JPS6369324A - 可変電流源 - Google Patents
可変電流源Info
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- JPS6369324A JPS6369324A JP62223833A JP22383387A JPS6369324A JP S6369324 A JPS6369324 A JP S6369324A JP 62223833 A JP62223833 A JP 62223833A JP 22383387 A JP22383387 A JP 22383387A JP S6369324 A JPS6369324 A JP S6369324A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is DC
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/22—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the bipolar type only
- G05F3/222—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the bipolar type only with compensation for device parameters, e.g. Early effect, gain, manufacturing process, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
- G05F3/225—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the bipolar type only with compensation for device parameters, e.g. Early effect, gain, manufacturing process, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage producing a current or voltage as a predetermined function of the temperature
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/10—Calibration or testing
- H03M1/1009—Calibration
- H03M1/1014—Calibration at one point of the transfer characteristic, i.e. by adjusting a single reference value, e.g. bias or gain error
- H03M1/1023—Offset correction
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/66—Digital/analogue converters
- H03M1/74—Simultaneous conversion
- H03M1/742—Simultaneous conversion using current sources as quantisation value generators
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野〕
本発明は可変電流源、例えばデジタル・アナログ変換器
(DAC)等に使用する可変人力基準信号に比例する1
以上の可変出力電流を得る回路に関する。
(DAC)等に使用する可変人力基準信号に比例する1
以上の可変出力電流を得る回路に関する。
DACは一般にN個の出力電流とNMiのスイッチとを
有し、各出力電流とスイッチとは対応する電圧又は電流
に変換されるNビットの入力デジタルワード各ビットに
対応する。各スイッチは出力電流の1つを、対応するビ
ットが真のとき負荷抵抗に供給し、その結果負荷抵抗に
供給される総合電流の大きさが入力デジタルワードの総
ての真のビットに対応する大きさの和になるようにする
。各出力電流の大きさが入力デジタルワードの対応ビッ
トの重み付は値に比例すると、負荷抵抗を流れる電流の
大きさはNビットワードの埴に比例する。
有し、各出力電流とスイッチとは対応する電圧又は電流
に変換されるNビットの入力デジタルワード各ビットに
対応する。各スイッチは出力電流の1つを、対応するビ
ットが真のとき負荷抵抗に供給し、その結果負荷抵抗に
供給される総合電流の大きさが入力デジタルワードの総
ての真のビットに対応する大きさの和になるようにする
。各出力電流の大きさが入力デジタルワードの対応ビッ
トの重み付は値に比例すると、負荷抵抗を流れる電流の
大きさはNビットワードの埴に比例する。
例えば、標準の二進エンコーディングでは、上位から下
位に向って1,2.・・・、Nデータビットとすると、
Pビット(ここでPは1乃至N間の任意整数)の値は(
P+1)ビットの値の2倍である。
位に向って1,2.・・・、Nデータビットとすると、
Pビット(ここでPは1乃至N間の任意整数)の値は(
P+1)ビットの値の2倍である。
従って、P番目のビットの出力電流は、1./2’−’
で表わされる。ここで10は基準電流の大きさとする。
で表わされる。ここで10は基準電流の大きさとする。
よって、負荷抵抗を流れる電流の総和は、入力デジタル
ワードと■。/2N−’ との積で表わすことができる
。
ワードと■。/2N−’ との積で表わすことができる
。
、掛算(マルチプライング) DACの場合、基準電流
I0の大きさが外部発生の基準信号に比例して調節可能
である。即ち、負荷抵抗両端の出力電圧は通常デジタル
ワードと基準信号との積に比例する。
I0の大きさが外部発生の基準信号に比例して調節可能
である。即ち、負荷抵抗両端の出力電圧は通常デジタル
ワードと基準信号との積に比例する。
以下、多電流源使用のDACの従来例を第3図を参照し
て簡単に説明する。DACQlは電流源アレイωを使用
してN個の出力電流り、It、・・・+INを生じる。
て簡単に説明する。DACQlは電流源アレイωを使用
してN個の出力電流り、It、・・・+INを生じる。
ここで、各出力電流と基準電流■□、との比は独立して
調整可能である。各出力電流T、−1,は電子スイッチ
SW、−3W、により2個の負荷抵抗RLI−RL2の
いずれか一方に供給される。各スイッチの状態はNピン
トのデジタルワードの各ビットBtJHにより制御され
る。各出力電流1.乃至INは夫々ベースが共通制in
M圧V、に接続され、エミッタが可変エミッタ抵抗Rt
l−R1Nを介して共通電位源Vatに接続されたNP
N )ランジスタ(以下TRと略す) Ql−QNの
コレクタに得られる。入力デジタルワードのビン)Bl
−8%が真(高レベル)であれば、そのビットで制御さ
れるスイッチSW+−511mは対応する電流II−I
NをRL+に流し、そのピントが偽(低レベル)の場合
には電流はRL2に流れる。電流+ + −1sの大き
さは、対応するビットBI−8,の重み付けに比例する
