JPS6363633B2 - - Google Patents
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- JPS6363633B2 JPS6363633B2 JP60155294A JP15529485A JPS6363633B2 JP S6363633 B2 JPS6363633 B2 JP S6363633B2 JP 60155294 A JP60155294 A JP 60155294A JP 15529485 A JP15529485 A JP 15529485A JP S6363633 B2 JPS6363633 B2 JP S6363633B2
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- hydrochloric acid
- chloride
- etch
- copper
- sodium chloride
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23F—NON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
- C23F1/00—Etching metallic material by chemical means
- C23F1/46—Regeneration of etching compositions
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Water Treatment By Electricity Or Magnetism (AREA)
- Treatment Of Water By Oxidation Or Reduction (AREA)
Description
以下の順序で本発明を説明する。
A 産業上の利用分野
B 開示の概要
C 従来技術
D 発明が解決しようとする問題点
E 問題点を解決するための手段
F 実施例
f1 化第反応
f2 再生ユニツト
G 発明の効果
A 産業上の利用分野
この発明は、塩化銅エツチング溶液を自動的に
再生するための処理に関するものである。この処
理においては、エツチング液が、エツチ槽から導
出されて、別の再生ユニツト中で、水で希釈され
た過酸化水素及び塩酸により再生され、エツチ槽
に戻される。 B 開示の概要 この発明により開示されるのは、塩化銅エツチ
ング溶液の、水で希釈された過酸化水素及び塩酸
による自動的再生処理である。この処理において
は、過酸化水素の追加はレドツクス(redox)電
極によつて制御され、一方塩酸及び水は計算され
た量だけ追加される。過酸化水素と塩酸は、酸化
反応器中で次亜塩素酸に変換され、そのあとすぐ
に、少くとも第1銅イオンを酸化するのに必要な
量の塩酸を含む塩化第1銅エツチング塩(エツチ
液とも言う)と混合される。再生ユニツトにおい
ては、固体塩化ナトリウムをもつ塩のバスケツト
がそのユニツトに近接配置され、また再生ユニツ
トへの流出手段をもつ塩のタンクが設けられ、こ
の両方によりエツチング溶液の塩化ナトリウム濃
度が一定に保たれる。この発明はまた、塩化銅エ
ツチング液を自動的に再生するシステムも備えて
いる。 C 従来技術 従来より、プリント回路が、銅または銅合金で
被覆された絶縁ボードを塩酸を含む塩化第2銅溶
液でエツチングすることにより形成されることが
知られている。しかし、エツチング溶塩として塩
化銅を使用することの欠点は、その溶塩が急速に
消耗してしまい、許容できるエツチング時間を保
証するためには継続的に再生がなされなくてはな
らない、ということである。すなわち、銅が化学
式CuCl2+Cu→2CuClに従つてエツチングされる
ときに形成される塩化第1銅は、適当な酸化剤を
添加することによつて再生段階で塩化第2銅に再
酸化されなくてはならない。このとき最もよく使
用されている酸化剤は、定常タンクに基づきガラ
ス管を介して加えられる圧縮空気(西独特許第
1207183号)か、塩素ガス(米国特許第3083129号
及び西独特許第1621437号)か、塩素酸ナトリウ
ム(西独特許第1225465号)か、過酸化水素及び
塩酸(西独特許第1807414号及びZ、エレクトロ
ニーク(Electronik)、1969、Vol.11、335〜336
ページ、“プリント回路のための新式エツチング
方法(Moderne Aetzverfahren fuer
Druckschaltungen)”)である。 後者においては、過酸化水素と塩素の水溶塩
が、レドツクス(redox)電位を測定することに
よつてエツチ・システム内に追加される。そし
て、もし電位に変動があれば、西独特許第
1807414号に従つて、塩酸の流れを制御する第1
のバルブが、H2O2の流れを制御する第2のバル
ブよりも確実に前に開かれ、その第2のバルブよ
りも確実に後に閉じられて、溶液中に過剰な量の
HClが常に存在するように上記した溶液が加えら
れる。簡単に述べると、上述した酸化剤によつ
て、再生の間に次のような反応が生じる: 空気:2CuCl+2HCl+1/2O2→2CuCl2+H2O 塩素:2CuCl+Cl2→2CuCl2 塩素酸塩:6CuCl+NaClO3+6HCl→6CuCl2+
3H2O+NaCl 過酸化水素:2CuCl+H2O2+2HCl→2CuCl2+
2H2O 西独特許第2008766号によれば、消耗したエツ
チング液は酸素を含むガスを用い且つ電気分解に
よりエツチングされた銅を回復させることによつ
ても再生することができる。前に述べた再生処理
のうちで、過酸化処理が、コスト的な理由と高反
応速度と高歩どまりゆえに、今のところ最も好ま
しい。 西独特許第2942504号からは、回路ボード上の
銅をエツチングするための塩化第2銅を含むエツ
チ液が知られ、これによれば、塩酸の代わりに、
錯化剤としてアルカリ塩、特に塩化カリウムが使
用される。西独特許第2942504号によれば、空気
を導入することにより簡単な方法でエツチ液が再
生される。この処理は実験室規模の使用には適し
ているが、反応速度がきわめて低く、再生に必要
な空気の量がきわめて多いので、例えば、一日に
1000枚のボードのように、大規模の技術的応用に
は不経済である。別の欠点は、空気により酸化す
るためには、形成された水酸化第2銅を濾過する
必要がある、ということである。水酸化第2銅か
らは、酸で溶解してそのあと電気分解することに
より銅が金属のかたちで得られる。しかし、この
処理は、近接サイクルでは実行できない、という
のは水酸化銅として生じる銅は、エツチ液から濾
過することが困難だからである。 D 発明が解決しようとする問題点 この発明の目的は、消耗した塩化銅の再生を、
