延トリガ
発生器（３６）のイネーブルにより発生した遅延トリガ
信号は遅延掃引（ランプ）発生器（４０）へ入力する。
３６）は入力信号のスロープ及び電圧を選択してトリガ
を発生するように調整できる。遅延トリガ発生器の端子
Ｃには可変遅延回路（３８）からＲＥＳＥＴ ／ＥＮＡ
ＢＬＥ信号が人力する。このＲＥＳＥＴ ／ＥＮＡＢＬ
Ｅ信号は、接続点りに於ける主トリガ信号に応じて可変
遅延回路（３８）から発生し、選択した遅延時間後に遅
延トリガ発生器（３６）をイネーブルする。遅延トリガ
発生器（３６）のイネーブルにより発生した遅延トリガ
信号は遅延掃引（ランプ）発生器（４０）へ入力する。
遅延掃引（ランプ）発生器（４０）の発生したランプ電
圧は、ランプ・チャンネル・スイッチ（２６）及び水平
増幅器（２８）を介してＣＲＴ（１８）の水平偏向板（
３０）に印加される。２時間軸オシロスコープで通常見
られるように、ランプ・チャンネル・スイッチ（２６）
は、主掃引発生器（２４）及び遅延掃引発生器（４０）
の両掃引電圧をオルタネート掃引或いはチョップ掃引す
る為に用いられ、入力信号の波形を両掃引で同時に表示
し得る。
圧は、ランプ・チャンネル・スイッチ（２６）及び水平
増幅器（２８）を介してＣＲＴ（１８）の水平偏向板（
３０）に印加される。２時間軸オシロスコープで通常見
られるように、ランプ・チャンネル・スイッチ（２６）
は、主掃引発生器（２４）及び遅延掃引発生器（４０）
の両掃引電圧をオルタネート掃引或いはチョップ掃引す
る為に用いられ、入力信号の波形を両掃引で同時に表示
し得る。
第２図は可変遅延回路（３８）の回路図を示している。
可変遅延回路（３８）は様々に構成できるが、この基本
的な実施例は１対のトランジスタ（４２）及び（４４）
を有する差動増幅器を含んでおり、トランジスタ（４２
）に差動人力として主トリガ信号が入力し、トランジス
タ（４４）には差動入力として基準電圧源ＶＲＥＦ
（４５）が入力している。電流源（４６）はトランジス
タ・ペア（４２）及び（４４）に低入力電圧で電流を供
給している。トランジスタ（４４）のコレクタにはコン
デンサ（４８）と、ＭＰＵ制御回路（３２）からのＲＥ
ＳＥＴ ／ＥＮＡＢＬＥ線路（５０）と、トリガ発生器
（３６）にイネーブル信号を送る比較器（５２）の反転
入力端と接続している。
的な実施例は１対のトランジスタ（４２）及び（４４）
を有する差動増幅器を含んでおり、トランジスタ（４２
）に差動人力として主トリガ信号が入力し、トランジス
タ（４４）には差動入力として基準電圧源ＶＲＥＦ
（４５）が入力している。電流源（４６）はトランジス
タ・ペア（４２）及び（４４）に低入力電圧で電流を供
給している。トランジスタ（４４）のコレクタにはコン
デンサ（４８）と、ＭＰＵ制御回路（３２）からのＲＥ
ＳＥＴ ／ＥＮＡＢＬＥ線路（５０）と、トリガ発生器
（３６）にイネーブル信号を送る比較器（５２）の反転
入力端と接続している。
スイッチ（５４）を介して比較器（５２）の非反転入力
端は複数の基準電圧源群（５６）の中の１つと接続して
いる。スイッチ（５４）で電圧源群（５６）の電圧レベ
ルを切換えることにより、可変遅延回路（３８）の可変
遅延制御を可能にしている。
端は複数の基準電圧源群（５６）の中の１つと接続して
いる。スイッチ（５４）で電圧源群（５６）の電圧レベ
ルを切換えることにより、可変遅延回路（３８）の可変
遅延制御を可能にしている。
主トリガ信号が主トリガ発生器（２２）で発生すると、
主トリガ信号電圧が上昇して基準電圧源（４５）の電圧
を越えると、電流源（４６）からの電流はトランジスタ
（４２）からトランジスタ（４４）へと切換わる。イネ
ーブル・モード時、線路（５０）のインピーダンスが高
いので、トランジスタ（４４）を流れる電流はコンデン
サ（４８）を直線的に充電し、比較器（５２）の反転入
力端にランプ電圧を印加する。このランプ電圧はＭＰＵ
制御回路（３２）で制御された基準電圧源群（５６）の
１つの電圧レベルと比較され、遅延トリガ発生器（３６
）の入力端子ＣにＲＥＳＥＴ ／ＢＮＡＢＬＩ！信号が
送られる。こうして、ＭＰＵ制御回路（３２）は、可変
遅延回路（３８）の信号伝播遅延を制御している。可変
遅延回路は、ＭＰＵ制御回路（３２）からのリセット信
