JPS6361935A - 促進耐候性試験機の温度調節方法 - Google Patents
促進耐候性試験機の温度調節方法Info
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- JPS6361935A JPS6361935A JP20755086A JP20755086A JPS6361935A JP S6361935 A JPS6361935 A JP S6361935A JP 20755086 A JP20755086 A JP 20755086A JP 20755086 A JP20755086 A JP 20755086A JP S6361935 A JPS6361935 A JP S6361935A
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Landscapes
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、自動車部品等の耐侯（光）性評価に用いらｎ
る促進耐侯性拭験機の温度調節方法に関する。
る促進耐侯性拭験機の温度調節方法に関する。
従来の技術
ウェザ−メータと称さ几る促進耐俟注試験磯は、試験槽
内で人工的に自然環境を再現させ、所定の試料片につい
て短時間のうちに屋外耐候性試験に匹適する劣化度を得
ようとてるもので、通常はカーボンアークランプやキセ
ノンランプ等を光源とし工その周りに回転ドラムン配置
し、回転ドラムに所定の試料片を取り付けろようにしｔ
ものである。
内で人工的に自然環境を再現させ、所定の試料片につい
て短時間のうちに屋外耐候性試験に匹適する劣化度を得
ようとてるもので、通常はカーボンアークランプやキセ
ノンランプ等を光源とし工その周りに回転ドラムン配置
し、回転ドラムに所定の試料片を取り付けろようにしｔ
ものである。
そし１、試験槽内の温度調節にあ九つ１は、回転ドラム
に取り付は几ブラックパネル温度計にて槽内温度条件ケ
測定し、試験槽に付設し之＠反調節手段にて槽内温度ケ
訓節することにより、ブラックパネル温度計の指示すな
わちブラックパネル温度を所定の値に保つようにしてい
る。ここにいうブラックパネル温度とは、槽内に設置さ
几る黒色試料片の代表温度を意味し、このブラックパネ
ル温度は白色塗装試料片の代表温度丁なわちホワイトパ
ネル温度との間に所定の温度差乞示てことになる。
に取り付は几ブラックパネル温度計にて槽内温度条件ケ
測定し、試験槽に付設し之＠反調節手段にて槽内温度ケ
訓節することにより、ブラックパネル温度計の指示すな
わちブラックパネル温度を所定の値に保つようにしてい
る。ここにいうブラックパネル温度とは、槽内に設置さ
几る黒色試料片の代表温度を意味し、このブラックパネ
ル温度は白色塗装試料片の代表温度丁なわちホワイトパ
ネル温度との間に所定の温度差乞示てことになる。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、従来の試験法において光源σ）放射エネ
ルギーｌ高め念場合、ブラックパネル温度をある特定の
温度に保ってもホワイトパネル温度との間の温度差は拡
大し、その結果、試料の色によって劣化速度が異なり、
適切な試験結果が得らｎないという問題がある。
ルギーｌ高め念場合、ブラックパネル温度をある特定の
温度に保ってもホワイトパネル温度との間の温度差は拡
大し、その結果、試料の色によって劣化速度が異なり、
適切な試験結果が得らｎないという問題がある。
問題点を解決する之めの手段
本発明は、試料の色の臭いによる温度差を一定に保ち、
促進試験の誤差を可及的に抑制しようとするもので、具
体的には実施例にも示すように、ブラックパネル温度計
とホワイトパネル温度計とを試験槽内の試料取付部に置
き、試験槽内の温度条件をブラックパネル温度またはホ
ワイトパネル温度を基進にして調節する一方、ブラック
パネル温度とホワイトパネル温度との差が所定の値とな
るように、試験槽内に送られる風温と風量とを制御でる
ものである。
促進試験の誤差を可及的に抑制しようとするもので、具
体的には実施例にも示すように、ブラックパネル温度計
とホワイトパネル温度計とを試験槽内の試料取付部に置
き、試験槽内の温度条件をブラックパネル温度またはホ
ワイトパネル温度を基進にして調節する一方、ブラック
パネル温度とホワイトパネル温度との差が所定の値とな
るように、試験槽内に送られる風温と風量とを制御でる
ものである。
実施例
第２図および第３図は本発明に用いら几る試験機の一例
を示でもので、密閉さｒＬｔ試験槽１のほぼ中央部にカ
ーボンアークランプやキセノンランプ等の光源２ケ配置
し、光源２の外周囲に駆動手段３により回転駆動さｎる
回転ドラム４を配置しである。そして、回転ドラム４０
内周面には図示外の試料ホルダーを介し工試料片Ｐのほ
かブラックハ木＃温度計５およびホワイトパネル温度計
６が取り付けらｎる。
を示でもので、密閉さｒＬｔ試験槽１のほぼ中央部にカ
ーボンアークランプやキセノンランプ等の光源２ケ配置
し、光源２の外周囲に駆動手段３により回転駆動さｎる