よう校正される0例えば、もし入力ワードとしてB、力
QISB(i上位)でBNがLSB(最下位)ピント
(即ちビットB、はピントBzの2倍の重み、ピッ)B
zはB、の2倍、・・・)の標準二進符号化法を用いる
と、電流11はI2の大きさの2倍で、IzはI3の2
倍、・・・である、よって、負44 RL 1に流れる
全電流及びRL、の両端電圧は、入力データワードの大
きさに比例する。
調整可能である。各出力電流T、−1,は電子スイッチ
SW、−3W、により2個の負荷抵抗RLI−RL2の
いずれか一方に供給される。各スイッチの状態はNピン
トのデジタルワードの各ビットBtJHにより制御され
る。各出力電流1.乃至INは夫々ベースが共通制in
M圧V、に接続され、エミッタが可変エミッタ抵抗Rt
l−R1Nを介して共通電位源Vatに接続されたNP
N )ランジスタ(以下TRと略す) Ql−QNの
コレクタに得られる。入力デジタルワードのビン)Bl
−8%が真(高レベル)であれば、そのビットで制御さ
れるスイッチSW+−511mは対応する電流II−I
NをRL+に流し、そのピントが偽(低レベル)の場合
には電流はRL2に流れる。電流+ + −1sの大き
さは、対応するビットBI−8,の重み付けに比例する
よう校正される0例えば、もし入力ワードとしてB、力
QISB(i上位)でBNがLSB(最下位)ピント
(即ちビットB、はピントBzの2倍の重み、ピッ)B
zはB、の2倍、・・・)の標準二進符号化法を用いる
と、電流11はI2の大きさの2倍で、IzはI3の2
倍、・・・である、よって、負44 RL 1に流れる
全電流及びRL、の両端電圧は、入力データワードの大
きさに比例する。
スイッチSWi は1対のTRQ、^−Qll+より成
り、両丁RのエミッタはTRQ、のコレクタに接続され
る。
り、両丁RのエミッタはTRQ、のコレクタに接続され
る。
TRQlm−Qlmのコレクタは夫々負荷抵抗RL、、
RLzを介して正電圧源VRに接続される。入力デジ
タルワードのMSBであるB、は[1+aのベースを駆
動し、他方0111のベースには基準電圧V。が印加さ
れる。
RLzを介して正電圧源VRに接続される。入力デジ
タルワードのMSBであるB、は[1+aのベースを駆
動し、他方0111のベースには基準電圧V。が印加さ
れる。
B1が真のとき、■□より高くなるので、QIAがオン
、Qllがオフとなり、電流■1は口、Aを介してRL
。
、Qllがオフとなり、電流■1は口、Aを介してRL
。
に流れる。逆に、B、が偽の場合には、vmI以下にな
り、Qlmがオン、Qlmがオフとなるので、電流11
は口、、を介してRL、へ送られる。他のスイッチsw
、−sw、についてもSWI と同様に動作するが、5
6−5W−は夫々ビットB2−81により制御される。
り、Qlmがオン、Qlmがオフとなるので、電流11
は口、、を介してRL、へ送られる。他のスイッチsw
、−sw、についてもSWI と同様に動作するが、5
6−5W−は夫々ビットB2−81により制御される。
また、スイッチ籏z−sWsのTRQga−QsA及び
Qlm −QNIの各共通エミッタは夫々TRQl−Q
Nのコレクタに接続されて電流l2−Isを切換える。
Qlm −QNIの各共通エミッタは夫々TRQl−Q
Nのコレクタに接続されて電流l2−Isを切換える。
各TRQl−QNのベースに印加されるfi制御電圧V
Cは閏利得、高入力インピーダンスの演算増幅器^。
Cは閏利得、高入力インピーダンスの演算増幅器^。
で発生する。また、■、は別のNPN型TRロ。のベー
スにも印加する。そのエミッタは抵抗Rtoを介してv
ttに印加され、コレクタはNPN型TRQaのエミッ
タに接続する。QAのベースにはベースバイアス電圧V
□A3が印加され、コレクタはA1の非反転入力に接続
される。これによりQ、及びQAを介してA、の負帰還
ループを形成する。外部可変基準電圧源V□Fを八、の
非反転入力に抵抗R,を介して接続し、A、の反転入力
は接地する。この構成により、A1の反転及び非反転入
力は共に略接地電位として、基準電流I□F(・V□y
/R+)がR3を介してQAのコレクタに流入するよう
にする。そこで、QAは略■□、と等しいエミッタ電流
■。をQ、のコレクタに流す、負81!還ループにより
、A+はQoのベース電流1□。が1゜をQ、の電流利
得で除した値と等しくなるようにする大きさの制御電圧
出力VCを生じる。特に、出力電圧V、はvcとvoの
差v8が路次式で表される値となる。
スにも印加する。そのエミッタは抵抗Rtoを介してv
ttに印加され、コレクタはNPN型TRQaのエミッ
タに接続する。QAのベースにはベースバイアス電圧V
□A3が印加され、コレクタはA1の非反転入力に接続
される。これによりQ、及びQAを介してA、の負帰還
ループを形成する。外部可変基準電圧源V□Fを八、の
非反転入力に抵抗R,を介して接続し、A、の反転入力
は接地する。この構成により、A1の反転及び非反転入
力は共に略接地電位として、基準電流I□F(・V□y
/R+)がR3を介してQAのコレクタに流入するよう
にする。そこで、QAは略■□、と等しいエミッタ電流
■。をQ、のコレクタに流す、負81!還ループにより
、A+はQoのベース電流1□。が1゜をQ、の電流利
得で除した値と等しくなるようにする大きさの制御電圧
出力VCを生じる。特に、出力電圧V、はvcとvoの
差v8が路次式で表される値となる。
Vm −Vc−ht= IoXR2o+Vsi。
ここでV□。はTRQoのベース・エミッタ間電圧であ
る。 Q、−Q、のベース・エミッタ間電圧がQoのベ
ース・エミッタ間電圧と略等しいと仮定すると、Ql−
QHのエミッタはQ、のエミッタと略同電位である。従
って、Ip/I。の値はRo。/Rア、と略等しい、よ
って、DACfilが標準の二進符号化入力ワードを変
換するよう構成されていると仮定すると、REI”Rf
。となるようRlIを調整して11=1゜とする。
る。 Q、−Q、のベース・エミッタ間電圧がQoのベ
ース・エミッタ間電圧と略等しいと仮定すると、Ql−
QHのエミッタはQ、のエミッタと略同電位である。従
って、Ip/I。の値はRo。/Rア、と略等しい、よ
って、DACfilが標準の二進符号化入力ワードを変
換するよう構成されていると仮定すると、REI”Rf
。となるようRlIを調整して11=1゜とする。
またR1・2Rz。として、Ig=I*/2.・・・の
如< atr。
如< atr。
Ro、・・・、Roを調整する。
しかし、TRQo−Q−のベース・エミッタ電圧が等し
いという仮定は、常に有効ではない、 TRQa−Q、
をIC化することによりその値を略等しくすることは可
能であるが、その場合には各TRのエミッタ面積を流す
電流に比例して設計する必要があり、これが更に各Tl
?のベース・エミッタ間電圧のバラツキを制限し、製造
工程のバラツキ及び不純物誤差等から各TR間のベース
・エミッタ電圧の不揃を避けることができなくなる。従
って、Ioに対するL−1sの比はR2゜とエミッタ抵
抗R□−11ti+の比に精密に対応しない、更に、低
電流レベルでは、ベース・エミッタ電圧の不揃はR11
−RlNとRtllの比を正しく定めてもI+−1sと
10の比に比較的大きい不揃が生じる。また、R1゜−
