JPS6353485B2 - - Google Patents
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- JPS6353485B2 JPS6353485B2 JP58137364A JP13736483A JPS6353485B2 JP S6353485 B2 JPS6353485 B2 JP S6353485B2 JP 58137364 A JP58137364 A JP 58137364A JP 13736483 A JP13736483 A JP 13736483A JP S6353485 B2 JPS6353485 B2 JP S6353485B2
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- G01J5/02—Constructional details
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- G—PHYSICS
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- G01J5/0808—Convex mirrors
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- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0831—Masks; Aperture plates; Spatial light modulators
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- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0893—Arrangements to attach devices to a pyrometer, i.e. attaching an optical interface; Spatial relative arrangement of optical elements, e.g. folded beam path
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、常温域をも含む温度域を測定する放
射温度計に関し、更に詳しくは、その測定用光学
系が被測定対象に正しく合焦するように照準を合
わせる為のフアインダーを有する放射温度計用光
学系に関する。
射温度計に関し、更に詳しくは、その測定用光学
系が被測定対象に正しく合焦するように照準を合
わせる為のフアインダーを有する放射温度計用光
学系に関する。
従来技術
従来、上述の如き光学系は種々知られており、
一般に、フアインダー系光軸と測定用光学系光軸
とが一致させられ、両系間に視差がなく同時に焦
点調節できる一眼レフレツクス式フアインダが採
用されている。例えば、第１図ａの従来例におい
て、被測定対象からの光はレンズL1を透過して
受光素子２上に結像され、その出力によつて被測
定対象の温度が演算されるが、レンズL1を透過
した光束の中央部はミラー４によつて反射されて
測定光路外へ導かれ、ミラー６、焦点板８及び接
眼レンズ１０を有するフアインダ系によつて被測
定対象の像が観察される。レンズL1は焦点調節
の為に光軸方向に移動可能である。従つて、放射
温度計の被測定対象及びその焦点調節状態がフア
インダによつて観察される。第１図ｂはミラー６
の代わりにダイクロイツクミラーもしくはハーフ
ミラーからなる光分割ミラー１２を用いた構成を
示す。このような構成では、部材数も少なくて構
成が簡単ではあるけれども、常温域までを測定可
能とする為には、レンズL1を構成する材料とし
て８−14μｍの長波長域と可視波長域の両方の光
に対して透明な材料が必要となり、これが非常に
高価であるのでコスト高となる欠点がある。
一般に、フアインダー系光軸と測定用光学系光軸
とが一致させられ、両系間に視差がなく同時に焦
点調節できる一眼レフレツクス式フアインダが採
用されている。例えば、第１図ａの従来例におい
て、被測定対象からの光はレンズL1を透過して
受光素子２上に結像され、その出力によつて被測
定対象の温度が演算されるが、レンズL1を透過
した光束の中央部はミラー４によつて反射されて
測定光路外へ導かれ、ミラー６、焦点板８及び接
眼レンズ１０を有するフアインダ系によつて被測