連続的且つ完全に自動的に100%の効率で実行で
きるような処理を提供することにある。 E 問題点を解決するための手段 本発明に基づく再生処理は、過酸化水素と塩化
を使用し、このとき塩酸は低濃度で使用され、消
費された塩素イオンは、塩化ナトリウムを添加す
ることによつて供給され、これによりエツチング
液中で塩化ナトリウムの濃度が一定に保たれる。 本発明の目的は、次のことによつて特徴づけら
れる再生処理によつて実行される。すなわち、酸
化反応器中で、再生すべき第1銅イオンの濃度に
対応する量の過酸化水素が、化学量論的な量の塩
酸によつて次亜塩素酸に変換され、そのあとすぐ
に、その次亜塩素酸は、少くとも第1銅イオンを
酸化するために必要な量の塩酸と、錯化剤として
の塩化ナトリウムとを含む、再生されるべきエツ
チ液と結合される。 本発明に基づく処理によれば、エツチング及び
再生は個別のシステムで行なわれ、その間、エツ
チング溶液は、その両システム間を高速で連続的
に循環する。再生タンクの容量はエツチング・シ
ステムの容量よりもはるかに大きく、これによ
り、もし必要ならば、複数のエツチング・システ
ムを同一の再生ユニツトに接続してもよい。 塩化第2銅のエツチングの間は、Cu+CuCl2→
2CuClという化学式に基づき塩化第1銅が得ら
れ、CuClは実際上、エツチング槽で不溶性であ
るため、エツチングされるべき銅の表面に抑止膜
が形成される結果、エツチング液のエツチ速度が
著しく低下してしまう。それゆえ、エツチングの
間に生じる塩化第1銅の量を最小限に抑えるとと
もに、塩化第1銅を速やかに塩化第2銅に再酸化
するのが望ましい。塩化第1銅は、塩素イオンと
の錯体として、溶融された状態に保つことができ
るけれども(その錯体はエツチング液中で200
ml/の濃縮された塩酸の含有量によつて、従来
技術に基づき得られる)、そのような高い塩酸濃
度の溶液はエツチング及び再生システムの寿命を
低下させ、過剰なエツチングによつてエツチング
された導電影像の品質に悪影響を及ぼす。特にそ
の過剰なエツチングは、現在要求されているよう
な、100μm以下の幅の導電体には受け入れられな
い。それゆえ、本発明によれば、塩化銅エツチン
グ塩中の塩酸の量が、濃塩酸で約30ml/以下に
低減され、失われてゆく塩化物は塩化ナトリウム
のかたちで追加されることになる。これにより、
エツチ液のエツチング速度が、上述した高塩酸濃
度の場合よりも著しく高められる。塩化ナトリウ
ムの含在量が高い場合、エツチ液は、[CuCl2]
錯体のかたちで1価銅の強い結合が存在する結果
として、高塩酸濃度の場合よりもはるかに多量の
Cu1+を収納する能力をもつ。例えば、約3モ
ル/の塩化ナトリウム含在量をもつエツチ液で
すら、依然約20g/の第1銅をエツチングす
る、という満足のゆく結果をもたらす。本発明に
基づく処理によつてエツチ液の塩素含有量がゼロ
まで低減できない、ということは、例えば西独特
許第2942504号に記載されているように、空気の
導入によつて再生処理を行くのではなくて、本発
明の処理が、化学量論的に必要な量のHClによつ
て実際に作用を行う次亜塩素酸と水に変換される
べき過酸化水素を使用しているという事実に帰着
される。前に説明したように、この処理は、大規
模な技術的スケール上で使用されたとき、空気の
導入よりもはるかに効率的である。 従来(西独特許第1807414号)は、エツチ液を
再生するために使用な過酸化水素は直接加えられ
ており、そのために、エツチ液の高い塩酸濃度が
不可欠であつた。というのは、塩素の濃度が低い
と、次の化学式に従い第2銅の触媒的な影響のも
とで直ちに分解してしまうからである: 2H2O2Cu2+触媒 ――――→ 2H2O+188KJ この触媒的な分解を防止するために、本発明に
よれば、次の化学式に従う反応に必要な最小限の
量の塩酸と反応させるために、再生させるべきエ
ツチ液に加えられる直前にH2O2が用意される: H2O2+HCl→HClO+H2O きわめて不安定である次亜塩素酸は、酸化反応
器中で塩化第1銅が形成されるや否や、その塩化
第1銅を次の反応式に従つて実質的に100%塩化
第2銅に酸化させる: 2CuCl+HClO+HCl→2CuCl2+H2O エツチ液を所望の濃度まで希釈するために必要
な水は別のラインを介して再生ユニツト(第3
図)または塩タンク(第4図)に供給される。 F 実施例 f1 化学反応 第1図においては、酸化の間に生じる化学反応
が化学式を用いて図示されている。第2図は、第
1図の反応が行なわれる酸化反応器をあらわす図
である。塩化第1銅を含むエツチ液は、中央のチ
ユーブ15を介して流入する。また、側方のライ
ン16及び17を介して、過酸化水素と塩酸が流
入する。この流入は、再生されるべきエツチ液と
混合される直前に、それらが次亜塩素酸と水を形
成するように行なわれる。エツチ液においては、
酸化反応器の下方の化学式で示されるように、塩
化第1銅の2分子が、次亜塩素酸の1分子及び塩
酸の1分子と反応し、2分子の塩化第2銅と水と
を生じる。さらに、ライン18を介して水が加え
られる。これは、エツチ液中の第2銅イオンを継
続的に所望の濃度に維持するためである。 H2O2とHClと再生すべきエツチ液とが混合さ
れた後、エツチ液は再生ユニツト2に入るまで自
由に落下すべく供給される。H2O2の貯蔵タンク
9と酸化反応器12の間に、図示しないが、留め
具を用意するのも好都合である。また、図示され
た酸化反応器のかわりに、H2O2をHClと反応さ
せ且つ塩化第1銅をHClOと反応させるための静
止混合器を使用することも可能である。 上述した第1銅イオンの第2銅イオンへの酸化
工程を自動制御することは、連続的な処理には不
可欠である。 銅を塩化第2溶液でエツチングするために最も
好ましいエツチ槽の成分が実験により決定され
た。
再生するための処理に関するものである。この処
理においては、エツチング液が、エツチ槽から導
出されて、別の再生ユニツト中で、水で希釈され
た過酸化水素及び塩酸により再生され、エツチ槽
に戻される。 B 開示の概要 この発明により開示されるのは、塩化銅エツチ
ング溶液の、水で希釈された過酸化水素及び塩酸
による自動的再生処理である。この処理において
は、過酸化水素の追加はレドツクス(redox)電
極によつて制御され、一方塩酸及び水は計算され
た量だけ追加される。過酸化水素と塩酸は、酸化
反応器中で次亜塩素酸に変換され、そのあとすぐ
に、少くとも第1銅イオンを酸化するのに必要な
量の塩酸を含む塩化第1銅エツチング塩(エツチ
液とも言う)と混合される。再生ユニツトにおい
ては、固体塩化ナトリウムをもつ塩のバスケツト
がそのユニツトに近接配置され、また再生ユニツ
トへの流出手段をもつ塩のタンクが設けられ、こ
の両方によりエツチング溶液の塩化ナトリウム濃
