JPS6355167A - セラミック薄体の製造方法 - Google Patents
セラミック薄体の製造方法Info
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- JPS6355167A JPS6355167A JP61197302A JP19730286A JPS6355167A JP S6355167 A JPS6355167 A JP S6355167A JP 61197302 A JP61197302 A JP 61197302A JP 19730286 A JP19730286 A JP 19730286A JP S6355167 A JPS6355167 A JP S6355167A
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Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、鉛組成物を組成の一部とするセラミック薄板
の製造方法に関する。
の製造方法に関する。
(従来の技術)
従来、鉛化合物を組成の1部とするセラミック、例えば
PbTiO3−Pb2rO3、(Ba Pb> Ti
O3等は圧電効果を示し、電話機等の圧電撮動子として
使用されている。この圧電振動子の形状は例えば厚ざ0
,1馴、直径3omm程度の薄体である。
PbTiO3−Pb2rO3、(Ba Pb> Ti
O3等は圧電効果を示し、電話機等の圧電撮動子として
使用されている。この圧電振動子の形状は例えば厚ざ0
,1馴、直径3omm程度の薄体である。
これらのセラミック薄体の製造方法として、第3図示の
ように、通常の窯業で用いる上面開放の函体aの内底面
に、ZrO等の融着防止粉すを撒布し、その上に未焼成
のセラミック薄体Cを置き、その上に融肴防止粉すを撒
布し、再びその上に未焼成のヒラミック簿体Cを置くこ
とをくり返して20枚〜30枚程の未焼成セラミック簿
体を積み重ね、その近傍に例えばPbOのような雰囲気
制御剤を成型したチップdを数個配置し、該函体aの上
に同型の函体aを逆向きにして被せ、未焼成セラミック
薄体Cを密閉した状態で焼成する方法が提案されている
。この方法によれば、鉛を含む未焼成セラミック薄体を
焼成する昇温過程で500°〜600℃から鉛成分が蒸
発し始めるのを、該薄体周辺を鉛成分の雰囲気で覆うこ
とによりその蒸発を制御することができる。
ように、通常の窯業で用いる上面開放の函体aの内底面
に、ZrO等の融着防止粉すを撒布し、その上に未焼成
のセラミック薄体Cを置き、その上に融肴防止粉すを撒
布し、再びその上に未焼成のヒラミック簿体Cを置くこ
とをくり返して20枚〜30枚程の未焼成セラミック簿
体を積み重ね、その近傍に例えばPbOのような雰囲気
制御剤を成型したチップdを数個配置し、該函体aの上
に同型の函体aを逆向きにして被せ、未焼成セラミック
薄体Cを密閉した状態で焼成する方法が提案されている
。この方法によれば、鉛を含む未焼成セラミック薄体を
焼成する昇温過程で500°〜600℃から鉛成分が蒸
発し始めるのを、該薄体周辺を鉛成分の雰囲気で覆うこ
とによりその蒸発を制御することができる。
(発明が解決しようとする問題点)
上述のような製造方法は、融着防止粉すを關械あるいは
手作業で散布するので均一に散布されず、そのセラミッ
ク薄体Cの反りや融着等の製品不良の原因となる不都合
があった。また雰囲気制御剤を成型したチップdによる
雰囲気制御では、未焼成のセラミック薄体Cの周端縁部
分と中心部分における雰囲気が異なるため焼成後のセラ
ミック薄体の周端縁部分と中心部分の鉛成分比が異なり
