JPS635898B2 - - Google Patents
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- JPS635898B2 JPS635898B2 JP57211095A JP21109582A JPS635898B2 JP S635898 B2 JPS635898 B2 JP S635898B2 JP 57211095 A JP57211095 A JP 57211095A JP 21109582 A JP21109582 A JP 21109582A JP S635898 B2 JPS635898 B2 JP S635898B2
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- processed
- vacuum
- processing chamber
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
- H10P72/34—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H10P72/3411—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/04—Apparatus for manufacture or treatment
- H10P72/0451—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H10P72/0452—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterised by the layout of the process chambers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
- H10P72/33—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H10P72/3306—Horizontal transfer of a single workpiece
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は真空処理装置に係り、特にシリコンウ
エハ等の半導体製造用ウエハを自動的にエツチン
グおよびスパツタリングする真空処理装置に関す
る。
エハ等の半導体製造用ウエハを自動的にエツチン
グおよびスパツタリングする真空処理装置に関す
る。
従来、シリコンウエハ等を自動的に真空処理す
る場合は、その処理装置内で水平状態および垂直
状態をくり返して、移動や処理を行なつていた
が、ウエハの水平状態時にごみが付着する場合が
あり、製品特性を悪化させてしまうという欠点を
有している。
る場合は、その処理装置内で水平状態および垂直
状態をくり返して、移動や処理を行なつていた
が、ウエハの水平状態時にごみが付着する場合が
あり、製品特性を悪化させてしまうという欠点を
有している。
さらに、ウエハを真空処理装置内に挿入しまた
は取出す際に、大気圧と高真空状態をくり返す必
要があり、高真空に排気するには数10分の時間が
必要とされるため、連続的に真空処理を行なう場
合に非常に生産性が悪いという欠点をも有してい
る。
は取出す際に、大気圧と高真空状態をくり返す必
要があり、高真空に排気するには数10分の時間が
必要とされるため、連続的に真空処理を行なう場
合に非常に生産性が悪いという欠点をも有してい
る。
本発明は上記欠点に鑑みてなされたもので、真
空処理装置内におけるウエハへのごみの付着を防
止するとともに、生産性を高めることのできる真
空処理装置を提供することを目的とするものであ
る。
空処理装置内におけるウエハへのごみの付着を防
止するとともに、生産性を高めることのできる真
空処理装置を提供することを目的とするものであ
る。
上記目的を達成するため、本発明に係る真空処
理装置は、真空槽の両側端部下方に設けられると
ともに下方部が連通され垂直に被処理物を収納す
る収納用カセツトが収容されるカセツト収容室