度が一定に保たれる。この発明はまた、塩化銅エ
ツチング液を自動的に再生するシステムも備えて
いる。 C 従来技術 従来より、プリント回路が、銅または銅合金で
被覆された絶縁ボードを塩酸を含む塩化第2銅溶
液でエツチングすることにより形成されることが
知られている。しかし、エツチング溶塩として塩
化銅を使用することの欠点は、その溶塩が急速に
消耗してしまい、許容できるエツチング時間を保
証するためには継続的に再生がなされなくてはな
らない、ということである。すなわち、銅が化学
式CuCl2+Cu→2CuClに従つてエツチングされる
ときに形成される塩化第1銅は、適当な酸化剤を
添加することによつて再生段階で塩化第2銅に再
酸化されなくてはならない。このとき最もよく使
用されている酸化剤は、定常タンクに基づきガラ
ス管を介して加えられる圧縮空気(西独特許第
1207183号)か、塩素ガス(米国特許第3083129号
及び西独特許第1621437号)か、塩素酸ナトリウ
ム(西独特許第1225465号)か、過酸化水素及び
塩酸(西独特許第1807414号及びZ、エレクトロ
ニーク(Electronik)、1969、Vol.11、335〜336
ページ、“プリント回路のための新式エツチング
方法(Moderne Aetzverfahren fuer
Druckschaltungen)”)である。 後者においては、過酸化水素と塩素の水溶塩
が、レドツクス(redox)電位を測定することに
よつてエツチ・システム内に追加される。そし
て、もし電位に変動があれば、西独特許第
1807414号に従つて、塩酸の流れを制御する第1
のバルブが、H2O2の流れを制御する第2のバル
ブよりも確実に前に開かれ、その第2のバルブよ
りも確実に後に閉じられて、溶液中に過剰な量の
HClが常に存在するように上記した溶液が加えら
れる。簡単に述べると、上述した酸化剤によつ
て、再生の間に次のような反応が生じる: 空気:2CuCl+2HCl+1/2O2→2CuCl2+H2O 塩素:2CuCl+Cl2→2CuCl2 塩素酸塩:6CuCl+NaClO3+6HCl→6CuCl2+
3H2O+NaCl 過酸化水素:2CuCl+H2O2+2HCl→2CuCl2+
2H2O 西独特許第2008766号によれば、消耗したエツ
チング液は酸素を含むガスを用い且つ電気分解に
よりエツチングされた銅を回復させることによつ
ても再生することができる。前に述べた再生処理
のうちで、過酸化処理が、コスト的な理由と高反
応速度と高歩どまりゆえに、今のところ最も好ま
しい。 西独特許第2942504号からは、回路ボード上の
銅をエツチングするための塩化第2銅を含むエツ
チ液が知られ、これによれば、塩酸の代わりに、
錯化剤としてアルカリ塩、特に塩化カリウムが使
用される。西独特許第2942504号によれば、空気
を導入することにより簡単な方法でエツチ液が再
生される。この処理は実験室規模の使用には適し
ているが、反応速度がきわめて低く、再生に必要
な空気の量がきわめて多いので、例えば、一日に
1000枚のボードのように、大規模の技術的応用に
は不経済である。別の欠点は、空気により酸化す
るためには、形成された水酸化第2銅を濾過する
必要がある、ということである。水酸化第2銅か
らは、酸で溶解してそのあと電気分解することに
より銅が金属のかたちで得られる。しかし、この
処理は、近接サイクルでは実行できない、という
のは水酸化銅として生じる銅は、エツチ液から濾
過することが困難だからである。 D 発明が解決しようとする問題点 この発明の目的は、消耗した塩化銅の再生を、
連続的且つ完全に自動的に100%の効率で実行で
きるような処理を提供することにある。 E 問題点を解決するための手段 本発明に基づく再生処理は、過酸化水素と塩化
を使用し、このとき塩酸は低濃度で使用され、消
費された塩素イオンは、塩化ナトリウムを添加す
ることによつて供給され、これによりエツチング
液中で塩化ナトリウムの濃度が一定に保たれる。 本発明の目的は、次のことによつて特徴づけら
れる再生処理によつて実行される。すなわち、酸
化反応器中で、再生すべき第1銅イオンの濃度に
対応する量の過酸化水素が、化学量論的な量の塩
酸によつて次亜塩素酸に変換され、そのあとすぐ
に、その次亜塩素酸は、少くとも第1銅イオンを
酸化するために必要な量の塩酸と、錯化剤として
の塩化ナトリウムとを含む、再生されるべきエツ
チ液と結合される。 本発明に基づく処理によれば、エツチング及び
再生は個別のシステムで行なわれ、その間、エツ
チング溶液は、その両システム間を高速で連続的
に循環する。再生タンクの容量はエツチング・シ
ステムの容量よりもはるかに大きく、これによ
り、もし必要ならば、複数のエツチング・システ
ムを同一の再生ユニツトに接続してもよい。 塩化第2銅のエツチングの間は、Cu+CuCl2→
2CuClという化学式に基づき塩化第1銅が得ら
れ、CuClは実際上、エツチング槽で不溶性であ
るため、エツチングされるべき銅の表面に抑止膜
が形成される結果、エツチング液のエツチ速度が
著しく低下してしまう。それゆえ、エツチングの
間に生じる塩化第1銅の量を最小限に抑えるとと
もに、塩化第1銅を速やかに塩化第2銅に再酸化
するのが望ましい。塩化第1銅は、塩素イオンと
の錯体として、溶融された状態に保つことができ
るけれども(その錯体はエツチング液中で200
ml/の濃縮された塩酸の含有量によつて、従来
技術に基づき得られる)、そのような高い塩酸濃
度の溶液はエツチング及び再生システムの寿命を
低下させ、過剰なエツチングによつてエツチング
された導電影像の品質に悪影響を及ぼす。特にそ
の過剰なエツチングは、現在要求されているよう
な、100μm以下の幅の導電体には受け入れられな
い。それゆえ、本発明によれば、塩化銅エツチン
グ塩中の塩酸の量が、濃塩酸で約30ml/以下に
低減され、失われてゆく塩化物は塩化ナトリウム
のかたちで追加されることになる。これにより、
エツチ液のエツチング速度が、上述した高塩酸濃
度の場合よりも著しく高められる。塩化ナトリウ
ムの含在量が高い場合、エツチ液は、[CuCl2]
錯体のかたちで1価銅の強い結合が存在する結果
として、高塩酸濃度の場合よりもはるかに多量の
Cu1+を収納する能力をもつ。例えば、約3モ
ル/の塩化ナトリウム含在量をもつエツチ液で
すら、依然約20g/の第1銅をエツチングす
る、という満足のゆく結果をもたらす。本発明に
基づく処理によつてエツチ液の塩素含有量がゼロ
まで低減できない、ということは、例えば西独特
許第2942504号に記載されているように、空気の
導入によつて再生処理を行くのではなくて、本発
明の処理が、化学量論的に必要な量のHClによつ
て実際に作用を行う次亜塩素酸と水に変換される
