JPS6359143B2 - - Google Patents
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- JPS6359143B2 JPS6359143B2 JP53165835A JP16583578A JPS6359143B2 JP S6359143 B2 JPS6359143 B2 JP S6359143B2 JP 53165835 A JP53165835 A JP 53165835A JP 16583578 A JP16583578 A JP 16583578A JP S6359143 B2 JPS6359143 B2 JP S6359143B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- potential
- latent image
- electrostatic latent
- photoreceptor
- bright
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Electrophotography Using Other Than Carlson'S Method (AREA)
- Exposure Or Original Feeding In Electrophotography (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は画像を形成する装置に関する。電子写
真法により形成される画像は、環境条件等に影響
され易く、その静電潜像を安定化する事は実用上
極めて重要である。
真法により形成される画像は、環境条件等に影響
され易く、その静電潜像を安定化する事は実用上
極めて重要である。
先ず、一般の電子写真法に基き形成される画像
特性に寄与する主な要素を列挙すると、感光体特
性、感光化する為の帯電手段特性、露光源特性及
び露光量、現像特性、転写特性、転写材特性、残
留現像剤のクリーニング特性等がある。これら各
特性は、温度、湿度、粉塵等の汚染、経時変化等
により影響を受け変動するので、画像特性にも複
雑な影響変化を生ずる事となる。従来、この画像
変化を安定化する為に、上記各特性を各々独立に
安定化する方法が採られているが、いまだ十二分
に満足であると呼べる状態にはいたつていない。
特性に寄与する主な要素を列挙すると、感光体特
性、感光化する為の帯電手段特性、露光源特性及
び露光量、現像特性、転写特性、転写材特性、残
留現像剤のクリーニング特性等がある。これら各
特性は、温度、湿度、粉塵等の汚染、経時変化等
により影響を受け変動するので、画像特性にも複
雑な影響変化を生ずる事となる。従来、この画像
変化を安定化する為に、上記各特性を各々独立に
安定化する方法が採られているが、いまだ十二分
に満足であると呼べる状態にはいたつていない。
電子写真画像を安定化する方法として、所謂カ
ールソンプロセスに基き、ゼログラフイ感光体上
に帯電露光して静電潜像形成し、現像転写を成す
に際し、その露光すべきオリジナル像の光量、形
成された静電潜像の電位、若しくは現像された画
像濃度等を検知し、前記プロセスの帯電・露光等
の手段にフイード．バツクし安定化を図る事が例
えば、米国特許第2956487号に記載されている。
静電潜像を不安定とする要因としては、帯電々圧
変動、帯電々極への異物付着、帯電々極の酸化等
による経時変化、温湿度によるコロナ放電特性、
画像露光量変化、感光体の疲労、感光体の温湿度
特性変化等が挙げられる。これらの各不安定要因
が一定の範囲内にあるならば、静電潜像の露光
部、非露光部の電位を測定し、フイード・バツク
系により帯電々圧、露光量等を変化させて静電潜
像を安定化する事が可能である。
ールソンプロセスに基き、ゼログラフイ感光体上
に帯電露光して静電潜像形成し、現像転写を成す
に際し、その露光すべきオリジナル像の光量、形
成された静電潜像の電位、若しくは現像された画
像濃度等を検知し、前記プロセスの帯電・露光等
の手段にフイード．バツクし安定化を図る事が例
えば、米国特許第2956487号に記載されている。
静電潜像を不安定とする要因としては、帯電々圧
変動、帯電々極への異物付着、帯電々極の酸化等
