JPS6370530A - 処理装置 - Google Patents

処理装置

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Publication number
JPS6370530A
JPS6370530A JP21384486A JP21384486A JPS6370530A JP S6370530 A JPS6370530 A JP S6370530A JP 21384486 A JP21384486 A JP 21384486A JP 21384486 A JP21384486 A JP 21384486A JP S6370530 A JPS6370530 A JP S6370530A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing chamber
processing
gas
wafer
chamber
Prior art date
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Pending
Application number
JP21384486A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Fujita
藤田 昌洋
Isao Miyazaki
功 宮崎
Akihiko Sato
昭彦 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP21384486A priority Critical patent/JPS6370530A/ja
Publication of JPS6370530A publication Critical patent/JPS6370530A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、処理技術、特に、処理ガスを用いて被処理物
に所望の処理を施す処理技術に関し、例えば、半導体装
置の製造工程において、ウェハに酸化膜を形成するのに
利用して有効な技術に関する。
〔従来の技術〕
半導体装置の製造工程において、ウェハに酸化膜を形成
する場合、常圧CVD装置が使用されることがあり、こ
の常圧CVD装置として、処理室の内部にウェハを収容
し、この処理室内に処理ガスをウェハに接触するように
供給することにより、ウェハ上にCVDIIを被着させ
て行くように構成されているものがある。
なお、酸化膜形成技術を述べである例としては、株式会
社工業調査会発行「電子材料1983年11月号別冊」
昭和58年11月15日発行 P57〜P62 、があ
る。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、このような常圧CVD装置においては、吹出口
から吹き出されたガスの一部が処理室の内面に接触し未
反応生成物が発生し、これが処理室の内面に付着してフ
レークとなり、ウェハの汚染の原因になるという問題点
があることが、本発明者によって明らかにされた。
本発明の目的は、処理ガスの処理室内面への接触を防止
することができる処理技術を提供することにある。
本発明の他の目的は、被処理物への異物の付着を防止す
ることができる処理技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
〔問題点を解決するための手段〕
本署において開示される発明のうち代表的なものの櫃要
を説明すれば、次の通りである。
すなわち、処理室の内面に不活性ガスを吹き出す開口を
多数設けたものである。
〔作用〕
前記した手段によれば、処理室の内面から不活性ガスが
吹き出されているため、処理室に供給された処理ガスが
処理室の内面に接触することはない、その結果、処理ガ
スの冷却による未反応物質の生成が抑制されるとともに
、処理室内面へのフレークの付着が防止されることにな
る。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例である常圧CVD装置を示す
縁断面図、第2図は第り図の■部を示す拡大部分斜視図
、第3図はハンドラを示す拡大部分斜視図である。
本実施例において、酸化膜の形成処理を行う処理装置と
しての常圧CVD装置は処理室2を備えており、処理室
2の互いに対向する側壁(以下、左右璧とする。)には
扉3a、4aを有する搬入口3および搬出口4が、被処
理物としてのウェハ1を1枚宛搬入搬出し得るようにそ
れぞれ開設されている。処理室2の内面2aにはアルミ
ナ、シリカまたはシリコンカーバイト(SiC)等を用
いた焼結材からなる多孔質板5が内張すされており、第
2図に示されているように、この多孔質板5の処理室2
との接触面には通路6が基盤目状に配されて没設されて
いる。処理室2には供給ロアが通路6に連通ずるように
配されて開設されており、供給ロアは不活性ガスとして
の窒素ガスを供給するための供給源(図示せず)に接続
されている。多孔質板5はその小孔群が互いに連通ずる
ようになっているため、供給ロアから通路6に供給され
た窒素ガスを処理室2内に流出させる多数の開口8が処
理室2内面には全体にわたって均一に形成されているこ
とになる。
処理室2内の略中央部には被処理物ステージとしてのタ
ーンテーブル9が配設されており、ターンテーブル9の
下面には吸着面10がウェハlを1枚宛後着し得るよう