べき過酸化水素を使用しているという事実に帰着
される。前に説明したように、この処理は、大規
模な技術的スケール上で使用されたとき、空気の
導入よりもはるかに効率的である。 従来(西独特許第1807414号)は、エツチ液を
再生するために使用な過酸化水素は直接加えられ
ており、そのために、エツチ液の高い塩酸濃度が
不可欠であつた。というのは、塩素の濃度が低い
と、次の化学式に従い第2銅の触媒的な影響のも
とで直ちに分解してしまうからである: 2H2O2Cu2+触媒 ――――→ 2H2O+188KJ この触媒的な分解を防止するために、本発明に
よれば、次の化学式に従う反応に必要な最小限の
量の塩酸と反応させるために、再生させるべきエ
ツチ液に加えられる直前にH2O2が用意される: H2O2+HCl→HClO+H2O きわめて不安定である次亜塩素酸は、酸化反応
器中で塩化第1銅が形成されるや否や、その塩化
第1銅を次の反応式に従つて実質的に100%塩化
第2銅に酸化させる: 2CuCl+HClO+HCl→2CuCl2+H2O エツチ液を所望の濃度まで希釈するために必要
な水は別のラインを介して再生ユニツト(第3
図)または塩タンク(第4図)に供給される。 F 実施例 f1 化学反応 第1図においては、酸化の間に生じる化学反応
が化学式を用いて図示されている。第2図は、第
1図の反応が行なわれる酸化反応器をあらわす図
である。塩化第1銅を含むエツチ液は、中央のチ
ユーブ15を介して流入する。また、側方のライ
ン16及び17を介して、過酸化水素と塩酸が流
入する。この流入は、再生されるべきエツチ液と
混合される直前に、それらが次亜塩素酸と水を形
成するように行なわれる。エツチ液においては、
酸化反応器の下方の化学式で示されるように、塩
化第1銅の2分子が、次亜塩素酸の1分子及び塩
酸の1分子と反応し、2分子の塩化第2銅と水と
を生じる。さらに、ライン18を介して水が加え
られる。これは、エツチ液中の第2銅イオンを継
続的に所望の濃度に維持するためである。 H2O2とHClと再生すべきエツチ液とが混合さ
れた後、エツチ液は再生ユニツト2に入るまで自
由に落下すべく供給される。H2O2の貯蔵タンク
9と酸化反応器12の間に、図示しないが、留め
具を用意するのも好都合である。また、図示され
た酸化反応器のかわりに、H2O2をHClと反応さ
せ且つ塩化第1銅をHClOと反応させるための静
止混合器を使用することも可能である。 上述した第1銅イオンの第2銅イオンへの酸化
工程を自動制御することは、連続的な処理には不
可欠である。 銅を塩化第2溶液でエツチングするために最も
好ましいエツチ槽の成分が実験により決定され
た。
【表】
エツチ溶液のCu2+イオン濃度は、80〜170g/
の間でよい。微細な導電体の製造のために望ま
しい最も高いエツチ速度は、Cu2+の濃度95g/
で得られる。次にエツチ溶液の濃度は±1g/
程度に一定に保たれる。 Cu1+イオン濃度は4〜6g/の範囲になくて
はならない。エツチ溶液を完全に酸化する、すな
わち[Cu1+]=0とすることは比較的容易である
けれども、第1銅イオンのわずかな部分をエツチ
溶液中に残しておくことが望ましい、というのは
1価性の銅は“端縁保護”のはたらきを行うから
である。このことは、銅からエツチングされた導
電体の側壁が保護性のゲル・タイプの薄膜で被覆
され、以て導電体の重大な過度のエツチングが防
止される。細密なラインをもつ回路ボード(西独
特許第1807414号参照)は、HClの少ない完全に
再生されていない塩化銅エツチ溶液によつてのみ
製造され得る事が分かつている。 32%塩酸の含有量は、エツチ溶液の8〜20ml/
の範囲でよい。ここで、従来のエツチ溶液が
200ml/またはそれ以上の濃度の塩酸を含んで
いることを再び指摘しておこう。前に述べたよう
に、本発明に基づき使用されるエツチ溶液中の多
量の塩化ナトリウムによつて、より多くの量の
Cu1+が錯体のかたちで溶解し、これにより、
20g/のCu1+を含有する塩化第2銅エツチ溶液
によつて得られたエツチング結果が満足のゆくも
のとなる。 上述のエツチ溶液が塩化第2銅を豊富に含むと
きにそのエツチ溶液を再生するために、過酸化水
素と塩酸が本発明に基づき使用される。理論的な
計算によれば、1Kgの銅を再生するためには、35
%の過酸化水素1.36と、32%のHCl3.1と、
2.4Kgの塩化ナトリウム(塩バスケツトの原理)
と、2.15Kgの塩化ナトリウム(塩タンクの原理)
が必要である。これらの量に基づくと、H2O2:
H2O:HClのドーズ比は、1:4.2:2.3である。 しかし、これらの値は理論的に計算されたもの
であつて、実際は吸収や副反応によつて損失が生
じることが考慮されなくてはならない。その副反
応は次のような化学式であらわされる: 4CuCl+4HCl+O2→4CuCl2+H2O (空気) それゆえ、ドーズ量の実際値は、システムが動
作されるときに決定されなくてはならない。動作
の間は、酸化剤の添加のみがレドツクス電極によ
つて制御され、塩酸及び水は計算された量だけタ
ンクから入つてくる。 f2 再生ユニツト 第3図及び第4図は、本発明に基づき処理を実
行するための再生ユニツトをあらわす図である。
第3図によれば、エツチ・ユニツト1が再生ユニ
ツト2に接続されている。貯蔵タンク9,10及
び11はそれぞれ過酸化水素、塩酸及び水のため
の個別に用意されている。再生させるべきエツチ
溶液は酸化反応器12に供給される。第3図によ
れば、貯蔵タンク9,10及び11から酸化反応
器12にラインが延長されている。制御装置5を
介して、レドツクス電極(センサ)4が、測定ポ
テンシヤルの関数としてソレノイド・バルブ6の
開放を制御し、これにより正確に必要な量の過酸
化水素が、再生されるべきエツチ溶液中に流入す
る。制御装置5はソレノイド・バルブ7及び8を
動作させる働きも行い、これにより塩酸と水が貯
蔵タンク10及び11から計算された量だけ酸化
反応器12に流入する。尚、この場合、ソレノイ
ド・バルブのかわりに、ポンプを使用してもよ
い。再生ユニツト2においては、常時固体の塩化
ナトリウムを収めている塩バスケツト3aが配置
されている。エツチ溶液は、一定の速度で測定用
セル(センサ)4を経由して流入する。ポンプ1
3は、再生されたエツチ溶液が、エツチ・ユニツ
トに帰還することを保証する。エツチング及び再
生処理で継続的に形成される余剰のエツチ溶液
は、あふれ出して流出タンク14に流入する。そ
のようなエツチ溶液は、銅を回収するために銅の
製造所に売却される。 第4図によれば、再生ユニツト2の開放した塩
バスケツトのかわりに、閉じた塩タンク3bが設
けられている。この場合、水は貯蔵タンク11か
ら酸化反応器12に加えられるのではなく、直接
塩タンク3bに加えられる。塩タンク3bは再生