定対象の像が観察される。レンズL1は焦点調節
の為に光軸方向に移動可能である。従つて、放射
温度計の被測定対象及びその焦点調節状態がフア
インダによつて観察される。第１図ｂはミラー６
の代わりにダイクロイツクミラーもしくはハーフ
ミラーからなる光分割ミラー１２を用いた構成を
示す。このような構成では、部材数も少なくて構
成が簡単ではあるけれども、常温域までを測定可
能とする為には、レンズL1を構成する材料とし
て８−14μｍの長波長域と可視波長域の両方の光
に対して透明な材料が必要となり、これが非常に
高価であるのでコスト高となる欠点がある。
そこで、第２図ａ，ｂの如きカセグレン式反射
望遠系の測定用光学系とフアインダ系とを組合せ
た光学系が用いられている。測定光はカセグレン
式光学系の主鏡１４での周辺部反射され、副鏡１
６の周辺部で反射され、主鏡１４の中央開口部１
４ａを通つて受光素子２に入射される。一方カセ
グレン式光学系の光軸近傍の光束はミラー１８，
２０でそれぞれ反射され、フアインダーレンズ
LF、焦点板８、及び接眼レンズ１０を介して観
察者の眼に導かれ被測定対象が観察される。焦点
板８は、第２図ｃのように、中央に指標８ａを有
しており、フアインダー視野内の被測定対象の位
置がフアインダ内で視認できる。焦点調節は、主
鏡１４、副鏡１６、ミラー１８，２０及びフアイ
ンダーレンズLFを光軸方向に一体移動させるこ
とによつてなされる。第２図ｂの例は、フアイン
ダーレンズLFを、その光軸がカセグレン式光学
系の光軸と一致するようにミラー１８の前に配置
するとともに、ミラー２０に代えて像反転用ペン
タプリズム２２を配設し、更に、焦点板８と接眼
レンズ１０との間にコンデンサレンズ２４を配置
したものである。２６は受光素子２への入射光束
幅を規制するピンホール板である。本例において
は、主鏡１４及び副鏡１６とともにフアインダー
レンズLF、ミラー１８及びペンタプリズム２２
を光軸方向に一体移転させて焦点調節を行う。第
２図ａ，ｂの如き構成ならば測定用光学系にレン
ズを用いないので上述の如き高価な材料を必要と
せずコスト高にはならないけれども、副鏡１６の
前方にレンズ１８を配設するので装置が大型化し
てしまい、コンパクト性が損なわれる。特に、第
２図ａの例では、フアインダーレンズLFとミラ
ー１８とが離れている為に眼を少し振つただけで
フアインダー像が見えなくなるのに対し第２図ｂ
の例はこれを解消しているけれども、副鏡１６の
前にミラー１８のみならずフアインダーLFをも
配置するので装置がより大型化する。
望遠系の測定用光学系とフアインダ系とを組合せ
た光学系が用いられている。測定光はカセグレン
式光学系の主鏡１４での周辺部反射され、副鏡１
６の周辺部で反射され、主鏡１４の中央開口部１
４ａを通つて受光素子２に入射される。一方カセ
グレン式光学系の光軸近傍の光束はミラー１８，
２０でそれぞれ反射され、フアインダーレンズ
LF、焦点板８、及び接眼レンズ１０を介して観
察者の眼に導かれ被測定対象が観察される。焦点
板８は、第２図ｃのように、中央に指標８ａを有
しており、フアインダー視野内の被測定対象の位
置がフアインダ内で視認できる。焦点調節は、主
鏡１４、副鏡１６、ミラー１８，２０及びフアイ
ンダーレンズLFを光軸方向に一体移動させるこ
とによつてなされる。第２図ｂの例は、フアイン
ダーレンズLFを、その光軸がカセグレン式光学
系の光軸と一致するようにミラー１８の前に配置
するとともに、ミラー２０に代えて像反転用ペン
タプリズム２２を配設し、更に、焦点板８と接眼
レンズ１０との間にコンデンサレンズ２４を配置
したものである。２６は受光素子２への入射光束
幅を規制するピンホール板である。本例において
は、主鏡１４及び副鏡１６とともにフアインダー
レンズLF、ミラー１８及びペンタプリズム２２
を光軸方向に一体移転させて焦点調節を行う。第
２図ａ，ｂの如き構成ならば測定用光学系にレン
ズを用いないので上述の如き高価な材料を必要と
せずコスト高にはならないけれども、副鏡１６の
前方にレンズ１８を配設するので装置が大型化し
てしまい、コンパクト性が損なわれる。特に、第
２図ａの例では、フアインダーレンズLFとミラ
ー１８とが離れている為に眼を少し振つただけで
フアインダー像が見えなくなるのに対し第２図ｂ
の例はこれを解消しているけれども、副鏡１６の
前にミラー１８のみならずフアインダーLFをも
配置するので装置がより大型化する。
目 的
本発明は上述の如き種々従来例の欠点を解消す
