JPS6362057A - デイスク記憶装置 - Google Patents
デイスク記憶装置Info
- Publication number
- JPS6362057A JPS6362057A JP61208227A JP20822786A JPS6362057A JP S6362057 A JPS6362057 A JP S6362057A JP 61208227 A JP61208227 A JP 61208227A JP 20822786 A JP20822786 A JP 20822786A JP S6362057 A JPS6362057 A JP S6362057A
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- JP
- Japan
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- medium
- disk
- written
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- Pending
Links
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野ゴ
本発明は、情報処理装置の外部記憶装置である磁気ディ
スク装置に関し、％に記憶媒体の交換が可能な磁気ディ
スク装置に関する。
スク装置に関し、％に記憶媒体の交換が可能な磁気ディ
スク装置に関する。
従来、記憶媒体の交換が可能な記憶装置としては例えば
フロッピーディスク装置があるが、この種の装置は記憶
媒体への情報の書き込み、あるいは読み出しを実現する
ためＫは磁気ヘッドの移動と位置決めのための時間及び
ディスク板の回転待ちのための時間が必要でありた。
フロッピーディスク装置があるが、この種の装置は記憶
媒体への情報の書き込み、あるいは読み出しを実現する
ためＫは磁気ヘッドの移動と位置決めのための時間及び
ディスク板の回転待ちのための時間が必要でありた。
上述したようＫ例えば従来の７０ツピーデイスク装置は
、情報の出し入れを行なうために磁気ヘッドの移動と位
置決め及びディスク板の回転待ちのための時間が必要で
あるため、パーソナルコンピュータなどの上位装置にお
いて、フロッピーディスク装置に対する情報の出し入れ
の回数の多い処理を実行する場合は前途の待ち時間の存
在のために処理の能率が極めて低下するという欠点があ
る。
、情報の出し入れを行なうために磁気ヘッドの移動と位
置決め及びディスク板の回転待ちのための時間が必要で
あるため、パーソナルコンピュータなどの上位装置にお
いて、フロッピーディスク装置に対する情報の出し入れ
の回数の多い処理を実行する場合は前途の待ち時間の存
在のために処理の能率が極めて低下するという欠点があ
る。
本発明のディスク記憶装置は、情報記録媒体としてディ
スク板を使用し、前記ディスク板から情報を取り出すあ
るいは情報を書き込む手段として機械的運動をするヘッ
ドを備えるディスク記憶装置において、前記ディスク板
に書き込まれている情報あるいは書き込むべき情報を記
憶するメモリー部と前記情報の格納さｎるべきアドレス
の情報を記憶するディスク書き込み制御部と、前記メモ
リー部または前記ディスク板に情報を書き込みまたは読
み出しを行なうことを制御するデータ分岐制御部とを備
して構成される。
スク板を使用し、前記ディスク板から情報を取り出すあ
るいは情報を書き込む手段として機械的運動をするヘッ
ドを備えるディスク記憶装置において、前記ディスク板
に書き込まれている情報あるいは書き込むべき情報を記
憶するメモリー部と前記情報の格納さｎるべきアドレス
の情報を記憶するディスク書き込み制御部と、前記メモ
リー部または前記ディスク板に情報を書き込みまたは読
み出しを行なうことを制御するデータ分岐制御部とを備
して構成される。
次に本発明について図面を参照して説明する。
図面は本発明の一実施例として、フロッピーディスク装
置に応用したものを示すブロック図である。
置に応用したものを示すブロック図である。
媒体１がディスクドライ部２に装着され、媒体１に対す
るデータの書き込み、読み出しが可能な状態になると、
データ分岐制御部３は、媒体１に記ｔａされているデー
タをメモリー部４のあらかじめ定めらｎだ対応するアド
レスへ転送を開始する。
るデータの書き込み、読み出しが可能な状態になると、
データ分岐制御部３は、媒体１に記ｔａされているデー
タをメモリー部４のあらかじめ定めらｎだ対応するアド
レスへ転送を開始する。
媒体１のすべてのデータが転送される前に、上位装置７
より媒体１へのデータの書き込み又は読み出しの要求が
発生すると前記のデータの転送は中断され上位装置７の
要求に従りて媒体１への書き込み又は読み出しが実行さ
れる。このとき媒体１への書き込みがあった場合、その
書き込まれたレコードの情報がディスク書き込み制御部
５に記憶される。
より媒体１へのデータの書き込み又は読み出しの要求が
発生すると前記のデータの転送は中断され上位装置７の
要求に従りて媒体１への書き込み又は読み出しが実行さ
れる。このとき媒体１への書き込みがあった場合、その
書き込まれたレコードの情報がディスク書き込み制御部
５に記憶される。
上位装置７の要求による作業が完了すると、中断されて
いた媒体１からメモリー部４へのデータ転送が続行され
る。媒体１のすべてのデータがメモリー部４へ転送され
た後、ディスク書き込み制御部５に媒体１が書き込まれ
たレコードの情報が記憶されていれば、そのレコード情
報により媒体１からメモリー部４へのデータの転送が行
なわれる。この作業が完了するとそれに対応するレコー
ド情報は抹消される。ディスク書き込み制御部５に記憶
された全てのレコード情報が抹消されれば媒体１のデー
タとメモリー部４のデータは同じ内容となる。この状態
で上位装置７よシ媒体１のデータの読み出し要求が発生
するとメモリー部４の対応するアドレスよりデータが読
み出され上位装置７へ送られる。このとき媒体１へのア
クセスは行なわれない。
いた媒体１からメモリー部４へのデータ転送が続行され
る。媒体１のすべてのデータがメモリー部４へ転送され
た後、ディスク書き込み制御部５に媒体１が書き込まれ
たレコードの情報が記憶されていれば、そのレコード情
報により媒体１からメモリー部４へのデータの転送が行
なわれる。この作業が完了するとそれに対応するレコー
ド情報は抹消される。ディスク書き込み制御部５に記憶
された全てのレコード情報が抹消されれば媒体１のデー
タとメモリー部４のデータは同じ内容となる。この状態
で上位装置７よシ媒体１のデータの読み出し要求が発生
するとメモリー部４の対応するアドレスよりデータが読
み出され上位装置７へ送られる。このとき媒体１へのア
クセスは行なわれない。
次に上位装置７より媒体１へのデータの書き込み要求が
発生した場合、上位装置７から送られたデータはメモリ
ー部４の媒体１に対応するアドレスに書き込まれ同時に
そのデータの省き込まれたレコードの情報をディスク書
き込み制御部５に記憶する。上位装置７からのメモリー
部４へのデータ書き込み作業が完了すると、ディスク書