による経時変化、温湿度によるコロナ放電特性、
画像露光量変化、感光体の疲労、感光体の温湿度
特性変化等が挙げられる。これらの各不安定要因
が一定の範囲内にあるならば、静電潜像の露光
部、非露光部の電位を測定し、フイード・バツク
系により帯電々圧、露光量等を変化させて静電潜
像を安定化する事が可能である。
上記米国特許は、カールソンプロセスに基き形
成される静電潜像の電位を制御したものである
が、感光体等の劣化が生ずると、その残留電位が
増加し、露光部の電位が変化し、安定化が困難と
なる。これに対し、静電潜像形成の為に２種以上
の帯電工程を要する方式（例えば、本件出願人提
案の特公昭42−19748号、特公昭42−23910号、特
公昭43−24748号等）においては、各帯電工程を
実施する帯電手段を制御する事により、形成され
る静電潜像の露光部電位及び非露光部電位を変化
させる事ができるので、安定化した画像形成を実
現するのに好適なる事を見出した。しかし、潜像
電位測定手段から、各帯電手段にフイード・バツ
クをかけても、潜像電位を基準値に収束安定化す
るまでに長時間要する欠点がある。
成される静電潜像の電位を制御したものである
が、感光体等の劣化が生ずると、その残留電位が
増加し、露光部の電位が変化し、安定化が困難と
なる。これに対し、静電潜像形成の為に２種以上
の帯電工程を要する方式（例えば、本件出願人提
案の特公昭42−19748号、特公昭42−23910号、特
公昭43−24748号等）においては、各帯電工程を
実施する帯電手段を制御する事により、形成され
る静電潜像の露光部電位及び非露光部電位を変化
させる事ができるので、安定化した画像形成を実
現するのに好適なる事を見出した。しかし、潜像
電位測定手段から、各帯電手段にフイード・バツ
クをかけても、潜像電位を基準値に収束安定化す
るまでに長時間要する欠点がある。
本発明は、画像を安定化するために要する時間
を短縮し、常に適正な画像を得ることが可能な画
像形成装置を提供するものである。
を短縮し、常に適正な画像を得ることが可能な画
像形成装置を提供するものである。
以下本発明の詳細を実施例に基づき図面を参照
しつつ説明する。
しつつ説明する。
第１図は静電潜像形成プロセスを実行する装置
の側面図である。その静電潜像形成プロセスは、
導電性支持体上に光導電層、絶縁層を積層して基
本構成とした感光体を用いた特公昭42−23910号
記載のプロセスを適用したものである。
の側面図である。その静電潜像形成プロセスは、
導電性支持体上に光導電層、絶縁層を積層して基
本構成とした感光体を用いた特公昭42−23910号
記載のプロセスを適用したものである。
この感光体をドラム状に成形した感光ドラム１
は図示しない駆動手段により矢印の方向に回転駆
動される。感光体は１次帯電器２により、一様な
コロナ放電を受け、次にAC帯電器３により、AC
コロナ除電を与えられると同時に、露光光源４よ
りプラテン３０上のオリジナル像の光像が露光さ
れ、次にランプ５により全面一様な露光を受け
る。この様にして、感光ドラム１の表面に、高コ
ントラストの静電潜像が得られる。露光はミラー
３１とランプ４の往復動による走査（往動）によ
り行われる。この静電潜像を、着色荷電粒子（ト
ナー）と磁性キヤリアから成る現像剤により現像
装置７で現像する。該現像されたトナー像を、感
光ドラム１と転写帯電器８の間に転写紙を感光ド
ラムと同期して給送し、転写帯電器８よりコロナ
放電を与える事により、転写紙に転写する。
は図示しない駆動手段により矢印の方向に回転駆
動される。感光体は１次帯電器２により、一様な
コロナ放電を受け、次にAC帯電器３により、AC
コロナ除電を与えられると同時に、露光光源４よ
りプラテン３０上のオリジナル像の光像が露光さ
れ、次にランプ５により全面一様な露光を受け
る。この様にして、感光ドラム１の表面に、高コ
ントラストの静電潜像が得られる。露光はミラー
３１とランプ４の往復動による走査（往動）によ
り行われる。この静電潜像を、着色荷電粒子（ト
ナー）と磁性キヤリアから成る現像剤により現像
装置７で現像する。該現像されたトナー像を、感
光ドラム１と転写帯電器８の間に転写紙を感光ド
ラムと同期して給送し、転写帯電器８よりコロナ
放電を与える事により、転写紙に転写する。