べくなされたものであり、その目的は、常温域を
も含む温度域を測定する放射温度計において、一
眼レフレツクス式フアインダーを有する光学系を
コンパクトかつ安価な構成で提供することにあ
る。
べくなされたものであり、その目的は、常温域を
も含む温度域を測定する放射温度計において、一
眼レフレツクス式フアインダーを有する光学系を
コンパクトかつ安価な構成で提供することにあ
る。
発明の要旨
上記目的を達成する為に、本発明は、カセグレ
ン式光学系の副鏡は周辺部のみが測定光導光用の
反射面として用いられ中央部は測定光の為には用
いられておらず、かつ、副鏡自体が第２図ａ，ｂ
図示のようにレンズ後面に反射膜を設けた構成と
なつており、更に、主鏡と副鏡との間には光軸近
傍かつ副鏡後方に必ずスペースがあることに着目
し、副鏡中央部をフアインダーレンズとして利用
するとともに上記スペースにミラーを配置してフ
アインダー光を測定光路外へ導き出すように構成
したことを特徴とするものである。
ン式光学系の副鏡は周辺部のみが測定光導光用の
反射面として用いられ中央部は測定光の為には用
いられておらず、かつ、副鏡自体が第２図ａ，ｂ
図示のようにレンズ後面に反射膜を設けた構成と
なつており、更に、主鏡と副鏡との間には光軸近
傍かつ副鏡後方に必ずスペースがあることに着目
し、副鏡中央部をフアインダーレンズとして利用
するとともに上記スペースにミラーを配置してフ
アインダー光を測定光路外へ導き出すように構成
したことを特徴とするものである。
実施例
以下、図面に基づいて本発明の一実施例を詳細
に説明する。第３図は本発明一実施例の光学系を
示す図で、第１図及び第２図と同様の部材につい
ては同符号を付し、それらについての説明は簡略
化する。
に説明する。第３図は本発明一実施例の光学系を
示す図で、第１図及び第２図と同様の部材につい
ては同符号を付し、それらについての説明は簡略
化する。
第３図において、２８は本体で、該本体２８に
は受光素子２が固定された遮光筒３０が後述の如
く位置調整後に取付けられている。遮光筒３０は
主鏡１４の中央開口部１４ａを貫通して光軸方向
前方へ延び、測定のノイズとなる光を遮光してい
る。２６は受光素子２への入射光束幅を規制する
ピンホール板で遮光筒３０に固着されている。遮
光筒３０の先端には、弾性部材からなるマスク板
３２が後述の如く位置調整可能に取付けられてお
り、該マスク板３２の中央にはミラー１８が一体
的に支持されている。マスク板３２は第４図図示
のように中央部にミラー１８を45゜傾けて支持し
ているとともに、周辺部に円周溝３２ａが形成さ
れており更にその外側にネジ止め用の孔３２ｂが
形成されている。
は受光素子２が固定された遮光筒３０が後述の如
く位置調整後に取付けられている。遮光筒３０は
主鏡１４の中央開口部１４ａを貫通して光軸方向
前方へ延び、測定のノイズとなる光を遮光してい
る。２６は受光素子２への入射光束幅を規制する
ピンホール板で遮光筒３０に固着されている。遮
光筒３０の先端には、弾性部材からなるマスク板
３２が後述の如く位置調整可能に取付けられてお
り、該マスク板３２の中央にはミラー１８が一体
的に支持されている。マスク板３２は第４図図示
のように中央部にミラー１８を45゜傾けて支持し
ているとともに、周辺部に円周溝３２ａが形成さ
れており更にその外側にネジ止め用の孔３２ｂが
形成されている。
本実施例において、副鏡１６は負レンズと正レ
ンズとの接合レンズの最後面の周辺部にのみ反射
部１６ａが設けられた構成であり、その中央部１
６ｂは従来のフアインダーレンズLFとして機能
する。従つて、被測定対象からの光は主鏡１４に
よつて反射され副鏡１６の周辺部１６ａによつて
再び反射されて、マスク板３２の円周溝３２ａを
通つて受光素子２に入射させられる。ここで主鏡
１４と副鏡１６との間には、副鏡１６によつて反
射されるリング状の測定光束の内側、すなわちカ
セグレン式光学系の光軸近傍かつ副鏡後方にスペ
ースが存在しており、ミラー１８にこのスペース
内におさまるように位置及びサイズが定められて
いる。
ンズとの接合レンズの最後面の周辺部にのみ反射
部１６ａが設けられた構成であり、その中央部１
６ｂは従来のフアインダーレンズLFとして機能
する。従つて、被測定対象からの光は主鏡１４に
よつて反射され副鏡１６の周辺部１６ａによつて
再び反射されて、マスク板３２の円周溝３２ａを
通つて受光素子２に入射させられる。ここで主鏡
１４と副鏡１６との間には、副鏡１６によつて反