ユニツト2への流入手段を備えている。 再生すべきエツチ溶液への化学剤の添加を制御
するために、すなわち上述の好適な化学剤の濃度
を維持するためにレドツクス電極が使用され、こ
れによつてきわめて正確に制御を行う事ができ
る。これによれば、Au、Cu2+/Cu+と基準電極
(例えばカロメル電極)との間に生じるレドツク
ス電極が測定される。この電位はCu2+:Cu+の濃
度比(活動比)に依存するが、純粋なレドツクス
電位を測定するのではなくて、エツチ溶液の塩化
ナトリウム含有量及びエツチ溶液がセンサを介し
て流れる速度Vにも依存する。 そのポテンシヤルを制御するためのネルンスト
の方程式は、次のように簡単な式であらわされ
る: ε=E0+RT/FlnaCu2+/aCu++f{([NaCl]+f (V)} もし温度と、塩化ナトリウムの含有量と、Vが
一定に保たれるならば、レドツクス電位はCu2+
及びCu+にのみ依存し、ε=f(Cu2+:Cu+)と
なる。 測定セル4を通る一定の流速は、減速バルブと
流量メーター(図示しない)を先行するように取
り付けた測定セル(センサ)4を介して2次的な
サイクル中を連続的に、再生ユニツト2からわず
かの量のエツチ溶液を環流させることにより得ら
れる。塩化ナトリウムの濃度は、塩化ナトリウム
の飽和溶液または、飽和はしていないが濃度が一
定である塩化ナトリウム溶塩を使用することによ
つて一定に保たれる。塩化ナトリウムが飽和した
エツチ溶塩は、再生ユニツト2に、常時塩化ナト
リウム(第3図)を含んでいる塩バスケツト3a
を供給することによつて得られる。塩バスケツト
を通過して流れるエツチ溶液は、飽和する前に
234g/の塩化ナトリウムに相当する4モル/
の塩化ナトリウムを吸収する。 本発明のさらに有利を実施例においては、内容
が再生ユニツト2から分離されている塩タンク
が、一定の塩化ナトリウム濃度を維持し調節する
ために使用される。閉じられた塩タンク3b(第
4図)の基底には固体の塩化ナトリウムが存在し
ている。そして、エツチ溶液中の塩化ナトリウム
を所望の濃度に調節するために、この実施例で
は、塩バスケツトの場合のように直接再生ユニツ
ト2に水を加えるのでなく、貯蔵タンク11から
塩タンク3bに水が与えられる。そうして、あふ
れ出しにより、飽和した塩化ナトリウム溶塩が再
生ユニツト2に加えられる(第4図)。この原理
に従えば、エツチ溶塩中で塩化ナトリウム濃度を
一定に調節することも可能である。この濃度は、
塩化ナトリウムの約3.6モル/であつて塩化ナ
トリウムの212g/に対応し、飽和した塩化ナ
トリウムの濃度よりもわずかに小さい。その結
果、エツチング速度はわずかに低下するにすぎな
い。この実施例は、システムが、例えば、一時的
な定常状態にあるとき、飽和塩化ナトリウムの場
合に生じるように、ライン中で塩化ナトリウムの
結晶化が生じることはない、という長所がある。
また、熱交換器(図示しない)を介して、再生ユ
ニツトは、±1℃の精度で45〜55℃の範囲の値に
一定に維持される。 前にも述べたように、もし塩化ナトリウムの濃
度と、測定セル(センサ4)を通過する流速Vと
温度とが一定に保たれると、レドツクス電位は、
Cu2+:Cuの比のみに依存する。その電極の電位
は、もしCu2+の濃度が上昇すれば正の値をとり、
もし第1銅イオンの濃度が0であれば最大値に達
する。しかし、1価の銅イオンは、端縁の保護に
よつて導電体の過度のエツチングを防止し、より
微細な導電パターンの形成を可能とするので、第
1銅イオンが完全に第2銅イオンに酸化されない
ことが望ましい。また、第1銅イオン濃度が低い
範囲では、その濃度が高い場合よりもレドツクス
電位の変化が大きいことが分かつている。例え
ば、Cu1+が2g/と5g/ではその電位差は常
に26.5mVである。それゆえ、エツチ槽の成分の
制御を、レドツクス電位に基づき行うことは有利
である。尚、第2銅イオン濃度と温度の変化に基
づきその26.5mVという電位差の値に変化が生じ
たとき、Cu+からCu2+への酸化を正確に制御する
ために、温度はきわめて狭い範囲に維持されなく
てはならない。 実際上、それの増幅された電位差は測定装置上
に表示され記録される。この測定装置にはセンサ
が設けられており、そのセンサはエツチ溶塩中の
電位差に応じて測定装置の針によつて通過され
る。この処理の間に、貯蔵タンクから再生ユニツ
ト上の酸化反応器に過酸化水素を加えるために、
ソレノイド・バルブが開けられ、またはポンプが
作動される。塩酸と水とは計算された量だけ加え
られる。 G 発明の効果 この発明の処理は、消耗した塩化銅を大規模な
技術的スケール上で再生することを可能とする。
この目的のために、過酸化水素と塩酸が周知の方
法で使用される。しかし、この発明のエツチ溶液
は従来のエツチ溶液よりもわずかしか塩酸を含ま
ず、従つてそれだけエツチングされた細い導電線
に対する侵食が少ない。実際上、塩酸は、過酸化
水素を次亜塩素酸に変換するのに必要な化学量論
的な量だけ添加されるにすぎない。さらに、塩化
ナトリウムを加えたことにより銅の錯体が出来や
すくなり、CuClがエツチングされるべき導電線
上に付着して抑止膜を形成するのを防止する。と
いう効果が得られる。
の間でよい。微細な導電体の製造のために望ま
しい最も高いエツチ速度は、Cu2+の濃度95g/
で得られる。次にエツチ溶液の濃度は±1g/
程度に一定に保たれる。 Cu1+イオン濃度は4〜6g/の範囲になくて
はならない。エツチ溶液を完全に酸化する、すな
わち[Cu1+]=0とすることは比較的容易である
けれども、第1銅イオンのわずかな部分をエツチ
溶液中に残しておくことが望ましい、というのは
1価性の銅は“端縁保護”のはたらきを行うから
である。このことは、銅からエツチングされた導
電体の側壁が保護性のゲル・タイプの薄膜で被覆
され、以て導電体の重大な過度のエツチングが防
止される。細密なラインをもつ回路ボード(西独
特許第1807414号参照)は、HClの少ない完全に
再生されていない塩化銅エツチ溶液によつてのみ
製造され得る事が分かつている。 32%塩酸の含有量は、エツチ溶液の8〜20ml/
の範囲でよい。ここで、従来のエツチ溶液が
200ml/またはそれ以上の濃度の塩酸を含んで
いることを再び指摘しておこう。前に述べたよう
に、本発明に基づき使用されるエツチ溶液中の多
量の塩化ナトリウムによつて、より多くの量の
Cu1+が錯体のかたちで溶解し、これにより、
20g/のCu1+を含有する塩化第2銅エツチ溶液
によつて得られたエツチング結果が満足のゆくも
のとなる。 上述のエツチ溶液が塩化第2銅を豊富に含むと
きにそのエツチ溶液を再生するために、過酸化水
素と塩酸が本発明に基づき使用される。理論的な
計算によれば、1Kgの銅を再生するためには、35