トナー像を転写された転写紙は、加熱及び加圧
ローラから成る定着器１０を通過し、トナー像は
定着される。又転写しきれなかつたトナーを表面
に有する感光ドラムは、クリーニング装置１１に
より、残余トナーをクリーニングされ、次の静電
潜像形成プロセスに用意される。
ローラから成る定着器１０を通過し、トナー像は
定着される。又転写しきれなかつたトナーを表面
に有する感光ドラムは、クリーニング装置１１に
より、残余トナーをクリーニングされ、次の静電
潜像形成プロセスに用意される。
図示の装置においては、全面露光ランプ５に続
く位置に、感光体ドラム１の表面電位を測定する
為のプローブ６が配される。該プローブは、振動
容量型プローブの様に、従来用いられている各種
のプローブで良い。このプローブ６は表面電位測
定回路１６に結合されプローブ信号を処理して、
そこから必要な信号を出力する。そして、この表
面電位測定回路１６は、上記プローブで測定した
電位に比例する電圧を発生し、Ａ―Ｄコンバータ
１９を介して、制御部２１に入力する。後に詳述
する様に、制御部では、ドラム回転パルス発生器
１２ｂからの信号を入力し又プローブ６からの入
力信号を処理し、一方出力をＤ―Ａコンバータ１
７，１８，２３等を介して各プロセス手段に接続
される。
く位置に、感光体ドラム１の表面電位を測定する
為のプローブ６が配される。該プローブは、振動
容量型プローブの様に、従来用いられている各種
のプローブで良い。このプローブ６は表面電位測
定回路１６に結合されプローブ信号を処理して、
そこから必要な信号を出力する。そして、この表
面電位測定回路１６は、上記プローブで測定した
電位に比例する電圧を発生し、Ａ―Ｄコンバータ
１９を介して、制御部２１に入力する。後に詳述
する様に、制御部では、ドラム回転パルス発生器
１２ｂからの信号を入力し又プローブ６からの入
力信号を処理し、一方出力をＤ―Ａコンバータ１
７，１８，２３等を介して各プロセス手段に接続
される。
本願発明方法の理解を容易とする為、一般的に
考えられる種々の感光体上の表面電位を一定とす
る基本的手順を説明する。（電位収束法）先ず潜
像の非露光部の電位VD（以下暗部電位と称す）を
測定し、これを予め定めた標準暗部電位VDRと比
較し、それらの電位差ｘ＝VDR−VDを求め、その
電位差が一定値に入らなければ、そのｘに比例し
た電圧△Epを例えば１次帯電器２に現に印加さ
れている電圧Epに重畳して印加する。この１次
帯電器２への印加電圧の変化の効果がプローブで
検出されるまでの時間待の後、再びVDを測定し、
このサイクルを電位差｜ｘ｜が一定値ａに入るま
で繰返す。
考えられる種々の感光体上の表面電位を一定とす
る基本的手順を説明する。（電位収束法）先ず潜
像の非露光部の電位VD（以下暗部電位と称す）を
測定し、これを予め定めた標準暗部電位VDRと比
較し、それらの電位差ｘ＝VDR−VDを求め、その
電位差が一定値に入らなければ、そのｘに比例し
た電圧△Epを例えば１次帯電器２に現に印加さ
れている電圧Epに重畳して印加する。この１次
帯電器２への印加電圧の変化の効果がプローブで
検出されるまでの時間待の後、再びVDを測定し、
このサイクルを電位差｜ｘ｜が一定値ａに入るま
で繰返す。
次に、潜像の露光部電位VL（以下明部電位と称
す）を測定し、これを予め定めた標準明部電位
VLRと比較し、これらの電位差ｙ＝VLR−VLを求
める。この電位差｜ｙ｜が一定値ｂに入らなけれ
ば、そのｙに比例した電圧△EACを、例えば、AC
帯電器３に現に印加されている電圧EACに重畳し
て加える。その電圧EACの変化の効果がプローブ
で検知されるまでの時間待の後、再びVLを測定
し、｜ｙ｜がある一定値ｂの範囲に入るまで繰返
す。次いで、｜ｙ｜が一定値に収つても｜ｘ｜が
又変化するので、上記手順を｜ｘ｜＜ａ、｜ｙ｜
＜ｂが同時に実現できるまで繰返す。
す）を測定し、これを予め定めた標準明部電位
VLRと比較し、これらの電位差ｙ＝VLR−VLを求
める。この電位差｜ｙ｜が一定値ｂに入らなけれ
ば、そのｙに比例した電圧△EACを、例えば、AC
帯電器３に現に印加されている電圧EACに重畳し
て加える。その電圧EACの変化の効果がプローブ
で検知されるまでの時間待の後、再びVLを測定
し、｜ｙ｜がある一定値ｂの範囲に入るまで繰返