その特性及び外観の不良の原因となる不都合があった。
手作業で散布するので均一に散布されず、そのセラミッ
ク薄体Cの反りや融着等の製品不良の原因となる不都合
があった。また雰囲気制御剤を成型したチップdによる
雰囲気制御では、未焼成のセラミック薄体Cの周端縁部
分と中心部分における雰囲気が異なるため焼成後のセラ
ミック薄体の周端縁部分と中心部分の鉛成分比が異なり
その特性及び外観の不良の原因となる不都合があった。
本発明は、従来のこのような不都合を解決することので
きる鉛化合物の一部を組成の一部とするセラミック薄体
の製造方法を提供することをその目的とするものである
。
きる鉛化合物の一部を組成の一部とするセラミック薄体
の製造方法を提供することをその目的とするものである
。
(問題点を解決するための手段)
本発明は上述の目的を達成するために、鉛化合物を組成
の1部とする磁器組成物原料を含む未焼成セラミック薄
体と、鉛化合物及び融着若防止剤を含む雰囲気制御融着
防止ウェハとを、函体内に交互に積重ねて密閉し焼成し
たことを特徴とする。
の1部とする磁器組成物原料を含む未焼成セラミック薄
体と、鉛化合物及び融着若防止剤を含む雰囲気制御融着
防止ウェハとを、函体内に交互に積重ねて密閉し焼成し
たことを特徴とする。
(実施例)
実施例1
pbo粉末223gとZrO□粉末123gと、アクリ
ル系有機バインダ76gとを混合し、ドクターブレード
法により0.15#lII+厚、幅45Mの長尺シート
に形成し、40.0に打ち抜いて雰囲気御融着若防止剤
から成るウェハを複数枚用意した。また、予め40mの
厚さ0.13Mに成型されたPbTi0.−PbZr0
3系未焼成セラミック薄体を複数枚用意し、第1図及び
第2図に示すように、函体(3)内に先ず該ウェハ(1
)を1枚敷き、その上に未焼成セラミック薄体(2)を
−枚置きウェハ(1)と未焼成セラミック薄体(2)を
交互に30枚積重ね、同種同型の函体(3A)を逆向ぎ
にして被せて密閉した。
ル系有機バインダ76gとを混合し、ドクターブレード
法により0.15#lII+厚、幅45Mの長尺シート
に形成し、40.0に打ち抜いて雰囲気御融着若防止剤
から成るウェハを複数枚用意した。また、予め40mの
厚さ0.13Mに成型されたPbTi0.−PbZr0
3系未焼成セラミック薄体を複数枚用意し、第1図及び
第2図に示すように、函体(3)内に先ず該ウェハ(1
)を1枚敷き、その上に未焼成セラミック薄体(2)を
−枚置きウェハ(1)と未焼成セラミック薄体(2)を
交互に30枚積重ね、同種同型の函体(3A)を逆向ぎ
にして被せて密閉した。
この状態で最高温度1150℃で2時間、継続する焼成
プロファイルのトンネル炉を通過させて焼成した。
プロファイルのトンネル炉を通過させて焼成した。
この実施例1の焼成されたセラミック薄体を、セラミッ
ク同志のR’4、変色、反り等について1000枚観察
した結果を下表に示す。この実施例の雰囲気制御融着若
防止剤から成るウェハのPbo/2r02(mol比)
は1.0である。
ク同志のR’4、変色、反り等について1000枚観察
した結果を下表に示す。この実施例の雰囲気制御融着若
防止剤から成るウェハのPbo/2r02(mol比)
は1.0である。
実施例2〜9
ウェハのPbO/Xr02を0.2〜2.8(mol比
)の範−囲で変えたことと、焼成温度を1100℃〜1
200℃に変えたこと以外は実施例1と同様に行った。
)の範−囲で変えたことと、焼成温度を1100℃〜1
200℃に変えたこと以外は実施例1と同様に行った。
この焼成セラミック薄体の観察結果を下表に示す。
実施例10〜12
Pbo粉末と7r02粉末を下表の実施例10,11.