射されるリング状の測定光束の内側、すなわちカ
セグレン式光学系の光軸近傍かつ副鏡後方にスペ
ースが存在しており、ミラー１８にこのスペース
内におさまるように位置及びサイズが定められて
いる。
一方、副鏡１６の中央のフアインダーレンズ部
１６ｂを透過した光束は、ミラー１８で反射され
測定光路を横切つて該測定光路外へ導き出され、
ペンタプリズム２２、焦点板８、コンデンサレン
ズ２４及び接眼レンズ１０を介して観察者の眼に
導かれ、被測定対象の観察に供される。本実施例
において、ミラー１８及びペンタプリズム２２
は、焦点板８やコンデンサレンズ２４などととも
に本体２８に固定されている。焦点調節は、図示
矢印のように、主鏡１４と副鏡１６とが一体的に
光軸方向に移動させられることによつてなされ
る。ここで、主鏡１４と副鏡１６の反射部１６ａ
とからなる測定用光学系と、副鏡１６のフアイン
ダーレンズ部１６ｂ、ミラー１８、ペンタプリズ
ム２２、焦点板８、コンデンサ−レンズ２４及び
接眼レンズ１０からなるフアインダー系とが常に
同一距離に合焦させられるように光学系を設計し
ておかねばならない。
１６ｂを透過した光束は、ミラー１８で反射され
測定光路を横切つて該測定光路外へ導き出され、
ペンタプリズム２２、焦点板８、コンデンサレン
ズ２４及び接眼レンズ１０を介して観察者の眼に
導かれ、被測定対象の観察に供される。本実施例
において、ミラー１８及びペンタプリズム２２
は、焦点板８やコンデンサレンズ２４などととも
に本体２８に固定されている。焦点調節は、図示
矢印のように、主鏡１４と副鏡１６とが一体的に
光軸方向に移動させられることによつてなされ
る。ここで、主鏡１４と副鏡１６の反射部１６ａ
とからなる測定用光学系と、副鏡１６のフアイン
ダーレンズ部１６ｂ、ミラー１８、ペンタプリズ
ム２２、焦点板８、コンデンサ−レンズ２４及び
接眼レンズ１０からなるフアインダー系とが常に
同一距離に合焦させられるように光学系を設計し
ておかねばならない。
更に、フアインダー系によつて被測定対象を視
野中央に正しく観象する為に、カセグレン式光学
系からなる測定用光学系の光軸とフアインダー系
の光軸とを正確に一致させ、ピンホール板２６の
ピンホールと焦点板８の指標８ａとが等価な位置
になるように光学系の位置調整を行なわねばなら
ない。以下、その為の構成について説明する。
野中央に正しく観象する為に、カセグレン式光学
系からなる測定用光学系の光軸とフアインダー系
の光軸とを正確に一致させ、ピンホール板２６の
ピンホールと焦点板８の指標８ａとが等価な位置
になるように光学系の位置調整を行なわねばなら
ない。以下、その為の構成について説明する。
第５図は上述の如き調整の為の機構を示す図で
ある。第５図において、ミラー１８を支持するマ
スク板３２は、そのネジ孔３２ａを貫通して遮光
筒３０の先端面に止められるネジ３４によつて該
遮光筒３０に支持される。該ネジ３４と光軸対称
な位置には、遮光筒３０の側壁を光軸方向に貫通
する貫通孔３０ａの先端にネジ嵌合された調整ネ
ジ３６の先端が当接している。調整ネジ３６の後
端にはマイナス溝３６ａが形成されており、遮光
筒３０の貫通孔３０ａを通してマイナスドライバ
ーの先端を調整ネジ３６のマイナス溝３６ａに嵌
入し、該ネジ３６をまわして該ネジ３６の嵌合長
を変えて遮光筒３０からの突出量を変えることに
よりミラー１８の傾きを変えてカセグレン式光学
系の光軸に対するフアインダ光軸の図の上下方向
の傾きを調整することができる。３８は本体２８
に着脱自在はリアカバーであり、調整時には取り
外される。
ある。第５図において、ミラー１８を支持するマ
スク板３２は、そのネジ孔３２ａを貫通して遮光
筒３０の先端面に止められるネジ３４によつて該
遮光筒３０に支持される。該ネジ３４と光軸対称
な位置には、遮光筒３０の側壁を光軸方向に貫通
する貫通孔３０ａの先端にネジ嵌合された調整ネ
ジ３６の先端が当接している。調整ネジ３６の後
端にはマイナス溝３６ａが形成されており、遮光
筒３０の貫通孔３０ａを通してマイナスドライバ
ーの先端を調整ネジ３６のマイナス溝３６ａに嵌
入し、該ネジ３６をまわして該ネジ３６の嵌合長
を変えて遮光筒３０からの突出量を変えることに
よりミラー１８の傾きを変えてカセグレン式光学
系の光軸に対するフアインダ光軸の図の上下方向
の傾きを調整することができる。３８は本体２８
に着脱自在はリアカバーであり、調整時には取り
外される。
更に、両光軸の紙面に垂直な方向の調整はミラ