す。次いで、｜ｙ｜が一定値に収つても｜ｘ｜が
又変化するので、上記手順を｜ｘ｜＜ａ、｜ｙ｜
＜ｂが同時に実現できるまで繰返す。
この方法により静電像を安定化するためには、
比較的長時間のドラム回転（数〜十数回）を要す
ることとなり、一般的な電子写真装置に於いて、
最初の一枚目コピーに要する時間が長くなるとい
う致命的な欠点を有することとなる。（係数法） 先ず、暗状態に保つて感光ドラム１を回転さ
せ、続いて露光を施し明状態にする。プローブ１
２位置を感光ドラム暗状態部分が通過している間
に、暗部電位VDを測定し、次いで明状態部分が
通過する間に明部電位VLを測定する。これら測
定値VD，VLを各標準電位VDR，VLRと比較し、ｘ
＝VDR−VD、ｙ＝VLR−VLを求め、両者が各々一
定値ａ、ｂの範囲になければ予め、定められた各
印加電圧を決定するｘ、ｙを変数とする函数ｆ
（ｘ、ｙ）、ｇ（ｘ、ｙ）に代入され、△Ep＝ｆ
（ｘ、ｙ）、△EAC＝ｇ（ｘ、ｙ）を決定する。この
決定値に応じて一次電圧Ep、Ac電圧EACを変化
させる。この工程を｜ｘ｜＜ａ、｜ｙ｜＜ｂとな
る迄繰返すものである。詳述すると、露光を暗状
態に保ち、感光ドラムを回転させ、暗部電位VD
を測定する。プローブでの測定値を標準電位と比
較し、電位差｜ｘ｜が一定値ａに入らなければ、
△Ep＝αx＝α（VDR−VD）だけ一次電圧を変化さ
せる。一方、感光体は暗状態に続いて明状態に変
わつているので、プローブで暗部電位VD測定後
直ちに明部電位VLを測定する。この電位差｜ｙ
｜が一定値ｂに入つていなければ、△EAC＝βy＝
β（VDR−VD）だけAC電圧を変化させる。次いで
感光体表面は暗状態に切換えられ、先に変化させ
た一次電圧、AC電圧の効果がプローブで検知さ
れる迄の時間を待ち、上記手続を繰返し｜ｘ｜＜
ａ｜ｙ｜＜ｂへ収束させる。この様にすると、前
記電位収束法に於ける所要時間を、1/3〜1/5に短
絡しうるので有効である。しかし、感光板により
上記関数ｆ（ｘ、ｙ）・ｇ（ｘ、ｙ）が異なり、又
同一感光板でも感光板の吸湿などの環境変動の条
件で変化するので正確な高圧設定条件を出せない
欠点がある。
比較的長時間のドラム回転（数〜十数回）を要す
ることとなり、一般的な電子写真装置に於いて、
最初の一枚目コピーに要する時間が長くなるとい
う致命的な欠点を有することとなる。（係数法） 先ず、暗状態に保つて感光ドラム１を回転さ
せ、続いて露光を施し明状態にする。プローブ１
２位置を感光ドラム暗状態部分が通過している間
に、暗部電位VDを測定し、次いで明状態部分が
通過する間に明部電位VLを測定する。これら測
定値VD，VLを各標準電位VDR，VLRと比較し、ｘ
＝VDR−VD、ｙ＝VLR−VLを求め、両者が各々一
定値ａ、ｂの範囲になければ予め、定められた各
印加電圧を決定するｘ、ｙを変数とする函数ｆ
（ｘ、ｙ）、ｇ（ｘ、ｙ）に代入され、△Ep＝ｆ
（ｘ、ｙ）、△EAC＝ｇ（ｘ、ｙ）を決定する。この
決定値に応じて一次電圧Ep、Ac電圧EACを変化
させる。この工程を｜ｘ｜＜ａ、｜ｙ｜＜ｂとな
る迄繰返すものである。詳述すると、露光を暗状
態に保ち、感光ドラムを回転させ、暗部電位VD
を測定する。プローブでの測定値を標準電位と比
較し、電位差｜ｘ｜が一定値ａに入らなければ、
△Ep＝αx＝α（VDR−VD）だけ一次電圧を変化さ
せる。一方、感光体は暗状態に続いて明状態に変
わつているので、プローブで暗部電位VD測定後
直ちに明部電位VLを測定する。この電位差｜ｙ
｜が一定値ｂに入つていなければ、△EAC＝βy＝
β（VDR−VD）だけAC電圧を変化させる。次いで
感光体表面は暗状態に切換えられ、先に変化させ
た一次電圧、AC電圧の効果がプローブで検知さ
れる迄の時間を待ち、上記手続を繰返し｜ｘ｜＜
ａ｜ｙ｜＜ｂへ収束させる。この様にすると、前
記電位収束法に於ける所要時間を、1/3〜1/5に短
絡しうるので有効である。しかし、感光板により
上記関数ｆ（ｘ、ｙ）・ｇ（ｘ、ｙ）が異なり、又
同一感光板でも感光板の吸湿などの環境変動の条
件で変化するので正確な高圧設定条件を出せない
欠点がある。
本発明は、前記電位収束法、係数法に於ける
種々の欠点を除去するものであり、像形成工程に
先立つ感光体の回動中に、静電潜像形成手段の動
