JPS6356007A - 包絡線検出回路 - Google Patents
包絡線検出回路Info
- Publication number
- JPS6356007A JPS6356007A JP20041386A JP20041386A JPS6356007A JP S6356007 A JPS6356007 A JP S6356007A JP 20041386 A JP20041386 A JP 20041386A JP 20041386 A JP20041386 A JP 20041386A JP S6356007 A JPS6356007 A JP S6356007A
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- envelope detection
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、記録情報信号等の包絡線検出回路に関する
ものである。
ものである。
第５図は、例えば特開昭５８−１４３４７２号公報に示
された従来の包絡線検出回路を示すブロック構成図であ
り、図において、１は入力端子、２は最大レベルキ★出
器、３は最小レベル検出器、４は入力信号のエンベロー
プをとる包絡線検波回路、５は上記最大レベル検出器２
及び最小レベル検出器３からの２つの入力信号の平均値
を出力する加算器、６は比較器、７は出力端子である。
された従来の包絡線検出回路を示すブロック構成図であ
り、図において、１は入力端子、２は最大レベルキ★出
器、３は最小レベル検出器、４は入力信号のエンベロー
プをとる包絡線検波回路、５は上記最大レベル検出器２
及び最小レベル検出器３からの２つの入力信号の平均値
を出力する加算器、６は比較器、７は出力端子である。
また第６図は第５図の回路の信号の流れを説明するため
の藻形図である。
の藻形図である。
次に動作について説明する。入力端子１には、路４によ
り、それぞれ第６図Ｍ、Ｎ、Ｒに示す信号が検出される
。ＭとＮとの信号は加算器５で油路４の出力Ｒとが比較
器６によって比較され、第６図（′ｂ）に示す信号Ｃが
出力される。
り、それぞれ第６図Ｍ、Ｎ、Ｒに示す信号が検出される
。ＭとＮとの信号は加算器５で油路４の出力Ｒとが比較
器６によって比較され、第６図（′ｂ）に示す信号Ｃが
出力される。
従来の包絡線検出回路は以上のように構成されているの
で、比較器のスライスレベルを変えることができず、エ
ンベロープ変化に対する応答性を再生状態によって変化
させることができないという問題点があった。
で、比較器のスライスレベルを変えることができず、エ
ンベロープ変化に対する応答性を再生状態によって変化
させることができないという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、比較器のスライスレベルを変えることができ
、エンベロープ変化に対する応答性を再生状態によって
変化させることができる包絡線検出回路を得ることを目
的とする。
たもので、比較器のスライスレベルを変えることができ
、エンベロープ変化に対する応答性を再生状態によって
変化させることができる包絡線検出回路を得ることを目
的とする。
この発明に係る包絡線検出回路は、可変利得回路を設け
て包絡線信号と振幅レベル信号の少なくとも一方のレベ
ルを変化させるようにしたものである。
て包絡線信号と振幅レベル信号の少なくとも一方のレベ
ルを変化させるようにしたものである。
この発明においては、可変利得回路により、比較器のス
ライスレベルが変化できるから、エンベロープ変化に対
する応答性を、再生状態によって変化できる。
ライスレベルが変化できるから、エンベロープ変化に対
する応答性を、再生状態によって変化できる。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図は本発明の一実施例による包絡線検出回路を示し、図
において、１は入力端子、２は最大レベル検出器、３は
最小レベル検出器、４は入力信号Ｓのエンベロープをと
る包絡線検波回路、８は上記最大レベル検出器２の出力
と上記最小レベル検出器３の出力の和をとり再出力の平
均値を出力する出力レベル可変の加算器、９は上記加算
器８の出力レベルを制御する信号を入力する制御信号入
力端子、６は比較器、７は出力端子である。
図は本発明の一実施例による包絡線検出回路を示し、図
において、１は入力端子、２は最大レベル検出器、３は
最小レベル検出器、４は入力信号Ｓのエンベロープをと
る包絡線検波回路、８は上記最大レベル検出器２の出力
と上記最小レベル検出器３の出力の和をとり再出力の平
均値を出力する出力レベル可変の加算器、９は上記加算
器８の出力レベルを制御する信号を入力する制御信号入
力端子、６は比較器、７は出力端子である。
次に動作について説明する。入力端子１には、第２図（
ａ）に示す再生信号Ｓ′が入力され、最大レベル検出器
２、最小レベル検出器３、包絡′ｇＡ検波回路４によっ
てそれぞれ、Ｍ、Ｎ、Ｒに示す信号が得られる。信号Ｍ