12の欄に示す割合で混合し、混合した粉末を600℃
〜800℃で2時間〜3時間熱処理したちのをボールミ
ルで粉砕し、これに有機バインダを加えて前記実施例と
同様にウェハにし、実施例1〜9と同様に行なった。こ
の焼成セラミック薄体のill!察結果を下表に示す。
12の欄に示す割合で混合し、混合した粉末を600℃
〜800℃で2時間〜3時間熱処理したちのをボールミ
ルで粉砕し、これに有機バインダを加えて前記実施例と
同様にウェハにし、実施例1〜9と同様に行なった。こ
の焼成セラミック薄体のill!察結果を下表に示す。
実施例13.14
実施例10〜12における熱処理し゛た粉末に変えて、
該熱処理した粉末とZ「02粉末とを混合したものとし
た以外は実施例10〜12と同様に行なった。また実施
例10〜12における熱処理した粉末に変えて、該熱処
理した粉末とPbo粉末とを混合したものとした以外は
実施例10〜12と同様に行なった。それぞれの焼成セ
ラミック薄体の観察結果を下表の実施例13.14の欄
に示す。
該熱処理した粉末とZ「02粉末とを混合したものとし
た以外は実施例10〜12と同様に行なった。また実施
例10〜12における熱処理した粉末に変えて、該熱処
理した粉末とPbo粉末とを混合したものとした以外は
実施例10〜12と同様に行なった。それぞれの焼成セ
ラミック薄体の観察結果を下表の実施例13.14の欄
に示す。
比較例
函体の内底面及び未焼成のセラミック薄体の上にZrO
2粉末を散布したことと、Pbo粉末を成形した雰囲気
制御用チップを函体内に配置したこと以外は実施例1と
同じ方法及び同じ条件で行なった。この焼成セラミック
薄体の観察結果を下表に示す。 表 尚、前記実施例においては、鉛化合物として酸化鉛を用
いたが、これに限定されるものでなく、塩化鉛、臭化鉛
等のように600℃より低い温度で鉛成分が蒸発するも
のや、炭酸鉛や酢酸鉛等のように、分解して酸化鉛とな
るものも、前記実施例と同様の効果を示す。
2粉末を散布したことと、Pbo粉末を成形した雰囲気
制御用チップを函体内に配置したこと以外は実施例1と
同じ方法及び同じ条件で行なった。この焼成セラミック
薄体の観察結果を下表に示す。 表 尚、前記実施例においては、鉛化合物として酸化鉛を用
いたが、これに限定されるものでなく、塩化鉛、臭化鉛
等のように600℃より低い温度で鉛成分が蒸発するも
のや、炭酸鉛や酢酸鉛等のように、分解して酸化鉛とな
るものも、前記実施例と同様の効果を示す。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、例えば厚さ0.
1mrn、直径30s++のセラミック薄板が反らず、
また積重ねても8着することがないので生産効率が高く
、更に雰囲気ずれによるセラミック薄体の中心部分と周
端縁部分における鉛成分比の相違がないので、特性及び
外観の不良が生じない等の効果がある。
1mrn、直径30s++のセラミック薄板が反らず、
また積重ねても8着することがないので生産効率が高く
、更に雰囲気ずれによるセラミック薄体の中心部分と周
端縁部分における鉛成分比の相違がないので、特性及び
外観の不良が生じない等の効果がある。
截断断面図、第3図は従来方法を説明するための断面図
である。 (1)・・・ウェハ (2)・・・未焼成セラミック薄体 (3>(3A)・・・函体 第2図 第3@
である。 (1)・・・ウェハ (2)・・・未焼成セラミック薄体 (3>(3A)・・・函体 第2図 第3@
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、鉛化合物を組成の1部とする磁器組成物原料を含む
未焼成セラミック薄体と、鉛化合物及び融着防止剤を含
む雰囲気制御融着防止ウェハとを、函体内に交互に積重
ねて密閉し焼成したことを特徴とするセラミック薄体の
製造方法。 2、前記雰囲気制御融着防止ウェハは、鉛化合物粉末と
融着防止剤粉末を混合して成形したものであることを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載のセラミック薄体の
製造方法。 3、前記雰囲気制御融着防止ウェハは、鉛化合物−融着
防止剤の固溶体粉末を成形したものであることを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載のセラミック薄体の製造
方法。 4、前記雰囲気制御融着防止ウェハは、鉛化合物−融着
若防止剤の固溶体粉末と、鉛化合物粉末とを混合して成
形したものであることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載のセラミック薄体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61197302A JPS6355167A (ja) | 1986-08-25 | 1986-08-25 | セラミック薄体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61197302A JPS6355167A (ja) | 1986-08-25 | 1986-08-25 | セラミック薄体の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6355167A true JPS6355167A (ja) | 1988-03-09 |
| JPH0427188B2 JPH0427188B2 (ja) | 1992-05-11 |
Family
ID=16372200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61197302A Granted JPS6355167A (ja) | 1986-08-25 | 1986-08-25 | セラミック薄体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6355167A (ja) |
-
1986
- 1986-08-25 JP JP61197302A patent/JPS6355167A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0427188B2 (ja) | 1992-05-11 |
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