号がトランジスタ（５７）を飽和させ、コンデンサ（４
８）の電荷を線路（５０）を介して放電させることによ
り、リセットされる。遅延線（３４）の遅延時間は、少
くとも主トリガ発生器（２２）の伝播遅延時間と、可変
遅延回路（３８）の最小遅延時間との和と等しくなるよ
うに選ばれる。遅延トリガ発生器（３６）の入力信号を
遅延線（３４）で遅延させることにより、入力信号が入
力する前に遅延トリガ発生器（３６）が可変遅延回路（
３８）によりイネーブルされるようにして、主及び遅延
トリガ発生器（２２） 。
主トリガ信号電圧が上昇して基準電圧源（４５）の電圧
を越えると、電流源（４６）からの電流はトランジスタ
（４２）からトランジスタ（４４）へと切換わる。イネ
ーブル・モード時、線路（５０）のインピーダンスが高
いので、トランジスタ（４４）を流れる電流はコンデン
サ（４８）を直線的に充電し、比較器（５２）の反転入
力端にランプ電圧を印加する。このランプ電圧はＭＰＵ
制御回路（３２）で制御された基準電圧源群（５６）の
１つの電圧レベルと比較され、遅延トリガ発生器（３６
）の入力端子ＣにＲＥＳＥＴ ／ＢＮＡＢＬＩ！信号が
送られる。こうして、ＭＰＵ制御回路（３２）は、可変
遅延回路（３８）の信号伝播遅延を制御している。可変
遅延回路は、ＭＰＵ制御回路（３２）からのリセット信
号がトランジスタ（５７）を飽和させ、コンデンサ（４
８）の電荷を線路（５０）を介して放電させることによ
り、リセットされる。遅延線（３４）の遅延時間は、少
くとも主トリガ発生器（２２）の伝播遅延時間と、可変
遅延回路（３８）の最小遅延時間との和と等しくなるよ
うに選ばれる。遅延トリガ発生器（３６）の入力信号を
遅延線（３４）で遅延させることにより、入力信号が入
力する前に遅延トリガ発生器（３６）が可変遅延回路（
３８）によりイネーブルされるようにして、主及び遅延
トリガ発生器（２２） 。
（３６）が同一のパルスに対してトリガ信号を発生でき
るようにしている。また、可変遅延回路（３８）の遅延
時間を増加して、可変遅延回路（３８）からのＲＥＳＥ
Ｔ ／ＥＮＡＩＩＬＥ信号を制御することにより、遅延
トリガ発生器（３Ｂ）が連続しているパルスに対してト
リガ信号を発生するようにもできる。即ち、可変遅延回
路（３８）の遅延時間を充分大きくすることにより、入
力端Ｂに信号が入力した時に遅延トリガ発生器（３６）
がイネーブルされていないようにできる。しかし、その
後遅延トリガ発生器（３６）はイネーブルして、繰返し
信号の連続している（後続の）パルスに対してトリガを
発生し得る。
るようにしている。また、可変遅延回路（３８）の遅延
時間を増加して、可変遅延回路（３８）からのＲＥＳＥ
Ｔ ／ＥＮＡＩＩＬＥ信号を制御することにより、遅延
トリガ発生器（３Ｂ）が連続しているパルスに対してト
リガ信号を発生するようにもできる。即ち、可変遅延回
路（３８）の遅延時間を充分大きくすることにより、入
力端Ｂに信号が入力した時に遅延トリガ発生器（３６）
がイネーブルされていないようにできる。しかし、その
後遅延トリガ発生器（３６）はイネーブルして、繰返し
信号の連続している（後続の）パルスに対してトリガを
発生し得る。
両トリガ発生器が同一パルスに対してトリガを発生し得
るが、主トリガ発生器（２２）は遅延トリガ発生器（３
６）がイネーブルされる前にトリガを発生するので、両
トリガ発生器は同時にトリガを発生することはできない
、主及び遅延トリガ信号間の発生時間差は第３図に示し
た計時手段であるタイマ（５８）により測定され、その
測定データはＭＰＵ制御回路（３２）へ出力される。第
１図及び第３図に於て、タイマ（５８）内のカウンタ（
６０）は、接続点りに於ける主トリガ信号の発生時点及
び接続点已に於ける遅延トリガ信号の発生時点間に、水
晶発振器の如き発振器（６２）が発生するパルスを計数
する。主トリガ信号が発生するとＡＮＤゲート（６４）
がイネーブルしてカウンタ（６０）に人力信号が供給さ
れる。発振器（６２）の発生するパルス信号は、ゲート
（６４）と、遅延トリガ信号が入力しない時にイネーブ
ルする第２ＡＮＤゲート（６６）とを介してカウンタ（
６０）に人力する。
るが、主トリガ発生器（２２）は遅延トリガ発生器（３
６）がイネーブルされる前にトリガを発生するので、両