11ti+が固定していれば(調整不能)、これらは製
造工程の許容誤差により設計値から僅かに外れることと
なる。従って、高精度が好ましい場合には、R□−RI
Mは可変抵抗とすることが必要であるe Rtl−R
t、I7!l<調整されると、ビットB1を真とし抵抗
R□を調整してI、の値がRLIの両端に正しい電圧が
測定できるよう11を校正する。同様にしてI!−IN
も順次Bt−Bsを高レベルとしてR1!4tNを調整
し、l?L、両端に正しい出力電圧が現れるようにする
。′:4流電流レイ叩の出力電流1+−1xをこのよう
に校正すると、従来のDACQlは各TRのベース・エ
ミッタ電圧が異なる場合でも、基準電圧’btrが一定
で電流源プレイ亜が校正され、Rtl−RtNiQ端の
電圧降下;l’l’Q@−Q、l (7)ベース・エミ
ッタ電圧の不揃い値に比して十分大きければ、相当高精
度とすることが可能である。
いという仮定は、常に有効ではない、 TRQa−Q、
をIC化することによりその値を略等しくすることは可
能であるが、その場合には各TRのエミッタ面積を流す
電流に比例して設計する必要があり、これが更に各Tl
?のベース・エミッタ間電圧のバラツキを制限し、製造
工程のバラツキ及び不純物誤差等から各TR間のベース
・エミッタ電圧の不揃を避けることができなくなる。従
って、Ioに対するL−1sの比はR2゜とエミッタ抵
抗R□−11ti+の比に精密に対応しない、更に、低
電流レベルでは、ベース・エミッタ電圧の不揃はR11
−RlNとRtllの比を正しく定めてもI+−1sと
10の比に比較的大きい不揃が生じる。また、R1゜−
11ti+が固定していれば(調整不能)、これらは製
造工程の許容誤差により設計値から僅かに外れることと
なる。従って、高精度が好ましい場合には、R□−RI
Mは可変抵抗とすることが必要であるe Rtl−R
t、I7!l<調整されると、ビットB1を真とし抵抗
R□を調整してI、の値がRLIの両端に正しい電圧が
測定できるよう11を校正する。同様にしてI!−IN
も順次Bt−Bsを高レベルとしてR1!4tNを調整
し、l?L、両端に正しい出力電圧が現れるようにする
。′:4流電流レイ叩の出力電流1+−1xをこのよう
に校正すると、従来のDACQlは各TRのベース・エ
ミッタ電圧が異なる場合でも、基準電圧’btrが一定
で電流源プレイ亜が校正され、Rtl−RtNiQ端の
電圧降下;l’l’Q@−Q、l (7)ベース・エミ
ッタ電圧の不揃い値に比して十分大きければ、相当高精
度とすることが可能である。
応用例によっては、このDACQlの基準電圧V□。
を変化さセて掛算型DACとしてDACQlを使用した
い場合もある。 RL、の両端電圧は通常Vwip
(又はLevy )と入力デジタルワードの大きさの積
に比例するので、こ0DACQlはマルチプライヤとし
て動作する0例えば、VRtWは別のDACを用いて入
力データワードに比例して発生し、第2のデータワード
をDAC(lΦの入力データとして印加してもよい。こ
の構成により、RLI の両端電圧は2つの大男データ
ワードの積に比例する。従来の電流源プレイ(2)を用
いて掛算型DACを得る場合の1つの問題はTRQl−
QNのベース・エミッタ電圧は一般にTRQoのそれと
は同じではない。R□−Rt、Iは調節して上述したと
おり電流源の校正時にベース・エミッタ電圧差を補償す
ることができるが、この補償は校正プロセスで使用する
基準電圧の特定の値及び校正を行う特定温度で可能であ
るのみである。例えば、TR口、のベース・エミッタ電
圧がQ。
い場合もある。 RL、の両端電圧は通常Vwip
(又はLevy )と入力デジタルワードの大きさの積
に比例するので、こ0DACQlはマルチプライヤとし
て動作する0例えば、VRtWは別のDACを用いて入
力データワードに比例して発生し、第2のデータワード
をDAC(lΦの入力データとして印加してもよい。こ
の構成により、RLI の両端電圧は2つの大男データ
ワードの積に比例する。従来の電流源プレイ(2)を用
いて掛算型DACを得る場合の1つの問題はTRQl−
QNのベース・エミッタ電圧は一般にTRQoのそれと
は同じではない。R□−Rt、Iは調節して上述したと
おり電流源の校正時にベース・エミッタ電圧差を補償す
ることができるが、この補償は校正プロセスで使用する
基準電圧の特定の値及び校正を行う特定温度で可能であ
るのみである。例えば、TR口、のベース・エミッタ電
圧がQ。
のそれより大きいと、RtlをR1゜より幾分小さい値
に調整してIo・11 となるようにする必要がある。
に調整してIo・11 となるようにする必要がある。
しかし、Q、とQlのベース・エミッタ電圧差を補償す
るに要するRえ、の減少量は、Rtlを流れる電流りに
依存する。もし11が大きいと、必要とする抵抗の減少
量は11が小さい場合よりも減少する。その結果、出力
電流ll−l1lがvmyyを変化することにより校正
値から増減する場合には、出力電流1l−INと電fi
Ioの比の比例関係と1.−1.間の比の比例関係とは
変化し、よって[lACの精度を低下する。
るに要するRえ、の減少量は、Rtlを流れる電流りに
依存する。もし11が大きいと、必要とする抵抗の減少
量は11が小さい場合よりも減少する。その結果、出力
電流ll−l1lがvmyyを変化することにより校正
値から増減する場合には、出力電流1l−INと電fi
Ioの比の比例関係と1.−1.間の比の比例関係とは
変化し、よって[lACの精度を低下する。
よッテ、I+−1+tとIocD比はvo、(又はI+
+ip )の特定の1つの値につき正確に調整できるが
、V□、をその校正値から増減すると、この比は一定に
ならないので、DACの精度が低下する。また、温度が
変化すると、Qo−Qt+間のベース・エミッタ電圧差
が変わり、L−1s間の比を変更する。従って、基準信
号電圧を変化しても、また温度が変化しても複数の出力
T4電流の比が一定関係になる可変?it流源が必要と
なる。
+ip )の特定の1つの値につき正確に調整できるが
、V□、をその校正値から増減すると、この比は一定に
ならないので、DACの精度が低下する。また、温度が
変化すると、Qo−Qt+間のベース・エミッタ電圧差
が変わり、L−1s間の比を変更する。従って、基準信
号電圧を変化しても、また温度が変化しても複数の出力
T4電流の比が一定関係になる可変?it流源が必要と
なる。
(発明の目的〕
従って、本発明の1つの目的は可変基準信号に比例する
大きさの1以上の出力電流を生しる電流源を捷供するこ
とである。
大きさの1以上の出力電流を生しる電流源を捷供するこ
とである。
本発明の他の目的は基準信号と出力電流の大きさの比が
基準信号の大きさの変化に対して略一定にとどまる可変
電流源を堤供することである。
基準信号の大きさの変化に対して略一定にとどまる可変
電流源を堤供することである。
本発明の別の目的は出力電流の大きさが温度変化に殆ん
ど影響を受けない可変電流源を捷供することである。
ど影響を受けない可変電流源を捷供することである。
本発明の1つの側面に依ると、電流源はN11個のTR
を使用して、可変基準電流に比例する大きさのN個の出
力電流を生じる。各TRのエミッタは別のエミッタ抵抗
を介して共通電位に結合し、各TRのベースを共通制御