ー１８を遮光筒３０とともに回動させて行う。こ
れについて第６図を用いて説明する。遮光筒３０
のフランジ部３０ｂには互いに平行な一対のスリ
ツト溝３０ｃ，３０ｄと開口３０ｅとが設けられ
ている。そして、遮光筒３０は各スリツト溝３０
ｃ，３０ｄをそれぞれ貫通して本体１８に嵌入さ
れるネジ４０，４２によつて本体１８に固定さ
れ、その回動位置は開口３０ｅに嵌入する偏心ビ
ス４４の偏心量を変えることによつて調整され
る。従つて、まず、ネジ４０，４２を緩めてから
偏心ビス４４の偏心量を変えることにより、本体
１８に対する遮光筒３０の回動位置を変えてミラ
ー１８の回動方向位置を変えることができ、紙面
に垂直な方向の両光軸の調整がなされるのであ
る。以上のように、図の上下方向及び紙面に垂直
な方向の調整がなされた後には、カセグレン式光
学系の光軸とフアインダー光軸とはびつたり一致
している。
ー１８を遮光筒３０とともに回動させて行う。こ
れについて第６図を用いて説明する。遮光筒３０
のフランジ部３０ｂには互いに平行な一対のスリ
ツト溝３０ｃ，３０ｄと開口３０ｅとが設けられ
ている。そして、遮光筒３０は各スリツト溝３０
ｃ，３０ｄをそれぞれ貫通して本体１８に嵌入さ
れるネジ４０，４２によつて本体１８に固定さ
れ、その回動位置は開口３０ｅに嵌入する偏心ビ
ス４４の偏心量を変えることによつて調整され
る。従つて、まず、ネジ４０，４２を緩めてから
偏心ビス４４の偏心量を変えることにより、本体
１８に対する遮光筒３０の回動位置を変えてミラ
ー１８の回動方向位置を変えることができ、紙面
に垂直な方向の両光軸の調整がなされるのであ
る。以上のように、図の上下方向及び紙面に垂直
な方向の調整がなされた後には、カセグレン式光
学系の光軸とフアインダー光軸とはびつたり一致
している。
尚、ここでミラー１８のサイズは、焦点調節の
為に主鏡１４及び副鏡１６が一体移動させられて
も測定光がミラー１８によつてけられることのな
いように予め定められている。
為に主鏡１４及び副鏡１６が一体移動させられて
も測定光がミラー１８によつてけられることのな
いように予め定められている。
以上のように、本実施例によれば、カセグレン
式光学系の副鏡１６の中央をフアインダーレンズ
として用い、該副鏡後方の光軸近傍のスペースに
ミラー１８を配し、該レンズ１８によつて光軸延
長上の被測定対象からの光束を測定用光路外へ導
き出してフアインダー光として利用するので、副
鏡１６の前にフアインダー用の光学部材が必要な
く、かつ、副鏡１６は従来の単レンズの後面の周
辺に反射膜を設けたものに比べ接合レンズとなる
がそれによる厚みの増加はごくわずかで、第２図
ａのように副鏡１６の前にミラーを配置する構成
に比べて著しく光軸方向の長さを小さくすること
ができ、コンパクトな構成によることができる。
更に、一眼レフレツクス式フアインダーとなるの
でフアインダー系と測定用光学系とのパララツク
スもなく、また測定用光学系にカセグレン式光学
系を用いるので、安価に、常温域をも含む温度域
用の放射温度計を得ることができる。
式光学系の副鏡１６の中央をフアインダーレンズ
として用い、該副鏡後方の光軸近傍のスペースに
ミラー１８を配し、該レンズ１８によつて光軸延
長上の被測定対象からの光束を測定用光路外へ導
き出してフアインダー光として利用するので、副
鏡１６の前にフアインダー用の光学部材が必要な
く、かつ、副鏡１６は従来の単レンズの後面の周
辺に反射膜を設けたものに比べ接合レンズとなる
がそれによる厚みの増加はごくわずかで、第２図
ａのように副鏡１６の前にミラーを配置する構成
に比べて著しく光軸方向の長さを小さくすること
ができ、コンパクトな構成によることができる。
更に、一眼レフレツクス式フアインダーとなるの
でフアインダー系と測定用光学系とのパララツク
スもなく、また測定用光学系にカセグレン式光学
系を用いるので、安価に、常温域をも含む温度域
用の放射温度計を得ることができる。
効 果
以上のように、本発明は、被測定対象からの光
を主鏡で反射した後に副鏡で再び反射し、主鏡中
央の開口部を通つて受光素子に導く測定光路を形
成するカセグレン式の測定用光学系を有する放射
温度計用光学系において、上記副鏡を、フアイン
ダー光学系の一部を構成するフアインダーレンズ
の最後面の周辺部に反射部が設けられた構成とす
るとともに、副鏡の後方で測定用光学系の光軸近
傍に、副鏡の中央を透過した光束を反射して、上
記測定光路の外側の他のフアインダー光学系に導