に形成されている。吸着面10には吸引口11が適当な
形状に開設されており、吸引口11には真空ポンプ等の
ような排気装置(図示せず)に接続される吸引路12が
i!通されている。ターンテーブル9の下面には凹部1
3が後記するハンドラの吸着ヘッドを逃げ得るように没
設されており、ターンテーブル9の上にはヒータ14が
吸着保持されたウェハ1を加熱し得るように設備されて
いる。処理室2上にはモータ等からなる駆動装W115
が設備されており、この駆動装置15はターンテーブル
9を回転させるとともに、上下動させ得るように構成さ
れている。
処理室2内の下部には排気カバー16がターンテーブル
9の真下に配設されており、排気カバー16には真空ポ
ンプ等のような排気装置(図示せず)に接続される排気
口17が開設されている。
排気カバー16内にはヘッド18が嵌挿されて固定され
ており、ヘッド18の上面には細長いスリット状の吹出
口19が複数条、ガスをターンテーブル9に向けて吹き
出せるように開設されている。
ヘッド18の内部にはガス通路20が各吹出口19のそ
れぞれに対応して、吹出口19を縦方向に連続させてな
る中空形状に形成されており、各ガス通路20のそれぞ
れは互いに連通を遮断されている。また、ヘッド18の
内部には2系統のガス供給路21.22が形成されてお
り、両供給路21.22には互いに隣り合うガス通路2
0.20がそれぞれ交互に接続されている。また、処理
室2には排気口23が排気カバー16の脇に適宜配され
て開設されており、この排気口23は処理室2全体を排
気し得るようになっている。
処理室2の左脇には予備室24が隣接して設(@されて
おり、予備室24は搬入口3により処理室2へ連通する
ようになっている。予備室24にはM素供給口25およ
び排気口26がそれぞれ上下に配されて開設されている
。予備室24内の略中央部にはターンテーブル27が配
設されており、このターンテーブル27も処理室2のタ
ーンテーブル9と同様、ウェハlをその下面において真
空吸着保持し得るように構成されているとともに、駆動
装置28により回転かつ上下動されるように構成されて
いる。また、ターンテーブル27の下面には凹部29が
後記するハンドラの吸着ヘッドを逃げるように没設され
ており、ターンテーブル27上にはヒータ30が吸着保
持されたウェハ1を加熱し得るように設備されている。
予備室24内には、例えば、第3図に示されているよう
なハンドラ31が設備されており、このハンドラ31は
予備室のターンテーブル27から処理室のターンテーブ
ル9にウェハ1を受は渡せるように構成されている。す
なわち、第3図に示されているハンドラ31は多関節マ
ニピュレータ等のようなロボット32を備えており、ロ
ボット32の先端には吸着ヘッド33が取り付けられて
いる。吸着ヘッド33は略正方形の薄板形状に形成され
ており、ウェハ1の裏面に吸着することにより、これを
保持するように構成されている。そして、各ターンテー
ブルの凹部はこの吸着ヘッドの厚みを逃げ得るように形
成されている。
予備室24には扉34aを有するローディングロ34が
搬入口3と反対側に配されて開設されており、ローディ
ングロ34の外側にはローディング装置35が設備され
ている。このローディング装5!35はキャリア治具3
6に収納されているウェハ1を1枚宛払い出し、ローデ
ィングロ34を通じてターンテーブル27に供給し得る
ように構成されている。
処理室2の右脇には冷却室37が隣接して設備されてお
り、冷却室37は搬出口4により処理室2へ連通するよ
うになっている。冷却室37には窒素供給口38および
排気口39がそれぞれ上下に配されて開設されている。
冷却室37内の略中央部にはターンテーブル40が配設
されており、このターンテーブル40もウェハ1をその
下面において真空吸着保持し得るように構成されている
とともに、駆動装置41により回転かつ上下動されるよ
うに構成されている。冷却室37内には前記のようなハ
ンドラ31が、処理室2のターンテーブル9から冷却室
37のターンテーブル40にウェハ1を受は渡せるよう
に設備されており、ターンテーブル40の下面には凹部
42がそのハンドラの吸着ヘッド33を逃げ得るように
没設されている。
冷却室37には扉43aを有するアンローディングロ4
3が搬出口4と反対側に配されて開設されており、アン
ローディングロ43の外側にはアンローディング装置4
4が設備されている。このアンローディング装置44は
ターンテーブル40に保持されたウェハ1を下ろし、ア
ンローディングロ43を通じてキャリア治具45に収納
させ得るように構成されている。
次に作用を説明する。
処理すべきウェハ1はキャリア治具36から1枚宛払い
出されて予備室24内ののターンテーブル27に供給さ
れる。供給されたウェハ1は集積回路が作り込まれてい
る主面(以下、表面とする。
)laを下に向けた状態で、ターンテーブル27に吸着
保持される。ターンテーブル27に保持されたウェハ1
は回転されなからヒータ30により全体にわたって均一
に加熱されて予熱される。
所定の予熱が終了すると、搬入口3の扉3aが開けられ
、予熱されたウェハ1はハンドラ31により処理室2の
ターンテーブル9に移される。このとき、予備室24内
は窒素ガスによりパージされているため、外気が処理室
2に浸入することはなく、高い清浄度が維持される。
ウェハのハンドリング作業において、ハンドラ31の吸