と、この両カセツト収容室の上方に設けられ被処
理物を垂直状態で載置するバツフアエリアと、こ
の両バツフアエリヤ間に設けられた処理室とを有
し、上記カセツト収容室とバツフアエリア間で多
数の被処理物を昇降させる昇降装置と、上記両バ
ツフアエリアおよび上記処理室との間で被処理物
を垂直状態のまま移動させる移動装置とが設けら
れて構成されており、真空処理装置内では被処理
物が垂直状態のまま移動および処理が行なわれ、
被処理物はすべてバツフアエリアにためるように
なされている。
理装置は、真空槽の両側端部下方に設けられると
ともに下方部が連通され垂直に被処理物を収納す
る収納用カセツトが収容されるカセツト収容室
と、この両カセツト収容室の上方に設けられ被処
理物を垂直状態で載置するバツフアエリアと、こ
の両バツフアエリヤ間に設けられた処理室とを有
し、上記カセツト収容室とバツフアエリア間で多
数の被処理物を昇降させる昇降装置と、上記両バ
ツフアエリアおよび上記処理室との間で被処理物
を垂直状態のまま移動させる移動装置とが設けら
れて構成されており、真空処理装置内では被処理
物が垂直状態のまま移動および処理が行なわれ、
被処理物はすべてバツフアエリアにためるように
なされている。
以下、本発明の実施例を第1図および第2図を
参照して説明する。
参照して説明する。
真空槽1の両側端部下方には、それぞれ挿入側
カセツト収容室2および取出側カセツト収容室3
が設けられ、この両カセツト収容室2,3は、対
向する側面の下方を連通して1つの真空槽とされ
ている。また、両カセツト収容室2,3の上面に
はそれぞれ開口部4a,4bが設けられ、これら
開口部4a,4bを開閉するバルブ5a,5bが
設けられており、このバルブ5a,5bはエアシ
リンダ等により前後方向に開閉自在とされてい
る。上記両カセツト収容部2,3の上方はそれぞ
れ入口側バツフアエリア6および出口側バツフア
エリア7とされ、両バツフアエリア6,7の内部
には、載置板8a,8bの上面に2本の載置バー
9a,9bが前後方向に固着されてなる載置アー
ム10a,10bが設けられており、この載置ア
ーム10a,10bは前記バルブ5と同様に前後
方向に移動自在とされている。上記真空槽1内部
の出口側バツフアエリア7側にはスパツタリング
処理室11が独立して設けられ、かつ入口側バツ
フアエリア側には円筒形のエツチング処理室12
が設けられている。上記エツチング処理室12の
後面側は開放されており、真空槽1の後面外部に
設けられたエアシリンダ13に接続されたシヤフ
ト14の先端部に、上記エツチング処理室12の
開放部分を塞ぐ円板状のバルブ15が設けられ、
かつこのバルブ15の前方には、被処理物を係支
する突起16が設けられている。そして、上記バ
ルブ15はエアシリンダ13により前後方向に移
動可能とされ、上記バルブがエツチング処理室1
2後端に密着することによりエツチング処理室1
2が形成されている。上記スパツタリング処理室
11の後面側には開口部17が設けられ、上記エ
ツチング処理室12の場合と同様に、この開口部
を開閉するバルブ18がシヤフト19を介して、
真空槽1の後面外部に設けられたエアシリンダ2
0に接続され、このバルブ18の前方には突起2
1が設けられており、バルブ18がスパツタリン
グ処理室11の後面と真空槽1の後面との間隙部
分を、前後方向に移動自在とされている。さら
に、スパツタリング処理室11の後面内側には、
シヤツタ22が設けられ、アーム23の回動によ
り上記開口部17が開閉自在とされている。ま
た、真空槽1の後面寄り上方には移動バー24が
上下動および左右動自在に設けられており、この
移動バー24の両端部には、上方が半円状に形成
されるとともに、下方に載支突起25が設けられ
た第1および第2移動アーム26,27が、対照
に固着され、さらに、移動バー24の中央部には
ほぼY字状を有し、その上端部に載支突起25が
設けられた第3移動アーム28が固着されてい
る。上記第1移動アーム26は入口側バツフアエ
リア6からエツチング処理室12まで、第3移動
アーム28はエツチング処理室12からスパツタ
リング処理室11まで、第2移動アーム27はス
パツタリング処理室11から出口側バツフアエリ