トリガ発生器は同時にトリガを発生することはできない
、主及び遅延トリガ信号間の発生時間差は第３図に示し
た計時手段であるタイマ（５８）により測定され、その
測定データはＭＰＵ制御回路（３２）へ出力される。第
１図及び第３図に於て、タイマ（５８）内のカウンタ（
６０）は、接続点りに於ける主トリガ信号の発生時点及
び接続点已に於ける遅延トリガ信号の発生時点間に、水
晶発振器の如き発振器（６２）が発生するパルスを計数
する。主トリガ信号が発生するとＡＮＤゲート（６４）
がイネーブルしてカウンタ（６０）に人力信号が供給さ
れる。発振器（６２）の発生するパルス信号は、ゲート
（６４）と、遅延トリガ信号が入力しない時にイネーブ
ルする第２ＡＮＤゲート（６６）とを介してカウンタ（
６０）に人力する。
遅延トリガ信号が入力すると、ＡＮＤゲー） （６６）
は、ディセーブルしてカウンタ（６０）の計数を停止さ
せる。勿論、カウンタ（６０）の計数値は、主及び遅延
トリガ信号の発生時点間の時間差に相当する。それから
ＭＰＵ制御回路（３２）が両トリガ信号間に計数したカ
ウンタ（６０）の計数値を記録する。
は、ディセーブルしてカウンタ（６０）の計数を停止さ
せる。勿論、カウンタ（６０）の計数値は、主及び遅延
トリガ信号の発生時点間の時間差に相当する。それから
ＭＰＵ制御回路（３２）が両トリガ信号間に計数したカ
ウンタ（６０）の計数値を記録する。
両信号間の時間差は２回測定される。１回は時間パラメ
ータの第１パラメータ条件に於ける主及び遅延トリガ信
号の発生時点間の第１時間差の測定であり、もう１回は
第１パラメータ条件に於ける主トリガ信号の発生時点と
第２パラメータ条件に於ける遅延トリガ信号の発生時点
間の第２の時間差の測定である。これらのパラメータ条
件は選択されたパルスのスロープ及び電圧レベルを含む
予め設定したトリガ点に相当する。例えば、パルス幅パ
ラメータとしてのパラメータ条件は最大電圧レベルの５
０％レベルに於ける立上りスロープ及び最大電圧レベル
の５０％レベルに於ける立下りスロープとしてもよい。
ータの第１パラメータ条件に於ける主及び遅延トリガ信
号の発生時点間の第１時間差の測定であり、もう１回は
第１パラメータ条件に於ける主トリガ信号の発生時点と
第２パラメータ条件に於ける遅延トリガ信号の発生時点
間の第２の時間差の測定である。これらのパラメータ条
件は選択されたパルスのスロープ及び電圧レベルを含む
予め設定したトリガ点に相当する。例えば、パルス幅パ
ラメータとしてのパラメータ条件は最大電圧レベルの５
０％レベルに於ける立上りスロープ及び最大電圧レベル
の５０％レベルに於ける立下りスロープとしてもよい。
ＭＰＵ制御回路（３２）が第２時間差から第１時間差を
減算するのは、−方のパラメータ条件だけで測定した場
合に含まれる時間的ずれ（誤差）を除く為である。減算
した結果、２つのパラメータ条件間の実際の時間差が得
られる。それからこの時間差をＭＰＵ制御回路が操作者
に表示或いは指示する。
減算するのは、−方のパラメータ条件だけで測定した場
合に含まれる時間的ずれ（誤差）を除く為である。減算
した結果、２つのパラメータ条件間の実際の時間差が得
られる。それからこの時間差をＭＰＵ制御回路が操作者
に表示或いは指示する。
遅延トリガ発生器（３６）は、入力信号パルスがこのト
リガ発生器のヒステリシス領域に入る前にイネーブルさ
れていなければならないということに留意すべきである
。入力信号が遅延トリガ発生器（３６）のヒステリシス
領域に入ってからイネーブル信号が入力＃Ｃに入力する
と、この遅延トリガ発生器（３６）は入力信号の電圧レ
ベルがヒステリシス領域以下に低下してから再び上昇し
て領域内に入り、そしてトリガ闇値を越えない限りトリ
ガ信号を発生し得ない。この経過は、勿論後続の人力信
号パルスに対しては当然起こることである。
リガ発生器のヒステリシス領域に入る前にイネーブルさ
れていなければならないということに留意すべきである
。入力信号が遅延トリガ発生器（３６）のヒステリシス
領域に入ってからイネーブル信号が入力＃Ｃに入力する
と、この遅延トリガ発生器（３６）は入力信号の電圧レ
ベルがヒステリシス領域以下に低下してから再び上昇し
て領域内に入り、そしてトリガ闇値を越えない限りトリ