と信号Ｎとは加算器８によって加算され、制御信号入力
端子９により入力される、第２図（′ｂ）に示す信号Ｖ
によって出力レベルが制御され、Ｑに示す信号となる。
ａ）に示す再生信号Ｓ′が入力され、最大レベル検出器
２、最小レベル検出器３、包絡′ｇＡ検波回路４によっ
てそれぞれ、Ｍ、Ｎ、Ｒに示す信号が得られる。信号Ｍ
と信号Ｎとは加算器８によって加算され、制御信号入力
端子９により入力される、第２図（′ｂ）に示す信号Ｖ
によって出力レベルが制御され、Ｑに示す信号となる。
信号Ｑと信号Ｒとは比較器６によって比較され第２図（
Ｃ）に示す出力信号Ｃとなる。
Ｃ）に示す出力信号Ｃとなる。
なお、上記実施例では再生信号から直接振幅レベルを得
るものを示したが、再生信号の包絡線信号から振幅レベ
ルを得てもよい。
るものを示したが、再生信号の包絡線信号から振幅レベ
ルを得てもよい。
また、上記実施例では加算器の出力レベルのみを変化さ
せたが、包絡線検波回路出力レベルのみを変化させても
よいし、加算器出力レベルと包絡線検波回路出力レベル
の両方を変化させてもよく、上記実施例と同様の効果を
奏する。
せたが、包絡線検波回路出力レベルのみを変化させても
よいし、加算器出力レベルと包絡線検波回路出力レベル
の両方を変化させてもよく、上記実施例と同様の効果を
奏する。
本発明の有用性は記録情報信号の再生装置への適用によ
り更に明らかとなる。
り更に明らかとなる。
次に上記実施例を光学式ディスク再生装置のトラッキン
グサーボに用いた場合を一例として示す。
グサーボに用いた場合を一例として示す。
従来より、光学式ディスク再生装置では、トラッキング
誤差信号によりピックアップ再生素子をトラッキング制
御し、該ピックアップ再生素子が記録トラック上を正確
に追従するようにしている。
誤差信号によりピックアップ再生素子をトラッキング制
御し、該ピックアップ再生素子が記録トラック上を正確
に追従するようにしている。
このようなトラッキングサーボ回路におけるループゲイ
ンの調整方法としては、通常再生時はサーボループを閉
じておき、傷等の信号欠落の場合には、サーボゲインが
高いと隣接トラックにスポットが移動する恐れがあるた
め、極く短時間サーボループが開くようにしている。こ
のループの開閉は、第６図（ｂ）に示す信号Ｃで制御し
ているが、従来の方式では内６図ｔａ＋に示すスライス
レベルＰを変動できないため、ディスクに付着した指紋
などにより信号レベルが減少した場合にもサーボループ
が開き、トラッキングが不安定になってしまう。
ンの調整方法としては、通常再生時はサーボループを閉
じておき、傷等の信号欠落の場合には、サーボゲインが
高いと隣接トラックにスポットが移動する恐れがあるた
め、極く短時間サーボループが開くようにしている。こ
のループの開閉は、第６図（ｂ）に示す信号Ｃで制御し
ているが、従来の方式では内６図ｔａ＋に示すスライス
レベルＰを変動できないため、ディスクに付着した指紋
などにより信号レベルが減少した場合にもサーボループ
が開き、トラッキングが不安定になってしまう。
これに対し本発明を用いたものにおいては、スライスレ
ベルを変動できるので、信号レベルが減少してもトラッ
キングを容易に安定させることができる。
ベルを変動できるので、信号レベルが減少してもトラッ
キングを容易に安定させることができる。
ここで上述のようなトラッキングサーボ回路の従来例を
第３図に示す。図において、１０は入射光量に応じた大
きさの電流を出力する光検知器、１１．１３．１４は該
光検知器１０の出力電流を電圧に変換するための前置増
幅器、１２は従来の包絡線検出回路、１５は差動増幅器
、１６はサーボループ０Ｎ１０ＦＦスイツチ、１７は位
相補償回路、１８は位相補償切り換えスイッチ、１９は
増幅器、２０はアクチュエータである。
第３図に示す。図において、１０は入射光量に応じた大
きさの電流を出力する光検知器、１１．１３．１４は該
光検知器１０の出力電流を電圧に変換するための前置増
幅器、１２は従来の包絡線検出回路、１５は差動増幅器
、１６はサーボループ０Ｎ１０ＦＦスイツチ、１７は位
相補償回路、１８は位相補償切り換えスイッチ、１９は
増幅器、２０はアクチュエータである。
次に動作について簡単に説明する。
ディスクの情報を光検知器１０が読み取るが、そのうち
のｂ部分、Ｃ部分に入射した光の強度に応じた大きさの
電流はそれぞれ前置増幅器１３゜１４に人力され、ここ
で該谷電流は電圧に変換される。そしてこれら増幅器１
３．１４の出力は差動増幅器１５によって演算され、ト
ラッキングエラー信号となる。トラッキングエラー信号
は位相補償回路１６、増幅器１９によって最適な信号と
なり、アクチュエータ２０に加えられる。一方、光検知
器１０のうらのａ部分に入射した光の強度に応じた大き
さの電流は前置増幅器１１によって電圧に変換され、包
絡線検出回路１２により信号の欠落時にパルスが出力さ
れ、このパルスに応じて位相補償切り換えスイッチ１８
．サーボループ０Ｎ１０ＦＦスイツチ１６を切り換える
。