ア7まで、それぞれ被処理物を搬送するものであ
る。
カセツト収容室2および取出側カセツト収容室3
が設けられ、この両カセツト収容室2,3は、対
向する側面の下方を連通して1つの真空槽とされ
ている。また、両カセツト収容室2,3の上面に
はそれぞれ開口部4a,4bが設けられ、これら
開口部4a,4bを開閉するバルブ5a,5bが
設けられており、このバルブ5a,5bはエアシ
リンダ等により前後方向に開閉自在とされてい
る。上記両カセツト収容部2,3の上方はそれぞ
れ入口側バツフアエリア6および出口側バツフア
エリア7とされ、両バツフアエリア6,7の内部
には、載置板8a,8bの上面に2本の載置バー
9a,9bが前後方向に固着されてなる載置アー
ム10a,10bが設けられており、この載置ア
ーム10a,10bは前記バルブ5と同様に前後
方向に移動自在とされている。上記真空槽1内部
の出口側バツフアエリア7側にはスパツタリング
処理室11が独立して設けられ、かつ入口側バツ
フアエリア側には円筒形のエツチング処理室12
が設けられている。上記エツチング処理室12の
後面側は開放されており、真空槽1の後面外部に
設けられたエアシリンダ13に接続されたシヤフ
ト14の先端部に、上記エツチング処理室12の
開放部分を塞ぐ円板状のバルブ15が設けられ、
かつこのバルブ15の前方には、被処理物を係支
する突起16が設けられている。そして、上記バ
ルブ15はエアシリンダ13により前後方向に移
動可能とされ、上記バルブがエツチング処理室1
2後端に密着することによりエツチング処理室1
2が形成されている。上記スパツタリング処理室
11の後面側には開口部17が設けられ、上記エ
ツチング処理室12の場合と同様に、この開口部
を開閉するバルブ18がシヤフト19を介して、
真空槽1の後面外部に設けられたエアシリンダ2
0に接続され、このバルブ18の前方には突起2
1が設けられており、バルブ18がスパツタリン
グ処理室11の後面と真空槽1の後面との間隙部
分を、前後方向に移動自在とされている。さら
に、スパツタリング処理室11の後面内側には、
シヤツタ22が設けられ、アーム23の回動によ
り上記開口部17が開閉自在とされている。ま
た、真空槽1の後面寄り上方には移動バー24が
上下動および左右動自在に設けられており、この
移動バー24の両端部には、上方が半円状に形成
されるとともに、下方に載支突起25が設けられ
た第1および第2移動アーム26,27が、対照
に固着され、さらに、移動バー24の中央部には
ほぼY字状を有し、その上端部に載支突起25が
設けられた第3移動アーム28が固着されてい
る。上記第1移動アーム26は入口側バツフアエ
リア6からエツチング処理室12まで、第3移動
アーム28はエツチング処理室12からスパツタ
リング処理室11まで、第2移動アーム27はス
パツタリング処理室11から出口側バツフアエリ
ア7まで、それぞれ被処理物を搬送するものであ
る。
上記両カセツト収容室2,3の下面外部には、
それぞれエアシリンダ29a,29bが設けら
れ、このエアシリンダ29a,29bからカセツ
ト収容室2,3内部に延びるシヤフト30a,3
0bの上端部には、上記載置アーム10と同様
に、昇降板31a,31bが設けられ、この昇降
板31a,31bの上面であつて間隙部分に載置
アーム10が挿入できるように、2本の昇降用載
置バー32a,32bが設けられ、この昇降板3
1a,31bは、バツフアエリア6,7とカセツ
ト収容室2,3との間を昇降可能とされている。
それぞれエアシリンダ29a,29bが設けら
れ、このエアシリンダ29a,29bからカセツ
ト収容室2,3内部に延びるシヤフト30a,3
0bの上端部には、上記載置アーム10と同様
に、昇降板31a,31bが設けられ、この昇降
板31a,31bの上面であつて間隙部分に載置
アーム10が挿入できるように、2本の昇降用載
置バー32a,32bが設けられ、この昇降板3
1a,31bは、バツフアエリア6,7とカセツ
ト収容室2,3との間を昇降可能とされている。
次に本実施例の作用について説明する。
まず、未処理のシリコンウエハ等の半導体製造
用ウエハAが収納された収納用カセツト33を、