ガ信号を発生し得ない。この経過は、勿論後続の人力信
号パルスに対しては当然起こることである。
以上説明したパルス測定回路によって、繰返し信号に共
通なパルスの時間パラメータ、即ち周期、パルス幅、立
上り時間等を正確に差動測定することができる。パルス
の周期を測定するには２組のパルスを必要とし、それを
第４図のタイミング波形図に示している。接続点Ａの入
力繰返し信号により、主トリガ発生器（２２）は自身の
遅延時間後に接続点りに主トリガ信号を発生する。第４
図の左側部分に於て、可変遅延回路（３８）は最小遅延
時間に設定されており、Ｄ点より更に遅延して遅延トリ
ガ発生器（３６）をイネーブルする。−方、入力信号は
遅延線（３４）を介して遅延されて、遅延トリガ発生器
（３６）がイネーブルしてから入力端子Ｂに達する。従
って、主及び遅延トリガ発生器（２２）及び（３６）は
第１パラメータ条件（ｆち、同一のパルスに対して同じ
電圧レベルと同じスロープだが異なる時点）でトリガを
発生する。それから、これら２個のトリガ信号の発生時
点間の第１時間差がタイマ（５８）及びＭＰＵ制御回路
（３２）により計算される。
通なパルスの時間パラメータ、即ち周期、パルス幅、立
上り時間等を正確に差動測定することができる。パルス
の周期を測定するには２組のパルスを必要とし、それを
第４図のタイミング波形図に示している。接続点Ａの入
力繰返し信号により、主トリガ発生器（２２）は自身の
遅延時間後に接続点りに主トリガ信号を発生する。第４
図の左側部分に於て、可変遅延回路（３８）は最小遅延
時間に設定されており、Ｄ点より更に遅延して遅延トリ
ガ発生器（３６）をイネーブルする。−方、入力信号は
遅延線（３４）を介して遅延されて、遅延トリガ発生器
（３６）がイネーブルしてから入力端子Ｂに達する。従
って、主及び遅延トリガ発生器（２２）及び（３６）は
第１パラメータ条件（ｆち、同一のパルスに対して同じ
電圧レベルと同じスロープだが異なる時点）でトリガを
発生する。それから、これら２個のトリガ信号の発生時
点間の第１時間差がタイマ（５８）及びＭＰＵ制御回路
（３２）により計算される。
実際には、主トリガ発生器（２２）は遅延トリガ発生器
（３６）と比べて、立上りスロープのトリガの場合には
より低い電圧レベルでトリガを発生し、立下りスロープ
のトリガの場合にはより高い電圧レベルでトリガを発生
するようにするのが望ましい。こうすることにより、入
力信号が遅延トリガ発生器（３６）のヒステリシス領域
に入る前に入力端Ｃにイネーブル信号が到達する確率を
高めることができる。
（３６）と比べて、立上りスロープのトリガの場合には
より低い電圧レベルでトリガを発生し、立下りスロープ
のトリガの場合にはより高い電圧レベルでトリガを発生
するようにするのが望ましい。こうすることにより、入
力信号が遅延トリガ発生器（３６）のヒステリシス領域
に入る前に入力端Ｃにイネーブル信号が到達する確率を
高めることができる。
第４図の右側部分には遅延トリガ発生器（３６）のイネ
ーブルを遅鎚させるように可変遅延回路（３８）の遅延
時間を調整後、遅延トリガ発生器（３６）が第２パラメ
ータ条件（この場合、後続のパルスに対して同じ電圧レ
ベル及びスロープ）でトリガを発生している場合を示し
ている。この場合、主トリガ発生器（２２）及び可変遅
延回路（３８）の合計遅延時間は遅延線（３４）の遅延
時間を越えている。第２組のパルスが両トリガ発生器（
２２）及び（３６）に夫々入力する。主トリガ発生器（
２２）は再び第１パラメータ条件でトリガを発生するが
、遅延トリガ発生器（３６）は第２パラメータ条件でト
リガを発生する。タイマ（５８）は両トリガ信号の発生
時点間の第２時間差を測定する。勿論、主トリガ発生器
（２２）は遅延トリガ発生器（３６）がトリガを発生す
るまでリセットしないので、後続のパルスに対してトリ
ガを発生しない。第２時間差から第１時間差を減算すれ
ば大力パルスの実際の問期が求められる。
ーブルを遅鎚させるように可変遅延回路（３８）の遅延
時間を調整後、遅延トリガ発生器（３６）が第２パラメ
ータ条件（この場合、後続のパルスに対して同じ電圧レ
ベル及びスロープ）でトリガを発生している場合を示し
ている。この場合、主トリガ発生器（２２）及び可変遅