作条件を順次ｎ段階（ｎ≧３）に変化させ、それ
ぞれの動作条件毎に前記感光体上に明部領域及び
暗部領域を形成し、前記明部領域及び暗部領域の
表面電位を検出し、その検出値に基づいて前記感
光体の特性曲線を求め、この特性曲線から所定の
コントラスト電位が得られる前記静電潜像形成手
段の動作条件を決定するものであり、これにより
安定な画像を得ることができるものである。
種々の欠点を除去するものであり、像形成工程に
先立つ感光体の回動中に、静電潜像形成手段の動
作条件を順次ｎ段階（ｎ≧３）に変化させ、それ
ぞれの動作条件毎に前記感光体上に明部領域及び
暗部領域を形成し、前記明部領域及び暗部領域の
表面電位を検出し、その検出値に基づいて前記感
光体の特性曲線を求め、この特性曲線から所定の
コントラスト電位が得られる前記静電潜像形成手
段の動作条件を決定するものであり、これにより
安定な画像を得ることができるものである。
第１図により本発明例を詳述する。１次帯電器
２とAC帯電器３との間45゜、AC帯電器３と電位
検知用センサー６との間を30゜に配置がなされて
いる場合を示す。ドラム１を回転する際、AC帯
電時において、同時に同一画像露光にランプ１３
によりバイアスされた一様光をドラムr゜回転する
毎にE1→E2→E3のように順次段階的に強めてい
く。
２とAC帯電器３との間45゜、AC帯電器３と電位
検知用センサー６との間を30゜に配置がなされて
いる場合を示す。ドラム１を回転する際、AC帯
電時において、同時に同一画像露光にランプ１３
によりバイアスされた一様光をドラムr゜回転する
毎にE1→E2→E3のように順次段階的に強めてい
く。
各段階の一様光の強さにおいて、画像露光の
明・暗部を与える。たとえば、原稿台３０の先端
部に原稿の明部・暗部に相当する白紙・黒紙を予
め設けておく。
明・暗部を与える。たとえば、原稿台３０の先端
部に原稿の明部・暗部に相当する白紙・黒紙を予
め設けておく。
AC帯電、あるいは画像露光と一様バイアス光
は１次帯電よりも45゜遅らし、電位検知はさらに
30゜遅らせて各工程を行なうようにする。
は１次帯電よりも45゜遅らし、電位検知はさらに
30゜遅らせて各工程を行なうようにする。
第２図に（一様光光量）を３段階に変化させて
r゜／２ずつ明・暗部電位を検知するタイミングチ
ヤートを示す。
r゜／２ずつ明・暗部電位を検知するタイミングチ
ヤートを示す。
各タイミングについては、第１図のパルス発生
器１２ｂによりドラム回転に応じて発生するパル
スを制御部２２で計数して、前述の各帯電器から
電位検知用センサ６位置まで感光ドラムが移動す
る時間に応じ、露光の明・暗を切り換えたり、表
面電位を測定するタイミングを得ている。一様光
光量の段階的変化時間は、その光量を変えた場合
に検知センサで明・暗電位が安定に測定できる時
間幅とする必要がある。
器１２ｂによりドラム回転に応じて発生するパル
スを制御部２２で計数して、前述の各帯電器から
電位検知用センサ６位置まで感光ドラムが移動す
る時間に応じ、露光の明・暗を切り換えたり、表
面電位を測定するタイミングを得ている。一様光
光量の段階的変化時間は、その光量を変えた場合
に検知センサで明・暗電位が安定に測定できる時
間幅とする必要がある。
ここではr゜を0.2〜0.5sec相当分（30゜〜90゜）と
するが望ましい。段階的に変化させる一様光光量
は、環境変動及び感光体劣化などによつて潜像電
位が変化した際にも、あらかじめ定められたコン
トラスト電位を得ることができるように、所定の
一様光光量条件の範囲で変化させるとよい。
するが望ましい。段階的に変化させる一様光光量
は、環境変動及び感光体劣化などによつて潜像電
位が変化した際にも、あらかじめ定められたコン
トラスト電位を得ることができるように、所定の
一様光光量条件の範囲で変化させるとよい。
次に、上述の如く、表面電位検知が行われた場
合、明・暗部電位に応じた電位検知用センサ６の
出力電圧は１９によりアナログからデジタル変換
され、演算部２０に入力する。
合、明・暗部電位に応じた電位検知用センサ６の
出力電圧は１９によりアナログからデジタル変換
され、演算部２０に入力する。
演算部では前記一様光光量を順次段階的に変化
したその光量値に対して（デジタル変換された）
明・暗電位の電位コントラストを計算し、電位コ