%の過酸化水素1.36と、32%のHCl3.1と、
2.4Kgの塩化ナトリウム(塩バスケツトの原理)
と、2.15Kgの塩化ナトリウム(塩タンクの原理)
が必要である。これらの量に基づくと、H2O2:
H2O:HClのドーズ比は、1:4.2:2.3である。 しかし、これらの値は理論的に計算されたもの
であつて、実際は吸収や副反応によつて損失が生
じることが考慮されなくてはならない。その副反
応は次のような化学式であらわされる: 4CuCl+4HCl+O2→4CuCl2+H2O (空気) それゆえ、ドーズ量の実際値は、システムが動
作されるときに決定されなくてはならない。動作
の間は、酸化剤の添加のみがレドツクス電極によ
つて制御され、塩酸及び水は計算された量だけタ
ンクから入つてくる。 f2 再生ユニツト 第3図及び第4図は、本発明に基づき処理を実
行するための再生ユニツトをあらわす図である。
第3図によれば、エツチ・ユニツト1が再生ユニ
ツト2に接続されている。貯蔵タンク9,10及
び11はそれぞれ過酸化水素、塩酸及び水のため
の個別に用意されている。再生させるべきエツチ
溶液は酸化反応器12に供給される。第3図によ
れば、貯蔵タンク9,10及び11から酸化反応
器12にラインが延長されている。制御装置5を
介して、レドツクス電極(センサ)4が、測定ポ
テンシヤルの関数としてソレノイド・バルブ6の
開放を制御し、これにより正確に必要な量の過酸
化水素が、再生されるべきエツチ溶液中に流入す
る。制御装置5はソレノイド・バルブ7及び8を
動作させる働きも行い、これにより塩酸と水が貯
蔵タンク10及び11から計算された量だけ酸化
反応器12に流入する。尚、この場合、ソレノイ
ド・バルブのかわりに、ポンプを使用してもよ
い。再生ユニツト2においては、常時固体の塩化
ナトリウムを収めている塩バスケツト3aが配置
されている。エツチ溶液は、一定の速度で測定用
セル(センサ)4を経由して流入する。ポンプ1
3は、再生されたエツチ溶液が、エツチ・ユニツ
トに帰還することを保証する。エツチング及び再
生処理で継続的に形成される余剰のエツチ溶液
は、あふれ出して流出タンク14に流入する。そ
のようなエツチ溶液は、銅を回収するために銅の
製造所に売却される。 第4図によれば、再生ユニツト2の開放した塩
バスケツトのかわりに、閉じた塩タンク3bが設
けられている。この場合、水は貯蔵タンク11か
ら酸化反応器12に加えられるのではなく、直接
塩タンク3bに加えられる。塩タンク3bは再生
ユニツト2への流入手段を備えている。 再生すべきエツチ溶液への化学剤の添加を制御
するために、すなわち上述の好適な化学剤の濃度
を維持するためにレドツクス電極が使用され、こ
れによつてきわめて正確に制御を行う事ができ
る。これによれば、Au、Cu2+/Cu+と基準電極
(例えばカロメル電極)との間に生じるレドツク
ス電極が測定される。この電位はCu2+:Cu+の濃
度比(活動比)に依存するが、純粋なレドツクス
電位を測定するのではなくて、エツチ溶液の塩化
ナトリウム含有量及びエツチ溶液がセンサを介し
て流れる速度Vにも依存する。 そのポテンシヤルを制御するためのネルンスト
の方程式は、次のように簡単な式であらわされ
る: ε=E0+RT/FlnaCu2+/aCu++f{([NaCl]+f (V)} もし温度と、塩化ナトリウムの含有量と、Vが
一定に保たれるならば、レドツクス電位はCu2+
及びCu+にのみ依存し、ε=f(Cu2+:Cu+)と
なる。 測定セル4を通る一定の流速は、減速バルブと
流量メーター(図示しない)を先行するように取
り付けた測定セル(センサ)4を介して2次的な
サイクル中を連続的に、再生ユニツト2からわず
かの量のエツチ溶液を環流させることにより得ら
れる。塩化ナトリウムの濃度は、塩化ナトリウム
の飽和溶液または、飽和はしていないが濃度が一
定である塩化ナトリウム溶塩を使用することによ
つて一定に保たれる。塩化ナトリウムが飽和した
エツチ溶塩は、再生ユニツト2に、常時塩化ナト
リウム(第3図)を含んでいる塩バスケツト3a
を供給することによつて得られる。塩バスケツト
を通過して流れるエツチ溶液は、飽和する前に
234g/の塩化ナトリウムに相当する4モル/
の塩化ナトリウムを吸収する。 本発明のさらに有利を実施例においては、内容
が再生ユニツト2から分離されている塩タンク
が、一定の塩化ナトリウム濃度を維持し調節する
ために使用される。閉じられた塩タンク3b(第
4図)の基底には固体の塩化ナトリウムが存在し
ている。そして、エツチ溶液中の塩化ナトリウム
を所望の濃度に調節するために、この実施例で
は、塩バスケツトの場合のように直接再生ユニツ
ト2に水を加えるのでなく、貯蔵タンク11から
塩タンク3bに水が与えられる。そうして、あふ
れ出しにより、飽和した塩化ナトリウム溶塩が再
生ユニツト2に加えられる(第4図)。この原理
に従えば、エツチ溶塩中で塩化ナトリウム濃度を
一定に調節することも可能である。この濃度は、
塩化ナトリウムの約3.6モル/であつて塩化ナ
トリウムの212g/に対応し、飽和した塩化ナ
トリウムの濃度よりもわずかに小さい。その結
果、エツチング速度はわずかに低下するにすぎな
い。この実施例は、システムが、例えば、一時的
な定常状態にあるとき、飽和塩化ナトリウムの場
合に生じるように、ライン中で塩化ナトリウムの
結晶化が生じることはない、という長所がある。
また、熱交換器(図示しない)を介して、再生ユ
ニツトは、±1℃の精度で45〜55℃の範囲の値に
一定に維持される。 前にも述べたように、もし塩化ナトリウムの濃
度と、測定セル(センサ4)を通過する流速Vと
温度とが一定に保たれると、レドツクス電位は、
Cu2+:Cuの比のみに依存する。その電極の電位
は、もしCu2+の濃度が上昇すれば正の値をとり、
もし第1銅イオンの濃度が0であれば最大値に達
する。しかし、1価の銅イオンは、端縁の保護に
よつて導電体の過度のエツチングを防止し、より
微細な導電パターンの形成を可能とするので、第
1銅イオンが完全に第2銅イオンに酸化されない
ことが望ましい。また、第1銅イオン濃度が低い
範囲では、その濃度が高い場合よりもレドツクス
電位の変化が大きいことが分かつている。例え
ば、Cu1+が2g/と5g/ではその電位差は常
に26.5mVである。それゆえ、エツチ槽の成分の
制御を、レドツクス電位に基づき行うことは有利
である。尚、第2銅イオン濃度と温度の変化に基
づきその26.5mVという電位差の値に変化が生じ
たとき、Cu+からCu2+への酸化を正確に制御する
ために、温度はきわめて狭い範囲に維持されなく
てはならない。 実際上、それの増幅された電位差は測定装置上
に表示され記録される。この測定装置にはセンサ
が設けられており、そのセンサはエツチ溶塩中の