延回路（３８）の合計遅延時間は遅延線（３４）の遅延
時間を越えている。第２組のパルスが両トリガ発生器（
２２）及び（３６）に夫々入力する。主トリガ発生器（
２２）は再び第１パラメータ条件でトリガを発生するが
、遅延トリガ発生器（３６）は第２パラメータ条件でト
リガを発生する。タイマ（５８）は両トリガ信号の発生
時点間の第２時間差を測定する。勿論、主トリガ発生器
（２２）は遅延トリガ発生器（３６）がトリガを発生す
るまでリセットしないので、後続のパルスに対してトリ
ガを発生しない。第２時間差から第１時間差を減算すれ
ば大力パルスの実際の問期が求められる。
パルス幅を測定するには、両トリガ発生器（２２）及び
（３６）が共に第１パラメータ条件（パルスの前縁の同
じ電圧レベル及び同じスロープ、例えば立上りスロープ
）でトリガを発生するように調整する。２個のトリガ信
号の発生時点間の第１時間差をタイマ（５８）を用いて
ＭＰＵ制御回路（３２）が算出及び記憶する。それから
遅延トリガ発生器が第２パラメータ条件（前と同じ電圧
レベルだがスロープの極性は逆、例えば立下りスロープ
）でトリガを発生するように調整する。それから第２組
のパルスが両トリガ発生器（２２）及び（３６）に夫々
入力する。主トリガ発生器（２２）は再び立上り（正）
スロープでトリガを発生するが、遅延トリガ発生器（３
６）は同じパルスに対して立下り（負）スロープでトリ
ガを発生する。再び両トリガ信号の発生時点間の第２時
間差を算出及び記憶して、ＭＰＵ制御回路（３２）は第
２時間差から第１時間差を減算してパルス幅を算出する
。
（３６）が共に第１パラメータ条件（パルスの前縁の同
じ電圧レベル及び同じスロープ、例えば立上りスロープ
）でトリガを発生するように調整する。２個のトリガ信
号の発生時点間の第１時間差をタイマ（５８）を用いて
ＭＰＵ制御回路（３２）が算出及び記憶する。それから
遅延トリガ発生器が第２パラメータ条件（前と同じ電圧
レベルだがスロープの極性は逆、例えば立下りスロープ
）でトリガを発生するように調整する。それから第２組
のパルスが両トリガ発生器（２２）及び（３６）に夫々
入力する。主トリガ発生器（２２）は再び立上り（正）
スロープでトリガを発生するが、遅延トリガ発生器（３
６）は同じパルスに対して立下り（負）スロープでトリ
ガを発生する。再び両トリガ信号の発生時点間の第２時
間差を算出及び記憶して、ＭＰＵ制御回路（３２）は第
２時間差から第１時間差を減算してパルス幅を算出する
。
立上り（遷移）時間もパルス幅の場合と同様に算出する
ことができる。両トリガ発注器（２２）及び（３６）は
第１パラメータ条件（即ち、同じパルスの立上り（正）
スロープで振幅の１０％という低電圧レベル）でトリガ
を発生するように調整する。
ことができる。両トリガ発注器（２２）及び（３６）は
第１パラメータ条件（即ち、同じパルスの立上り（正）
スロープで振幅の１０％という低電圧レベル）でトリガ
を発生するように調整する。
ＭＰＵ制御回路（３２）が第１時間差を算出及び記憶し
てから、遅延トリガ発生器（３６）が第２パラメータ条
件（同じスロープだが振幅の９０％という高電圧レベル
）でトリガを発生するように調整する。それから第２組
のパルスを両トリガ発生器（２２）及び（３６）が受け
、主トリガ発生器（２２）は再び低い電圧レベル（１０
％）でトリガを発生するが、遅延トリガ発生器（３６）
は同じスロープ及びパルスに対して高電圧レベル（９０
％）でトリガを発生する。こうして得た第２時間差から
第１時間差を減算して、ＭＰＵ制御回路（３２）はパル
スの立上り時間を測定する。
てから、遅延トリガ発生器（３６）が第２パラメータ条
件（同じスロープだが振幅の９０％という高電圧レベル
）でトリガを発生するように調整する。それから第２組
のパルスを両トリガ発生器（２２）及び（３６）が受け
、主トリガ発生器（２２）は再び低い電圧レベル（１０
％）でトリガを発生するが、遅延トリガ発生器（３６）
は同じスロープ及びパルスに対して高電圧レベル（９０
％）でトリガを発生する。こうして得た第２時間差から
第１時間差を減算して、ＭＰＵ制御回路（３２）はパル
スの立上り時間を測定する。
以上、好適実施例について本発明の詳細な説明したが、
本発明の要旨を進段することなく種々の変更及び変形が