ントラスト曲線を制御部２１に出力する。制御部
２１では、あらかじめ定められた電位コントラス
トを得るように一様光を与えるランプ光源１３の
印加電圧を演算部において決められた、電位コン
トラスト曲線から決定する。制御部２１からの出
力値は１７によりデジタル・アナログ変換されラ
ンプ光源４に入力する。
したその光量値に対して（デジタル変換された）
明・暗電位の電位コントラストを計算し、電位コ
ントラスト曲線を制御部２１に出力する。制御部
２１では、あらかじめ定められた電位コントラス
トを得るように一様光を与えるランプ光源１３の
印加電圧を演算部において決められた、電位コン
トラスト曲線から決定する。制御部２１からの出
力値は１７によりデジタル・アナログ変換されラ
ンプ光源４に入力する。
新らたに、設定された一様光光量下での、明部
電位は、予め順次一様光光量を変化させた場合求
められた、明電位曲線から求めることができ、あ
らかじめ定められた明部電位に対し、不足分のバ
イアスを現像器７のスリーブローラに印加する。
電位は、予め順次一様光光量を変化させた場合求
められた、明電位曲線から求めることができ、あ
らかじめ定められた明部電位に対し、不足分のバ
イアスを現像器７のスリーブローラに印加する。
第３図は、一様光を照射変化した場合の表面電
位Ｖと光像光量Ｅの曲線である。
位Ｖと光像光量Ｅの曲線である。
第４図は、第１図のプロセスで、第２図のタイ
ミングチヤートに従つて、電位検知を行つた場合
において、一様光の変化光量をx1が0.2lux・sec、
x2が0.4lux・sec、x3が0.6lux・secの３段階に変
えた場合の明電位VL、暗電位VDの電位コントラ
ストVC（VD−VL）の各曲線を示したグラフであ
る。明部画像露光量は0.8lux・secとする。今、
標準暗電位VSDを＋450、同明電位VSLを−50vと
すると、同電位コントラストVSCは500vとなる。
この値はx2、x3間に存在し、この間の電位コント
ラスト曲線に対して直線近似を行なうと、電位コ
ントラストに比例した値としてx2点の一様光光量
にさらにバイアスされた光量、即ちVSCを得るた
めの一様光光量0.428lux・secが決定される。
ミングチヤートに従つて、電位検知を行つた場合
において、一様光の変化光量をx1が0.2lux・sec、
x2が0.4lux・sec、x3が0.6lux・secの３段階に変
えた場合の明電位VL、暗電位VDの電位コントラ
ストVC（VD−VL）の各曲線を示したグラフであ
る。明部画像露光量は0.8lux・secとする。今、
標準暗電位VSDを＋450、同明電位VSLを−50vと
すると、同電位コントラストVSCは500vとなる。
この値はx2、x3間に存在し、この間の電位コント
ラスト曲線に対して直線近似を行なうと、電位コ
ントラストに比例した値としてx2点の一様光光量
にさらにバイアスされた光量、即ちVSCを得るた
めの一様光光量0.428lux・secが決定される。
一様光光量を順次段階的に変化させた回数が多
い程上述の直線近似で効果的にあらかじめ定めら
れたVSCになるように一様光光量を決定できる
が、回数が少ない場合、VSCに対して若干の誤差
が出るので、直線近似よりも、２次あるいは、３
次曲線近似の方が、より効果的に一様光光量を決
定することができる。
い程上述の直線近似で効果的にあらかじめ定めら
れたVSCになるように一様光光量を決定できる
が、回数が少ない場合、VSCに対して若干の誤差
が出るので、直線近似よりも、２次あるいは、３
次曲線近似の方が、より効果的に一様光光量を決
定することができる。
たとえば、一様光光量の順次段階的に変えた場
合の変数をｘとすると、各段階で検知される明・
暗電位の電位コントラストVCは、 VC＝ax2＋bx＋ｃ と示すことができ、未知数ａ、ｂ、ｃは一様光光
量を３段階変化することで求められ、２次曲線を
決定できる。３段階の変化をx1を0.2luxsec、x2
を0.4luxsec、x3を0.6luxsecとすると、求められ
た２次曲線にあらかじめ定められた電位コントラ
ストVSCは500Vを代入すれば、一様光光量を求め
ることができる。即ち、VCが500vのときxscは （−ｂ＋√2−4（−500））／2a の周知の式を解くことで求められる。同様に、３