電位差に応じて測定装置の針によつて通過され
る。この処理の間に、貯蔵タンクから再生ユニツ
ト上の酸化反応器に過酸化水素を加えるために、
ソレノイド・バルブが開けられ、またはポンプが
作動される。塩酸と水とは計算された量だけ加え
られる。 G 発明の効果 この発明の処理は、消耗した塩化銅を大規模な
技術的スケール上で再生することを可能とする。
この目的のために、過酸化水素と塩酸が周知の方
法で使用される。しかし、この発明のエツチ溶液
は従来のエツチ溶液よりもわずかしか塩酸を含ま
ず、従つてそれだけエツチングされた細い導電線
に対する侵食が少ない。実際上、塩酸は、過酸化
水素を次亜塩素酸に変換するのに必要な化学量論
的な量だけ添加されるにすぎない。さらに、塩化
ナトリウムを加えたことにより銅の錯体が出来や
すくなり、CuClがエツチングされるべき導電線
上に付着して抑止膜を形成するのを防止する。と
いう効果が得られる。
第1図は、本発明で使用される化学反応を示す
図、第2図は、酸化反応器の図、第3図及び第4
図は、それぞれエツチ溶液再生制御システムの全
体を示すブロツク図である。 1……エツチ・ユニツト、2……再生ユニツ
ト、3a……塩バスケツト、3b……塩タンク、
4……センサ(レドツクス電極)、5……制御装
置、9,10,11……貯蔵タンク、12……酸
化反応器、13……ポンプ。
図、第2図は、酸化反応器の図、第3図及び第4
図は、それぞれエツチ溶液再生制御システムの全
体を示すブロツク図である。 1……エツチ・ユニツト、2……再生ユニツ
ト、3a……塩バスケツト、3b……塩タンク、
4……センサ(レドツクス電極)、5……制御装
置、9,10,11……貯蔵タンク、12……酸
化反応器、13……ポンプ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 塩化第2銅エツチング溶液をエツチ・ユニツ
トから引き出し、別の再生ユニツト中で、第1銅
イオンを第2銅イオンに再生してそれから上記エ
ツチ・ユニツトに戻す、エツチング溶液の再生方
法において、 (a) 上記再生ユニツト中に、上記エツチ・ユニツ
トから引き出された上記エツチング溶液中の第
1銅イオンを少なくとも酸化するのに必要な量
の塩酸と錯化剤としての塩化ナトリウムとを添
加する段階と、 (b) 再生されるべき第1銅イオンのイオン濃度に
対応する量の塩酸を、化学量論的に相当する量
の過酸化水素と反応させて次亜塩素酸を発生さ
せる段階と、 (c) 上記発生させた次亜塩素酸をその発生直後に
上記再生ユニツト中に添加し、以て第1銅イオ
ンと次亜塩素酸と塩酸との反応によつて第1銅
イオンを第2銅イオンに変換する段階とを有す
る、塩化銅エツチング溶液の再生方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP84112630A EP0178347B1 (de) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | Verfahren zum automatischen Regenerieren von Kupferchlorid-Ätzlösungen |
| DE84112630.3 | 1984-10-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6199683A JPS6199683A (ja) | 1986-05-17 |
| JPS6363633B2 true JPS6363633B2 (ja) | 1988-12-08 |
Family
ID=8192231
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60155294A Granted JPS6199683A (ja) | 1984-10-19 | 1985-07-16 | 塩化銅エッチング溶液の再生方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4696717A (ja) |
| EP (1) | EP0178347B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6199683A (ja) |
| AT (1) | ATE37047T1 (ja) |
| DE (1) | DE3473891D1 (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5227010A (en) * | 1991-04-03 | 1993-07-13 | International Business Machines Corporation | Regeneration of ferric chloride etchants |
| US5468409A (en) * | 1993-11-03 | 1995-11-21 | The Boeing Company | Copper etchant useful for making fine-line copper elements |
| US5650249A (en) * | 1992-11-18 | 1997-07-22 | The Boeing Company | Method for making precision radomes |
| US5560838A (en) * | 1994-12-05 | 1996-10-01 | Training `N` Technology, Inc. | Process and apparatus for converting spent etchants |
| JP3597250B2 (ja) * | 1995-03-31 | 2004-12-02 | 日本アクア株式会社 | エッチング液の再生方法およびエッチング液再生装置 |
| EP0854119A3 (en) * | 1996-12-20 | 1998-11-18 | Hoya Corporation | Etchant and method for etching chalcogenide glass and optical member having smooth surface |
| DE19719659A1 (de) * | 1997-05-09 | 1998-11-12 | Eilenburger Elektrolyse & Umwelttechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Kontrolle von Kupferbeizbädern |