電圧を各TR毎に個別に調整可能な量だけオフセットし
て駆動する。制御電圧vcは反転入力が接地され、非反
転入力が第1TRのコレクタに接続されると共に抵抗を
介して可変基準電圧源に接続された演算増幅器により得
る。基準電圧は対応する基準?it流を第1TRのコレ
クタに流し、残りのN個のTRの各々はそのコレクタに
N個の出力電流の1つを流す、各出力電流の基準電流に
対する比は出力ttILを供給するTHのエミッタ抵抗
を調整することにより制御する。各TRベースの制御電
圧オフセットは、総てのTRのエミッタが略同じ電位で
TR間のベース・エミッタ電圧の差を補償し、各出力電
流と基準電流の比が基準電流の大きさの可変範囲全体に
わたり略一定にとどまるように調節される。
を使用して、可変基準電流に比例する大きさのN個の出
力電流を生じる。各TRのエミッタは別のエミッタ抵抗
を介して共通電位に結合し、各TRのベースを共通制御
電圧を各TR毎に個別に調整可能な量だけオフセットし
て駆動する。制御電圧vcは反転入力が接地され、非反
転入力が第1TRのコレクタに接続されると共に抵抗を
介して可変基準電圧源に接続された演算増幅器により得
る。基準電圧は対応する基準?it流を第1TRのコレ
クタに流し、残りのN個のTRの各々はそのコレクタに
N個の出力電流の1つを流す、各出力電流の基準電流に
対する比は出力ttILを供給するTHのエミッタ抵抗
を調整することにより制御する。各TRベースの制御電
圧オフセットは、総てのTRのエミッタが略同じ電位で
TR間のベース・エミッタ電圧の差を補償し、各出力電
流と基準電流の比が基準電流の大きさの可変範囲全体に
わたり略一定にとどまるように調節される。
本発明の他の側面によると、各THの制御電圧オフセッ
トは電流源の絶対温度に比例し、TRのベース・エミッ
タ電圧が温度と共に変化するのを補償する。これにより
、TRコレクタ電流が電流源の温度変化に拘わらす略一
定に維持されることを保証する。
トは電流源の絶対温度に比例し、TRのベース・エミッ
タ電圧が温度と共に変化するのを補償する。これにより
、TRコレクタ電流が電流源の温度変化に拘わらす略一
定に維持されることを保証する。
第1図は本発明に依る可変電流源を有するDAC(至)
の回路図を示す、このDAC(至)は第3図の従来DA
Ca1と類似するが、第3図の従来電流源アレイ(2)
を変更して本発明による改良された可変電流源アレイ(
22)を使用している。電流源アレイ(22)では、T
RQ、−QNのベースは、増幅器Atの制御電圧出力V
Cに直接接続されず、対応するベース抵抗R1゜−Rw
sを介して制御電圧vcに接続されている。更に、別の
電流源I、。−ISNを各TRQO−QNのベースとv
0間に挿入している。各電流源I、。−13%と対応す
るベース抵抗R,。−RIMが協力してベース抵抗Rm
。−R1l1間にオフセット電圧を生じ、対応するTR
Qo−QNのベースに印加する前に制御電圧VCをオフ
セットし、TRQe−QHのベース電流1.。−1゜を
駆動する。各ベース抵抗R□−Rs+i両端間に生じる
オフセット電圧の大きさはベース抵抗RII4mNを調
節することにより311節される。
の回路図を示す、このDAC(至)は第3図の従来DA
Ca1と類似するが、第3図の従来電流源アレイ(2)
を変更して本発明による改良された可変電流源アレイ(
22)を使用している。電流源アレイ(22)では、T
RQ、−QNのベースは、増幅器Atの制御電圧出力V
Cに直接接続されず、対応するベース抵抗R1゜−Rw
sを介して制御電圧vcに接続されている。更に、別の
電流源I、。−ISNを各TRQO−QNのベースとv
0間に挿入している。各電流源I、。−13%と対応す
るベース抵抗R,。−RIMが協力してベース抵抗Rm
。−R1l1間にオフセット電圧を生じ、対応するTR
Qo−QNのベースに印加する前に制御電圧VCをオフ
セットし、TRQe−QHのベース電流1.。−1゜を
駆動する。各ベース抵抗R□−Rs+i両端間に生じる
オフセット電圧の大きさはベース抵抗RII4mNを調
節することにより311節される。
ベース抵抗Rs+4m+i両端のオフセット電圧を調節
して各TRQ、−Q、のベース・エミッタ間とTRQ。
して各TRQ、−Q、のベース・エミッタ間とTRQ。
のベース・エミッタ電圧間の差を補償し、その結果、各
TRQO−QNが基1!電圧VIlKF及び基準電流I
0の任意の値に対して同じ値としている− QO−Q
Nのエミッタ電位はVRlFが変化すると変化するが、
変化量は同じであるので、■、に対する出力電流!。
TRQO−QNが基1!電圧VIlKF及び基準電流I
0の任意の値に対して同じ値としている− QO−Q
Nのエミッタ電位はVRlFが変化すると変化するが、
変化量は同じであるので、■、に対する出力電流!。
−INの比は一定に維持される。従って、エミッタ抵抗
Rtl−RtNはベース・エミッタ電圧差を補償する為
に!l!整する必要がなく、■。に対するII−INの
比を設定する為にR1゜とR1141%の比を予め設定
しておけばよい、その結果、これらの比はI□。
Rtl−RtNはベース・エミッタ電圧差を補償する為
に!l!整する必要がなく、■。に対するII−INの
比を設定する為にR1゜とR1141%の比を予め設定
しておけばよい、その結果、これらの比はI□。
の変化によりエミッタ抵抗を流れる電流の変化に影響さ
れない。
れない。
多数の電流源アレイ(22)を校正するには、VllF
を最初低い値に設定して、Rt1142N両端の電圧降
下が大きくない(例えば1.とRioの積が好ましくは
約1mV以下になる)ように、電流1o−1sを十分小
さい値にする。ビットLを高レベルとし、負荷抵抗RL
+を流れる電流が既知の1m1tF入力値とデジタル入
力ワード(即ちB、が真でBt−BNが偽)値に対して
正しい大きさとなるようR□を(ICのレーザトリミン
グ等により)調整する。これにより次式が成立すること
となる。
を最初低い値に設定して、Rt1142N両端の電圧降
下が大きくない(例えば1.とRioの積が好ましくは
約1mV以下になる)ように、電流1o−1sを十分小
さい値にする。ビットLを高レベルとし、負荷抵抗RL
+を流れる電流が既知の1m1tF入力値とデジタル入
力ワード(即ちB、が真でBt−BNが偽)値に対して
正しい大きさとなるようR□を(ICのレーザトリミン
グ等により)調整する。これにより次式が成立すること
となる。
Vmxo+(Is+++Ims)Rso−Vmx++(
13++Ig+)Rm+ここで、■□。はU、のベース
・エミッタ電圧でアリ、V□1はQ、のベース・エミッ
タ電圧である。
13++Ig+)Rm+ここで、■□。はU、のベース
・エミッタ電圧でアリ、V□1はQ、のベース・エミッ
タ電圧である。
次に、ピントB2を高レベルとし、R1□をilJ整し
てRL、を流れる電流が、ピッ)BZが真でビットB1
と83−BNが偽である場合の正しい値に設定する0以
上のプロセスを入力ワードの8.−BNの各ビットにつ
き行い、総てのベース抵抗R□−RINのil!整を同
様に行う、ベース抵抗R□−RIMの校正が完了すると
、各ベース抵抗両端のオフセット電圧はベース抵抗R1
1の両端電圧からオフセットしており、そのオフセット
量は、各TRQl−QNのベース・エミッタ電圧とTR