着ヘッド33はターンテーブル27の凹部29に挿入さ
れることにより、ウェハ1の裏面1bに対向され、その
外周辺の一部に吸着してウェハlを保持することになる
。そして、ハンドラ31はウェハ1をその表面1aを下
に向けたまま処理室2のターンテーブル9の真下に運び
、吸着ヘッド33をその凹部13に整合させて挿入せし
めることにより、ウェハlの裏面1bを吸着面10に密
接させ、吸引口11の吸引力により吸着保持させること
になる。
搬入口3のa3aが閉じられると、ターンテーブル9に
保持されたウェハ1は回転されながらヒータ14により
加熱される。
一方、ガス供給路21.22には所望の処理を行うため
の処理ガスがそれぞれ送り込まれる1例えば、ウェハ上
にシリコン酸化膜を被着させる場合には、モノシランお
よび酸素がそれぞれ送り込まれる。同時に、排気口17
を通じてヘッド18付近が排気される0両供給路212
2にそれぞれ送り込まれたガスはこれらに接続されてい
る通路20群にそれぞれ供給され、それらの吹出口19
からターンテーブル9に保持されたウェハ1に向けてそ
れぞれ吹き出される。そして、吹き出されたガスはCV
D反応を起こすことにより、ヘッド18の真上でターン
テーブル9によって回転されているウェハl上にCVD
膜を形成する。
この間(成膜処理中およびハンドリング作業中)、供給
路7に窒素ガスが供給され、処理室2内。
面に添着された多孔質板5が無数に形成している開口8
から窒素ガスが緩やかに、かつ全体にわたって均一に吹
き出され続けている。また、処理室2内は排気口23に
より緩やかに、かつ全体にわたって均一に排気されてい
る。
所定の成膜処理が終了すると、搬出口4の)]4aが開
けられ、処理されたウェハ1は冷却室37のターンテー
ブル40にハンドラ31により移される。このとき、冷
却室37内は窒素ガスによりパージされているため、外
気が処理室2に浸入するこ′とはなく、高い洗浄度が維
持される。
搬出口4の5i14aが閉じられた後、ウェハ1は冷却
室37内において自然冷却される。冷却後、ウェハ1は
アンローディングロ43を通じてキャリア治具45にア
ンローディングされる。
以降、前記作業が繰り返されることによりウェハは1枚
宛、予熱、成膜および冷却処理を順次実施されて行(、
このとき、予熱、成膜、冷却処理およびハンドリング作
業は同時進行的に並行処理される。
ところで、処理室の内面から窒素ガスが吹き出されてい
ない場合、ヘッドから吹き出された処理ガスはヘッド外
方の排気口によって完全に排気されずに処理室の内面に
接触することがある。処理ガスが処理室の内面に接触す
ると、処理室の内面は低温であるため、処理ガスは未反
応生成物を発生し、この生成物が異物として処理室の内
面に付着堆積する。この異物が内面から剥離することに
よってウェハに付着すると、製造歩留りが低下するため
、処理室の内面を定期的に清掃する必要がある。この清
掃作業の頻度が増すと、装置稼働率が低下し、生産性が
悪化することになる。
しかし、本実施例においては、成膜処理中、処理室2内
面に添着された多孔質板5から窒素ガスが緩やかに、か
つ全体にわたって均一に吹き出され続けているため、ヘ
ッド18から吹き出され拡散して来た処理ガスは窒素ガ
スに吹き戻されることにより、処理室2の内面に接触す
ることはない。
その結果、処理ガスは処理室2の内面によって冷却され
ることはなく、未反応生成物の発生は抑制されることに
なる。
万一、異物が発生したとしても、多孔質板5の全面から
窒素ガスが吹き出されているため、異物が付着し堆積す
ることはない、また、処理室2内は排気口23により排
気され続けているため、浮遊している異物は排気口23
から排出されることになる。
さらに、本実施例においては、ウェハ1はその表面1a
を下に向けて保持されているため、異物が表面1aに付
着する可能性はきわめて小さい。
そして、ウェハ1において集苗回路が作り込まれている
表面1aの汚染が防止されることにより、製造歩留りの
低下は十分に防止されることになる。
前記実施例によれば次の効果が得られる。
+11  処理室の内面から不活性ガスを流出させるこ
とにより、処理室の内面に処理ガスが接触するのを阻止
することができるため、未反応生成物が発生するのを防
止することができるとともに、異物が処理室内面に付着
堆積するの防止することができる。
(2)処理室に異物が付着するのを防止することにより
、剥離した異物によるウェハの汚染を未然に回避するこ
とができるため、製造歩留り並びに製品の品質および信
頼性を高めることができ、また、処理室内面の清掃作業
を省略ないしは減少させることができるため、装置の稼
働率を高めることにより、生産性を向上させることがで
きる。
(3)処理室の内面に多孔質板を添着してガスを流出さ
せるように構成することにより、構造簡単にしてガスを
全体にわたって均一に流出させることができるため、設
備費等の増加を抑制することができるとともに、前記(
1)、(2)の効果を一層高めることができる。
(4)  ウェハをその表面を下に向けて保持すること
により、異物が表面に付着する可能性をきわめて小さく
抑制させることができるため、製造歩留り並びに製品の
品質および信頼性を高めることができる。
(5)冷却室内を窒素ガス雰囲気にすることにより、搬
出されたウェハの自然酸化を防止することができるため
、製造歩留り並びに製品の品質および信頼性を高めるこ