挿入側カセツト収容室2に、ウエハAの被処理面
が前方を向くよう垂直に挿入する。そして、この
カセツト収容室2を真空排気(約10-7Torr)す
る。このとき、バルブ5a,5bは閉じられてい
る。
用ウエハAが収納された収納用カセツト33を、
挿入側カセツト収容室2に、ウエハAの被処理面
が前方を向くよう垂直に挿入する。そして、この
カセツト収容室2を真空排気(約10-7Torr)す
る。このとき、バルブ5a,5bは閉じられてい
る。
次に、バルブ5aが後方に移動し開口部4aが
開かれ、昇降板31aが上昇し昇降用載置バー3
2aに、ウエハAを載置する。この場合におい
て、収納用カセツト33は載置されず、ウエハA
のみが載置されるものであり、昇降用載置バー3
2aに設けられた図示しない溝に各ウエハAが係
合することにより、倒れることなく載置されるも
のである。そして、さらに、昇降板31aが上昇
することにより、ウエハAは入口側バツフアエリ
ア6に挿入され、停止する。すると、載置アーム
10aが前方に移動し、ウエハAの下方に位置す
ると、上記昇降板31aは下降したウエハAは載
置アーム10aの載置バー9aに載置され、昇降
板31aが挿入側カセツト収容部2まで下降した
後バルブ5aが閉じられる。この入口側バツフア
エリア6内は、出口側バツフアエリア7およびエ
ツチング処理室12とともに高真空状態に保たれ
ている。
開かれ、昇降板31aが上昇し昇降用載置バー3
2aに、ウエハAを載置する。この場合におい
て、収納用カセツト33は載置されず、ウエハA
のみが載置されるものであり、昇降用載置バー3
2aに設けられた図示しない溝に各ウエハAが係
合することにより、倒れることなく載置されるも
のである。そして、さらに、昇降板31aが上昇
することにより、ウエハAは入口側バツフアエリ
ア6に挿入され、停止する。すると、載置アーム
10aが前方に移動し、ウエハAの下方に位置す
ると、上記昇降板31aは下降したウエハAは載
置アーム10aの載置バー9aに載置され、昇降
板31aが挿入側カセツト収容部2まで下降した
後バルブ5aが閉じられる。この入口側バツフア
エリア6内は、出口側バツフアエリア7およびエ
ツチング処理室12とともに高真空状態に保たれ
ている。
そして、移動バー24が左方向に移動し、バツ
フアエリア6内の最も後面寄りのウエハAを第1
移動アーム26の載支突起25に載支させる。こ
れは、第1移動アーム26がウエハAの後面側に
移動した後下降し、さらに載置板10aが後方に
ウエハAの1枚分だけ移動して上昇することによ
り1枚のウエハAを載支するようになされてい
る。そして、移動バー24が右方向へ移動してエ
ツチング処理室12の後面側で停止すると、バル
ブ15が前方に移動し、突起16がウエハAの下
方に位置するまで移動する。そして、移動バー2
4が下降することにより、ウエハAが上記突起1
6に係支され、移動バー24は第2図に示す位置
に戻る。その後、バルブ15は、ウエハAととも
にさらに前方に移動し、エツチング処理室12の
後方端に密着し、ウエハAのエツチングが行なわ
れる。本実施例においては、内部に設けられた板
(図示せず)に高電圧をかけることにより発生す
るプラズマにより、エツチングが行なわれるもの
である。
フアエリア6内の最も後面寄りのウエハAを第1
移動アーム26の載支突起25に載支させる。こ
れは、第1移動アーム26がウエハAの後面側に
移動した後下降し、さらに載置板10aが後方に
ウエハAの1枚分だけ移動して上昇することによ
り1枚のウエハAを載支するようになされてい
る。そして、移動バー24が右方向へ移動してエ
ツチング処理室12の後面側で停止すると、バル
ブ15が前方に移動し、突起16がウエハAの下
方に位置するまで移動する。そして、移動バー2
4が下降することにより、ウエハAが上記突起1
6に係支され、移動バー24は第2図に示す位置
に戻る。その後、バルブ15は、ウエハAととも
にさらに前方に移動し、エツチング処理室12の
後方端に密着し、ウエハAのエツチングが行なわ
れる。本実施例においては、内部に設けられた板
(図示せず)に高電圧をかけることにより発生す
るプラズマにより、エツチングが行なわれるもの
である。