Qeのベース・エミッタ電圧の差を補償する異なる値で
あり、その結果Qo−(1+の総てのエミッタ電圧はあ
らゆるI□、の値に対して殆んど同電位になる* R
tl−Ril1両端電位は総て無視できるので、Rtl
−RtHの値が理想設定値から多少外れていてもR□−
RIMの調整精度には大きな影響はない。
てRL、を流れる電流が、ピッ)BZが真でビットB1
と83−BNが偽である場合の正しい値に設定する0以
上のプロセスを入力ワードの8.−BNの各ビットにつ
き行い、総てのベース抵抗R□−RINのil!整を同
様に行う、ベース抵抗R□−RIMの校正が完了すると
、各ベース抵抗両端のオフセット電圧はベース抵抗R1
1の両端電圧からオフセットしており、そのオフセット
量は、各TRQl−QNのベース・エミッタ電圧とTR
Qeのベース・エミッタ電圧の差を補償する異なる値で
あり、その結果Qo−(1+の総てのエミッタ電圧はあ
らゆるI□、の値に対して殆んど同電位になる* R
tl−Ril1両端電位は総て無視できるので、Rtl
−RtHの値が理想設定値から多少外れていてもR□−
RIMの調整精度には大きな影響はない。
次に基準電圧V□、をフルスケール値(it大値)に増
加して、エミッタ抵抗RI14INを順次各B+−Bs
ビットを真とし、対応するエミッタ抵抗R□−11tx
を調整し、負荷抵抗RLIを流れる電流が入力データワ
ードとフルスケールのV*HFに対する正しい大きさと
なるよう校正する。その結果、1+−1,4の比は相互
に希望した二進重み付は値に正確に設定されることとな
る。第1図の電流源アレイ(22)を上述の如く校正す
ると、■、とll−1,1間の比は、TRQo−Q、間
のベース・エミッタ電圧にバラツキがあっても、Vll
!Fのフルスケールレンジにねたり略一定に維持される
。よって、第1図のDACelは本発明による改良され
た多電流源アレイ(22)を用いており、従来回路より
一店正確であり、掛算型DACとして使用するのに適し
ている。即ち、第3図の従来の電流源アレイの場合の如
<IIIEFが変化すると電流比が校正値からずれるこ
とがない。
加して、エミッタ抵抗RI14INを順次各B+−Bs
ビットを真とし、対応するエミッタ抵抗R□−11tx
を調整し、負荷抵抗RLIを流れる電流が入力データワ
ードとフルスケールのV*HFに対する正しい大きさと
なるよう校正する。その結果、1+−1,4の比は相互
に希望した二進重み付は値に正確に設定されることとな
る。第1図の電流源アレイ(22)を上述の如く校正す
ると、■、とll−1,1間の比は、TRQo−Q、間
のベース・エミッタ電圧にバラツキがあっても、Vll
!Fのフルスケールレンジにねたり略一定に維持される
。よって、第1図のDACelは本発明による改良され
た多電流源アレイ(22)を用いており、従来回路より
一店正確であり、掛算型DACとして使用するのに適し
ている。即ち、第3図の従来の電流源アレイの場合の如
<IIIEFが変化すると電流比が校正値からずれるこ
とがない。
次に温度特性につき検討する。第3図の[lAC01に
使用した電流源アレイ儲では、Qe−QNの各ベース・
エミッタ電圧はTHの絶対温度に反比例するので、回路
素子の温度が変化するとQs−Qsのベース・エミッタ
電圧が変化し、その結果II−INとIoの比が変化し
た。しかし、第1図の本発明による電流源アレイ(22
)では、電流源!、。−1311はベース抵抗R1*−
RIMを流れる電流が絶対温度に比例する。
使用した電流源アレイ儲では、Qe−QNの各ベース・
エミッタ電圧はTHの絶対温度に反比例するので、回路
素子の温度が変化するとQs−Qsのベース・エミッタ
電圧が変化し、その結果II−INとIoの比が変化し
た。しかし、第1図の本発明による電流源アレイ(22
)では、電流源!、。−1311はベース抵抗R1*−
RIMを流れる電流が絶対温度に比例する。
この絶対温度に比例する電流はR1@−R□の両端のオ
フセン)電圧も絶対温度に比例するので、温度変化によ
り生じるTRQeJwのベース・エミッタ間電圧はR1
゜−R□両端にオフセット電圧の補償変化を生じる。こ
れにより、各ベース・エミッタ電圧と対応する絶対温度
に比例する可変オフセット電圧との和は温度変化に関係
なく実質的に一定となる。もし、R1゜−11t、が希
望する比に調整されていれば、Qs4xのコレクタ電流
比も温度変化及びV□、の変化に関係なく所定比である
。
フセン)電圧も絶対温度に比例するので、温度変化によ
り生じるTRQeJwのベース・エミッタ間電圧はR1
゜−R□両端にオフセット電圧の補償変化を生じる。こ
れにより、各ベース・エミッタ電圧と対応する絶対温度
に比例する可変オフセット電圧との和は温度変化に関係
なく実質的に一定となる。もし、R1゜−11t、が希
望する比に調整されていれば、Qs4xのコレクタ電流
比も温度変化及びV□、の変化に関係なく所定比である
。
第2図につき説明する。同図は第1図の出力電流1.。
−1,8を発生する回路の詳細回路図を示す。
13゜−13Nの各発生回路は1&Ilの同様のNPN
型TRQ、。−QiNを含んでいる。各TRQmo−Q
iNのエミッタは夫々対応するエミッタ抵抗1?so−
!tsMを介して第1図の基準電圧源Vtaに接続し、
各ベースは高利得の演算増幅HA2の出力V、で駆動さ
れる。増幅器^2の出力は抵抗R4を介してNPN型T
RQrと直接Q。
型TRQ、。−QiNを含んでいる。各TRQmo−Q
iNのエミッタは夫々対応するエミッタ抵抗1?so−
!tsMを介して第1図の基準電圧源Vtaに接続し、
各ベースは高利得の演算増幅HA2の出力V、で駆動さ
れる。増幅器^2の出力は抵抗R4を介してNPN型T
RQrと直接Q。
のベースにも接続している* Qllのエミッタはエ
ミッタ抵抗R3を介してV、に接続し、そのコレクタは
抵抗R1を介して制御電圧Vc (第1図のA、で発
生)に結合されると共に直接他のNPN型TRQ、のベ
ースに゛も接続される。Qtのエミッタは抵抗R0を介
してV□に接続する。QoのコレクタはNPN型TRQ
Jのエミッタに接続し、QJのコレクタは電圧RVcc
に接続している。
ミッタ抵抗R3を介してV、に接続し、そのコレクタは
抵抗R1を介して制御電圧Vc (第1図のA、で発
生)に結合されると共に直接他のNPN型TRQ、のベ
ースに゛も接続される。Qtのエミッタは抵抗R0を介
してV□に接続する。QoのコレクタはNPN型TRQ
Jのエミッタに接続し、QJのコレクタは電圧RVcc
に接続している。
TRQtとQJとは第1図のTRloと同様であり、抵
抗R1とR1は夫々第1図の抵抗R1゜とR8,と同じ
抵抗値を有する。よって、Q、に供給されるベース電流
!、と0□に供給されるベース電流lemとは第1図の
TRQ・に供給されるベース電流■、。
抗R1とR1は夫々第1図の抵抗R1゜とR8,と同じ
抵抗値を有する。よって、Q、に供給されるベース電流
!、と0□に供給されるベース電流lemとは第1図の
TRQ・に供給されるベース電流■、。
と実質的に等しい大きさである。ベース電流1mAはこ
れと等しい大きさの出力電流Ims及びImCを生じる
電流ミラー(30)から供給される。これは第1図の電
流!、。とも等しい大きさである。電流11CはTRQ
yのベース及び抵抗R4の接続点に供給する。