次曲線近似を行なう場合、４段階光量を変化させ
れば求められる。
合の変数をｘとすると、各段階で検知される明・
暗電位の電位コントラストVCは、 VC＝ax2＋bx＋ｃ と示すことができ、未知数ａ、ｂ、ｃは一様光光
量を３段階変化することで求められ、２次曲線を
決定できる。３段階の変化をx1を0.2luxsec、x2
を0.4luxsec、x3を0.6luxsecとすると、求められ
た２次曲線にあらかじめ定められた電位コントラ
ストVSCは500Vを代入すれば、一様光光量を求め
ることができる。即ち、VCが500vのときxscは （−ｂ＋√2−4（−500））／2a の周知の式を解くことで求められる。同様に、３
次曲線近似を行なう場合、４段階光量を変化させ
れば求められる。
以上のようにし、一様光光量だけを連続して変
化させ、それに従つた一連の電位検知を一度行な
うだけで、あらかじめ定められた電位コントラス
トを得るように一様光光量を決めることができ
る。よつて、従来の収束法の如く、高圧電圧を一
度変化させてから電位検知という操作を数回〜数
十回繰り返して行なう必要がなく、帯電器と電位
検知用センサ間のプロセス時間の損失が少なく、
商業用コピー機に対して、電位検知に要する時間
を短縮できる。
化させ、それに従つた一連の電位検知を一度行な
うだけで、あらかじめ定められた電位コントラス
トを得るように一様光光量を決めることができ
る。よつて、従来の収束法の如く、高圧電圧を一
度変化させてから電位検知という操作を数回〜数
十回繰り返して行なう必要がなく、帯電器と電位
検知用センサ間のプロセス時間の損失が少なく、
商業用コピー機に対して、電位検知に要する時間
を短縮できる。
又、係数法では、感光板の特性が変わつた場
合、あらかじめ定められた係数が異なつてくるの
で、制御が正しく行なわれない欠点があるが、こ
の点に対しても十分対処できる。
合、あらかじめ定められた係数が異なつてくるの
で、制御が正しく行なわれない欠点があるが、こ
の点に対しても十分対処できる。
又、明部・暗部電位測定時に、一様光にバイア
スして、明・暗を形成する光源は、画像露光用の
光源でも、測定用に別に設けた光源でもよい。
又、ランプの立ち上り特性、立ち下り特性が、測
定の誤差と損失時間とならないようにランプ光量
を、シヤツタを用いて機械的に与えてもよい。な
お、一様光の光量変化は、一様光を与えるランプ
電源電圧を変化させる方法だけでなく、数種類の
NDフイルタを用いたり、ランプ光の絞を変化さ
せることも可能である。
スして、明・暗を形成する光源は、画像露光用の
光源でも、測定用に別に設けた光源でもよい。
又、ランプの立ち上り特性、立ち下り特性が、測
定の誤差と損失時間とならないようにランプ光量
を、シヤツタを用いて機械的に与えてもよい。な
お、一様光の光量変化は、一様光を与えるランプ
電源電圧を変化させる方法だけでなく、数種類の
NDフイルタを用いたり、ランプ光の絞を変化さ
せることも可能である。
第１図は本発明による安定像形成装置の断面
図、第２図は第１図の動作を示すタイミングチヤ
ート図、第３図は一様光を照射した場合のＶ―Ｅ
特性図、第４図は一様光光量を段階的に変化した
場合の電位コントラスト特性図であり、図中１４
は露光光源、１５はバイアス光光源、１６は表面
電位計、２２は現像バイアス電源である。
図、第２図は第１図の動作を示すタイミングチヤ
ート図、第３図は一様光を照射した場合のＶ―Ｅ
特性図、第４図は一様光光量を段階的に変化した
場合の電位コントラスト特性図であり、図中１４
は露光光源、１５はバイアス光光源、１６は表面
電位計、２２は現像バイアス電源である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 感光体に静電潜像を形成する静電潜像形成手
段、 前記感光体上に形成される静電潜像を現像する
現像手段、 前記感光体上に形成される明部領域及び暗部領
域の表面電位を検出する検出手段、 前記検出手段の出力に応じて前記静電潜像形成
手段の動作条件を制御する制御手段、 を有し、 前記制御手段は像形成工程に先立つ前記感光体
の回動中に、前記静電潜像形成手段の動作条件を
順次ｎ段階（ｎ≧３）に変化させ、それぞれの動
作条件毎に前記感光体上に明部領域及び暗部領域