のｂ部分、Ｃ部分に入射した光の強度に応じた大きさの
電流はそれぞれ前置増幅器１３゜１４に人力され、ここ
で該谷電流は電圧に変換される。そしてこれら増幅器１
３．１４の出力は差動増幅器１５によって演算され、ト
ラッキングエラー信号となる。トラッキングエラー信号
は位相補償回路１６、増幅器１９によって最適な信号と
なり、アクチュエータ２０に加えられる。一方、光検知
器１０のうらのａ部分に入射した光の強度に応じた大き
さの電流は前置増幅器１１によって電圧に変換され、包
絡線検出回路１２により信号の欠落時にパルスが出力さ
れ、このパルスに応じて位相補償切り換えスイッチ１８
．サーボループ０Ｎ１０ＦＦスイツチ１６を切り換える
。
第４図（ａ）、 Ｃｂ））にディスクに傷がある場合の
光学式ディスク再生装置の再生信号及びトラッキングエ
ラー信号を示す。この図に示すように信号が欠落した場
合、トラッキングエラー信号が乱れ、通常のサーボゲイ
ンであればビームスポットが隣接トラックに移る恐れが
あるため、包絡線検出回路によってビームスポットが動
かないように極く短時間サーボループを切る必要がある
。
光学式ディスク再生装置の再生信号及びトラッキングエ
ラー信号を示す。この図に示すように信号が欠落した場
合、トラッキングエラー信号が乱れ、通常のサーボゲイ
ンであればビームスポットが隣接トラックに移る恐れが
あるため、包絡線検出回路によってビームスポットが動
かないように極く短時間サーボループを切る必要がある
。
第４図（Ｃ）、（ｄ）はディスクに指紋がある場合の再
生信号及びトラッキングエラー信号を示したものである
。この図に示すように再生信号レベルが下がった場合に
おいても、サーボループを切ると再生信号のレベルが低
下している期間が長いため再生が非常に不安定となる。
生信号及びトラッキングエラー信号を示したものである
。この図に示すように再生信号レベルが下がった場合に
おいても、サーボループを切ると再生信号のレベルが低
下している期間が長いため再生が非常に不安定となる。
またトラッキングエラー信号は乱れずにゲインが上がっ
たままでもビームスポットが隣接トラックに移る恐れも
ないため、サーボループを閉じたままにしておく必要が
ある。
たままでもビームスポットが隣接トラックに移る恐れも
ないため、サーボループを閉じたままにしておく必要が
ある。
また、第４図（ｅ）、 （ｆ）はジャンプ時の再生信号
及びトラッキングエラー信号を示したものである。
及びトラッキングエラー信号を示したものである。
この場合にはビームスポットの移動に従い、包絡線検出
回路によって、サーボループを０Ｎ１０ＦＦさせる必要
がある。
回路によって、サーボループを０Ｎ１０ＦＦさせる必要
がある。
従って、第３図のような回路において包絡線検出回路１
２が従来のような回路構成であれば、サーボループを０
Ｎ１０ＦＦさせるスライスレベルが一定であるため、例
えばジャンプ時に適正なスライスレベルを与えておいた
場合には、指紋があった場合にもサーボループが開き、
トラッキングサーボが不安定となンＬまう。これに対し
、本発明のような回路構成にすれば、ジャンプ時と通常
再生時とでスライスレベルを変化させることができ、指
紋のように信号レベルが下がるだけの場合にはサーボル
ープが開かず、傷のように完全な信号欠落の場合のみサ
ーボループが開く、極めて安定なトラッキングサーボ回
路を得ることができる。
２が従来のような回路構成であれば、サーボループを０
Ｎ１０ＦＦさせるスライスレベルが一定であるため、例
えばジャンプ時に適正なスライスレベルを与えておいた
場合には、指紋があった場合にもサーボループが開き、
トラッキングサーボが不安定となンＬまう。これに対し
、本発明のような回路構成にすれば、ジャンプ時と通常
再生時とでスライスレベルを変化させることができ、指
紋のように信号レベルが下がるだけの場合にはサーボル
ープが開かず、傷のように完全な信号欠落の場合のみサ
ーボループが開く、極めて安定なトラッキングサーボ回
路を得ることができる。
以上のように、この発明に係る包絡線検出回路によれば
、通常再生時とその他の場合の各々に適正なゲインを可
変利得回路に与えることによりエンベロープ変化に対す
る応答性が再生状態により異なる包絡線検出信号が得ら
れる効果がある。
、通常再生時とその他の場合の各々に適正なゲインを可
変利得回路に与えることによりエンベロープ変化に対す
る応答性が再生状態により異なる包絡線検出信号が得ら
れる効果がある。
第１図はこの発明の一実施例による包絡線ネ食出回路を
示すブロック構成図、第２図は第１図の回路の信号を示
す波形図、第３図はこの発明の一実施例を光学式ディス
ク再生装置に用いた例を示すブロック構成図、第４図は
光学式ディスク装置における再生信号波形及びトラッキ
ングエラー信号波形を示す図、第５図は従来の包絡線検
出回路を示すブロック構成図、第６図は第５図の回路の
信号を示す波形図である。 図において、２は最大レベル検出器（第１のピークレベ
ル検出器）、３は最小レベル検出器（第２のピークレベ