エツチングが終了すると、バルブ15は後退
し、移動バー24が左方向に移動して、第3移動
アーム28がウエハAの前方に移動されると、バ
ルブ15がわずかに前方に移動し第3移動アーム
28が上昇することにより、ウエハAを載支突起
25に載支させた後、ウエハAがスパツタリング
処理室11の後面側に位置するまで移動バー24
を移動させる。すると、上記エツチング処理室1
2における場合と同様に、バルブ18が前方に移
動してウエハAを突起21に係支した後、スパツ
タリング処理室11の後面側にバルブ18を密着
させ、開口部17を塞ぐ。そして、シヤツタ22
をアーム23の回動により移動し、開口部17が
開かれ、スパツタリングが行なわれる。このシヤ
ツタ22は、スパツタリングのスパツタ材料を真
空槽1の内部に飛散させないようにするためのも
のであり、バルブ18が開いているときに、シヤ
ツタ22により開口部17が塞がれる。すなわ
ち、本実施例においては、スパツタリングは常時
行なわれており、スパツタリングの立上りに要す
る時間を短縮するものである。
し、移動バー24が左方向に移動して、第3移動
アーム28がウエハAの前方に移動されると、バ
ルブ15がわずかに前方に移動し第3移動アーム
28が上昇することにより、ウエハAを載支突起
25に載支させた後、ウエハAがスパツタリング
処理室11の後面側に位置するまで移動バー24
を移動させる。すると、上記エツチング処理室1
2における場合と同様に、バルブ18が前方に移
動してウエハAを突起21に係支した後、スパツ
タリング処理室11の後面側にバルブ18を密着
させ、開口部17を塞ぐ。そして、シヤツタ22
をアーム23の回動により移動し、開口部17が
開かれ、スパツタリングが行なわれる。このシヤ
ツタ22は、スパツタリングのスパツタ材料を真
空槽1の内部に飛散させないようにするためのも
のであり、バルブ18が開いているときに、シヤ
ツタ22により開口部17が塞がれる。すなわ
ち、本実施例においては、スパツタリングは常時
行なわれており、スパツタリングの立上りに要す
る時間を短縮するものである。
スパツタリングが終了すると、シヤツタ22が
開口部17を塞ぎ、バルブ18は後退し、上記エ
ツチング時と同様に、第2移動アーム27の載支
突起25にウエハAを載支させて、出口側バツフ
アエリア17に移動する。そして、載置アーム1
0bの載置バー9b上にウエハAを載置するもの
であり、入口側バツフアエリア6内のウエハAが
すべて上記行程を終了して出口側バツフアエリア
にためられる。ウエハAを1枚ずつ第1移動アー
ム26に載支させるために、本実施例において
は、載置板10aが1枚分ずつ後退するようにな
されており、出口側バツフアエリア7において
は、ウエハAが1枚載置板10bに載置される毎
に、載置板10bが1枚分ずつ前進するようにな
されている。そして、すべてのウエハAが処理を
終えて出口側バツフアエリア7にためられると、
バルブ5bが後方に移動して開口部4bが開か
れ、昇降板31bが上昇して、ウエハAを昇降用
載置バー32bの上方に載置させる。その後、載
置板10bが後退し昇降板31bが下降して、取
出側カセツト収容室3に入り、収納用カセツト3
3にウエハAが収納される。そして、バルブ5b
が閉じられ、取出用カセツト収容室3は大気圧に
戻された後に、収納用カセツト33を取出すもの
である。
開口部17を塞ぎ、バルブ18は後退し、上記エ
ツチング時と同様に、第2移動アーム27の載支
突起25にウエハAを載支させて、出口側バツフ
アエリア17に移動する。そして、載置アーム1
0bの載置バー9b上にウエハAを載置するもの
であり、入口側バツフアエリア6内のウエハAが
すべて上記行程を終了して出口側バツフアエリア
にためられる。ウエハAを1枚ずつ第1移動アー
ム26に載支させるために、本実施例において
は、載置板10aが1枚分ずつ後退するようにな
されており、出口側バツフアエリア7において
は、ウエハAが1枚載置板10bに載置される毎
に、載置板10bが1枚分ずつ前進するようにな
されている。そして、すべてのウエハAが処理を
終えて出口側バツフアエリア7にためられると、
バルブ5bが後方に移動して開口部4bが開か