回転ドラム４を配置しである。そして、回転ドラム４０
内周面には図示外の試料ホルダーを介し工試料片Ｐのほ
かブラックハ木＃温度計５およびホワイトパネル温度計
６が取り付けらｎる。
ま次、試験槽ＩＶ′３には槽内空気を加熱ま几は冷却て
るｔめの熱交換器７と送風用のブロア８とが設置さｎて
おり、ＰＨＦＦ３空気は熱交換器７で加熱ま友は冷却さ
ｎ、プロア８のはたらきにより槽１７３を循環すること
になる。９は仕切板である。
るｔめの熱交換器７と送風用のブロア８とが設置さｎて
おり、ＰＨＦＦ３空気は熱交換器７で加熱ま友は冷却さ
ｎ、プロア８のはたらきにより槽１７３を循環すること
になる。９は仕切板である。
上記の試験機による試験時においては、光源２が点灯す
る一方、槽内空気は熱交換器７により所定の温度となる
ようにｍ度調節さｎ、かつ槽内全体が均等温度となるよ
うにブロア８にエリ循環さｎる。そして、ブラックパネ
ル温度計５およびホワイトパネル温度計６はそ几ぞ几の
温度を測定する。すなわち、第１図に示す工うに設定温
度差Ｔ。
る一方、槽内空気は熱交換器７により所定の温度となる
ようにｍ度調節さｎ、かつ槽内全体が均等温度となるよ
うにブロア８にエリ循環さｎる。そして、ブラックパネ
ル温度計５およびホワイトパネル温度計６はそ几ぞ几の
温度を測定する。すなわち、第１図に示す工うに設定温
度差Ｔ。
をもつブラックパネル設定温度Ｔ、とホワイトパネル設
定温度Ｔ！に対し、そｎぞｎのブラックパネル実測温度
Ｔ１）とホワイトパネル実測温度Ｔ、。
定温度Ｔ！に対し、そｎぞｎのブラックパネル実測温度
Ｔ１）とホワイトパネル実測温度Ｔ、。
が一致するように熱交換器７およびプロア８に付設さｎ
几温度訓節用操作部ＩＱ、１）を操作でろ。
几温度訓節用操作部ＩＱ、１）を操作でろ。
コ（Ｄ 場付、ブラックパネル設定温度ＴＩと実測温度
Ｔ１）とを一致させｔ上で所定の値に保つ几めには、例
えば熱交換器７の温度をｆＡ節する。まｔ、設定温度差
Ｔ０を所定の値に保つためには、ブラックパネル実測温
度Ｔ、１が所定の値に保ｔＴしているものと丁几ばホワ
イトパネル実測温度Ｔ、ｔＹ調節丁ればよく、し友がつ
℃例えばβ交換器７の温度とブロア風量のうち、プロ７
１４社のみあるいはブロア風量と熱交換器７の温度との
双方を調節する。
Ｔ１）とを一致させｔ上で所定の値に保つ几めには、例
えば熱交換器７の温度をｆＡ節する。まｔ、設定温度差
Ｔ０を所定の値に保つためには、ブラックパネル実測温
度Ｔ、１が所定の値に保ｔＴしているものと丁几ばホワ
イトパネル実測温度Ｔ、ｔＹ調節丁ればよく、し友がつ
℃例えばβ交換器７の温度とブロア風量のうち、プロ７
１４社のみあるいはブロア風量と熱交換器７の温度との
双方を調節する。
より詳しくは、槽内温度およびＶＬ世を一定とし友トキ
、ブラックパネルおよびホワイトパネルの各実測温度Ｔ
ｔ＋＋Ｔ、、と光放射エネルギーとの関係は第４図人）
のような特性となり、逆に槽内温度および光放射エネル
ギーを一足とし九ときにはｔブラックパネルおよびホワ
イトパネルの各実測温度Ｔ目、Ｔ１！と風量との関係は
渠４図［Ｂｌのような特性となり、実測温度ＴＩｔ ＋
Ｔ１！相互の温度差が小さくなる傾向が認めら八ろ。
、ブラックパネルおよびホワイトパネルの各実測温度Ｔ
ｔ＋＋Ｔ、、と光放射エネルギーとの関係は第４図人）
のような特性となり、逆に槽内温度および光放射エネル
ギーを一足とし九ときにはｔブラックパネルおよびホワ
イトパネルの各実測温度Ｔ目、Ｔ１！と風量との関係は
渠４図［Ｂｌのような特性となり、実測温度ＴＩｔ ＋
Ｔ１！相互の温度差が小さくなる傾向が認めら八ろ。
したがって、第５図に示でようにブラックパネル実測温
度Ｔ１． Ｙ特定の値に保ちつつブロアｉＫｉを変化さ
せた場合、風ｔＹ変化させない場せと比べてホワイトパ
ネル実測温度Ｔ１！の降下傾向がなく、ブラックパネル
温度とホワイトパネル温度との温度差が所定の値に保ｆ
Ｆ−ｎろことになる。
度Ｔ１． Ｙ特定の値に保ちつつブロアｉＫｉを変化さ
せた場合、風ｔＹ変化させない場せと比べてホワイトパ
ネル実測温度Ｔ１！の降下傾向がなく、ブラックパネル
温度とホワイトパネル温度との温度差が所定の値に保ｆ
Ｆ−ｎろことになる。
発明の効果
以上のように本発明によｎば、光照射エネルギーが変化
し次場合でも試料色の違いによる温度差を所定の値に保
つことができ、促進耐候性試験の評価についての誤差を
小さくてることができる。
し次場合でも試料色の違いによる温度差を所定の値に保
つことができ、促進耐候性試験の評価についての誤差を
小さくてることができる。
第１図は本発明の一実施例〉示す説明図、第２図は試験
機の平面説明図、第３図は第２図の■−■線に沿う断面
図、第４図および第５図はパネル温度と光放射エネルギ
ーおよび！ｉＬｔとの相関を示て特性図である。 １・・・試験槽、２・・・光源、４・・・回転ドラム、
５・・・ブラックハネル温度計、６・・・ホワイトパネ
ル温度計、７・・・熱交換器、８・・・ブロア。 第１図 第２図 第３図
機の平面説明図、第３図は第２図の■−■線に沿う断面
図、第４図および第５図はパネル温度と光放射エネルギ
ーおよび！ｉＬｔとの相関を示て特性図である。 １・・・試験槽、２・・・光源、４・・・回転ドラム、