くミラーを配置したことを特徴とするものであり
このように構成することによつて、副鏡中央部の
従来利用されなかつた部分をフアインダーレンズ
として利用するので別個にフアインダーレンズを
設ける必要がなく、構成が簡単になる上に、第２
図ａ，ｂの従来例のように副鏡の前にフアインダ
ー光学系用のレンズやミラーを要しないし、ミラ
ーは従来利用されなかつた副鏡後方の光軸近傍の
スペースに配置されるのでミラーの為の別個のス
ペースを要しないので、装置をコンパクトにする
ことができる。更に、副鏡とミラーとは近接して
配置されるので、観察者が眼を少し振るとフアイ
ンダー像が見えなくなるという欠点は存在しない
し、測定用光学系にレンズを用いないので常温ま
での温度域を測定する放射温度計を安価に提供す
ることができる。
を主鏡で反射した後に副鏡で再び反射し、主鏡中
央の開口部を通つて受光素子に導く測定光路を形
成するカセグレン式の測定用光学系を有する放射
温度計用光学系において、上記副鏡を、フアイン
ダー光学系の一部を構成するフアインダーレンズ
の最後面の周辺部に反射部が設けられた構成とす
るとともに、副鏡の後方で測定用光学系の光軸近
傍に、副鏡の中央を透過した光束を反射して、上
記測定光路の外側の他のフアインダー光学系に導
くミラーを配置したことを特徴とするものであり
このように構成することによつて、副鏡中央部の
従来利用されなかつた部分をフアインダーレンズ
として利用するので別個にフアインダーレンズを
設ける必要がなく、構成が簡単になる上に、第２
図ａ，ｂの従来例のように副鏡の前にフアインダ
ー光学系用のレンズやミラーを要しないし、ミラ
ーは従来利用されなかつた副鏡後方の光軸近傍の
スペースに配置されるのでミラーの為の別個のス
ペースを要しないので、装置をコンパクトにする
ことができる。更に、副鏡とミラーとは近接して
配置されるので、観察者が眼を少し振るとフアイ
ンダー像が見えなくなるという欠点は存在しない
し、測定用光学系にレンズを用いないので常温ま
での温度域を測定する放射温度計を安価に提供す
ることができる。
更に、実施態様のように、受光素子への入射光
束の幅を規制する為のピンホールを有するピンホ
ール板と、該ピンホールによつて定められる被測
定範囲をフアインダ内表示する為の指標との位置
合わせの為に、ミラーの回動位置や傾きを調整す
る手段を設ければ、装置組立時の誤差を調整によ
つてなくすることがあり便利である。
束の幅を規制する為のピンホールを有するピンホ
ール板と、該ピンホールによつて定められる被測
定範囲をフアインダ内表示する為の指標との位置
合わせの為に、ミラーの回動位置や傾きを調整す
る手段を設ければ、装置組立時の誤差を調整によ
つてなくすることがあり便利である。
第１図ａ，ｂ及び第２図ａ，ｂはそれぞれ従来
例を示す断面図、第２図ｃはその焦点板を示す正
面図、第３図は本発明実施例を示す断面図、第４
図はそのミラーを支持するマスク板を示す斜視
図、第５図はその要部拡大断面図、第６図はその
要部後面図である。 ２；受光素子、１４；主鏡、１６；副鏡、１６
ａ；副鏡の反射部、１６ｂ；副鏡のフアインダー
レンズ部、１８；ミラー、１６ｂ，１８，２２，
８，２４，１０；フアインダー光学系。
例を示す断面図、第２図ｃはその焦点板を示す正
面図、第３図は本発明実施例を示す断面図、第４
図はそのミラーを支持するマスク板を示す斜視
図、第５図はその要部拡大断面図、第６図はその
要部後面図である。 ２；受光素子、１４；主鏡、１６；副鏡、１６
ａ；副鏡の反射部、１６ｂ；副鏡のフアインダー
レンズ部、１８；ミラー、１６ｂ，１８，２２，
８，２４，１０；フアインダー光学系。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被測定対象からの光を主鏡で反射した後に副
鏡で再び反射し、主鏡中央の開口部を通つて受光
素子に導く測定光路を形成するカセグレン式の測
定用光学系を有する放射温度計用光学系におい
て、 上記副鏡を、フアインダー光学系の一部を構成
するフアインダーレンズの最後面の周辺部に反射
部が設けられた構成とするとともに、 副鏡の後方で測定用光学系の光軸近傍に、副鏡
の中央を透過した光束を反射して、上記測定光路
の外側の他のフアインダー光学系に導くミラーを
配置したことを特徴とする放射温度計用光学系。 ２ 受光素子は、主鏡中央の開口部を貫通して光
軸方向前方に延び、受光素子への有害光の入射を
遮光する遮光筒に支持されているとともに、 ミラーは、副鏡で反射されて受光素子に向かう