れと等しい大きさの出力電流Ims及びImCを生じる
電流ミラー(30)から供給される。これは第1図の電
流!、。とも等しい大きさである。電流11CはTRQ
yのベース及び抵抗R4の接続点に供給する。
QFのベース電流は小さいので、R4両端の電圧降下は
実質的にInc X Raに等しい。
実質的にInc X Raに等しい。
Q、のコレクタはyecに接続されs QFのエミッ
タは2つの直列抵抗Rs4*を介してvwiに接続され
る。1対のNPN型TRQc+と[lciのコレクタが
夫々増幅器Amの非反転及び反転入力と等しい抵抗Rz
a−Ramを介してVCCに接続される* [lc+
と[lctのエミッタは共通接続して電流源(32)を
介して11txに接続される。RSの両端電圧をQCI
と(lciのベースに印加する。QCIとOCZのエミ
ッタ面積は(夫々AREAI%AREA2で)異なり、
Rs両端に電位差V、を生じる。■、の大きさは、次式
で制御される。
タは2つの直列抵抗Rs4*を介してvwiに接続され
る。1対のNPN型TRQc+と[lciのコレクタが
夫々増幅器Amの非反転及び反転入力と等しい抵抗Rz
a−Ramを介してVCCに接続される* [lc+
と[lctのエミッタは共通接続して電流源(32)を
介して11txに接続される。RSの両端電圧をQCI
と(lciのベースに印加する。QCIとOCZのエミ
ッタ面積は(夫々AREAI%AREA2で)異なり、
Rs両端に電位差V、を生じる。■、の大きさは、次式
で制御される。
Vt = Vat(Qci) Vat(Qct)ここ
でVat(Qcx)、 VIE(QCI)は夫々TRQ
cz、Qctのベース・エミッタ間電圧である。 V
IE(QCI)は(に・T/q) 1 *(1c+/1
st)であり、ここでICIはQCtのコレクタ電流、
Illは飽和電流、Kはポルツマン定数、Tは回路の絶
対温度、qは電子の!荷である。同様に、Vat(Qc
t)は(K−T八) 1−(let/l5i)である、
ここでIC1と1゜とは+lciのコレクタ及び飽和電
流である。よって、次式が成立する。
でVat(Qcx)、 VIE(QCI)は夫々TRQ
cz、Qctのベース・エミッタ間電圧である。 V
IE(QCI)は(に・T/q) 1 *(1c+/1
st)であり、ここでICIはQCtのコレクタ電流、
Illは飽和電流、Kはポルツマン定数、Tは回路の絶
対温度、qは電子の!荷である。同様に、Vat(Qc
t)は(K−T八) 1−(let/l5i)である、
ここでIC1と1゜とは+lciのコレクタ及び飽和電
流である。よって、次式が成立する。
Vt=(K−T/q) j! a(Icy/l5x)−
(K4/q) It 、(Ic+/Ig+)ここでIc
1l!lIC!であるので、VtJLT/q) l *
(Ill/1st)また、■1と1stとは[lc+と
Qc!のエミッタ面積AREA+、AREAxに比例す
るので、VT=(K−T/Q) It 11(AREA
I/AREAt)上式から明らかなとおり、VTは絶対
温度Tに比例する。RSを流れる絶対温度に比例する電
流bTAアはVT/R5である。QCIの微小ベース電
流を無視すると共にR3とR4の比をRs+Ri・R1
とすると、R2及びR6両端の電圧Vptht・bva
t X Ra トナル。
(K4/q) It 、(Ic+/Ig+)ここでIc
1l!lIC!であるので、VtJLT/q) l *
(Ill/1st)また、■1と1stとは[lc+と
Qc!のエミッタ面積AREA+、AREAxに比例す
るので、VT=(K−T/Q) It 11(AREA
I/AREAt)上式から明らかなとおり、VTは絶対
温度Tに比例する。RSを流れる絶対温度に比例する電
流bTAアはVT/R5である。QCIの微小ベース電
流を無視すると共にR3とR4の比をRs+Ri・R1
とすると、R2及びR6両端の電圧Vptht・bva
t X Ra トナル。
増幅器A2の出力電圧V、は次のようになる。
Vo−Vtt+Vprat+Vmt−(Imo X R
4)ここでVIEはIIIFのベース・エミッタ間電圧
であり Iao□Imcであるe VllはQlll−
QINとQ、のベースに接続される。TRQs。−To
llはQ、と類似し、同様のベース・エミッタ電圧V、
と類似し、抵抗R8゜−I?smはいずれもR4と同じ
大きさの抵抗である。
4)ここでVIEはIIIFのベース・エミッタ間電圧
であり Iao□Imcであるe VllはQlll−
QINとQ、のベースに接続される。TRQs。−To
llはQ、と類似し、同様のベース・エミッタ電圧V、
と類似し、抵抗R8゜−I?smはいずれもR4と同じ
大きさの抵抗である。
上述の式を書き換えると、各抵抗R3゜4sN両端電圧
は、 Ve−Vmg−Vit・Vryat−(Imo X R
4)各抵抗R3゜−RANの債がR4と等しい限り、対
応する抵抗R8゜−R2Hを流れて供給される各TRQ
l。−Qいのエミッタ電流は対応する抵抗両端電圧をR
4で除して計算でき、よってVrtay/Ra−1m。
は、 Ve−Vmg−Vit・Vryat−(Imo X R
4)各抵抗R3゜−RANの債がR4と等しい限り、対
応する抵抗R8゜−R2Hを流れて供給される各TRQ
l。−Qいのエミッタ電流は対応する抵抗両端電圧をR
4で除して計算でき、よってVrtay/Ra−1m。
と等しい。
Rs+Rh=R*テあり、VpvAy/ (Rs+R4
:J4ptatであるので、VpvAy/Rn□I p
iay テある。従−yて、各TRQl。
:J4ptatであるので、VpvAy/Rn□I p
iay テある。従−yて、各TRQl。
−QINのエミッタ電流は対応する抵抗R8゜−1?s
sから供給され、hTk14N。である、Q、。−0,
、Iのコレクタ1を流は対応するエミッタ電流と (約
1%の差で)実質的に等しい、従って、各TRQl。−
01Mのコレクタ1塊は実質的にIPTA?−11゜と
等しい。
sから供給され、hTk14N。である、Q、。−0,
、Iのコレクタ1を流は対応するエミッタ電流と (約
1%の差で)実質的に等しい、従って、各TRQl。−
01Mのコレクタ1塊は実質的にIPTA?−11゜と
等しい。
第1図において、TRQlが供給するベース電流は■3
eであり、Q、に供給するベース電流1□は1、。であ
る、従って、もしIseとIllとが1□14m5に等
しければ、R3゜とR□を流れる電流はbvatと等し
い* IPTATO値を第2図のRs、Ra及び/又
はTRQclとClewのエミツタ面積比を選択するこ
とによりR1@XIデ?ATが約5乃至20mVのレン
ジとなるようにすると、温度変化によるTRQl−QN
間のベース・エミッタ電圧差の変化は、Rm。
eであり、Q、に供給するベース電流1□は1、。であ
る、従って、もしIseとIllとが1□14m5に等
しければ、R3゜とR□を流れる電流はbvatと等し
い* IPTATO値を第2図のRs、Ra及び/又
はTRQclとClewのエミツタ面積比を選択するこ
とによりR1@XIデ?ATが約5乃至20mVのレン
ジとなるようにすると、温度変化によるTRQl−QN
間のベース・エミッタ電圧差の変化は、Rm。
−R□が調整されQ、−Q、のベース・エミッタ電圧差
を補償した後では、IPTinの変化によりもたらされ
るR11141Nのオフセット電圧の変動により実質的