| RU2203346C2 (ru) * | 2001-06-13 | 2003-04-27 | Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Центральный Научно-Исследовательский Институт Конструкционных Материалов "Прометей" | Аустенитная кремнистая сталь |
| KR100416989B1 (ko) * | 2001-07-16 | 2004-02-05 | (주)오알켐 | 전산화 에칭액 자동 공급장치 |
| KR20030006809A (ko) * | 2001-07-16 | 2003-01-23 | (주)오알켐 | 연속적인 작업과 공급이 가능토록 에칭작업액을재생시키는 조성물 및 그 공급방법 |
| US6616828B2 (en) * | 2001-08-06 | 2003-09-09 | Micron Technology, Inc. | Recovery method for platinum plating bath |
| DE10300597A1 (de) * | 2003-01-10 | 2004-07-22 | Eilenburger Elektrolyse- Und Umwelttechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur vollständigen Regenerierung von Metallchlorid-Ätzlösungen für Kupferwerkstoffe |
| KR101014009B1 (ko) | 2005-05-25 | 2011-02-22 | 강훈 | 현상 부식 박리 콘트롤러 |
| SE531697C2 (sv) * | 2007-07-11 | 2009-07-07 | Sigma Engineering Ab | Etsnings- och återvinningsförfarande |
| CN116200747B (zh) * | 2023-05-06 | 2023-07-18 | 汕头市精工东捷制版有限公司 | 基于印刷设备版辊铜层的喷淋式高精细深度腐蚀工艺 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB955000A (en) * | 1961-04-13 | 1964-04-08 | Marconi Co Ltd | Improvements in or relating to copper etching solutions |
| US3306792A (en) * | 1963-08-05 | 1967-02-28 | Siemens Ag | Continuously regenerating coppercontaining etching solutions |
| CH505213A (de) * | 1968-11-07 | 1971-03-31 | Saba Gmbh | Verfahren zum Ätzen von Kupfer und Kupferlegierungen, insbesondere von kupferkaschierten Schichtpressstoffen |
| DE2156699C3 (de) * | 1971-11-15 | 1975-07-03 | Chemcut Corp., State College, Pa. (V.St.A.) | Verfahren und Vorrichtung zum automatischen Regenerieren von KupferchloridÄtzmittellösungen |
| JPS5124537A (en) * | 1974-08-26 | 1976-02-27 | Hitachi Ltd | Etsuchinguyokuno saiseihoho |
| JPS53103942A (en) * | 1977-02-22 | 1978-09-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method and apparatus for etching of copper and copper alloy |
| JPS55152180A (en) * | 1979-05-14 | 1980-11-27 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Method for regeneration of copper chloride etching solution |
| DE2942504A1 (de) * | 1979-10-20 | 1981-04-30 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Aetzloesung zum aetzen von kupfer |
| DE3035864A1 (de) * | 1980-09-23 | 1982-05-06 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Vorrichtung zur regenerierung salzsaurer kupferchlorid-aetzloesungen |
-
1984
- 1984-10-19 EP EP84112630A patent/EP0178347B1/de not_active Expired
- 1984-10-19 DE DE8484112630T patent/DE3473891D1/de not_active Expired
- 1984-10-19 AT AT84112630T patent/ATE37047T1/de not_active IP Right Cessation
-
1985
- 1985-07-16 JP JP60155294A patent/JPS6199683A/ja active Granted
- 1985-10-15 US US06/787,560 patent/US4696717A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6199683A (ja) | 1986-05-17 |
| EP0178347A1 (de) | 1986-04-23 |
| EP0178347B1 (de) | 1988-09-07 |
| ATE37047T1 (de) | 1988-09-15 |
| US4696717A (en) | 1987-09-29 |
| DE3473891D1 (en) | 1988-10-13 |
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