ル検出器）、４は包絡線検波回路（包絡線検波手段）、
６は比較器（比較手段）、８は出力レベル可変の加算器
（可変利得回路）である。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
示すブロック構成図、第２図は第１図の回路の信号を示
す波形図、第３図はこの発明の一実施例を光学式ディス
ク再生装置に用いた例を示すブロック構成図、第４図は
光学式ディスク装置における再生信号波形及びトラッキ
ングエラー信号波形を示す図、第５図は従来の包絡線検
出回路を示すブロック構成図、第６図は第５図の回路の
信号を示す波形図である。 図において、２は最大レベル検出器（第１のピークレベ
ル検出器）、３は最小レベル検出器（第２のピークレベ
ル検出器）、４は包絡線検波回路（包絡線検波手段）、
６は比較器（比較手段）、８は出力レベル可変の加算器
（可変利得回路）である。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (3)
- （１）記録媒体から再生された再生信号が該再生信号よ
り得られたスライスレベル以上か以下かに応じてレベル
が異なる包絡線検出信号を得る包絡線検出回路であって
、 上記再生信号の包絡線信号を得る包絡線検波手段と、 上記再生信号の振幅レベルを検出する振幅検出手段と、 上記包絡線信号と上記振幅検出手段からの２つの検出出
力信号の少なくとも一方の信号の振幅を変化させる可変
利得回路と、 該可変利得回路からの一方の出力信号の振幅と他方の出
力信号の振幅とから包絡線検出信号を弁別する比較手段
とを備えたことを特徴とする包絡線検出回路。 - （２）上記振幅検出手段は、 再生信号の最大レベルを検出する第１のピークレベル検
出器と、 再生信号の最小レベルを検出する第２のピークレベル検
出器とを備えたものであることを特徴とする特許請求の
範囲第１項記載の包絡線検出回路。 - （３）上記可変利得回路は、 上記記録媒体の通常再生時とその他の場合とでそのゲイ
ンが異なるように制御されることを特徴とする特許請求
の範囲第１項または第２項記載の包絡線検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61200413A JP2672944B2 (ja) | 1986-08-26 | 1986-08-26 | 包絡線検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61200413A JP2672944B2 (ja) | 1986-08-26 | 1986-08-26 | 包絡線検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6356007A true JPS6356007A (ja) | 1988-03-10 |
| JP2672944B2 JP2672944B2 (ja) | 1997-11-05 |
Family
ID=16423905
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61200413A Expired - Lifetime JP2672944B2 (ja) | 1986-08-26 | 1986-08-26 | 包絡線検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2672944B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH098554A (ja) * | 1995-06-21 | 1997-01-10 | Nec Corp | 電力検波回路及びこれを用いたモニタ回路 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62112230A (ja) * | 1985-11-11 | 1987-05-23 | Hitachi Ltd | 閾値レベル自動制御回路 |
-
1986
- 1986-08-26 JP JP61200413A patent/JP2672944B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62112230A (ja) * | 1985-11-11 | 1987-05-23 | Hitachi Ltd | 閾値レベル自動制御回路 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH098554A (ja) * | 1995-06-21 | 1997-01-10 | Nec Corp | 電力検波回路及びこれを用いたモニタ回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2672944B2 (ja) | 1997-11-05 |
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