測定光束が透過する円周溝を有する遮光筒の先端
に支持されているマスク板に一体的に支持されて
いることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の放射温度計用光学系。 ３ 受光素子の前には受光素子に入射する光束の
幅を規制して被測定範囲を決定するピンホールを
有するピンホール板が配置されているとともにフ
アインダー光学系には上記被測定範囲を表示する
為の指標が設けられており、更に、上記被測定範
囲を該指標が正しく表示するようにミラーの回動
位置及び測定用光学系の光軸に対する傾きを調整
する調整手段を有することを特徴とする特許請求
の範囲第１項又は第２項記載の放射温度計用光学
系。 ４ 調整手段は、放射温度計本体に対する上記遮
光筒の回動位置を調整してミラーの回動位置を調
整する回動位置調整手段と、ミラーを一体的に支
持するマスク板の遮光筒に対する傾きを調整して
上記光軸に対するミラーの傾きを調整する傾き調
整手段とを有することを特徴とする特許請求の範
囲第３項記載の放射温度計用光学系。 ５ 主鏡と副鏡とが光軸方向に一体的に移動させ
られて測定用光学系及びフアインダー光学系の焦
点調節が同時になされ、焦点調節時にミラーは固
定されて主鏡及び副鏡とともに移動させられない
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項から第４
項までのいずれかに記載の放射温度計用光学系。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58137364A JPS6027825A (ja) | 1983-07-26 | 1983-07-26 | 放射温度計用光学系 |
| US06/632,812 US4664515A (en) | 1983-07-26 | 1984-07-20 | Optical system of a radiation thermometer |
| US07/040,927 US4770528A (en) | 1983-07-26 | 1987-04-21 | Optical system of a radiation thermometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58137364A JPS6027825A (ja) | 1983-07-26 | 1983-07-26 | 放射温度計用光学系 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6027825A JPS6027825A (ja) | 1985-02-12 |
| JPS6353485B2 true JPS6353485B2 (ja) | 1988-10-24 |
Family
ID=15196945
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58137364A Granted JPS6027825A (ja) | 1983-07-26 | 1983-07-26 | 放射温度計用光学系 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US4664515A (ja) |
| JP (1) | JPS6027825A (ja) |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6027825A (ja) * | 1983-07-26 | 1985-02-12 | Minolta Camera Co Ltd | 放射温度計用光学系 |
| JPH0617828B2 (ja) * | 1984-10-30 | 1994-03-09 | ミノルタカメラ株式会社 | 放射温度計の光学系 |
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| US6146014A (en) * | 1998-11-04 | 2000-11-14 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method for laser scanning flip-chip integrated circuits |