れ、昇降板31bが上昇して、ウエハAを昇降用
載置バー32bの上方に載置させる。その後、載
置板10bが後退し昇降板31bが下降して、取
出側カセツト収容室3に入り、収納用カセツト3
3にウエハAが収納される。そして、バルブ5b
が閉じられ、取出用カセツト収容室3は大気圧に
戻された後に、収納用カセツト33を取出すもの
である。
したがつて、本実施例においては、ウエハAが
垂直状態に保持されたまま移動および処理が行な
われるので、ウエハAの被処理面にごみが付着す
ることがなくなる。また、両カセツト収容室2,
3を連通してなる真空槽と、両バツフアエリア
6,7およびエツチング処理室12からなる真空
槽と、スパツタリング処理室11の3室構成であ
るので、真空排気効率が高く、しかも、バツフア
エリア6,7を設けることにより、ウエハの処理
に際して、個々に大気圧と高真空状態をくり返す
必要がなくなり、生産性を大幅に向上させること
ができる。
垂直状態に保持されたまま移動および処理が行な
われるので、ウエハAの被処理面にごみが付着す
ることがなくなる。また、両カセツト収容室2,
3を連通してなる真空槽と、両バツフアエリア
6,7およびエツチング処理室12からなる真空
槽と、スパツタリング処理室11の3室構成であ
るので、真空排気効率が高く、しかも、バツフア
エリア6,7を設けることにより、ウエハの処理
に際して、個々に大気圧と高真空状態をくり返す
必要がなくなり、生産性を大幅に向上させること
ができる。
以上述べたように本発明に係る真空処理装置
は、カセツト収容室と、バツフアエリアと、処理
室とを有し、昇降および移動装置を設けて構成さ
れており、上記昇降装置では、垂直状態の被処理
物を多数昇降させ、上記移動装置では、同様に垂
直状態のまま被処理物を移動するようにしたの
で、真空処理装置内におけるごみの付着を防止す
ることができ、また、被処理物の搬送が平行移動
のみで済むため、搬送機構が複雑とならず、被処
理物の複雑な搬送により損傷を与えるおそれもな
い。
は、カセツト収容室と、バツフアエリアと、処理
室とを有し、昇降および移動装置を設けて構成さ
れており、上記昇降装置では、垂直状態の被処理
物を多数昇降させ、上記移動装置では、同様に垂
直状態のまま被処理物を移動するようにしたの
で、真空処理装置内におけるごみの付着を防止す
ることができ、また、被処理物の搬送が平行移動
のみで済むため、搬送機構が複雑とならず、被処
理物の複雑な搬送により損傷を与えるおそれもな
い。
さらに、処理前の被処理物および、処理後の被
処理物を上記バツフアエリア内にためておくよう
にしたので、各被処理物が大気の影響を受けて変
化したり、処理前の被処理物が処理後の被処理物
のスパツタ材料等の影響を受けることがなく、し
かも、被処理物の挿入および取出しの際における
大気圧と高真空状態をくり返す真空排気作業を、
被処理物ごとに行なう必要がなくなり、真空排気
時間の大幅な短縮を図ることができ、連続的な真
空処理の生産性を大幅に向上させることができ
る。また、バルブの開閉と被処理物の処理室内へ
の搬送とを同時に行うことができるので、真空処
理時間の短縮を図ることができる等の効果を奏す
る。
処理物を上記バツフアエリア内にためておくよう
にしたので、各被処理物が大気の影響を受けて変
化したり、処理前の被処理物が処理後の被処理物
のスパツタ材料等の影響を受けることがなく、し
かも、被処理物の挿入および取出しの際における
大気圧と高真空状態をくり返す真空排気作業を、
被処理物ごとに行なう必要がなくなり、真空排気
時間の大幅な短縮を図ることができ、連続的な真
空処理の生産性を大幅に向上させることができ
る。また、バルブの開閉と被処理物の処理室内へ
の搬送とを同時に行うことができるので、真空処
理時間の短縮を図ることができる等の効果を奏す
る。
第1図および第2図はそれぞれ本発明の一実施
例を示したもので、第1図は平面断面図、第2図
は正面断面図である。 1…真空槽、2…挿入側カセツト収容室、3…
取出側カセツト収容室、4,17…開口部、5,
15,18…バルブ、6…入口側バツフアエリ
ア、7…出口側バツフアエリア、8…載置板、9
…載置バー、10…載置アーム、11…スパツタ