に補償することができる。
を補償した後では、IPTinの変化によりもたらされ
るR11141Nのオフセット電圧の変動により実質的
に補償することができる。
第1図の02に供給されるベース電流は、I8・1./
2であるので、Q、又はQlに供給されるベース電流の
大きさ1.。の約半分である。その結果、R□の電流が
I□1である為には、LszはIptat−1m。/2
でなければならない、第2図において、Qoのコレクタ
電流は、Q、・とQaNが同様でありR3゜とRszが
同様であるので、Qs、のコレクタ電流!、。と同じ大
きさくIpyay−1so)を存する。Isi□Irt
at−1m、/2とする為に、1つ。/2の値を有する
電流I□、をQl!のコレクタ電流に加算する。同様に
、第1図のTRQ3−QNに供給されるベースTLfL
は1.zノ2ト1と略等しい、ここで、PはTRの番号
である。よって、Itsp −11@(1−2’−’) の大きさを有する電流1mmg−1□、が第2図のTR
Q■−Q□のコレクタ電流に加算されてl5z−1sN
を生じる。it流I□ff1−111NはNPN型TR
Q+z−QINより成る拡大カレントミラー(34)で
作られ、そのコレクタに電流1asg−1sinを生じ
るe Q+t−QINのエミッタは1&Ilの抵抗R
X!−RXNを介してVttに結合され、Ql□−QI
NのベースはTRQ、のベースとTRQoのエミッタに
接続される。QGのコレクタはVCCに接続され、Q、
のエミッタは抵抗R,を介してV、に接続され、Ooの
コレクタはQGのベースに接続される。カレントミラー
(30)の電流出力1mlはQ、とQ。のベース・コレ
クタ接続点に供給する。カレントミラー(32)は周知
の方法で動作して、次式により15.の関数で電流I□
、を生じる。
2であるので、Q、又はQlに供給されるベース電流の
大きさ1.。の約半分である。その結果、R□の電流が
I□1である為には、LszはIptat−1m。/2
でなければならない、第2図において、Qoのコレクタ
電流は、Q、・とQaNが同様でありR3゜とRszが
同様であるので、Qs、のコレクタ電流!、。と同じ大
きさくIpyay−1so)を存する。Isi□Irt
at−1m、/2とする為に、1つ。/2の値を有する
電流I□、をQl!のコレクタ電流に加算する。同様に
、第1図のTRQ3−QNに供給されるベースTLfL
は1.zノ2ト1と略等しい、ここで、PはTRの番号
である。よって、Itsp −11@(1−2’−’) の大きさを有する電流1mmg−1□、が第2図のTR
Q■−Q□のコレクタ電流に加算されてl5z−1sN
を生じる。it流I□ff1−111NはNPN型TR
Q+z−QINより成る拡大カレントミラー(34)で
作られ、そのコレクタに電流1asg−1sinを生じ
るe Q+t−QINのエミッタは1&Ilの抵抗R
X!−RXNを介してVttに結合され、Ql□−QI
NのベースはTRQ、のベースとTRQoのエミッタに
接続される。QGのコレクタはVCCに接続され、Q、
のエミッタは抵抗R,を介してV、に接続され、Ooの
コレクタはQGのベースに接続される。カレントミラー
(30)の電流出力1mlはQ、とQ。のベース・コレ
クタ接続点に供給する。カレントミラー(32)は周知
の方法で動作して、次式により15.の関数で電流I□
、を生じる。
■、□−1sm Rw/R++*
電流rams−1ml)Iの大きさはRX!をR1+3
−RMNの各々と置換することにより上式と同様にして
決定できる。 !□・■、。であるので、■、、!はR
X!を2R9としてI、。/2に設定してもよい、同様
に、1113はRX3・4119/3として、31m。
−RMNの各々と置換することにより上式と同様にして
決定できる。 !□・■、。であるので、■、、!はR
X!を2R9としてI、。/2に設定してもよい、同様
に、1113はRX3・4119/3として、31m。
/4としてもよい、他の抵抗RX4−RXNについても
+114−111%が1.。の分数値となり、電流1s
a−1sNが正しい値となるよう保証するよう調整でき
るe Ql□−〇INのエミッタ面積は、QHのエミ
ッタ面積を既知の方法でスケールしてQlz−Qlsの
ベース・エミッタ電圧がQNのベース・エミッタ電圧と
等しくなるようにする。
+114−111%が1.。の分数値となり、電流1s
a−1sNが正しい値となるよう保証するよう調整でき
るe Ql□−〇INのエミッタ面積は、QHのエミ
ッタ面積を既知の方法でスケールしてQlz−Qlsの
ベース・エミッタ電圧がQNのベース・エミッタ電圧と
等しくなるようにする。
よって、第1図の電流源アレイ(22)は入力基準信号
(V * t F又はI++ip )に対し及び相互に
、入力基準信号の大きさの全レンジにわたり、Qe−Q
sのベース・エミッタ電圧差に関係なく、実質的に一定
比を有する多くの出力電流II−INを生じる。その理
由は、R11−R88両端に生じるオフセット電圧を調
整することにより、補償した為である。更に、電流源1
!l−l5Nを用い、抵抗R1゜−RIMを流れる電流
を絶対温度に比例させて、R1゜−R□両端のオフセッ
ト電圧が回路の温度変化により口。−〇、のベース・エ
ミッタ電圧変化を自動的に補償し、温度変化に関係なく
あるV□、に対して実質的に一定に維持されるのを保証
する。
(V * t F又はI++ip )に対し及び相互に
、入力基準信号の大きさの全レンジにわたり、Qe−Q
sのベース・エミッタ電圧差に関係なく、実質的に一定
比を有する多くの出力電流II−INを生じる。その理
由は、R11−R88両端に生じるオフセット電圧を調
整することにより、補償した為である。更に、電流源1
!l−l5Nを用い、抵抗R1゜−RIMを流れる電流
を絶対温度に比例させて、R1゜−R□両端のオフセッ
ト電圧が回路の温度変化により口。−〇、のベース・エ
ミッタ電圧変化を自動的に補償し、温度変化に関係なく
あるV□、に対して実質的に一定に維持されるのを保証
する。
第1図に示す如<TR口、−ONと 、エミッタ抵抗R
114fllで構成した重み付は電流源アレイは同じ大
きさの電流源と重み付は抵抗回路網とにより構成できる
ことが理解されよう。
114fllで構成した重み付は電流源アレイは同じ大
きさの電流源と重み付は抵抗回路網とにより構成できる
ことが理解されよう。
また、第1図及び第2図のNPN型バイポーラTRはP
NPNPNバイポーラTR、MOSFET、 MESF
[7等ベース又はゲートに制御信号が印加され、エミッ
タ (ソース)とコレクタ (ドレイン)に1対の負部
抵抗が接続される型式の任意の半導体デバイスを使用し
てもよい、しかし、回路の抵抗と電圧とはバイアス要件
に応じて適当に調整する必要がある。従って、本発明は
これら変形変更を含むものと解すべきである。
NPNPNバイポーラTR、MOSFET、 MESF
[7等ベース又はゲートに制御信号が印加され、エミッ
タ (ソース)とコレクタ (ドレイン)に1対の負部
抵抗が接続される型式の任意の半導体デバイスを使用し
てもよい、しかし、回路の抵抗と電圧とはバイアス要件
に応じて適当に調整する必要がある。従って、本発明は
これら変形変更を含むものと解すべきである。
本発明の可変電流源は各エミッタに重み付は抵抗を有し
