JPS6361912A - 回転照射型水準測量機を用いるレベル設定法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） この考案は測量および建築、建設業界において使用する
レーザ光線を回転照射して水準測量を行なう回転照射式
水準測量機（レーザオートプレーす）を用いたレベル設
定法に関する。

（従来技術） 建築、建設業界における配管、床面仕上げ、生コン打ち
、ブロック、石積み工事等において、その水平基準を設
定する回転照射式水準測量機（レーザオートプレーナ）
は、三脚に載置された水準測量機本体に設けたレーザ光
源やＬＥＤから発するビームを水平指向させたものを回
転しながら投射し、光の水平面を形成しこのビームをス
タッフ等に取付けられた受光器を作業員が操作すること
によって、その受光部によって検出して水平基準を定め
墨出し等を行っている。即ち、水平に回転する上記ビー
ムが第３図に示す様な受光器の墨出し用センターマーク
２の位置を通過するときの受光部１の出力で表示部３に
表示させるとともにブザー４を鳴らしてレベル設定が完
了したことを知らせていた。表示部３における矢印表示
はセンターマーク２が水平ビームより上または下であっ
てレベル設定が未完成の状態にあることを表示するもの
である。

［発明が解決しようとする問題点コ この種の回転照射型水準測量機においては、前述したよ
うに回転照射し水平面を形成させているビームは断面が
円形のパターンとした光束のものとして、受光部１に照
射されて生ずる同形パターンに分布する出力をセンター
マーク２を通る水平面によって２分し、このときの上下
の両出力を比較することによってレベル設定を行なって
いる。

例えばセンターマークを境として、上下両出力が平衡し
たときにそのレベル設定が完了したことを表示部３に表
示するようにしている。ところが現実にはビームの光束
パターンは、光源である発光部の製作上の精度の問題や
装置の経年変化による局部的変形その他ビームの通過す
る光学系の温度変化による局部的変形等のため正確な円
形から逸脱したものとなることが往々にして生ずる、こ
のためレベル設定に誤差を生することになる。即ち水平
回転するビームの中心軸がセンターマーク２をとおって
レベル設定されたとき前記したように上下受光部の両出
力が平行するように設計された装置においては、ビーム
光束パターンが第２図に示したように円形からずれて卵
型になったとすれば、ビームが作る水平面もＹからＹ′
にずれてレベル設定誤差εが現われることになる。した
がって正確なレベルの設定ができななくなる欠点があっ
た。

［発明の構成コ （問題を解決するための手段、作用） この発明は、上記の欠点を解決することを目的とし、ビ
ームの光束パターンの形成の影響を受けることなく正確
にレベルを設定できる回転照射型水準測量機によるレベ
ル設定法を提供するものである。

この発明では従来の単一受光素子による受光部に代えて
細い帯状の３本の受光素子を用い、その内の２本は互い
に平行に他の１本をこれらに対しである角度傾けて配置
して受光部を構成し、水平指向させた回転ビームを受光
部に投射したとき回転ビームが各素子を通過する時間を
検出しこれを比較することによって、レベル設定の完了
を判定するようにしたものである。

（実施例） 以下、この発明を図面に示す実施例にもとづいて説明す
る。

第１図に示すように、直線状の第１及び第２受光素子１
ａ、ｌｂを互いに平行に、これに傾けて直線状の第３受
光素子ＩＣを併設して受光部１を形成する。これら第１
、第２、第３の各受光素子をそれぞれ波形整形回路６ａ
・６ｂ・６Ｃに接続し、水平回転するビームか順次第１
、第２、及び第３の受光素子１ａ・１ｂ・１Ｃに照射さ
れて生ずる出力波形を整形して３個のパルスにする。次
に、波形整形回路６ａと６ｂよりのパルス間隔時間ｔ１
を第１のカウンタ７ａによって計測し、同様に第２のカ
ウンタ７ｂでは波形整形回路６ｂと６０よりのパルス間
隔時間ｔ２を計測する。そして第１及び第２のカウンタ
７ａ・７ｂに連続してクロックパルスを供給する発振器
８が設けられている。

そして、前記第１及び第２のカウンタ７ａ・７ｂにより
計測されたパルス間隔時間ｔ１とｔ２は比較処理回路９
においてｔｌとｔ２を比較したのちレベル設定が完了し
た時点において表示部３に表示させる信号を送出する。

例えば、ｔｌとｔ２の比が１または差が零のときビーム
がセンタマーク２を通過するように構成すれば目的を達
せられる。

第３図はこの発明を実施する受光器を示し、ケース側面
にはセンタマーク２がケース前面にはセンタマーク２の
位置を中央とした縦長の受光窓を設け、その内側には前
記した第１から第３の直線状受光素子からなる受光部１
を内蔵しである。この受光部１に併置して液晶形の表示
部３が電気的な接続が成されて設けである。この表示部
３は比較処理回路９からの信号によって駆動される。そ
の表示は下向矢印表示、水平スリット表示、下向矢印表
示がそれぞれ行なわれるが前記したように第１カウンタ
のパルス間隔時間ｔ１と第２カウンタのパルス間隔時間
ｔ２の比が１または差が零になったときに水平スリット
表示がなされレベリングが完了したことを示す。そして
下向矢印の表示はビームがセンタマークの上方に位置す
ることを、また上向矢印の表示はビームがセンタマーク
の下方に位置していることを示すようにしてレベリング
操作を容易にしている。

［発明の効果コ 以上述べたように、この発明による回転照射型水準測量
機によるレベル設定法によれば従来法における場合と異
なりビーム光束パターンそのものを利用しないので、経
年変化や光源製作上から起こるビーム光束パターンの変
形があった場合でも測量誤差のない正確なレベル出しが
可能となるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明のレベル設定法を説明する概略図、
第２図はこの発明を説明する光束のパターン図、第３図
この発明のレベル設定法に使用する受光器の斜視図であ
る。 １ａ・・・第１受光素子、１ｂ・・・第２受光素子、１
ｃ・・・第３受光素子、６ａ、６ｂ、６ｃ・・・波形整
形回路、７ａ・・・第１のカウンタ、７ｂ・・・第２の
カウンタ、８・・・発振器、９・・・比較処理回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. それぞれ直線状の第１、第２及び第３の受光素子を該第
   １と第２の素子は平行にかつ第３の素子はこれらに対し
   て傾けて並設した受光部に回転照射型水準測量機から発
   する水平回転ビームを投射したとき各受光素子に生ずる
   出力をパルス化して検出することによって該第１と第２
   の素子間のパルス間隔時間および第２と第３の素子間の
   パルス間隔時間を測定し、次に該両パルス時間の比また
   は差を予め定めた値と比較することを特徴とする回転照
   射型水準測量機を用いるレベル設定法。