とができる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
例えば、不活性ガスを流出させる開口は焼結材等の多孔
質板により構成するに限らず、板材に小孔を多数開設す
ることによって構成してもよい。
また、多孔質板としては焼結材を使用するに躍らず、処
理への悪影響を回避することができる場合にはスポンジ
等のような多孔質の樹脂製材料等を使用してもよい。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である常圧CVD装置に適
用した場合について説明したが、それに限定されるもの
ではなく、その他のCVD装置、酸化膜形成装置、拡散
装置、ドライエツチング装置等に通用することができる
0本発明は少な(とも処理ガスを使用する処理装置全般
に通用することができる。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
処理室の内面から不活性ガスを流出させることにより、
処理室の内面に処理ガスが接触するのを阻止することが
できるため、未反応生成物が発生するのを防止すること
ができるとともに、異物が処理室内面に付着堆積するの
防止することができス
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例である常圧CVD装置を示す
縦断面図、 第2図は第1図のH部を示す拡大部分斜視図、第3図は
ハンドラを示す拡大部分斜視図である。 l・・・ウェハ(被処理物)、2・・・処理室、3・・
・搬入口、4・・・搬出口、5・・・多孔質板、6・・
・通路、7・・・窒素ガス(不活性ガス)供給口、8・
・・開口、9.27.40・・・ターンテーブル、lO
・・・吸着面、11・・・吸引口、12・・・吸引路、
I3.29.42・・・凹部、14.30・・・ヒータ
、15.28.41・・・駆動装置、16・・・排気カ
バー、17・・・排気口、18・・・処理ガス吹出ヘッ
ド、19・・・吹出口、20・・・it!回路、21.
22・・・供給路、23・・・排気口、24・・・予備
室、25.38・・・窒素供給口、26.39・・・排
気口、31・・・ハンドラ、32・・・ロボット、33
・・・吸着ヘッド、34・・・ローディングロ、35・
・・ローディング装置、36.45・・・キャリア治具
、37・・・冷却室、43・・・アンローディングロ、
44・・・アンローディング装置。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、処理室の内面に多数の開口が設けられており、その
    開口から不活性ガスが流出されるように構成されている
    ことを特徴とする処理装置。 2、開口が、処理室の内面に添着された多孔質板材によ
    り形成されていることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載の処理装置。 3、多孔質板材が、焼結材であることを特徴とする特許
    請求の範囲第2項記載の処理装置。 4、被処理物ステージが、被処理物を下向きに保持する
    ように構成されていることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載の処理装置。 5、処理ガスヘッドが、処理ガスを上向きに吹き出すよ
    うに構成されていることを特徴とする特許請求の範囲第
    4項記載の処理装置。
JP21384486A 1986-09-12 1986-09-12 処理装置 Pending JPS6370530A (ja)

Priority Applications (1)

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JP21384486A JPS6370530A (ja) 1986-09-12 1986-09-12 処理装置

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JP21384486A JPS6370530A (ja) 1986-09-12 1986-09-12 処理装置

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JPS6370530A true JPS6370530A (ja) 1988-03-30

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JP (1) JPS6370530A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0265130A (ja) * 1988-08-31 1990-03-05 Hitachi Ltd 真空処理装置の制御方法
JPH02122626A (ja) * 1988-11-01 1990-05-10 Nec Kyushu Ltd ドライエッチング装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0265130A (ja) * 1988-08-31 1990-03-05 Hitachi Ltd 真空処理装置の制御方法
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