５・・・ブラックハネル温度計、６・・・ホワイトパネ
ル温度計、７・・・熱交換器、８・・・ブロア。 第１図 第２図 第３図
Claims (1)
- （１）カーボンアークランプ、キセノンランプ等を光源
にもつ促進耐候性試験機において、ブラックパネル温度
計とホワイトパネル温度計とを試験槽内の試料取付部に
置き、試験槽内の温度条件をブラックパネル温度または
ホワイトパネル温度を基準にして調節する一方、ブラッ
クパネル温度とホワイトパネル温度との差が所定の値と
なるように、試験槽内に送られる風温と風量とを制御す
ることを特徴とする促進耐候性試験機の温度調節方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20755086A JPH07104260B2 (ja) | 1986-09-03 | 1986-09-03 | 促進耐候性試験機の温度調節方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20755086A JPH07104260B2 (ja) | 1986-09-03 | 1986-09-03 | 促進耐候性試験機の温度調節方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6361935A true JPS6361935A (ja) | 1988-03-18 |
| JPH07104260B2 JPH07104260B2 (ja) | 1995-11-13 |
Family
ID=16541589
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20755086A Expired - Lifetime JPH07104260B2 (ja) | 1986-09-03 | 1986-09-03 | 促進耐候性試験機の温度調節方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07104260B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5138892A (en) * | 1989-08-17 | 1992-08-18 | Suga Test Instruments Co., Ltd. | Accelerated light fastness test method |
| EP1517132A1 (de) * | 2003-09-18 | 2005-03-23 | Atlas Material Technology GmbH | Kontaktlose Messung der Oberflächentemperatur von natürlich oder künstlich bewitterten Proben |
| JP2015099113A (ja) * | 2013-11-20 | 2015-05-28 | 日本電信電話株式会社 | 促進耐候性試験方法および装置 |
-
1986
- 1986-09-03 JP JP20755086A patent/JPH07104260B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5138892A (en) * | 1989-08-17 | 1992-08-18 | Suga Test Instruments Co., Ltd. | Accelerated light fastness test method |
| EP1517132A1 (de) * | 2003-09-18 | 2005-03-23 | Atlas Material Technology GmbH | Kontaktlose Messung der Oberflächentemperatur von natürlich oder künstlich bewitterten Proben |
| US7353722B2 (en) | 2003-09-18 | 2008-04-08 | Atlas Material Testing Technology Gmbh | Contactless measurement of the surface temperature of naturally or artificially weathered samples |
| CN100403009C (zh) * | 2003-09-18 | 2008-07-16 | 阿特莱斯材料检测技术有限公司 | 老化试样的表面温度的非接触式测量方法及装置 |
| JP2015099113A (ja) * | 2013-11-20 | 2015-05-28 | 日本電信電話株式会社 | 促進耐候性試験方法および装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07104260B2 (ja) | 1995-11-13 |
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