を形成し、前記明部領域及び暗部領域の表面電位
を前記検出手段により検出し、その検出値に基づ
いて前記感光体の特性曲線を求め、この特性曲線
から所定のコントラスト電位が得られる前記静電
潜像形成手段の動作条件を決定することを特徴と
する画像形成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16583578A JPS5589859A (en) | 1978-12-28 | 1978-12-28 | Method and apparatus for forming stable image |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16583578A JPS5589859A (en) | 1978-12-28 | 1978-12-28 | Method and apparatus for forming stable image |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5589859A JPS5589859A (en) | 1980-07-07 |
| JPS6359143B2 true JPS6359143B2 (ja) | 1988-11-17 |
Family
ID=15819897
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16583578A Granted JPS5589859A (en) | 1978-12-28 | 1978-12-28 | Method and apparatus for forming stable image |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5589859A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58143356A (ja) * | 1982-02-19 | 1983-08-25 | Canon Inc | 光プリンタ |
| JPS5993469A (ja) * | 1982-11-18 | 1984-05-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子写真装置 |
| JPS61213865A (ja) * | 1985-03-18 | 1986-09-22 | ゼロツクス コーポレーシヨン | 電子写真印刷機用の自動設定装置 |
| US4821065A (en) * | 1986-01-10 | 1989-04-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording apparatus having controllable recording beam states |
| JP4900434B2 (ja) | 2009-07-31 | 2012-03-21 | ブラザー工業株式会社 | 画像形成装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53105230A (en) * | 1977-02-25 | 1978-09-13 | Ricoh Co Ltd | Optimum maintaining method of electrophotographical duplication images |
| JPS53136838A (en) * | 1977-05-04 | 1978-11-29 | Ricoh Co Ltd | Automatic controlling method of image quality in transfer type electrostatic copier |
-
1978
- 1978-12-28 JP JP16583578A patent/JPS5589859A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5589859A (en) | 1980-07-07 |
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