コレクタから出力電流を出力する多数(N個)の電流源
TRを有し、各TRのベース電圧を可変制御電圧を調整
可能なオフセットを生じさせて得ることにより、各TH
のベース・エミッタ電圧のバラツキを補償すると共に、
エミッタ抵抗をトリミング等により正確に調整する。こ
れにより、基準電圧が大幅に変化しても、また回路温度
が変化しても各出力電流の比例関係を予め定めた所定関
係に維持することができるので、所定比関係にある複数
の出力電流を必要とする電流源アレイとして実用上の効
果が顕著である。特に掛算型DAC用?2を流源として
実用上の効果が大である。
コレクタから出力電流を出力する多数(N個)の電流源
TRを有し、各TRのベース電圧を可変制御電圧を調整
可能なオフセットを生じさせて得ることにより、各TH
のベース・エミッタ電圧のバラツキを補償すると共に、
エミッタ抵抗をトリミング等により正確に調整する。こ
れにより、基準電圧が大幅に変化しても、また回路温度
が変化しても各出力電流の比例関係を予め定めた所定関
係に維持することができるので、所定比関係にある複数
の出力電流を必要とする電流源アレイとして実用上の効
果が顕著である。特に掛算型DAC用?2を流源として
実用上の効果が大である。
第1図は本発明による可変電流源を使用するDACの一
実施例の回路図、第2図は第1図の可変電流源の付属回
路の詳細回路図、第3図は従来の電流源を使用するDA
Cの回路図を示す。 Qa、Ql ・・・Q、は夫々トランジスタ、vlFは
基準電圧、R1(IIRII・・・RINは夫々ベース
抵抗、R1゜。 R□・・・RIMは夫々エミッタ抵抗、 ■、。、I□
・・・rssは夫々電流源、RLI、 RLIは夫々負
荷抵抗、Qaはトランジスタ、SW、、Slh・・・S
W、は夫々電子スイッチである。
実施例の回路図、第2図は第1図の可変電流源の付属回
路の詳細回路図、第3図は従来の電流源を使用するDA
Cの回路図を示す。 Qa、Ql ・・・Q、は夫々トランジスタ、vlFは
基準電圧、R1(IIRII・・・RINは夫々ベース
抵抗、R1゜。 R□・・・RIMは夫々エミッタ抵抗、 ■、。、I□
・・・rssは夫々電流源、RLI、 RLIは夫々負
荷抵抗、Qaはトランジスタ、SW、、Slh・・・S
W、は夫々電子スイッチである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、夫々共通電極を抵抗を介して共通電圧源に接続した
第1及び第2トランジスタと、基準信号に応答し上記第
1及び第2トランジスタの制御電極を制御する制御信号
電圧を得る手段と、該手段の制御信号電圧をオフセット
して上記第2トランジスタの制御電圧をオフセットする
オフセット手段とを具え、上記第1トランジスタの出力
電極は上記基準信号に結合され上記第2トランジスタの
出力電極から上記第1トランジスタの出力電極電流と所
定比関係且つ上記基準信号に比例する出力を得るように
した可変電流源。 2、上記第2トランジスタとして同様構成の複数のトラ
ンジスタを使用する特許請求の範囲第1項記載の可変電
流源。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US904595 | 1986-09-08 | ||
| US06/904,595 US4701694A (en) | 1986-09-08 | 1986-09-08 | Digitally selectable, multiple current source proportional to a reference current |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6369324A true JPS6369324A (ja) | 1988-03-29 |
| JP2556710B2 JP2556710B2 (ja) | 1996-11-20 |
Family
ID=25419403
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62223833A Expired - Fee Related JP2556710B2 (ja) | 1986-09-08 | 1987-09-07 | 可変電流源 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4701694A (ja) |
| EP (1) | EP0260095B1 (ja) |
| JP (1) | JP2556710B2 (ja) |
| DE (1) | DE3768384D1 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2005348419A (ja) * | 2004-06-04 | 2005-12-15 | Samsung Electronics Co Ltd | デジタル−アナログ変換器とデジタル−アナログ変換方法 |
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| JP2015154097A (ja) * | 2014-02-10 | 2015-08-24 | 株式会社ソシオネクスト | デジタルアナログ変換回路、デジタルアナログ変換回路の補正方法 |
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| NL8703128A (nl) * | 1987-12-24 | 1989-07-17 | Philips Nv | Digitaal-analoog-omzetter. |
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-
1986
- 1986-09-08 US US06/904,595 patent/US4701694A/en not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-09-07 DE DE8787307893T patent/DE3768384D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-09-07 JP JP62223833A patent/JP2556710B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1987-09-07 EP EP87307893A patent/EP0260095B1/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0260095A1 (en) | 1988-03-16 |
| DE3768384D1 (de) | 1991-04-11 |
| JP2556710B2 (ja) | 1996-11-20 |
| US4701694A (en) | 1987-10-20 |
| EP0260095B1 (en) | 1991-03-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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