可能であることは当業者には明らかであろう。例えば、
説明したパルス測定回路としてはどのような型の測定回
路に利用してもよく１、オシロスコープのみに限定され
るものではない。
本発明の要旨を進段することなく種々の変更及び変形が
可能であることは当業者には明らかであろう。例えば、
説明したパルス測定回路としてはどのような型の測定回
路に利用してもよく１、オシロスコープのみに限定され
るものではない。
上述のように、本発明によれば計時手段で測定した第１
及び第２時間差測定値に含まれる測定誤差は同じである
と考えられるので、両者の差を取ることにより測定誤差
が相殺されて、極めて正確な測定値を得られる。また、
ＭＰＵ制御回路により、所望の時間パラメータに応じて
トリガ条件の設定及び可変遅延時間の設定を自動的に行
えるので、極めて簡単かつ迅速に視覚的読取り誤差のな
い正確な時間パラメータの測定が可能になる。
及び第２時間差測定値に含まれる測定誤差は同じである
と考えられるので、両者の差を取ることにより測定誤差
が相殺されて、極めて正確な測定値を得られる。また、
ＭＰＵ制御回路により、所望の時間パラメータに応じて
トリガ条件の設定及び可変遅延時間の設定を自動的に行
えるので、極めて簡単かつ迅速に視覚的読取り誤差のな
い正確な時間パラメータの測定が可能になる。
第１図は本発明によるパルス測定回路を含む２時間軸オ
シロスコープのブロック図、第２図は第１図の可変遅延
回路（３８）の実施例の回路図、第３図は第１図のタイ
マ（５日）の実施例の回路図、第４図は第１図のパルス
測定回路の各信号間の関−係を示すタイミング波形図で
ある。 （２２）は第１トリガ発生手段、（３４）は固定遅延手
段、（３６）は第２トリガ発生手段、（３８）は可変遅
延手段、（３２） 、 （５８）は計時手段である。
シロスコープのブロック図、第２図は第１図の可変遅延
回路（３８）の実施例の回路図、第３図は第１図のタイ
マ（５日）の実施例の回路図、第４図は第１図のパルス
測定回路の各信号間の関−係を示すタイミング波形図で
ある。 （２２）は第１トリガ発生手段、（３４）は固定遅延手
段、（３６）は第２トリガ発生手段、（３８）は可変遅
延手段、（３２） 、 （５８）は計時手段である。
Claims (1)
- 入力信号に応じて第１トリガ信号を発生する第１トリガ
発生手段と、該第１トリガ信号を可変時間だけ遅延させ
る可変遅延手段と、上記入力信号を所定時間遅延させる
固定遅延手段と、該固定遅延手段の出力と上記可変遅延
手段の出力に応じて第２トリガ信号を発生する第２トリ
ガ発生手段と、上記第１及び第２トリガ信号の発生時間
差を測定する計時手段とを具えることを特徴とするパル
ス測定回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/877,080 US4704036A (en) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | Pulse measurement circuit |
| US877080 | 1986-06-23 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS635270A true JPS635270A (ja) | 1988-01-11 |
| JPH0470588B2 JPH0470588B2 (ja) | 1992-11-11 |
Family
ID=25369207
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62153216A Granted JPS635270A (ja) | 1986-06-23 | 1987-06-19 | パルス測定回路 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4704036A (ja) |
| EP (1) | EP0250682A3 (ja) |