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| CN102928948A (zh) * | 2012-11-22 | 2013-02-13 | 福鼎市一雄光学仪器有限公司 | 同步监控双系统光学成像安防长焦镜头 |
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| MX2017014622A (es) * | 2017-11-15 | 2019-05-16 | Univ Mexico Nac Autonoma | Radiometro optico lineal para medicion de altos flujos radiativos con apuntamiento preciso. |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US778694A (en) * | 1904-04-26 | 1904-12-27 | Henry C Mustin | Prismatic telescope. |
| US2813203A (en) * | 1950-04-07 | 1957-11-12 | Leeds & Northrup Co | Optical systems for radiation pyrometers |
| US2761072A (en) * | 1951-06-30 | 1956-08-28 | Servo Corp Of America | Total-radiation pyrometer |
| US2761720A (en) * | 1954-03-17 | 1956-09-04 | Brooks Co E J | Shackle seal |
| US2869369A (en) * | 1955-12-01 | 1959-01-20 | Servo Corp Of America | Optical pyrometer |
| US3064526A (en) * | 1958-06-23 | 1962-11-20 | Wesley N Lindsay | Dual image reflecting telescope |
| US3187574A (en) * | 1963-01-03 | 1965-06-08 | Pyrotel Corp | Optical pyrometer |
| US3411852A (en) * | 1963-11-06 | 1968-11-19 | Optical Coating Laboratory Inc | Optical monitoring apparatus which includes a reflector system for focusing light ona sample and for receiving light reflected from the sample |
| JPS4939469A (ja) * | 1972-08-12 | 1974-04-12 | ||
| JPS6041023B2 (ja) * | 1978-12-13 | 1985-09-13 | 三菱電機株式会社 | リチウム系フエライトの製造方法 |
| JPS5866027A (ja) * | 1981-10-16 | 1983-04-20 | Chino Works Ltd | 光学的測定装置 |
| JPS6027825A (ja) * | 1983-07-26 | 1985-02-12 | Minolta Camera Co Ltd | 放射温度計用光学系 |
-
1983
- 1983-07-26 JP JP58137364A patent/JPS6027825A/ja active Granted
-
1984
- 1984-07-20 US US06/632,812 patent/US4664515A/en not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-04-21 US US07/040,927 patent/US4770528A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6027825A (ja) | 1985-02-12 |
| US4664515A (en) | 1987-05-12 |
| US4770528A (en) | 1988-09-13 |
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