き込み制御部５に記憶されたレコード状報に従りてメモ
リー部４から媒体ｌへのデータの転送が行なわれる。
発生した場合、上位装置７から送られたデータはメモリ
ー部４の媒体１に対応するアドレスに書き込まれ同時に
そのデータの省き込まれたレコードの情報をディスク書
き込み制御部５に記憶する。上位装置７からのメモリー
部４へのデータ書き込み作業が完了すると、ディスク書
き込み制御部５に記憶されたレコード状報に従りてメモ
リー部４から媒体ｌへのデータの転送が行なわれる。
以上のように、媒体１の装着後媒体１からメモリー部４
へのデータ転送のための一定の時間を過ぎると、上位装
置７からフロッピーディスク装置８に対するデータの書
き込み、読み出しは、メモリー部４に対して行なわれる
ことになり、常に媒体１へ直接データの書き込み読み出
しが行なわれる従来の技術に比べて上位装置７のフロッ
ピーディスク装置８に拘束される時間は磁気ヘッドの移
動及び位置決めのための時間と媒体１の回転待ち時間が
無くなる分だけ短かくなる。
へのデータ転送のための一定の時間を過ぎると、上位装
置７からフロッピーディスク装置８に対するデータの書
き込み、読み出しは、メモリー部４に対して行なわれる
ことになり、常に媒体１へ直接データの書き込み読み出
しが行なわれる従来の技術に比べて上位装置７のフロッ
ピーディスク装置８に拘束される時間は磁気ヘッドの移
動及び位置決めのための時間と媒体１の回転待ち時間が
無くなる分だけ短かくなる。
以上の説明から明らかなように、本発明によれば従来磁
気ディスク装置の持つ欠点であった磁気ヘッドの移動と
位置決め及び回転待ちのための時間のほとんどの部分か
ら上位装置を解放できる効果がある。
気ディスク装置の持つ欠点であった磁気ヘッドの移動と
位置決め及び回転待ちのための時間のほとんどの部分か
ら上位装置を解放できる効果がある。
Claims (1)
- 情報記録媒体としてディスク板を使用し、前記ディスク
板から情報を取り出すあるいは情報を書き込むための機
械的運動をするヘッドを備えるディスク記憶装置におい
て、前記ディスク板に書き込まれている情報あるいは書
き込むべき情報を記憶するメモリー部と、前記情報の格
納されるべきアドレスの情報を記憶するディスク書き込
み制御部と、前記メモリー部または前記ディスク板への
情報の書き込みまたは読み出しを制御するデータ分岐制
御部とを具備することを特徴とするディスク記憶装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61208227A JPS6362057A (ja) | 1986-09-03 | 1986-09-03 | デイスク記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61208227A JPS6362057A (ja) | 1986-09-03 | 1986-09-03 | デイスク記憶装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6362057A true JPS6362057A (ja) | 1988-03-18 |
Family
ID=16552766
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61208227A Pending JPS6362057A (ja) | 1986-09-03 | 1986-09-03 | デイスク記憶装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6362057A (ja) |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
| US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
| US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
| US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
| US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
| US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
| US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
| US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
| US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
| US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
| US12007411B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-06-11 | Teradyne, Inc. | Test socket having an automated lid |
-
1986
- 1986-09-03 JP JP61208227A patent/JPS6362057A/ja active Pending
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
| US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
| US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
| US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
| US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
| US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
| US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
| US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
| US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
| US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
| US12007411B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-06-11 | Teradyne, Inc. | Test socket having an automated lid |
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