| JP (1) | JPS635270A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5067562A (en) * | 1988-04-25 | 1991-11-26 | Sanden Corporation | Heat exchanger having fins which are different from one another in fin thickness |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4841500A (en) * | 1988-03-17 | 1989-06-20 | American Telephone And Telegraph Company | Printed circuit board fabrication technique |
| US5150337A (en) * | 1990-02-21 | 1992-09-22 | Applied Magnetics Corporation | Method and apparatus for measuring time elapsed between events |
| US5122996A (en) * | 1990-08-09 | 1992-06-16 | Tektronix, Inc. | Real-time, uninterrupted time-interval to voltage converter |
| US6791462B2 (en) | 2002-09-18 | 2004-09-14 | Sang J. Choi | Sleepy alarm system activated by heart pulse meter |
| EP1847843B1 (en) * | 2006-04-21 | 2009-06-10 | Agilent Technologies, Inc. | Digital data sampling by applying a plurality of time delayed trigger signals |
| US8531176B2 (en) | 2010-04-28 | 2013-09-10 | Teradyne, Inc. | Driving an electronic instrument |
| US8542005B2 (en) | 2010-04-28 | 2013-09-24 | Teradyne, Inc. | Connecting digital storage oscilloscopes |
| US8502522B2 (en) | 2010-04-28 | 2013-08-06 | Teradyne, Inc. | Multi-level triggering circuit |
| US8098181B2 (en) | 2010-04-28 | 2012-01-17 | Teradyne, Inc. | Attenuator circuit |
| CN103869128B (zh) * | 2012-12-13 | 2019-02-26 | 北京普源精电科技有限公司 | 数字示波器触发方法及具有触发功能的数字示波器 |
| CN111351990A (zh) * | 2020-04-07 | 2020-06-30 | 国网江苏省电力有限公司检修分公司 | 一种直流输电电信号触发脉冲测试方法及系统 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2665410A (en) * | 1951-03-15 | 1954-01-05 | Hughes Tool Co | Method and apparatus for automatically measuring time intervals |
| US3249867A (en) * | 1961-04-20 | 1966-05-03 | Gen Dynamics Corp | System for pulse time measurement |
| US3376504A (en) * | 1964-06-04 | 1968-04-02 | Bruce B. Chick | Digital coarse and analog fine time interval measurement |