リング処理室、12…エツチング処理室、13,
20,29…エアシリンダ、14,19,30…
シヤフト、16,21…突起、22…シヤツタ、
23…アーム、24…移動バー、25…載支突
起、26,27,28…移動アーム、31…昇降
板、32…昇降用載置バー、33…収納用カセツ
ト。
例を示したもので、第1図は平面断面図、第2図
は正面断面図である。 1…真空槽、2…挿入側カセツト収容室、3…
取出側カセツト収容室、4,17…開口部、5,
15,18…バルブ、6…入口側バツフアエリ
ア、7…出口側バツフアエリア、8…載置板、9
…載置バー、10…載置アーム、11…スパツタ
リング処理室、12…エツチング処理室、13,
20,29…エアシリンダ、14,19,30…
シヤフト、16,21…突起、22…シヤツタ、
23…アーム、24…移動バー、25…載支突
起、26,27,28…移動アーム、31…昇降
板、32…昇降用載置バー、33…収納用カセツ
ト。
Claims (1)
- 1 真空槽の両端部下方に夫々連通して設けられ
垂直に披処理物を収納した収納用カセツトを収容
するカセツト収容室と、これらの両カセツト収容
室の上方に夫々設けられ複数の被処理物を垂直状
態で保持するバツフアエリヤと、一方のカセツト
収容室内に収容された処理前の被処理物をこの上
方のバツフアエリヤに、他方のバツフアエリヤに
保持された処理後の被処理物をこの下方のカセツ
ト収容室に夫々垂直状態で昇降させる昇降装置
と、上記両バツフアエリヤ間で真空槽の内部に配
置され後面が開口された処理室と、前後動自在で
前進して上記処理室の開口を閉塞させるバルブを
備えるとともに先端に被処理物を垂直のまま支持
する支持部を設けた支持装置と、前後及び左右動
自在で上記バツフアエリヤ及び支持装置の支持部
で支持された被処理物を夫々受取り垂直状態で保
持してバツフアエリヤから処理室、処理室間及び
処理室からバツフアエリヤに夫々被処理物を移動
させ、この移動後に被処理物を上記支持装置の支
持部及びバツフアエリヤに夫々受渡す移動アーム
を備えた移動装置とを具備したことを特徴とする
真空処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57211095A JPS59101848A (ja) | 1982-12-01 | 1982-12-01 | 真空処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57211095A JPS59101848A (ja) | 1982-12-01 | 1982-12-01 | 真空処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59101848A JPS59101848A (ja) | 1984-06-12 |
| JPS635898B2 true JPS635898B2 (ja) | 1988-02-05 |
Family
ID=16600326
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57211095A Granted JPS59101848A (ja) | 1982-12-01 | 1982-12-01 | 真空処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59101848A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5599739A (en) * | 1979-01-26 | 1980-07-30 | Hitachi Ltd | Wafer treating method and its equipment |
-
1982
- 1982-12-01 JP JP57211095A patent/JPS59101848A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59101848A (ja) | 1984-06-12 |
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