| DE1673818B2 (de) * | 1967-11-02 | 1971-08-19 | Laukien, Günther, Prof Dr rer nat, 7501 Forchheim | Verfahren und vorrichtung zur direktmessung charakteristi scher zeitkonstanten von abfall oder anstiegskurven in funktion der zeit vorzugsweise zur direktmessung kernmagneti scher relaxationszeiten |
| GB1264804A (en) * | 1968-05-01 | 1972-02-23 | Image Analysing Computers Ltd | Counting logic for scanning systems |
| US3975684A (en) * | 1974-09-11 | 1976-08-17 | Hewlett-Packard Company | Sweep generator apparatus and method |
| GB1492100A (en) * | 1974-12-12 | 1977-11-16 | Tektronix Inc | Delayed sweep system for an oscilloscope |
| DE2729422C2 (de) * | 1977-06-29 | 1982-06-24 | Endress U. Hauser Gmbh U. Co, 7867 Maulburg | Schaltungsanordnung zur Impulsbreitenmessung |
| US4350953A (en) * | 1978-03-20 | 1982-09-21 | Hewlett-Packard Company | Time interval measurement apparatus |
| US4551656A (en) * | 1982-11-01 | 1985-11-05 | Tektronix, Inc. | Oscilloscope having dual time base system for accurate differential time measurement |
| FR2564613B1 (fr) * | 1984-05-17 | 1987-04-30 | Commissariat Energie Atomique | Systeme de chronometrie electronique de haute resolution |
-
1986
- 1986-06-23 US US06/877,080 patent/US4704036A/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-11-04 EP EP86308585A patent/EP0250682A3/en not_active Withdrawn
-
1987
- 1987-06-19 JP JP62153216A patent/JPS635270A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5067562A (en) * | 1988-04-25 | 1991-11-26 | Sanden Corporation | Heat exchanger having fins which are different from one another in fin thickness |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0250682A2 (en) | 1988-01-07 |
| EP0250682A3 (en) | 1989-05-03 |
| US4704036A (en) | 1987-11-03 |
| JPH0470588B2 (ja) | 1992-11-11 |
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Legal Events
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